IJTAG互操作性可為芯片和電路板工程師創(chuàng)造巨大價(jià)值

1、ijtag互操作性可為芯片和電路板工程師創(chuàng)造巨大價(jià)值 ieee 1687 標(biāo)準(zhǔn)（即 internal jtag，或簡(jiǎn)稱為 ijtag）正在轉(zhuǎn)變企業(yè)對(duì)互操作性的思維方式。例如，ijtag 互操作性在芯片級(jí)和板級(jí)都極具價(jià)值，由于可重復(fù)利用儀器學(xué)問(wèn)產(chǎn)權(quán) (ip)。而且，當(dāng)芯片級(jí)和板級(jí) ijtag 工具具有雙向或正反互操作性時(shí)，流程中的全部工具都會(huì)變得比自身更強(qiáng)大。這稱之為協(xié)同作用的力氣。將板級(jí)和芯片級(jí) ijtag 工具交互應(yīng)用到復(fù)雜的系統(tǒng)設(shè)計(jì)意味著借助高級(jí)診斷來(lái)驗(yàn)證設(shè)計(jì)，從而使設(shè)計(jì)師可以迅速地在芯片或電路板上找出問(wèn)題的根源。ijtag 的儀器網(wǎng)絡(luò)ijtag 標(biāo)準(zhǔn)的開(kāi)發(fā)始于數(shù)年前，由于工程師需要一種更

2、好的辦法來(lái)接入、管理和控制嵌入硅中的儀器。那時(shí)，越來(lái)越多的儀器被集成到復(fù)雜的片上系統(tǒng) () 和其他不太復(fù)雜的設(shè)備。這些嵌入式儀器過(guò)去是現(xiàn)在仍然是用來(lái)表征和驗(yàn)證芯片功能性的最有效辦法。圓滿的是，許多這樣的儀器不能互相通信。按照 ip 來(lái)源地，每臺(tái)儀器可能具有自己的接入辦法。此外，最缺失的是可移植性。假如沒(méi)有為新的芯片重新設(shè)計(jì) ip，則無(wú)法輕松地在其他芯片設(shè)計(jì)中重新部署儀器 ip。換言之，嵌入式儀器難以供工程師用法。通過(guò)指定片上網(wǎng)絡(luò)，ijtag 標(biāo)準(zhǔn)可解決上述問(wèn)題和其他問(wèn)題，該標(biāo)準(zhǔn)的儀器銜接語(yǔ)言 (icl) 對(duì)此作了解釋。此外，ijtag 還為儀器 ip 和操作儀器語(yǔ)言（即程序描述語(yǔ)言 (pdl)

3、定義了標(biāo)準(zhǔn)化接口。ijtag 的上述方面簡(jiǎn)化并改進(jìn)了工程師應(yīng)用嵌入式儀器的方式，并確保儀器本身以及與每個(gè) ijtag 儀器相關(guān)的操作矢量的可移植性，因此又為工程師節(jié)約了珍貴的時(shí)光。為什么互操作性如此重要芯片級(jí) ijtag 工具之間的互操作性（例如 tessent ijtag 解決計(jì)劃提供的工具以及應(yīng)用于 asset scanworks 啟用的電路板的工具）遠(yuǎn)不止提供一種方便的方式在工具之間傳輸數(shù)據(jù)。雙級(jí)雙向互操作性對(duì)芯片和電路板工程師而言是強(qiáng)大的優(yōu)勢(shì)，緣由如下。第一，確?？稍陔娐钒逶O(shè)計(jì)中重新利用為驗(yàn)證或測(cè)試芯片設(shè)計(jì)而開(kāi)發(fā)的儀器 ip，從而降低成本并加快產(chǎn)品上市時(shí)光。其次，芯片和電路板工具之間的

4、雙向反饋回路意味著囫圇工具流程現(xiàn)在具有高級(jí)診斷能力，從而隔離芯片或電路板設(shè)計(jì)問(wèn)題的根源。換句話說(shuō)，該 ijtag 工具流程可避開(kāi)基于猜想來(lái)確定是芯片還是電路板存在問(wèn)題。圖 1. ijtag 工具流程從在芯片插入儀器擴(kuò)展到電路板裝配，并包括用于啟用高級(jí)診斷的反饋路徑。該流程始于可插入和驗(yàn)證芯片 ijtag 和 jtag 資源的可測(cè)試性設(shè)計(jì) (dft) 工具。jtag 是須要的，由于芯片的 jtag 測(cè)試接入端口 (tap) 將用于接入 ijtag 儀器片上網(wǎng)絡(luò)。ijtag 并不只限定于作為其接入辦法的 jtag，但目前 jtag 是唯一受批準(zhǔn)的 ijtag 標(biāo)準(zhǔn)支持的機(jī)制。將來(lái)，ijtag 標(biāo)準(zhǔn)

5、還會(huì)增強(qiáng)其他接入辦法。dft 自動(dòng)化流程支持自動(dòng)插入設(shè)計(jì)的 rtl 或門級(jí)網(wǎng)表。插入的 ijtag 資源包括嵌入式儀器和分層接入網(wǎng)絡(luò)（支持從通用芯片級(jí)接入點(diǎn)接入任何儀器）。dft 工具還支持重定向以及合并多個(gè) ip 塊的 pdl 指令。重定向到芯片引腳的指令可轉(zhuǎn)換為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ate) 測(cè)試向量格式或 舉行驗(yàn)證。還可通過(guò)交互式調(diào)試工具（例如 tessent siliconinsight ）接入芯片級(jí) pdl 測(cè)試向量。在完成插入和仿真驗(yàn)證之后，通常在現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 () 上部署芯片設(shè)計(jì)，以便在硬件中仿真和測(cè)試硅。再次應(yīng)用在模擬階段之前生成的測(cè)試來(lái)驗(yàn)證將變成片上 ijtag 網(wǎng)絡(luò)（如 ic

6、l 中所述）以及儀器特定操作流程（如 pdl 中所述）的內(nèi)容的完整性。之后，在 ate 系統(tǒng)中舉行典型的硅測(cè)試和驗(yàn)證。仿真、ate 測(cè)試和驗(yàn)證階段對(duì) dft 和 ate 工具之間的互操作性至關(guān)重要。ate 工具可以用法通過(guò) dft 工具插入的相同儀器來(lái)驗(yàn)證、測(cè)試和調(diào)試電路板設(shè)計(jì)。此外，工具之間的互操作性可將 ate 工具在流程后半部分捕捉的板級(jí)數(shù)據(jù)較早地在硅模擬和驗(yàn)證階段反饋到 dft 工具。假如 soc 沒(méi)有在板級(jí)經(jīng)過(guò)全面測(cè)試和驗(yàn)證，則根本無(wú)法得到充分的驗(yàn)證。通過(guò)板級(jí) ate 工具發(fā)覺(jué)的問(wèn)題可以追溯至芯片，也可歸因于電路板設(shè)計(jì)缺陷。這種板級(jí)反饋的巨大優(yōu)勢(shì)是隔離芯片或電路板設(shè)計(jì)中的問(wèn)題，從而使芯片和電路板工程師避開(kāi)互相指責(zé)。反饋回路使芯片設(shè)計(jì)師可在批量生產(chǎn)芯片之前訂正缺陷。固然，也可以訂正板級(jí)缺陷。該 ijtag 流程在電路板創(chuàng)造過(guò)程中完結(jié)，即 ate 系統(tǒng)能夠利用 soc 中的 ijtag 儀器在裝配線上驗(yàn)證和測(cè)試電路板。協(xié)同互操作性芯片級(jí)和板級(jí) ijtag 工具協(xié)同工作的能力可提高囫圇 ij