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文檔簡介
1、第卷第期年月量子電子學(xué)報(bào)文章編號(hào):()基電流擴(kuò)展對(duì)其器件特性的影響孫重清,鄒德恕,顧曉玲,張劍銘,董立閩宋穎娉,郭霞,高國,沈光地(北京工業(yè)大學(xué)光電子試驗(yàn)室,摘北京)要:基的表面電流擴(kuò)展對(duì)于器件的特性起著很重要的作用。制作環(huán)狀電極的器件在正向電壓、總輻射功率、器件老化等特性方面較普通的電極都有很大的提高。通過一系列的實(shí)驗(yàn)對(duì)環(huán)狀電極和普通電極進(jìn)行了比較,在外加正向電流為時(shí),正向電壓減小了,總輻射功率也略有提高,工作小時(shí)后,總輻射功率相差,驗(yàn)證了環(huán)狀電極結(jié)構(gòu)有利于器件電流擴(kuò)展,減少器件串聯(lián)電阻,減少了焦耳熱的產(chǎn)生,提高了電光特性和可靠性。關(guān)鍵詞:光電子學(xué);固態(tài)照明;環(huán)狀電極;總輻射功率;電流擴(kuò)展中
2、圖分類號(hào):文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:引言隨著基的迅速發(fā)展,已經(jīng)成為下一代主要照明工具的主要候選者,雖然要實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體照明工程還有一段很長的路要走。隨著材料生長技術(shù)的快速進(jìn)步,近些年,器件在總輻射功率和發(fā)光效率方面已經(jīng)取得了很大的進(jìn)步,極大的推動(dòng)了的產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程,使固態(tài)照明得以真正的實(shí)現(xiàn)?,F(xiàn)今,在基的發(fā)展過程中主要存在三個(gè)方面的問題)器件內(nèi)量子效率的提高;光提取效率的提高;)器件的電流擴(kuò)展和散熱。在器件的內(nèi)量子效率和光提取效率和散熱方面,國內(nèi)外已經(jīng)發(fā)表了很多這類文章】,提出了很多提高效率的方法,諸如有源區(qū)結(jié)構(gòu)優(yōu)化、倒裝焊技術(shù)的應(yīng)用、表面粗化和倒金字塔結(jié)構(gòu)的提出等等。應(yīng)用有效的封裝結(jié)構(gòu)和封裝技術(shù)使的散熱特性得到進(jìn)一
3、步提高。器件表面電極的結(jié)構(gòu)以及歐姆接觸的制作對(duì)于改善器件電流擴(kuò)展是非常重要的,通過優(yōu)化電極結(jié)構(gòu)可以優(yōu)化電流擴(kuò)展分布,減少器件串聯(lián)電阻,進(jìn)而減少焦耳熱的產(chǎn)生,以達(dá)到改善器件特性的目的。本文將從兩種不同的表面電極結(jié)構(gòu),來分析和比較這兩種電極結(jié)構(gòu)的器件,并且把器件倒裝在支架上,進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)封裝,對(duì)器件的電流電壓曲線,電流總輻射功率曲線等進(jìn)行測(cè)試和比較。器件的制作本文使用的芯片是采用技術(shù)在藍(lán)寶石襯底上生長的。一層型的作為緩沖層,然后在其上生長的型,摻雜濃度為×,而后生長的和的,中間含有周期的超晶格,而后生長對(duì)的和的作量子阱,最后生長的型,摻雜濃度為×,隨后采用兩套不同電極結(jié)構(gòu)的版圖制作
4、電極和電基金項(xiàng)目:國家計(jì)劃()、北京市教委項(xiàng)目()和北京市科委重點(diǎn)項(xiàng)目()收稿日期:;修改日期:第期孫重清等:基電流擴(kuò)展對(duì)其器件特性的影響極。一種結(jié)構(gòu)我們稱作為,一種我們稱作為,如圖所示:所示版圖制作的接通外接電流后,外接電流從電極流入器件,電流全部通過中所示的圓弧區(qū)流向電極,從而這部分區(qū)域在器件工作的過程中集聚了大量電流,導(dǎo)致這部分區(qū)域電流密度很大,這部分電流產(chǎn)生很大焦耳熱,而在其他區(qū)域由于電流分散的流向這個(gè)圓弧,使得其他區(qū)域的電流密度較圓弧區(qū)小很多,這部分產(chǎn)生的焦耳熱較圓弧區(qū)也小很多。在器件工作過程中,圓弧區(qū)溫度過高,使得這部分區(qū)域的有源區(qū)非輻射復(fù)合增加,內(nèi)量子效率下降,并且過高的工作溫度
5、很容易損壞器件。而在其他區(qū)域流過有源區(qū)的電流密度將相對(duì)的要小,離圓弧區(qū)域越遠(yuǎn)電流密度越小,這些區(qū)域有源區(qū)的輻射復(fù)合的能力減弱,而導(dǎo)致總輻射功率和發(fā)光效率的降低。如圖中所示版圖,在結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上將電極制作成環(huán)形的,這種情況下器件接通外接電流后,外接電流從電極流過圖中,區(qū)域流向電極,這樣電流分散著流向電極,器件的電流分布更加均勻,避免了中因電流集中在局部而產(chǎn)生很多焦耳熱,溫度過高而損壞器件。實(shí)驗(yàn)和分析為了驗(yàn)證我們的分析,我們把兩種版圖分別制作的管芯倒裝焊在與之相配的支架上,并且進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的封裝,封裝完成的器件如圖所示。我們對(duì)封裝完成的器件進(jìn)行了測(cè)試,得到了器件的電流電壓曲線,電流總輻射功率曲線和總輻射
6、功率隨時(shí)間的變化曲線。如圖所示,在相同的輸入電流條件下,結(jié)構(gòu)器件的電壓要高于,并且隨著電流的增加,結(jié)構(gòu)的電壓增加較結(jié)構(gòu)要小,并趨于飽和。結(jié)構(gòu)隨著電流的增加,其電壓增加非常明顯,說明隨著電流的增加結(jié)構(gòu)圓弧區(qū)域的溫度很高,而器件的半導(dǎo)體電阻也隨著溫度的增加而增加。結(jié)構(gòu)由于其電流分布較結(jié)構(gòu)均勻,所以電壓的增加沒有結(jié)構(gòu)明顯,有利于器件的工作。器件的總輻射功率使用杭州遠(yuǎn)方的(增強(qiáng)型)紫外一可見一近紅外光譜分析系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,得到的電流與總輻射功率曲線如圖所示,在起始外加電流為時(shí),的總輻射功率略大于,這是由于在發(fā)光面積相同的情況下,由于電流擴(kuò)展均勻,增加了器件的有效發(fā)光區(qū),而剛開始只是小電流,電流擴(kuò)
7、展不平衡帶來的負(fù)面影響對(duì)于器件的影響不明顯。隨著電流的增加,和的總輻射功率都增大,可是增加的速度較迅速??墒钱?dāng)電流增加到時(shí),結(jié)構(gòu)器件的總輻射功率趨于飽和,而結(jié)構(gòu)還有增加的趨勢(shì)。這是由于電流增加時(shí),結(jié)構(gòu)電流分布的不均勻性導(dǎo)致局部區(qū)域溫度過高而局部區(qū)域的電流擴(kuò)展不充分,兩個(gè)原因?qū)е铝私Y(jié)構(gòu)器件總輻射功率的飽和速度大于結(jié)構(gòu),并且和總輻射功率在增加的過程中這兩因素所起的作用越來越明顯,所以的總輻射功率始終大于,并且隨著電流的增加,兩者的差距增大。隨后我們又對(duì)兩種器件的可靠性進(jìn)行了測(cè)試,總輻射功率的測(cè)試還是使用杭州遠(yuǎn)方測(cè)試儀。器件在溫度為的空氣環(huán)境中接通外加電流( ),并每隔小時(shí)對(duì)器件總輻射功率進(jìn)行一次測(cè)
8、試。由于和量子電子學(xué)報(bào)卷,九,看,圖中同樣的原因,結(jié)構(gòu)器件在剛接通外加電流的時(shí)候總輻射功率較略大,隨著時(shí)間的延長,由于環(huán)氧樹脂材料不是良好的導(dǎo)熱體,所以、兩種結(jié)構(gòu)的器件總輻射功率都有一些衰減,當(dāng)器件工作時(shí)間達(dá)到個(gè)小時(shí)時(shí),結(jié)構(gòu)器件的衰減已經(jīng)是結(jié)構(gòu)器件的三倍。這是由于工作時(shí)間短的情況下,結(jié)構(gòu)所存在的電流分布不均勻性導(dǎo)致的溫度分布不均勻的負(fù)面影響不是很明顯,但是隨著工作時(shí)間的延長,結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢(shì)就越發(fā)明顯,當(dāng)工作時(shí)間達(dá)到小時(shí)時(shí),結(jié)構(gòu)器件的總輻射功率衰減了,而結(jié)構(gòu)器件衰減了近,并且結(jié)構(gòu)有趨于穩(wěn)定的趨勢(shì),結(jié)構(gòu)則有繼續(xù)衰減的趨勢(shì)。結(jié)論和兩種電極結(jié)構(gòu),在表面上只是一個(gè)是傳統(tǒng)的塊狀電極和一個(gè)是電極周圍有一個(gè)環(huán)形電極的區(qū)別,可是當(dāng)隨著電流的增加以及器件工作時(shí)間的延長,電極結(jié)構(gòu)的電流分布不均勻所帶來的缺點(diǎn)相對(duì)于結(jié)構(gòu)來講是很明顯的,隨著電流的增加,大大惡化了器件的工作特性和可靠性。結(jié)構(gòu)局部區(qū)域的溫度過高影響了器件的內(nèi)量子效率,我們對(duì)于兩種電極結(jié)構(gòu)的基器件進(jìn)行了比較,對(duì)器件的電流電壓特性,電流總輻射功率曲線,以及器件工作狀態(tài)下的老化曲線進(jìn)行了測(cè)試,驗(yàn)證了環(huán)狀電極結(jié)構(gòu)有利于器件電流擴(kuò)展,減少器件串聯(lián)電阻,減少了焦耳熱的產(chǎn)生,提高了電光特性和可靠性。參考文獻(xiàn):(量子電子學(xué)
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