火力發(fā)電廠鑄造三通彎頭超聲波探傷方法

1、H26備案號：77782000中華人民共和國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) DLT 7182000 火力發(fā)電廠鑄造三通、彎頭超聲波探傷方法 The ultrasonic inspection method for casting tee joint andelbow in power plant 20001103發(fā)布 20010101實施 中華人民共和國國家經(jīng)濟(jì)貿(mào)易委員會 發(fā) 布 前 言 1992年原能源部科技司委托電站金屬材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會制定“火力發(fā)電廠鑄造三通、彎頭超聲波探傷方法”。該標(biāo)準(zhǔn)是在完成了鑄造三通、彎頭超聲探傷研究課題的基礎(chǔ)

2、上，經(jīng)過三年的調(diào)查研究，參照國內(nèi)外有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)程，吸取先進(jìn)技術(shù)，結(jié)合現(xiàn)場三通、彎頭的實際檢驗經(jīng)驗，廣泛征求各方面意見，經(jīng)反復(fù)修改于1995年6月2024日在四川省重慶發(fā)電廠召開了本標(biāo)準(zhǔn)的審查會議。會議認(rèn)為，該標(biāo)準(zhǔn)提出的探傷方法操作可行，檢測程序、缺陷的定性、分類及各項技術(shù)指標(biāo)具體明確，適應(yīng)于火電機(jī)組現(xiàn)場檢修要求。對于幾何參數(shù)相近的擠壓三通、彎頭及其他異型部件亦可參考使用。 本標(biāo)準(zhǔn)共引用了三項國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，其中GBT 72331987鑄鋼件超聲探傷及質(zhì)量評級方法，主要參考引用了“鑄鋼件質(zhì)量等級的評定”有關(guān)內(nèi)容。GBT 12604.11990無損檢測術(shù)語 超聲檢測，本標(biāo)準(zhǔn)采用的術(shù)語只要實質(zhì)內(nèi)容及定義與

3、該標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語相同，則采用該標(biāo)準(zhǔn)相應(yīng)術(shù)語，不使與之發(fā)生矛盾。JB92141999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法，本標(biāo)準(zhǔn)中使用的儀器及常規(guī)探頭，其性能測試方法以該標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。 附錄A、附錄B、附錄C都是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。 附錄D、附錄E、附錄F、附錄G都是提示的附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國原能源部提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由電力行業(yè)電站金屬材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：國家電力公司熱工研究院、西北電力試驗研究院、重慶發(fā)電廠。 本標(biāo)準(zhǔn)的主要起草人：李克明、李穩(wěn)政、李平川、沈海明。本標(biāo)準(zhǔn)委托國家電力公司熱工研究院負(fù)責(zé)解釋。 目 次 前 言1 范圍2 引用標(biāo)準(zhǔn)3 術(shù)語4 要求5

4、 檢測程序6 檢測方法7 缺陷的分類和定性8 探傷記錄9 探傷報告附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 專用試塊附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 定量曲線附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 頂端回波法及多重分貝法附錄D(提示的附錄) 鑄鋼件中常見缺陷的定性附錄E(提示的附錄) 專用試塊使用說明附錄F(提示的附錄) 考慮材質(zhì)衰減系數(shù)的缺陷定量方法附錄G(提示的附錄) 鑄造三通、彎頭質(zhì)量評級方法 中 華 人 民 共 和 國 電 力 行 業(yè) 標(biāo) 準(zhǔn) 火力發(fā)電廠鑄造三通、彎頭超聲波探傷方法 The ultrasonic inspection method for casting tee joint and elb

5、ow in power plant DLT 7182000   1 范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了火力發(fā)電廠鑄造三通、彎頭使用A型顯示脈沖反射式超聲波探傷儀，以探頭接觸法進(jìn)行探傷的超聲探傷程序、探傷方法、探傷記錄和探傷報告等。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于外徑 219mm以上，順肩方位曲率半徑RA90mm130mm，騎肩方位曲率半徑RB140mm180mm，壁厚20mm80mm的碳鋼和低合金鋼鑄造三通、彎頭超聲探傷，對于壁厚大于80mm以及其他鑄造件超聲波探傷可參考應(yīng)用。探測表層缺陷，必要時輔以磁粉和滲透探傷。 2 引用標(biāo)準(zhǔn)  下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)

6、中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。 GBT 72331987 鑄鋼件超聲探傷及質(zhì)量評級標(biāo)準(zhǔn) GBT 12604.11990 無損檢測超聲檢測術(shù)語JB 92141999A 型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法 3 術(shù)語 3.1 軸向探測axial scanning 入射平面與管段軸線平行的探測。3.2 周向探測circumferential scanning 入射平面與管段軸線垂直的探測。3.3 管段肩部shoulder of pipe 指三通彎頭內(nèi)弧雙曲率部位，見圖1斜線部

7、位。圖1 管段部位示意圖 3.4 順肩方位bearing parallel to shoulder 沿內(nèi)弧周向的方位見圖1。3.5 騎肩方位bearing vertical to shoulder 與順肩方位垂直的方位見圖1。3.6 聲程beam path 聲束入射點至反射點的距離。3.7 波高規(guī)定值stipulated value of echo height 規(guī)定為波高達(dá)到熒光屏滿刻度的60%。3.8 直通波through wave 兩相同型號爬波探頭置于探測表面，入射方向相對，一收一發(fā)得到的信號。3.9 回波幅度echo height 波高達(dá)到規(guī)定值時，以dB數(shù)量度的波幅大小。

8、3.10 探傷靈敏度working sensitivity 在整定條件下，能探出最小缺陷的能力，即實際進(jìn)行探傷的靈敏度。3.11 裂紋深度crack depth 指外表面裂紋下頂端至外表面的垂直尺寸。3.12 裂紋高度crack height指內(nèi)部或內(nèi)表面裂紋，裂紋上、下頂端在部件厚度方向的尺寸。3.13 爬波creeping wave 沿介質(zhì)表面層傳播的以縱波成分為主兼有橫波成分的合成波。傳播速度近似縱波速度。3.14 聲束有效尺寸effective size of beam 在規(guī)定距離和反射的條件下，回波聲壓相對聲束軸線下降6dB的兩側(cè)聲射線之間的距離。3.15 可探最大深度testabl

9、e largest depth(對爬波探頭) 3mm平底孔的反射信號能和噪聲信號相區(qū)別的前提下， 3mm平底孔反射面的中心點距探測表面的最大深度。3.16 可探最大距離testable largest distance(對爬波探頭) 3mm平底孔反射信號能和噪聲信號相區(qū)別的前提下，探頭前沿距 3mm平底孔反射面的最大距離。3.17 噪聲水平noise level 在規(guī)定儀器條件下，熒光屏上在可探最大距離范圍內(nèi)，噪聲信號達(dá)到波高規(guī)定值時的dB數(shù)。3.18 探頭靈敏度probe sensitivity 在規(guī)定儀器條件下，探頭探測規(guī)定距離下的規(guī)定反射體，其回波達(dá)到波高規(guī)定值時的dB數(shù)。3.19 焦柱

10、直徑diameter of focused cylinder 聚集聲束探測規(guī)定反射體(用 1mm橫通孔) ，在垂直于聲束軸線的截面內(nèi)，回波幅度相對聲束軸線下降6dB的兩側(cè)聲射線間的距離。3.20 焦點深度focus depth 聚集聲束探測不同深度的規(guī)定反射體，測出回波幅度隨不同深度的分布，其中最大回波幅度所對應(yīng)的深度。3.21 焦柱深度范圍depth range of focused cylinder 上述規(guī)定反射體回波幅度隨不同深度的分布中，焦點深度對應(yīng)的最大回波幅度dB值減去6dB所對應(yīng)的深度范圍。3.22 底波信噪比signalnoise ratio of bottom echo 底波

11、幅度與噪聲水平的dB差。 4 要求 4.1 一般要求4.1.1 表面要求：被探鑄件表面粗糙度Ra應(yīng)在12.5m以下。4.1.2 耦合劑要求：在滿足表面要求的鑄件表面，涂敷一層含水30%33%(容積) 的水玻璃水溶液，待完全干固后再用粘度較大的機(jī)油耦合。4.1.3 掃查方式：掃查速度不大于150mms，相鄰兩次掃查的重疊部分不低于探頭晶片尺寸的13。4.2 人員要求4.2.1 探傷人員需具有級及以上超聲檢測人員資格。4.2.2 探傷人員應(yīng)掌握本方法并熟悉鑄造工藝及常見缺陷等基礎(chǔ)知識。4.3 儀器要求4.3.1 儀器性能要求 a) 使用A型顯示脈沖反射式寬頻帶超聲波探傷儀，工作

12、頻率范圍不小于(0.510) MHz。 b) 衰減器的總衰減量不小于80dB，每標(biāo)稱12dB誤差±1dB。 c) 水平線性誤差不大于2%。 d) 垂直線性誤差不大于5%。 e) 靈敏度要求用常規(guī) 20mm、2.5MHz直探頭測量CSK1A試塊厚25mm一次底波，波高達(dá)熒光屏滿刻度的60%，增益最大，噪聲不大于滿刻度5%，衰減量不低于60dB。4.3.2 儀器條件：不接探頭，衰減置于0dB，增益最大時，調(diào)節(jié)抑制使電噪聲信號高度不大于熒光屏滿刻度的5%，探傷中始終保持該抑制狀態(tài)。4.4 使用探頭4.4.1 常規(guī)探頭： 20mm、2.5MHz直探頭，代號為N。性能要求應(yīng)滿足有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。4.4

13、.2 專用探頭：型號和主要性能標(biāo)準(zhǔn)見表1、表2、表3。表1 聚焦探頭型號適用部位接觸面頻率MHz晶片尺寸mm波型折射角度前沿距離mm焦點深度mm焦柱直徑mm集柱深度范圍mm靈敏度dB分辨率dBRmmRAmmRBmmF-1平面   2.528×23橫波45±1°23±154±55±1.518903030F-3軸向190  2.521×17橫波45±1°20±150±55±1.515803028F-5周向170 

14、0;2.521×17橫波40±1°22±153±57±1.510603024F-6周向190  2.520×15橫波45±1°20±138±56±1.510503030F-8直管段190  2.528×21縱波57±56.5±1.530803510F-9順肩 1051702.519×15橫波48±1°16±150±56±1.5109027

15、25F-10騎肩 1001702.522×32橫波30±1°21±169±57.5±1.510852215F-11騎肩 1001702.521×30橫波40±1°20±150±57±1.510602820F-12肩部 1001702.524×19縱波52±57.5±1.510903915  表2 爬 波 探 頭型號適用部位接觸面頻率MHz晶片尺寸mm靈敏度dB可探最大距離mm可探最大深度mm噪聲電

16、平dB聲束有效尺寸mmRmmRAmmRBmmC-6軸向190  1.818×182430151215±2C-8周向190  1.818×#177;2C-9順肩 1001702.518×12201558 C-11騎肩 1001702.518×1229251588±2注：表中RA為順肩方位曲率半徑，RB為騎肩方位曲線率半徑，R為管段外半徑。 表3 雙晶探頭(縱波直探頭) 型號適用部位頻率MHz晶片尺寸mm靈敏度dB聲軸交點深度mm垂直隔

17、聲層方向聲束有效尺寸mm平行隔聲層方向聲束有效尺寸mm菱形區(qū)深度范圍mm分辨率dBTR-1直管段2.510×134010±34.5±14.5±123020TR-1M肩部2.510×134010±34.5±14.5±123020 4.5 使用試塊4.5.1 探傷中常需要標(biāo)定探頭入射點、折射角和調(diào)整掃描速度，下列試塊分別用于各種探頭的有關(guān)調(diào)試。CSK1A，1IW2為標(biāo)準(zhǔn)試塊；TP1、TP2、TP3為專用試塊。4.5.2 專用試塊的圖紙見附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) ，專用試塊使用說明見附錄E(提示的附錄) 。

18、0;5 檢測程序 5.1 測量材質(zhì)衰減系數(shù)5.1.1 用N探頭在被探部件上測得第m次和第n次底波dB差 (取絕對值) ，按下式計算材質(zhì)衰減系數(shù)a： (1)式中：T被探件厚度，mm； m、n分別為底波次數(shù)，取mn且2nT130mm； Vmn第m次和第n次底波dB差，dB。5.1.2 一般情況a0.02dBmm0.08dBmm，如實測a0.3dBmm則不能探傷，或者進(jìn)行旨在降低衰減系數(shù)的熱處理后再行探傷。5.1.3 探傷時采用根據(jù)同聲程底波(或直通波) 和缺陷回波幅度的差異確定探傷靈敏度的方法，一般情況下，理論上已經(jīng)補償了在可探傷范圍內(nèi)，材質(zhì)衰減系數(shù)的差異對缺陷定量的影響。個別情況a0.

19、08dBmm，且檢出缺陷的聲程與探傷靈敏度所用的聲程不同時，則缺陷定量中應(yīng)作適當(dāng)修正，修正方法見附錄F(提示的附錄) (鑄鋼試塊a0.05dBmm) 。5.2 測量底波信噪比 直管段用F8探頭，肩部用F12探頭測量。要求底波信噪比不小于30dB。不能達(dá)到要求者，不能探傷。5.3 按下面第6條所述檢測方法進(jìn)行檢測 6 檢測方法 6.1 直管段探傷 首先測量管段外徑和管壁厚度，再用N探頭普查底波。底波幅度較正常底波衰減12dB以上可作為缺陷。從底波正常區(qū)向缺陷區(qū)移動探頭，按底波6dB法測其兩維尺寸，分別取最大尺寸作為缺陷的兩維尺寸。缺陷區(qū)的外接矩形的中心，作為缺陷定位點。6.1

20、.1 探測距表面30mm以內(nèi)的缺陷6.1.1.1 探測表面裂紋及其他面型缺陷 a) 使用探頭：軸向探測以C6探頭為主，周向探測以C8探頭為主，必要時輔以其他探頭探測。 b) 掃描速度：用N探頭在CSK1A試塊側(cè)面上，調(diào)整掃描速度為11。用一對C6或C8探頭置于探測表面，探頭縱向軸線分別與管段軸線平行或垂直。一個探頭前面的晶片作發(fā)射，另一個探頭后面的晶片作接收，以上簡稱前發(fā)后收。調(diào)水平和微調(diào)，分別使兩探頭前沿對齊和兩前沿相距40mm，直通波分別位于橫標(biāo)20mm和40mm，掃描速度即調(diào)好為11。這時若用一個爬波探頭兼收發(fā)探測時，若發(fā)現(xiàn)反射信號，其橫標(biāo)減20mm即為反射體至探頭前沿的距離。橫標(biāo)觀測范

21、圍為5mm70mm。 c) 軸向探測的探傷靈敏度及缺陷的定性定位定量。 探傷靈敏度：見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B1，將兩個C6探頭沿管段軸線放置。前沿對齊前發(fā)后收，躲開缺陷， 調(diào)整增益使直通波幅度達(dá)39dB，以33dB作為探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)長度大于等于10mm,深度大于等于1mm的表面裂紋。 缺陷定性定位定量：表面裂紋回波區(qū)別于埋藏深度大于等于5mm的缺陷回波的特征是：在熒光屏橫標(biāo)L10mm時，前者波幅在35dB以上，而后者波幅在24dB以下。當(dāng)探頭前后移動波幅隨距離變化，兩者亦有明顯區(qū)別，見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B1，B2。 當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷回波，以間距5mm相對缺陷移動探頭，測量其回波幅度

22、分布，如判為表面裂紋， 則按附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B1、B4對其定位定量，其中圖B4的縱標(biāo)L是對應(yīng)最遠(yuǎn)的波幅極大值回波的熒光屏橫標(biāo)。如測得深度大于9mm，則用F1或F3探頭參照附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 所述頂端回波法測其深度和方位。如判為埋藏缺陷，按6.1.1.2所述用TR1探頭探測的數(shù)據(jù)定位定量。 表面裂紋等面型缺陷的橫向長度，按缺陷端部回波極大值下降6dB法測定。 d) 周向探測的探傷靈敏度及缺陷定性定位定量： 探傷靈敏度：見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中B5。兩個C8探頭沿管段周向放置。前沿對齊前發(fā)后收，躲開缺陷，調(diào)節(jié)增益使直通波幅度達(dá)36dB，以24dB作為探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)長度大于等于10

23、mm，深度大于等于1mm的表面裂紋。 缺陷的定性定位定量：表面裂紋回波區(qū)別于深度大于等于5mm的埋藏缺陷回波的特征是：當(dāng)回波橫標(biāo)L10mm時，前者波幅在26dB以上，后者波幅在22dB以下，且對應(yīng)L從20mm移向15mm時，前者波幅上升，而后者波幅下降，見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B5、B6。當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷回波，可按照上面軸向探測所述測量回波幅度分布的方法測量其回波幅度分布。根據(jù)回波幅度分布如判為表面裂紋，則按附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B4、B5對其定位定量。如測得深度大于9mm，則用F5或F6探頭，參照附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中C1所述頂端回波法，測量其深度和方位。如判為埋藏缺陷，按6.1.1.2

24、所述用TR1探頭探測數(shù)據(jù)定位定量。 表面裂紋等面型缺陷橫向長度的測定方法與軸向探測時相同。6.1.1.2 探測近表面其他缺陷 a) 使用探頭：主要用TR1探頭進(jìn)行探測。 b) 掃描速度：用TR1探頭測11W2試塊厚12.5mm和CSK1A試塊厚25mm一次底波。調(diào)節(jié)水平、微調(diào)使入射點對應(yīng)熒光屏橫標(biāo)零點，掃描速度11。橫標(biāo)觀測范圍，0mm30mm。c) 探傷靈敏度：兩個C6探頭沿管段軸線放置，一個探頭前面的晶片作發(fā)射，另一個探頭前面的晶片作接收，以下簡稱前發(fā)前收，兩探頭前沿拉開一定距離P，使?jié)M足(2) 式。P(60l0) mm (2)式中：l0實量C6探頭前沿至隔聲表面的距離，mm。 躲開缺陷測

25、直通波幅度N1dB，從附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B8上查得 3mm曲線與直通波T曲線，對應(yīng)de30的點相差6dB，則以(N16) dBN2dB作為用TR1探頭探傷的靈敏度，能發(fā)現(xiàn)深度0mm30mm， 3mm當(dāng)量以上缺陷。 d) 缺陷定量：缺陷定量方法與其類型有關(guān)。如系點狀缺陷，則只定其當(dāng)量，但是否屬點狀缺陷，不取決于其回波幅度的大小，而是按照7.1中缺陷的分類中所述，隨探頭移動，通過觀察其回波連續(xù)性來判斷。對于點狀缺陷，按附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B9，按DGS方法定其當(dāng)量。 例：TR1探頭在深度12mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷回波幅度為XdB，查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B8， 3mm曲線上對應(yīng)de12

26、比對應(yīng)de30的點高出17dB，則以附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B9中de12的曲線對應(yīng) 3點的縱標(biāo)作為0dB，按縱標(biāo)(XN217) dB查該曲線上對應(yīng)的值即為缺陷當(dāng)量。對于條型、面型或體型缺陷，用TR1探頭以6dB法測其一或兩維尺寸，或用F1或F3探頭以頂端回波法測其深度方向尺寸。缺陷周向尺寸l按(3) 式計算，見圖2。圖2 凸曲面探測修正周向尺寸示意圖  (3) 式中： 缺陷周向指示弧長，mm； de缺陷深度，mm； R管段外半徑，mm。6.1.2 探測中下部20mm80mm范圍內(nèi)的缺陷6.1.2.1 探測內(nèi)表面裂紋及其他面型缺陷 a) 軸向探測使用探頭：管段外徑 219mm 40

27、0mm用F3探頭， 400mm以上用F1探頭。 b) 掃描速度：按深度調(diào)整。用CSK1A試塊，按實測折射角 ，配合調(diào)節(jié)水平、微調(diào)把R50mm、R100mm回波分別調(diào)到位于熒光屏橫標(biāo)50cos 、100cos ，即橫標(biāo)與深度之比為11。觀測范圍，20mm至部件厚度值。 c) 探傷靈敏度及缺陷高度定量：使用F3探頭、見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B10。用一對F3探頭，入射方向相對，沿被探管段軸向放置，躲開缺陷測得收發(fā)一次底波幅度為N1dB，從附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B10可查得兩曲線對應(yīng)被探件厚度的點相差dB，則以(N1) dBN2dB作為探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)下表面長度大于焦柱直徑，高度大于等于1

28、mm的裂紋。如測得裂紋回波幅度為N3dB，則以(N3N2) dB查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B11相應(yīng)被探件厚度的曲線，可得內(nèi)表面裂紋高度。使用F1探頭時，探傷靈敏度的調(diào)整和裂紋高度定量見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B12、B13。如從曲線上查得的裂紋高度已達(dá)到曲線對應(yīng)裂紋高度的上限，或判為埋藏的面型缺陷，可用頂端回波法測其高度和方位。 d) 周向探測使用探頭：“管段外徑 219mm(壁厚37mm以下) 380mm(壁厚65mm以下) 用F5探頭；管段外徑 340mm(壁厚47mm以下) 420mm(壁厚59mm以下) 用F6探頭。 e) 掃描速度：用TP1試塊R40mm、R80mm回波調(diào)成橫標(biāo)

29、與聲程之比為11。觀測范圍，深度20mm至部件厚度相應(yīng)的聲程范圍。聲程與深度的關(guān)系式見附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中C1頂端回波法中式(C3) 。 f) 探傷靈敏度及缺陷高度定量：探傷靈敏度及內(nèi)表面裂紋高度定量見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B14、B15、B16、B17，參考本節(jié)F3探頭相應(yīng)方法進(jìn)行。若從曲線上查得裂紋高度已達(dá)上限或發(fā)現(xiàn)埋藏的面型缺陷，可用頂端回波法測其高度和方位。 下表面裂紋等面型缺陷的橫向長度，按缺陷端部回波極大值下降6dB法測定。6.1.2.2 探測中下部其他缺陷 a) 使用探頭：以F8探頭為主，必要時用其他探頭輔助探測。 b) 掃描速度：用F8探頭通過TP1試塊厚30mm、50

30、mm一次底波調(diào)成橫標(biāo)與深度之比為11，觀測范圍，20mm至部件厚度值。 c) 探傷靈敏度：將F8探頭置于探測表面，躲開缺陷，測得一次底波幅度為N1dB。設(shè)部件厚50mm，查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B19。因 3mm曲線對應(yīng)de20mm的縱標(biāo)與B曲線對應(yīng)de50mm的縱標(biāo)相差26dB，故取(N126) dBN2dB作為探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)深20mm50mm, 3mm當(dāng)量以上缺陷。 d) 缺陷定量：對于點狀缺陷，如測得回波幅度，可用DGS方法查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B20確定缺陷當(dāng)量。對于非點狀缺陷，可用F8探頭以多重分貝法測定缺陷一維或兩維尺寸，參見附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 多重分貝法。周向尺寸

31、參照(3) 式計算，對測得周向弧長作曲面修正。必要時用適當(dāng)探頭以頂端回波法測定缺陷的高度和方位。6.2 管段肩部探傷 實測順肩方位，騎肩方位曲率半徑RA、RB，實測肩部壁厚，用F12探頭普查肩部底波變化，底波幅度較正常底波衰減12dB以上的則作為缺陷。6.2.1 探測距表面30mm以內(nèi)的缺陷6.2.1.1 探測表面裂紋及其他面型缺陷 a) 使用探頭：順肩方位以C9探頭為主，騎肩方位以C11探頭為主，必要時輔以其他探頭探測。 b) 掃描速度：用N探頭在CSK1A試塊側(cè)面上以三次底波調(diào)整掃描速度為11。C9探頭置于TP2試塊厚20mm部位，C11探頭置于TP3試塊厚20mm部位。探頭前沿與試塊端頭

32、對齊。調(diào)節(jié)水平使端頭回波于熒光屏橫標(biāo)20mm。依次后拉探頭使前沿距端頭分別為10mm、30mm，配合調(diào)節(jié)水平微調(diào)使端頭回波分別位于橫標(biāo)30mm、50mm。這時橫標(biāo)值減20mm等于反射體至前沿距離，即調(diào)好。觀測范圍5mm60mm。 c) 探傷靈敏度：對C9探頭，見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B21。用一對C9探頭沿順肩方位放置， 前發(fā)后收，入射方向相對，拉開適當(dāng)距離，使直通波位于橫標(biāo)30mm。調(diào)節(jié)增益使其幅度達(dá)30dB。以此作為探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)長度大于等于10mm，深度大于等于1mm的表面裂紋。對C11探頭， 見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B22。用一對C11探頭，沿騎肩方位放置，前發(fā)后收，使直通

33、波位于橫標(biāo)20mm，調(diào)節(jié)增益使其幅度達(dá)40dB。以34dB作為探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)長度大于等于10mm、深度大于等于1mm的表面裂紋。 d) 缺陷定性定位定量：由于C9探頭對埋藏缺陷不敏感，故出現(xiàn)缺陷回波，一般為表面裂紋，對于C11探頭，表面裂紋回波區(qū)別于深度大于等于5mm的埋藏缺陷回波的特征是對應(yīng)橫標(biāo)L10mm，前者波幅高于42dB，后者波幅低于32dB。幅度隨距離的分布亦有明顯區(qū)別，見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B22、B24。如發(fā)現(xiàn)缺陷回波，以間距5mm相對缺陷移動探頭，測其幅度分布。根據(jù)幅度分布如判為表面裂紋，對C9探頭查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B21，對C11探頭查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)

34、 中圖B22、B23，可對其定位定量。如測得深度已達(dá)到曲線對應(yīng)深度的上限， 則用F9或F11探頭以頂端回波法測其深度和方位，如判為埋藏缺陷，按6.2.1.2所述用TR1M探頭探測數(shù)據(jù)定位定量。 表面裂紋等面型缺陷的橫向長度，按缺陷端部回波極大值下降6dB法測定。6.2.1.2 探測近表面其他缺陷 a) 使用探頭：主要用TR1M探頭進(jìn)行探測。 b) 掃描速度：先用N探頭測CSK1A試塊厚25mm三次底波調(diào)成11。然后用TR1M探頭測TP2試塊厚20mm一次底波，調(diào)水平，將其移至橫標(biāo)20mm即調(diào)成橫標(biāo)與深度之比為11。橫標(biāo)觀測范圍0mm30mm。 c) 探傷靈敏度：兩個C11探頭沿管段肩部騎肩方位

35、放置，前發(fā)前收。兩探頭拉開一定距離P，使?jié)M足(2) 式。測直通波幅度為N1dB。從附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B25查得 3曲線與T曲線對應(yīng)de30mm的點相差+14dB，則以(N114) dBN2dB作為用TR1M探頭時的探傷靈敏度，能發(fā)現(xiàn)深度0mm30mm的 3mm當(dāng)量以上缺陷。d) 缺陷定量：對于點狀缺陷，測得深度和回波幅度，參照附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B26，按DGS方法定其當(dāng)量。對于非點狀缺陷，用6dB法測其一維或兩維尺寸，或必要時用F9、F11探頭以頂端回波法測其深度方向尺寸。缺陷定量當(dāng)中，無論順肩方位或騎肩方位缺陷尺寸，都需作曲面修正，騎肩方位缺陷尺寸l按式(3) 計算，式中 在

36、這里為缺陷騎肩方位指示弧長，R為騎肩方位曲率半徑，順肩方位缺陷尺寸l按式(4) 計算見圖3。圖3 凹曲面探測修正周向尺寸示意圖 (4)式中： 缺陷順肩方位指示弧長， mm； de缺陷深度，mm； RA順肩方位曲率半徑，mm。6.2.2 探測中下部深度20mm80mm范圍內(nèi)的缺陷6.2.2.1 探測內(nèi)表面裂紋及其他面型缺陷 a) 順肩方位使用探頭：用F9探頭探測。 b) 掃描速度：用F9探頭通過TP2試塊R40mm、R80mm回波調(diào)成橫標(biāo)與聲程之比為11。觀測范圍深度20mm至部件厚度相應(yīng)的聲程范圍。聲程與深度的關(guān)系式見附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中C1頂端回波法中式(C6) 。 c) 探傷靈敏度及缺

37、陷高度定量：參照附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B27、B28，并參考6.1.2.1中相應(yīng)方法進(jìn)行。 d) 騎肩方位使用探頭：曲率半徑RB140mm(厚度在50mm以下) 180mm(厚度在65mm以下) 用F11探頭，RB140mm(厚度在70mm以下) 180mm(厚度在85mm以下) 用F10探頭。 e) 掃描速度：通過TP3試塊R40、R80mm回波調(diào)成橫標(biāo)與聲程之比為11。觀測范圍20mm至部件厚度相應(yīng)的聲程范圍，聲程與深度的關(guān)系式見附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中C1頂端回波法中式(C3) 。 f) 探傷靈敏度及缺陷高度定量：用F10探頭，見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B29、B30；用F11探頭

38、，參見附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B31、B32；并參照6.1.2.1中相應(yīng)方法進(jìn)行。 內(nèi)表面裂紋等面型缺陷的橫向長度，按缺陷端部回波極大值下降6dB法測定。6.2.2.2 探測中下部其他缺陷 a) 使用探頭：以F12探頭為主，必要時用其他探頭輔助探測。 b) 掃描速度：用F12探頭通過TP2試塊厚20mm、50mm一次底波，調(diào)成橫標(biāo)與深度之比為11。觀測范圍20mm至部件厚度值。 c) 探傷靈敏度：用F12探頭躲開缺陷測得一次底波幅度為N1dB。查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B33中 3曲線對應(yīng)de20mm的縱標(biāo)與B曲線對應(yīng)部件厚度的縱標(biāo)相差的絕對值為dB，以(N1) dBN2dB作為探作靈敏度

39、，能發(fā)現(xiàn)觀測范圍內(nèi) 3當(dāng)量以上缺陷。 d) 缺陷定量：對于點狀缺陷，測得其深度和回波幅度，查附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 中圖B34，按DGS方法定其當(dāng)量。對于非點狀缺陷，用F12探頭以多重分貝法測其一維或兩維尺寸。測得缺陷指示弧長，分別按(3) 、(4) 式求其騎肩和順肩方位尺寸，必要時可用F9、F10或F11探頭以頂端回波法測其深度方向尺寸。6.3 彎頭探傷 實測壁厚、軸向和周向曲率半徑。用N探頭普查底波。表層用C8、TR1探頭，中下部用N探頭、F5、F9、F11等探頭，按6.1及6.2中有關(guān)方法進(jìn)行探傷。 7 缺陷的分類和定性 7.1 缺陷分類：按形狀和分布劃分的缺陷類型。7

40、.1.1 點狀缺陷：當(dāng)量直徑不大于聲束有效尺寸的缺陷。如點狀夾雜氣孔等。7.1.2 單個分散點狀缺陷：相鄰缺陷中心點之間距離B，滿足B5 的點狀缺陷。 為所述相鄰缺陷中最大的當(dāng)量直徑。7.1.3 密集點狀缺陷：滿足B2 點狀缺陷，如密集夾雜氣孔。7.1.4 相關(guān)點狀缺陷：滿足2 B 的點狀缺陷。7.1.5 長條型缺陷：寬度不大于聲束有效尺寸，長、寬之比大于3的缺陷。如條形夾雜鏈狀氣孔等。7.1.6 面型缺陷：反射面遠(yuǎn)大于聲束有效尺寸，只能測出兩維尺寸的缺陷。如裂紋冷隔等。7.1.7 體積型缺陷：反射面遠(yuǎn)大于聲束有效尺寸，能測出三維尺寸的缺陷。如疏松、縮孔、大型夾雜等。7.1.8 埋藏缺陷：不外

41、露于表面的部件內(nèi)部缺陷。7.2 缺陷的定性：當(dāng)需要對缺陷定性時，應(yīng)根據(jù)缺陷的尺寸、數(shù)量、類型，回波信號靜態(tài)、動態(tài)特征，部件材料的特性，冶煉加工、熱處理等工藝因素，進(jìn)行綜合分析，作出定性判斷。必要時還應(yīng)采用其他檢測方法輔助驗證。超聲探傷中對缺陷定性的方法參照附錄D(提示的附錄) 。 8 探傷記錄  探傷記錄包括以下項目：8.1 部件名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)，介質(zhì)溫度、壓力、表面粗糙度。8.2 儀器型號、探頭型號頻率，試塊型號、耦合劑。8.3 實測管段外徑、RA、RB、壁厚、衰減系數(shù)、底波信噪比。8.4 掃描速度、探傷靈敏度。8.5 缺陷信號參數(shù)及相應(yīng)底波參數(shù)。缺陷所

42、在部位、缺陷類型、尺寸、方位、性質(zhì)。8.6 委托單位、探傷人員及日期。 9 探傷報告  探傷報告包括以下項目：9.1 同于探傷記錄8.1至8.4項。9.2 探傷結(jié)果輔以圖表表示缺陷所在部位、缺陷類型、尺寸、方位、性質(zhì)。9.3 參照附錄G(提示的附錄) 給出被探鑄件質(zhì)量等級或提出處理意見。9.4 委托單位、探傷日期、探傷者及審核者簽名。 附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 專 用 試 塊 注：(1) 刻線深0.1，寬0.1，沿R190方向在兩側(cè)對稱刻線，并在探測柱面上相連接；(2) 標(biāo)示距離為弦距，尺寸誤差±0.10，角度誤差±2，長度單位毫米；(3) 材料加

43、工及熱處理工藝同于V1試塊；(4) 光潔度 6；(5) 通孔及切槽在側(cè)視圖中的投影從略；(6) 本試塊可用于測F5、F6，入射點，折射角，調(diào)掃描速度，距離較近的 2通孔用于測分辨率，距上下表面分別為30的二通孔及切槽用于調(diào)靈敏度，一收一發(fā)可測厚50、30底波；(7) 上表面切槽及 3平底孔用于C8調(diào)靈敏度缺陷定位；(8) 材料：20號碳鋼。圖A1 專用試塊TP1詳圖 注：(1) 圖中標(biāo)示的角度的線間距離乃是試塊側(cè)面上緣曲線上的弦距，角度刻線深0.1、寬0.1，沿R105方向在兩側(cè)面對稱刻線，并在探測曲面上連接。(2) 材料加工及熱處理工藝同于V1試塊。(3) 尺寸誤差±0.

44、10，光潔度 6，長度單位毫米。(4) 通孔，平底孔在側(cè)視圖中虛線從略。(5) 本試塊可用于測F9入射點，折射角，靈敏度，一收一發(fā)測厚50.20底波，調(diào)掃描速度。(6) 3平底孔及上表面切槽用于C9測定靈敏度缺陷定位，下表面切槽用于F9測裂紋定靈敏度。(7) 任一R155或R26.7垂直紙面切割的截面，下緣曲線R120。沿R125或R30垂直紙面切割的截面，下緣曲線R150，沿R105垂直紙面切割的截面，上緣曲線R170；(8) 材料：20號碳鋼。圖A2 專用試塊TP2詳圖 注：(1) 圖中標(biāo)示的刻線周向距離乃是試塊側(cè)面上緣曲線上的弦距，刻線深0.1、寬0.1，沿R170方向在兩側(cè)面

45、對稱刻線，并在探測曲面上相連接；(2) 沿R120方向垂直于紙面切割的任一截面其上緣曲線為R100，下緣曲線為R150，沿R24(與R120相連接) 方向垂直于紙面切割的任一截面，其下緣曲線為R150，沿R150方向垂直于紙面切割的任一截面如AA所示，沿R24(R150相接) 方向垂直于紙面切割的任一截面，其下緣曲線為R120；(3) 材料加工及處理工藝同于V1試塊；(4) 尺寸誤差±0.10，角度誤差±2，光潔度 6，長度單位毫米；(5) 在側(cè)視圖中只表示了一條刻線和一個深0.5切槽，其它刻線切槽及橫通孔在側(cè)視圖中投影從略；(6) 本試塊可用于測F10、F11，入射點折射

46、角，靈敏度一收一發(fā)側(cè)厚50.20底波，并與同聲中 2對比調(diào)掃描速度；(7) 3平底孔及切槽用于C11測定靈敏度，缺陷定位；(8) 材料：20號碳鋼。圖A3 專用試塊TP3詳圖 附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄) 定 量 曲 線探頭：c6兩支；L：熒光屏橫標(biāo)；d：裂紋至探頭前沿水平距離對直通波為收發(fā)探頭前沿距離之半；de： 裂紋深度；(T) 對應(yīng)c62前發(fā)c61后收直通波；(1) ：對應(yīng)de3；(2) ：對應(yīng)de5；(3) ：對應(yīng)de7；(4) ：對應(yīng)de9；(5) ：對應(yīng)de1；(6) ：對應(yīng)de1.5；N：噪聲水平；長度單位：mm圖B1 爬波軸向探測 裂紋定位定深度曲線 探頭：c6兩支

47、；L：熒光屏橫標(biāo)；d：反射體至探頭前沿水平距離對直通波為收發(fā)探頭前沿距離之半；de：反射體至表面深度(T) 對應(yīng)c62前發(fā)c61后收直通波；(1) ：對應(yīng)de10 3；(2) ：對應(yīng)de10 7；(3) ：對應(yīng)de10 9；N：噪聲水平；長度單位：mm圖B2 爬波軸向探測(深度10mm) 缺陷定位定當(dāng)量曲線  探頭：c-6兩支；L：熒光屏橫標(biāo)；d：反射體至探頭前沿水平距離對直通波為收發(fā)探頭前沿距離之半；de：反射體至表面深度；(T) ：對應(yīng)c-6-2前發(fā)c-6-1后收直通波；(1) ：對應(yīng)de15 3；(2) ：對應(yīng)de15 7；(3) ：對應(yīng)de15 9；N：噪聲水平；長度單位：m

48、m圖B3 爬波軸向探測(深度15mm) 缺陷定位定當(dāng)量曲線 探頭：c6、c8；掃描速度L：d11；L：熒光屏橫標(biāo)對應(yīng)最遠(yuǎn)信號極大值；d：裂紋至探頭前沿水平距離；de：裂紋深度；(1) ：對應(yīng)軸向深測；(2) ：對應(yīng)周向深測；長度單位：mm圖B4 爬波探測 裂紋信號聲程與深度關(guān)系曲線 探頭：c8兩支；L：熒光屏橫標(biāo)；d：切槽至探頭前沿水平距離， 對直通波為收發(fā)探頭前沿距離之半；de：切槽深度；(T) ：對應(yīng)c82前發(fā)c81后收直通波；(1) 對應(yīng)de3；(2) 對應(yīng)de5；(3) 對應(yīng)de7；(4) 對應(yīng)de9；N：噪聲水平；(5) 對應(yīng)de1；長度單位：mm圖B5 爬波周向

49、探測 裂紋定位定深度曲線 探頭：c-8兩支；L：熒光屏橫標(biāo)；d：反射體至探頭前沿水平距離，對直通波為收發(fā)探頭前沿距離之半；de：反射體至表面深度；(T)： 對應(yīng)c-8-2前發(fā)c-8-1后收直通波； (1)對應(yīng)de10 3；(2)對應(yīng)de10 5；(3)對應(yīng)de10 7；(4)對應(yīng)de10 9；N：噪聲水平；長度單位：mm圖B6 爬波周向探測(深度10mm)缺陷定位定當(dāng)量曲線 探頭：c-8兩支；L：熒光屏橫標(biāo)；d：反射體至探頭前沿水平距離，對直通波為收發(fā)探頭前沿距離之半；de： 反射體至表面深度；(T)對應(yīng)c-8-2前發(fā)c-8-1后收直通波； (1)對應(yīng)de15 3；(2)對

50、應(yīng)de15 5；(3)對應(yīng)de15 7；(4)對應(yīng)de15 9；N：噪聲水平；長度單位：mm圖B7 爬波周向探測(深度15mm)缺陷定位  探頭：測直通波時用一支c-6前發(fā)另一支c-6前收；測平底孔時用TR-1；de：平底孔至探測面的距離，對直通波為爬波傳播距離之半；(T)直通波曲線；( 3)： 3平底孔曲線 ：平底孔直徑；長度單位：mm圖B8 TR-1探頭探測 確定探傷靈敏度曲線 (兩支c-6探頭測得直通波曲線及TR-1探頭探測不同深度的 3平底孔曲線)  探頭：測直通波時用一支c-6前發(fā)另一支c-6前收；測平底孔時用TR1；de：平底孔至探測面的距離

51、，對直通波為爬波傳播距離之半；：平底孔直徑；長度單位：mm圖B9 TR-1探頭探測 缺陷定位定當(dāng)量曲線(TR-1探測不同深度平底孔定當(dāng)量曲線) 探頭：F-3兩支；長度單位：mm圖B10 F-3探頭探測 確定探傷靈敏度曲線F-3探頭探測收發(fā)一次底波和1mm裂紋波幅度與厚度 (深度)的關(guān)系曲線 探頭：F-3；長度單位：mm圖B11 F-3探頭探測 確定裂紋高度曲線(F-3探頭探測同一深度下不同高度裂紋回波相對1mm裂紋回波的dB差) 探頭：F-1兩支；長度單位：mm圖B12 F-1探頭探測 確定探傷靈敏度曲線F-1探頭探測收發(fā)一次底波和1mm裂紋波幅度與厚度(深度)的

52、關(guān)系曲線 長度單位：mm圖B13 F-1探頭探測 確定裂紋高度曲線(F-1探頭探測同一深度下不同高度裂紋的回波相對1mm裂紋回波的dB差) 探頭：F-5兩支；長度單位：mm圖B14 F-5探頭探測 確定探傷靈敏度曲線F-5探頭探測時收發(fā)一次底波和1mm裂紋波幅度與厚度(深度)的關(guān)系曲線 長度單位：mm圖B15 F-5探頭探測 確定裂紋高度曲線(F-5探頭探測時同一深度下不同高度裂紋的回波相對1mm裂紋回波的dB差) 探頭：F-6兩支；長度單位：mm圖B16 F-6探頭探測 確定探傷靈敏度曲線F-6探頭探測收發(fā)一次底波和1mm裂紋波幅度與厚度(深度)的關(guān)系曲線 圖B17 F6探頭探測 確定裂紋高度曲線(F6探頭探測同一深度下不同高度裂紋的回波相對1mm裂紋回波的dB差)  周向探測R184；折射角 40°F5反射點至表面深度de；相應(yīng)聲程w；