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文檔簡介

1、MCJF局部放電測試儀使用說明書上海貿(mào)創(chuàng)電氣有限公司目 錄一 概述 (1)二 名詞、術語 (1)三 技術參數(shù) (2)四 系統(tǒng)工作原理簡介 (4)五 通用試驗方法 (5)六 具體操作說明 (6)七 測試中的干擾問題 (10)八 附件 (11)九 成套裝置 (12)十 視在放電量校準器參數(shù)及使用 (13)十一.常見圖譜分析 (15)一概述MCJF局部放電測試儀是我廠繼MC型局部放電測試儀后研制開發(fā)生產(chǎn)的又一新穎儀器。它基本上保持了MC的優(yōu)點和功能,并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC(270)標準,利用脈沖電流法原理研制而成,并滿足GB-7354-87、GB

2、-1207-97、GB-1208-97中關于局部放電測試對測試儀器規(guī)定的技術要求。具有靈敏度高、測試的試品范圍廣,有高頻橢圓掃描,放電系統(tǒng)動態(tài)范圍大,并采用先進的抗干擾組件和獨特的門顯示電路,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗,新產(chǎn)品研制試驗,電機、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關及其它高壓電器局部放電的定量測試,可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用。二名詞、術語1局部放電:局部放電是指導體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電,這種放電可以在導體附近發(fā)生,也可以不在導體附件發(fā)生。2視在電荷量q:在試品兩端瞬時注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入

3、量即為局部放電的視在電荷包量。3視在放電量校準器:視在放電量校準器由校準脈沖發(fā)生器與校準電容串聯(lián)組成,是一個校準電荷產(chǎn)生裝置。 校準脈沖發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定波形的脈沖電壓,通過校準電容對被試品注入電荷,模擬被試品局部放電時的視在放電電荷。 校準器的主要技術參數(shù)包括校準脈沖波形上升時間、衰減時間、校準脈沖峰值及校準電容值。 電壓波形上升時間為從0.1Uo到0.9Uo時間,衰減時間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時間。三技術參數(shù)1可測試品的電容范圍:6pF-250uF2檢測靈敏度及允許電流(見表1)。3橢圓掃描時基(1)頻率:50、100、150、200、400Hz。(2)旋轉:以30度為一檔,可旋轉1

4、20度。(3)工作方式:標準-擴展-直線。(4)高頻時基橢圓可按輸入電壓(13-275V)調(diào)至正確大小。4顯示單元采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚集調(diào)節(jié)旋鈕。5放大器(1)3dB低頻端頻率fL:20、40kHz任選。(2)3dB低頻端頻率fL:200、300kHz任選。(3)增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差20±1dB。(4)細調(diào)范圍:>20dB。(5)正、負脈沖響應不對稱性:<1dB。表1檢測靈敏度及輸入單元允許電流值輸入單元序號調(diào)電容范圍靈敏度(PC)(不平衡電路)允許電流有效值不平衡電路平衡電路16-25-100微微法30毫安225-100-400

5、微微法60毫安3100-400-1500微微法120毫安1安4400-1500-6000微微法2安51500-6000-25000微微法4安61安8安72安15安814安30安98安60安1015安120安11525安200安1225-60-250微法1050安300安7R電阻2安15安6時間窗:(1)窗寬:可調(diào),5度-150度(50Hz)。(2)窗位置:每一窗可旋轉0度-170度。(3)兩個時間窗可分別或同時控制。7脈沖峰值表:(1)線性指示:0-100誤差不大于5%。(2)對數(shù)指示:1-100誤差不大于5%。8具有輔助識別放電脈沖相應的零標志系統(tǒng)。 9工作電流:220V±10%

6、工頻10體積:440×430×180mm。 11重量:約15Kg四系統(tǒng)工程原理簡介若試品Cx在試驗電壓下產(chǎn)生局部放電時,經(jīng)耦合電容Ck產(chǎn)生脈沖電流,由輸入單元拾取得脈沖訊號,經(jīng)低噪音前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后,在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出電放脈沖,同時也送到脈沖峰值表(對數(shù)表)顯示其峰值。時間窗單元控制試驗電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時間,并在這段時間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮,寬度與位置可以改變,進一步加強了抗干擾能力。整個系統(tǒng)工作原理可參看框圖(圖1)。 校正脈沖發(fā)生器 電源高壓端 Cq1 時基 耦合電容 至各電路 單元 電 Ck 壓 表 Ca 電 輸入

7、單元 前放 濾波 主放 波形 阻 顯示器 零標發(fā)生器 時間窗 脈沖峰值表 圖1RX局部放電測試儀原理方框圖 耦 合 檢 測 局放儀 電容器 阻 抗 試驗臺 濾波控制 無暈試驗 試 品 調(diào) 壓 器 變 壓 器 電 阻 零 標 分壓器 輸 入 電 容 工 頻 分壓器 峰值表圖2局部放電系統(tǒng)示意圖(外試法)五通用試驗方法(一)試驗目的:(1)證實試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電;(2)測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的最低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時放電低于規(guī)定值時最高電壓(終止放電電壓)。(3)測定在某一規(guī)定電壓下的放電強度。(二)試驗條件:(1)交流電源電壓應為正弦波,不應有過

8、大的高次諧波。(2)試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩(wěn)定。(3)由于電壓回滯現(xiàn)象的影響,在試驗前至少幾小時以上的時間內(nèi),不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗電壓最高值以上的電壓。(4)經(jīng)過搬運后的試品,必須靜放一段時間后再做局部放電試驗(油浸)。(三)試驗程序:1將試驗區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外,各種金屬體應牢固接地,檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位,應特別注意各種地線是否已接地。2根據(jù)不同的試品和試驗條件,選擇正確的接線方式。3對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統(tǒng)進行刻度系數(shù)校正,校正時對所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕,把H調(diào)到H=UoCo/K值。校正完畢后,各種測試儀器的

9、細調(diào)(連續(xù)調(diào)節(jié))增益旋鈕不得隨意變動,同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下,以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。(四)注意事項:1在試驗開始加壓以前,試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷,這將可能引起人身和設備事故。切切!2對于連接線應避免將尖端暴露在外,屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。3試驗完畢后,應對整個測試系統(tǒng)再進行一次復查校正,驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結果不對。六具體操作說明(一)試驗準備:1根據(jù)試品的容量

10、Cx,耦合電容的大小Ck,選取適合序號的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯(lián)的電容(粗細估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計算)。例如:試品容量為120pF,耦合電容量為1000pF,則所需檢測阻抗為:120×1000107120+1000查表1可取2號單元。輸入單元應盡量靠近試品,輸入單元經(jīng)8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。2試品接入輸入單元的方法有以下幾種(見圖3):a并聯(lián)法 Ck Z U 始 至校正脈沖 Ca 中至放大器 末b串聯(lián)法 Ca Z U 始 至校正脈沖 Ck 中至放大器 末C平衡法 Ca2 Z U 始 至校正脈沖 Ca1 中至放大器 其中:Z為阻

11、塞阻抗; Cx為試品;Ck為耦合電容;3面板示意圖 0° 30° 示 波 器 60° VPC 90° 左 右 試驗電源 20 200 120增 粗 直線 Hz 40 300 益 調(diào) 標準 門寬 門位置 中頻電源 擴展 開關 聚焦 亮度 線性 對數(shù) 增益細調(diào) 軸 流 風 機 5A AC220V50Hz 接地 信號輸入 零標輸入 中頻電源 4準備在儀器后面板AC220V插座上接上220V工頻電源,然后打工電源開關,讓儀器預熱5分鐘,同時對有關開關進行操作。 “標準-擴展-直線”開關置標準 放大器頻率帶fL、fH分別置20kHz,300kHz,放大器增益粗調(diào)置

12、3檔,細調(diào)置中間位置,切不可一開始將粗調(diào)開關置最高檔。 根據(jù)不同頻率的試驗電源選擇試驗電源頻率,以便觀察合適的橢圓。 如果工頻試驗電源,請將中頻試驗電壓開關旋在275V檔,然后再接上中頻電源。觀察數(shù)字表讀數(shù),如果差得太多,可將試驗電壓開關往小檔位上旋一檔,直至合適值,千萬不可旋在太小檔上,同時請注意,輸入儀器的中頻電壓萬不可超過規(guī)定值275V,否則儀器被損壞。橢圓旋轉可不作調(diào)節(jié)。窗開關打在關位置,以后根據(jù)干擾出現(xiàn)的相位可開窗適當調(diào)旋轉,根據(jù)干擾情況調(diào)窗寬、位置,使干擾在門窗之外,使局部信號在窗上,以便讀取放電的數(shù)值。5視在放電量校準用視在放電量校準器(校正脈沖發(fā)生器)的輸出接于試品兩端,紅端接

13、高壓端,黑端接低壓端,調(diào)節(jié)其輸出放電量,例如50PC,調(diào)節(jié)放大器增益組調(diào)旋鈕,使放電量表指示滿度。此時放電量表指示滿度即100%,則表示50PC的放電量,注意增益細調(diào)旋鈕位置不可再動。(局放儀校正脈沖發(fā)生器的注入電量按發(fā)生器上指示的電壓U與匹配盒上注入電容的C乘積計算,Qo=CqUq),測量盒應盡量靠近試品高壓端。拆除視在放電量校準器的連線,并關斷其電源。6試驗操作接通高壓試驗回路的電源,逐步升高電壓至規(guī)定電壓,時刻注視PC表指示,此時放電量表的讀數(shù)表示試品放電量的大小,如指示在80%,則表示試品視在放電量為50×80%=40PC。若此時試品放電量剛大于100%即超過滿度,應立即將放

14、大器增益粗調(diào)由原來的“3”改換到“2”檔,此時放電量表100%,則表示500PC,假如此時放電量指示80%,由試品放電量為500×80%=400PC。若此時試品放電量小于10%,應將放大器粗調(diào)由“3”檔改至“4”檔,此時放電量表100%則表示5PC,假如此時放電量表指示80,則試品視在放電量為5×80%=4PC。接上合適的電阻分壓器,取得10V左右的零標電壓,緩緩升高試驗電壓,橢圓上將出現(xiàn)兩個零標志脈沖,通過零標志脈沖可判別放電的相位,如圖所示: 負零標志 正零標志 旋轉“橢圓旋轉”開關使橢圓轉到預期的放電最利于觀察之處。通常這個位置是零標脈沖分別處于橢圓上部左側及下部右側

15、之處。連續(xù)升高電壓,注意第一次出現(xiàn)持續(xù)放電,當放電量超過規(guī)定的最低值時的電壓即為局部放電起始電壓。若有干擾信號在放電脈沖附近,可以用窗寬和窗位置將干擾信號拒之窗外,即合窗開關,用一個或兩個時間窗并用窗寬、窗位置來改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置,使其避開干擾脈沖,這樣,放電量表的指示值只表示放電脈沖的大小,而不表示干擾信號的值,另外也可以改變頻帶的方法來提高抗干擾能力。七測試中的干擾問題在局部放電測試中,往往由于外部干擾信號的影響,而使測試結果產(chǎn)生誤判斷,或者使測試工作根本無法進行下去。尤其對從事局部放電測試工作經(jīng)驗不多的人,更容易引起誤判斷。因此,在局部放電測試技術中,消除外部干擾成為一項很重

16、要的技術內(nèi)容,同時也是花錢較多的一項技術措施。(一)外來干擾1與電源電壓無關的干擾這種干擾與電源電壓(加至被試品上的電壓)無關,它不隨電源電壓的升高或降低而變化。它產(chǎn)生于:電氣開關的開閉操作、電焊起弧、吊車開動、整流電機的電刷、閃光燈、無線電電磁波以及各種工業(yè)干擾等等。這些干擾通過電源、測試回路和地線等途徑侵入進來。2與電源電壓有關的干擾這類干擾一般隨電源電壓的增加而變大。它可由試區(qū)內(nèi)各個部分產(chǎn)生。例如:試驗變壓器、高壓引線、試品端部、高壓線路接觸不良、高壓試區(qū)的絕緣物體與地線)或接地金屬物)接觸、試區(qū)內(nèi)金屬物體接地不良、以及其它物體的感應放電等等。與電源電壓有關的干擾侵入途徑,可以通過電源、

17、高壓導線、空間和地線侵入到測試回路內(nèi)。(二)消除外來干擾的方法1消除與電源電壓無關的干擾方法:應從電源、空間、接方式幾個方面采取措施。為了消除空間電磁波的干擾,應將試驗室加以屏蔽。對于由電源侵入的干擾,一般在電源進口處加隔離變壓器和濾波裝置。消除由接地網(wǎng)來的干擾,應采取一點接地方式。2消除與電源有關的干擾措施:可將高壓導線加粗(用較粗的蛇皮管、薄鐵皮圓筒或鋁筒);對被試品端部輥防暈罩;試區(qū)內(nèi)各地線和金屬物應良好接地;試區(qū)內(nèi)的絕緣物體嚴禁與金屬接地體接觸;在高壓線下部地面上不應有螺釘、地線頭等金屬物體。八附件說明書 1份電源線 1根高頻線 1根測試電纜 1根(8米)保險絲 2只合格證及保修卡 1

18、份九成套裝置1輸入阻抗1-12號任選,7R號測長電纜用。2視在放電量器校準器(校正脈沖發(fā)生器),局放儀校正脈沖發(fā)生器)任選3工頻、中頻濾波器4三倍頻感應試驗設備5無局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選6無局放耦合電容系列7無局放試驗變壓器系列8工頻試驗控制臺十視在放電量校準參數(shù)及使用(一)局放儀校正脈沖發(fā)生器局放儀校正脈沖發(fā)生器是專為局部放電的檢測而設計的,本儀咕嘟的精度、上升時間、重復頻率等直接決定了局部放電的測試精度,此儀器符合IEC標準。此校正脈沖發(fā)生器的輸出電量10-5000PC任意調(diào)節(jié)。適用于先校準后試驗,先試驗后校準的局放試驗中。(一)技術參數(shù)1方波幅值滿

19、刻度為2.5V、5V、10V、25V、50V;精度為±2%2衰減器:10:1衰減3級3輸出脈沖極性“+”每周期提供一個主正向脈沖;“±”每周期提供一個正向脈沖和一個負向脈沖;“-”每周期提供一個主負向脈沖。4方波前沿<0.07us。5重復頻率:45Hz-65Hz,連續(xù)可調(diào)。6脈沖衰減時間100us-1000us7內(nèi)阻<758工作方式:感應同步,手動調(diào)節(jié)。9一次工作時間5分鐘。10儀器工作環(huán)境0-40,相對溫度少85;儀器周圍無強烈振動,儀器平放工作,不得傾斜。11電源:10V可充電電池。(二)操作程序用戶可根據(jù)實際情況選擇輸出幅值和Cq(10pF、100pF模擬

20、入電量為Q=CqUo。將輸出電纜一端接到“衰減輸出”高頻插座,另一端接到裝有注入電容的匹配盒。將極性開關調(diào)節(jié)到所需要的脈沖型號,按下啟動按鈕,儀器進入工作狀態(tài)。調(diào)節(jié)“方波幅值”旋鈕到所需要的電壓值范圍,然后再調(diào)節(jié)“細調(diào)”,將同步選擇開關打到調(diào)頻,然后調(diào)節(jié)旋鈕使脈沖的頻率盡量接近于試驗電源的頻率,如果需要同步,將開關打到感應,用導線繞到電流通過的導線上,其一端接到面板上的感應接線柱上,此時脈沖頻率與電網(wǎng)頻率同步。當“極性開關”旋到“V”檢查時,看表頭指示是否在紅線以下,如果在紅線以下時則需充電。校正結束后,必須將匹配盒拿下,以免升高壓時打壞,將儀器置于“關”位置。注:此儀器工作時必須平放,不能傾

21、斜。另此儀器的方波信號為不接地的,不用接地。校正脈發(fā)生器的主要技術指標及使用校正脈沖發(fā)生器是一種小型的可充電電池供銷電的視在放電量校準器,它可以分別以四種放電量向試品兩端注入1.2kHz左右的校正脈沖,可用于先校準后試驗的局放試驗中,適合于國際電工委員會IEC-270所推薦的任何一種試驗電路。(一)主要技術參數(shù)×8V輸出電荷量5、50、500PC或5、10、50、100PC方波前沿<脈寬100us-1000us內(nèi)阻<75頻率變化>±200Hz注入電容10pF、100pF或10pF、20pF(二)使用方法首先檢查校正脈沖發(fā)生器的電池,電量如面板上的電壓表,指

22、示在8V以下則需充電,8V以上方能正常工作。將輸出的紅、黑兩個端子上接上導線,紅端子上的導線盡量短且靠近試品的高壓端,黑線導線接試品的低壓端,將校正電量開關置于5、10、50、100、500中任何合適一檔即可校正。頻率可在1.2kHz隨機調(diào)節(jié)。校正脈沖發(fā)生器使用后及時將調(diào)節(jié)電荷量的波段開關旋在關位置,充電要適時,且時間要達到連續(xù)16小時。(1)接觸不良這種干擾如圖1所示。其特點是干擾波位于橢圓時基的零點附近。在正負半波上對稱出現(xiàn),幅值相差不大。干擾在低電壓時即出現(xiàn)。電壓增大時,干擾占位區(qū)域也增大,由于疊加效果幅值增大較慢。有時在電壓達到某一定數(shù)值后會完全消失。造成這種干擾的原因有:試驗回路中金

23、屬對金屬接觸不良,塑料電線半導電屏蔽層中粒子間接觸不良,電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。(2)浮動電位物體波形見圖2,特別是在電壓峰值之前的正負半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等,由于余輝,有時成對的出現(xiàn),有時圖像有飄動。電壓增加時,根數(shù)增加,間隙縮小,中間值不變。有時電壓增加到一定值后干擾訊號會消失,再降低電壓時,又會重新出現(xiàn)。起因:金屬或碳質(zhì)導體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測試回路中。常常在兩個孤立的導電物之間,例如地面上處于浮動電位的多種物體體間發(fā)生。(3)外部尖端電暈波形如圖3,特別是僅在試驗電壓的一個半波中出現(xiàn),位于外施電壓的峰值部分,等幅值等間距。電壓增加時,放電訊號波的根

24、數(shù)增加,但幅值總不變。起因:高壓電極的尖端或邊緣對空氣中的放電。若干擾訊號位于橢圓時基的負半周。則尖端電暈處于高電壓下,若干擾訊號位于時基橢圓的正半周,則尖端在接地部分,有時也可能高壓、接地部分都有尖端電暈放電,則時基橢圓的正負半周就出現(xiàn)兩組訊號。(4)液體介質(zhì)中的尖端放電波形見圖4,特別:在試驗電壓正負半周峰值位置均有一組訊號,同一組訊號等幅值,等間隔,一組中間值較大的訊號先出現(xiàn),隨電壓增加中間值也增大。一組中間值小的訊號其幅值不隨電壓變化。起因:在絕緣液體中發(fā)生了尖端或邊緣電暈放電?;蛞唤M大的訊號出現(xiàn)在正半周,則尖端位高壓部分;若它出現(xiàn)在負半周,則尖端處于接地部分。(5)繼電器、接觸器的動作干擾訊號波形見圖5,特點:在時基橢圓上干擾訊號波形分布不規(guī)則,間隙地出現(xiàn),且同試驗電壓大小無關。起因:閃光燈,熱繼電器,接觸器和各種火花試驗器或有火花放電的記錄器動作時造成。(6)可控硅元件干擾訊號波形見圖6,特點:干擾訊號在時基橢圓上之位置固定,每一無件產(chǎn)生一個獨立的高頻脈沖訊號。電路接通,電磁耦合效應增強時,訊號幅值增加,也可能發(fā)生波形展寬、相移,從而在時基上占位增加。起因:供電網(wǎng)絡中有可控硅器件在運行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關。(7)異步電機干擾波形見圖7,特點:在時基橢圓上正負半波形出現(xiàn)對稱的二組訊號,且沿掃描時基逆時針方向移動。起因:異

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