GBT跌落試驗(yàn)方法

1、本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn) IEC68-2-32 1975年第二版根本環(huán)境 試驗(yàn)規(guī)程第2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落、1982年的第一次修改和1990年 的第二次修改.這樣,使這項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)相同,以適應(yīng)國(guó)家貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流的需求.本標(biāo)準(zhǔn)代替GB2423.8-81?電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Ed:自由跌落 試驗(yàn)方法?和GB2424.6-81?電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)那么?. GB2423.8-81和GB2424.6是參照準(zhǔn)IEC68-2-32 1975年第二版根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī) 程第2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落起草的.本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和

2、規(guī)那么上都是與IEC68-2-32 1975、1982年的第一次修改文本,1990年的第二次修改文本完全相同.本標(biāo)準(zhǔn)與前版的主要區(qū)別在 于：-將GB2423.8和GB2424.6兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)合并成一個(gè)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.8-接IEC68-2-32,1982年和1990年的兩次修改,對(duì)方法二和附錄 A做了修改,補(bǔ) 充了附錄Bo以下是四項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)均屬撞擊試驗(yàn)范疇,有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的使用和運(yùn)輸?shù)木唧w情況選擇適宜的試驗(yàn)方法見(jiàn)附錄B.-GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ea和導(dǎo)那么： 沖擊；-GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2局部

3、：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Eb和 導(dǎo)那么：碰撞；-GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ec和導(dǎo)那么：傾跌與翻倒主要用于設(shè)備型樣品；-GB/T2423.39-90 電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法.本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄.本標(biāo)準(zhǔn)是由中華人民共和國(guó)電子行業(yè)部提出 本標(biāo)準(zhǔn)是由全國(guó)電子產(chǎn)品環(huán)境條件和環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口.本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：郵電部第一研究所、電子行業(yè)部第五研究所.本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王裕春、魏蓿、何錦康、于占泉、王樹(shù)榮.IEC前言1國(guó)際電工委員會(huì)IEC關(guān)于技術(shù)問(wèn)題的正式?jīng)Q議和協(xié)議,是由對(duì)該問(wèn)題特別關(guān) 切的國(guó)家委員會(huì)代表參加的

4、技術(shù)委員會(huì)制定的,它們盡可能地表達(dá)了國(guó)際上對(duì)該問(wèn) 題的一致意見(jiàn).2這些決議或協(xié)議以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用,在這種意義上為各國(guó)家委員會(huì) 所接受.3為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,國(guó)際電工委員會(huì)希望.所有國(guó)家委員會(huì)在本國(guó)條件許可的情況下應(yīng)采用IEC推薦標(biāo)準(zhǔn)作為他們的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn).IEC推薦標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 之間的任何分歧,應(yīng)盡可能在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中明確地說(shuō)明.本標(biāo)準(zhǔn)是由IEC第50技術(shù)委員會(huì)環(huán)境試驗(yàn)的50A分技術(shù)委員會(huì)沖擊和振動(dòng)試 驗(yàn)制定的.第一次草案在1972年斯德哥爾摩會(huì)議上討論,形成文件：50A 中央力公室138. 于1973年提交給各國(guó)家委員會(huì)按“六個(gè)月法表決.以下國(guó)家投票明確贊成本錢標(biāo) 準(zhǔn)：澳大利亞

5、,比利時(shí)、巴西、捷克斯洛伐克、丹麥、埃及、芬蘭、德國(guó)、法國(guó)、以色 列,日?qǐng)?bào)、荷蘭、挪威,波蘭,葡萄牙、南非、羅馬尼亞、西班牙、瑞典、土耳其、 蘇聯(lián)、聯(lián)合王國(guó)、美國(guó)、1982年作了第一次修改,增加了附錄 B導(dǎo)那么；1990年作了第二次修改,修改基于以下文件：更詳細(xì)的資料可查閱上表所列表決報(bào)告.第二次修改更新了兩個(gè)附錄的內(nèi)容.電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed;自由跌落引言本試驗(yàn)分為兩種方法：第一種方法通常是用來(lái)模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可 能經(jīng)受的自由跌落,樣品通常是根據(jù)規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的外表上 兩次,第二章方法通常是用來(lái)模擬附在電纜上的連機(jī)器、小型遙控裝置等在使

6、用中 可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落.使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)旋轉(zhuǎn)跌落到規(guī)定的外表上. 它是通過(guò)使用適宜的設(shè)備,例如滾筒來(lái)實(shí)現(xiàn)的.方法一：自由跌落1 .目的確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性,或確定平安要求用的最低牢 固等級(jí).本使用主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品,以及在運(yùn)輸中其包裝可以作為樣品一 局部的試驗(yàn)樣品.2 .試驗(yàn)條件2.1 試驗(yàn)外表試驗(yàn)外表應(yīng)該是混疑土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性外表.必要時(shí),有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可以 規(guī)定其它外表.2.2 跌落高度是指試驗(yàn)樣品在跌落前懸掛著的時(shí)候,試驗(yàn)外表與離它最近的樣品局部之間的高度 2.3釋放方法釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛的位置自由跌落.釋放時(shí),要使干

7、擾最小 3.嚴(yán)酷等級(jí)應(yīng)從以下諸值中選取跌落高度：25、50、100、250、500、1000 mm帶括號(hào)的數(shù)值是優(yōu)選值.注：重型設(shè)備不宜經(jīng)受較高的嚴(yán)酷等級(jí).4初始檢測(cè)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢驗(yàn)、電性能和機(jī)械性能檢測(cè).5條件試驗(yàn)5.1 應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,使樣品處于正常運(yùn)輸和使用時(shí)的姿態(tài)進(jìn)行自由跌落.5.2 除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定,試驗(yàn)樣品應(yīng)該從每個(gè)規(guī)定的位置跌落兩次.6最后檢測(cè)試驗(yàn)樣品按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢驗(yàn)、電性能和機(jī)械性能檢測(cè).7有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)給出的內(nèi)容當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)采用本試驗(yàn)時(shí),應(yīng)給出以下詳細(xì)內(nèi)容：a試驗(yàn)外表,如果不是混凝土或剛質(zhì)的見(jiàn) 2.1 ;b跌落高度見(jiàn)第3章；c初始檢測(cè)見(jiàn)第

8、4章；d試驗(yàn)樣品開(kāi)始跌落時(shí)的姿態(tài)見(jiàn) 5.1 ;e跌落次數(shù)如果不是兩次見(jiàn)5.2 ;f最后檢測(cè)見(jiàn)第6章.方法二：重復(fù)自由跌落8目的確定可能頻繁跌落到硬外表的接有電纜的元件型裝置,例如連接器和小型遙控裝置, 經(jīng)受重復(fù)跌落的適應(yīng)性.9 一般說(shuō)明本試驗(yàn)方法是使試驗(yàn)樣品從規(guī)定的高度按規(guī)定的次數(shù)跌落到硬外表上.為了模擬實(shí) 際條件,每個(gè)試驗(yàn)樣品應(yīng)單獨(dú)受試,并且通常都帶有一段電纜.試驗(yàn)的結(jié)果應(yīng)通過(guò)試驗(yàn)樣品的機(jī)械、電性能的變化來(lái)評(píng)定10試驗(yàn)設(shè)備描述根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求.試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)使各個(gè)試驗(yàn)樣品按規(guī)定次數(shù)從規(guī)定高度跌落.附錄A圖A1說(shuō)明一種試驗(yàn)滾筒設(shè)備的適宜式樣.11嚴(yán)酷等級(jí)11.1 跌落次數(shù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)根據(jù)試驗(yàn)樣品預(yù)定

9、的使用情況,從以下數(shù)值中選取總的試驗(yàn)次數(shù)：50、100、200、500、1000次.11.2 跌落高度跌落高度為：500mm11.3 跌落頻率跌落頻率約為每分鐘十次.11.4 試驗(yàn)外表除有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定外,試驗(yàn)樣品應(yīng)跌落在一厚度在10mm-19mmi間的木板墊襯著的3mn度鋼板的平滑、堅(jiān)硬、牢固的試驗(yàn)外表上.12初始檢測(cè)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢驗(yàn)、電性能和機(jī)械性能檢測(cè).13條件試驗(yàn)試驗(yàn)樣品應(yīng)放在試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)經(jīng)受規(guī)定次數(shù)的跌落,當(dāng)試驗(yàn)樣品帶有電纜時(shí),有關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定所使用的電纜型號(hào),假設(shè)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有其它規(guī)定,電纜長(zhǎng)度100mm14最后檢測(cè)試驗(yàn)樣品應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行外觀檢查,電性能和機(jī)械性能

10、的檢測(cè).有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)說(shuō)明接收或拒收樣品的條件.15有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)給出的內(nèi)容當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)采用本試驗(yàn)時(shí),應(yīng)給出以下詳細(xì)內(nèi)天:a初始檢測(cè)見(jiàn)第12章；b跌落次數(shù)見(jiàn)11.1 ;c最后檢測(cè)見(jiàn)第14章；d要連接的電纜型號(hào)見(jiàn)第13章.附錄A標(biāo)準(zhǔn)的附錄試驗(yàn)設(shè)備A1方法二重復(fù)自由跌落試驗(yàn)設(shè)備的一種適宜形式是一個(gè)由滾動(dòng)并引起樣品跌落及翻 滾運(yùn)動(dòng)的筒當(dāng)有大量樣品需要試驗(yàn)時(shí),該筒可有許多隔艙.每一樣品置于一分隔艙 中,以便同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn).A2每一分隔艙的寬度 W不規(guī)定,但按樣品的尺寸一般可取 200mm-300mW佳.A3筒的尺寸由圖A1給出,每端為3mnff鋼板的平滑試驗(yàn)面,反面襯以10mm-19m琨 的木板11.4.樣品兩次

11、跌落所在的隔艙內(nèi),填裝一塊由ISO48:1979?硫化橡膠硬度測(cè)定硬度為30IRHD-85IRHD寸»所規(guī)定硬度為80IRHE 20IRHD的無(wú)絨橡膠楔形塊,而該艙的各 滑落面采用平滑、堅(jiān)硬的塑料板材制成.滾筒應(yīng)設(shè)計(jì)得使轉(zhuǎn)軸不突出試品艙內(nèi)容.滾筒應(yīng)開(kāi)一有蓋的小窗口,窗蓋用透明的聚丙烯材料制成.附錄B標(biāo)準(zhǔn)的附錄導(dǎo)那么B1目的自由跌落試驗(yàn)適用于那些在運(yùn)輸、搬運(yùn)、或維修中可能會(huì)從運(yùn)輸工具或工作臺(tái)面上跌落下來(lái)的試驗(yàn)樣品.本試驗(yàn)不適用于那些重量大或體積大的試驗(yàn)樣品.例如大功 率變壓器.B2有關(guān)的試驗(yàn)試驗(yàn) Ea和導(dǎo)那么：沖擊(GB/T2423.5, IEC68-2-27 )該試驗(yàn)時(shí)模擬元器件和設(shè)

12、備在運(yùn)輸期間或試驗(yàn)中可能經(jīng)受到的非屢次重復(fù)性沖擊的影響.試驗(yàn) Eb和導(dǎo)那么：碰撞(GB/T2423.6, IEC68-2-29 )該試驗(yàn)時(shí)模擬元器件和設(shè)備在運(yùn)輸期間或安裝在各種類型的車輛中使用時(shí)可能 經(jīng)受屢次重復(fù)性碰撞的影響.試驗(yàn)Ec和導(dǎo)那么：傾跌和翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)(GB/T2423.7, IEC68-2-31 )該試驗(yàn)用來(lái)評(píng)價(jià)設(shè)備型樣品在維修工作間或在工作臺(tái)上由于粗率操作時(shí),可能經(jīng)受 到的敲擊或撞擊影響的一種簡(jiǎn)單試驗(yàn).試驗(yàn) Ed:自由跌落(GB/T2423.8, IEC68-2-32 ,方法一)該試驗(yàn)是模擬產(chǎn)品由于粗率搬運(yùn)而可能經(jīng)受到的跌落效應(yīng)的簡(jiǎn)單試驗(yàn),該試驗(yàn)也 用于驗(yàn)證產(chǎn)品的強(qiáng)

13、度等級(jí).試驗(yàn)Ed:重復(fù)自由跌落(GB/T2423.8, IEC68-2-32 ,方法二)該試驗(yàn)是用來(lái)模擬某些元件型產(chǎn)品,例如使用中的連接器,可能受到的重復(fù)沖擊的影響.試驗(yàn)Ee：彈跳試馬金方法(GB2423.29, IEC68-2-55 )該試驗(yàn)是用來(lái)模擬作為散裝貨物裝載在輪式車輛上,在不平的路面上運(yùn)輸時(shí),可能經(jīng)受到的隨機(jī)沖擊條件的影響.沖擊和碰撞試驗(yàn)是將樣品固定在試驗(yàn)臺(tái)上進(jìn)行的.而進(jìn)行傾跌與翻倒、自由跌落、重復(fù)自由跌落和彈跳試驗(yàn)時(shí),樣品是不固定的.B3試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)的選擇(本標(biāo)準(zhǔn)第 3章和第7章a)、b)、d)及e)打算采用本試驗(yàn)的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的編寫者應(yīng)參閱本標(biāo)準(zhǔn)第7章,一保證該條所要求的全部?jī)?nèi)容都能在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中給出.如果可能,加于樣品的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)應(yīng)考慮樣品可能經(jīng)受到搬運(yùn)和運(yùn)輸條件.然而 要求所有的樣品要經(jīng)受到在實(shí)際環(huán)境中可能會(huì)經(jīng)受到的最嚴(yán)酷的搬運(yùn)例如從飛機(jī) 的裝卸平臺(tái)或從起重機(jī)上跌落下來(lái),那么既不實(shí)際又不經(jīng)濟(jì).對(duì)=要求驗(yàn)證其耐用性 的樣品試驗(yàn)時(shí),跌落高度的選擇應(yīng)考慮到實(shí)施的可能性,可容許的損壞程度,以及 操作使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的條件.從本標(biāo)準(zhǔn)第3