實驗(試驗)室建設(shè)20130802C

1、實驗室(試驗室)建設(shè)()設(shè)計思想與設(shè)計方案(討論稿)2013年8月7日 修訂C版 目錄 集團公司 中 心 實 驗 室 體 系 頁碼0 實驗室(試驗室)規(guī)劃 設(shè)計思想 2 1 中心實驗室 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 布置總圖 4 2 照明產(chǎn)品性能部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 93 可靠性與失效分析部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 154 電磁環(huán)境部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 235 電子電氣測量部分 編制說明

2、/ 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 286 安規(guī)與認(rèn)證部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 337 計量部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 398 能效部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖 439 理化與材料分析部分 編制說明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 / 布置圖(目前為空白) 10 附件一 參考資料引用 4611 附件二 英文縮寫的代號、中文名查找與對照 4712

3、 附件三 歐洲、北美、中國大陸有關(guān)安全與認(rèn)證的資料介紹 4813 附件四 實驗室認(rèn)可介紹 54實驗室(試驗室)規(guī)劃 設(shè)計思想 xsp-1-13 公司從首次技術(shù)改造(廠房規(guī)劃與建立實驗室)以來將近4年。當(dāng)年尤其是實驗室的建立對企業(yè)影響的擴大、職工信心的提升、產(chǎn)品的試驗與性能認(rèn)定、市場推廣均起到了積極作用。新廠房正在崛起，與老廠區(qū)比較，公司賦予實驗室的建設(shè)以更大的資金投入，更大的場地規(guī)劃、更大規(guī)模的裝備配置。一旦建成將使公司步入更高的技術(shù)層次，潛入更深的專業(yè)深度，獲得更強的產(chǎn)業(yè)實力。做好這份新實驗室具體設(shè)計策劃書，是對公司戰(zhàn)略發(fā)展提供專業(yè)上的認(rèn)識支持。1 強有力的實體企業(yè)衡量標(biāo)準(zhǔn)之一一個相對完善的

4、、強有力的實體企業(yè)除了一定會具備的現(xiàn)代化生產(chǎn)線與廠房外，還應(yīng)有三個可以衡量的標(biāo)準(zhǔn)。 有較高比例的科技人員隊伍(包括高、中、低/老、中、青層次的搭配) 有符合企業(yè)產(chǎn)品技術(shù)發(fā)展要求的、強大的中心實驗室(試驗室)。 有活躍、暢通、及時的情報資料室(包括標(biāo)準(zhǔn)、檔案、科技信息資料的收藏量及信息研究、辦公物質(zhì)條件等)。2 實驗室功能強大的實驗室(試驗室)，有許多功能： 2.1 有效跟蹤、監(jiān)督各級產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(國際、國家、行業(yè)、企業(yè))所規(guī)定要求的執(zhí)行情況及變化。諸如產(chǎn)品性能、可靠性、安全性、電磁兼容、節(jié)能環(huán)保等。2.2 開展各種強制性、非強制性、標(biāo)志性等認(rèn)證、規(guī)定項目的內(nèi)部測試、試驗，以提供符合要求的改進數(shù)

5、據(jù)與結(jié)論。諸如，CCC、CQC、UL、FCC、Energy Star、ENEC、CE等認(rèn)證。2.3 在新產(chǎn)品研發(fā)、老產(chǎn)品改進，新材料、新工藝、新技術(shù)設(shè)計應(yīng)用后，對技術(shù)貢獻與產(chǎn)品升級進行考核、評審、提供制定相應(yīng)技術(shù)規(guī)范的實驗數(shù)據(jù)。2.4 對產(chǎn)品使用中，產(chǎn)生的各種問題提供失效分析(質(zhì)量問題與不足改進)。2.5 對未知科技難題進行實驗與探索。3 推動企業(yè)技術(shù)進步中心實驗室的建立是公司長期規(guī)劃的中心內(nèi)容之一，當(dāng)然這需要龐大的資金、優(yōu)秀的組織、相當(dāng)?shù)臅r間積累。·它將為企業(yè)建立工程專業(yè)研究所，奠定物質(zhì)基礎(chǔ)，為創(chuàng)新提供平臺。·進一步推動情報與標(biāo)準(zhǔn)化的配套發(fā)展。·也一定會推動人才

6、的聚集。4 實驗室的設(shè)計與認(rèn)識構(gòu)成 實驗室的設(shè)計應(yīng)包括軟實力與硬件二大塊，這樣才構(gòu)成實驗室建設(shè)完整內(nèi)涵。他們有以下各種內(nèi)容組合構(gòu)成。 4.1 專業(yè)體系圖 專業(yè)體系圖，主要目的是簡明表達(dá)實驗室整體與各專業(yè)的主要工作內(nèi)容，也為內(nèi)涵補充調(diào)整，留下空間。4.2 工作依據(jù)與主要執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容本公司實驗室(試驗室)，主要任務(wù)之一是跟蹤、執(zhí)行各級產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，因此各專業(yè)實驗室(試驗室)的工作必需熟悉并詳細(xì)掌握各級產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容與動態(tài)。 4.3 以主要的產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求的內(nèi)容置備相應(yīng)的物質(zhì)條件/APPARATUS（儀器、儀表、裝置、裝備、器具、器械、器件、機件等），實現(xiàn)主要的實驗功能。 社會/公司實驗室（工

7、程師）熟悉標(biāo)準(zhǔn)及工作課題熟練操作裝備與實驗接受或提出工作課題三者互動出報告（以數(shù)據(jù)為主） 出結(jié)果（以判斷為主）出成果（以提升為主） 4.4 互動關(guān)系 5 局限性實驗室(試驗室)是一個伸縮性很強的概念。世界上著名的貝爾實驗室出了數(shù)名諾貝爾獎獲得者。1894年成立的全世界最負(fù)盛名的制定安全標(biāo)準(zhǔn)的非強制性實驗認(rèn)證機構(gòu)UL，正式名稱是“美國保險商試驗室(Underwriters Laboratory)?！彼鼈兌家延猩习倌隁v史。我國有政府性質(zhì)的各級檢測、檢驗第三方機構(gòu)，也擁有許多民營的檢驗機構(gòu)(獨立的/由企業(yè)投資形成的)。我公司早已有涉及此領(lǐng)域的意愿。根本上仍然是由企業(yè)的諸實力因素(資金、人材、認(rèn)識、經(jīng)

8、驗、業(yè)內(nèi)交流、社會認(rèn)可)決定，為此，既要了解相關(guān)的政策/法規(guī)，又不能脫離企業(yè)的實際情況。還需依賴公司整體上的經(jīng)營發(fā)展。目前我們的認(rèn)識局限性是明顯的，必須抓緊研究與學(xué)習(xí)，操作上步步為營，穩(wěn)扎穩(wěn)打，逐漸爭取較大成功。置于應(yīng)怎樣建設(shè)實驗室，并無現(xiàn)成的理論與實踐版本、認(rèn)識上也見仁見智。本人盡可能在廣泛收集信息與現(xiàn)有認(rèn)識基礎(chǔ)上將經(jīng)驗與積累的有限認(rèn)識系統(tǒng)化、留出修改補充空間，并在細(xì)節(jié)上盡可能廣泛吸取現(xiàn)有的信息充實到設(shè)計中,盡可能聽取供應(yīng)商與公司內(nèi)部各級人員的意見補充到文本中，但仍然會有大量不足之處，所以只能以階段性的“ 討論稿 ”形式，報告給公司。再將意見集中取舍后，完成可操作的工作版本。作為主要策劃人，

9、我個人在技術(shù)認(rèn)識與組織實施上的局限性是顯而易見的，因長期工廠的工作經(jīng)歷，認(rèn)識深度有限，相關(guān)經(jīng)驗不夠，精力、體力有限，能不犯或少犯錯誤，不貽誤公司的事業(yè)發(fā)展就是萬幸。所以，我個人認(rèn)為：視實驗室(試驗室)為科技人員的終生課題，也不為過。 附：實驗室(試驗室)建設(shè)方案(討論稿) 58第一部分 中 心 實 驗 室 1.1 編制說明 ·2011年6月29日我們在xsp-33-11努力實現(xiàn)有可靠性(設(shè)計和制造)保證的LED照明產(chǎn)品一文中，總結(jié)2010年的工作時，就更明確地提出：我公司主要為執(zhí)行技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，按標(biāo)準(zhǔn)要求創(chuàng)立相應(yīng)的實驗條件。 以現(xiàn)有的產(chǎn)品及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(不論是傳統(tǒng)的產(chǎn)品，還是LED照明產(chǎn)品)

10、作為規(guī)劃實驗室的依據(jù)，它在規(guī)劃上是以照明產(chǎn)品為主題的綜合性的實驗室，具體又可劃分為照明產(chǎn)品性能(電光色參數(shù))、可靠性與失效分析、電磁兼容(EMC)、電子測量、安規(guī)與認(rèn)證、能效等多個獨立專業(yè)部分。并認(rèn)為“一個相對完善的實體企業(yè)、應(yīng)有一定實力的實驗室?！蓖瑫r也提到了實驗室應(yīng)有“對未知科技難題進行實驗、認(rèn)證與探索” 的可能性。 ·柏宜照明中心實驗室綜合能力與公司已有實驗條件、生產(chǎn)條件、質(zhì)量考核條件會有重復(fù)，但有明顯的差別，柏宜中心實驗室將以更高的技術(shù)層次，更深的專業(yè)深度、更強的產(chǎn)業(yè)實力為企業(yè)自身與社會提供服務(wù)。 ·實驗室(試驗室)大量的儀表、設(shè)備及測試系統(tǒng)，在實驗(試驗)時的數(shù)據(jù)

11、精度與重復(fù)性要求是國內(nèi)外裝備、儀表技術(shù)與價格差距主要原因所在，是不易處理的主要難題。我們在選擇時，仍以國內(nèi)品牌為先。·試驗臺數(shù)量配置也是個難以把握的要求。只能根據(jù)場地、資金，先爭取有，再解決是否夠用的矛盾。 1.2 中心實驗室 體系圖 集 團 公 司中 心 實 驗 室其它照明產(chǎn)品性能可 失靠 效性 分與 析電磁環(huán)境能效理 化 與材料分析計量安規(guī)與認(rèn)證電子測量 見No.2 見No.3 見No.4 見No.5 見No.6 見No.7 見No.8 見No.9 見No.10目前空白目前空白 1.3 中心實驗室 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)專業(yè)領(lǐng)域：照明與燈具序號執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號、名稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注1G

12、B/T 19001-2008/ISO9001:2008質(zhì)量管理體系 要求No.5準(zhǔn)則包含了以下證明：按管理體系運行，具有技術(shù)能力。提供正確的技術(shù)結(jié)果，滿足上述要求并包含與ISO9001中與實驗室有關(guān)的條款。2GB/T 27000-2006/ISO/IEC 17000:2004合格評定 詞匯和通用原則3GB/T 27011-2005/ISO/IEC 17011:2004合格評定 對認(rèn)證合格評定機構(gòu)的認(rèn)證機構(gòu)的一般要求4GB/T 27025-2008 /ISO/IEC 17025:2005檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求5CNAS-C101-2006/ISO/IEC 17025:2005檢測和校準(zhǔn)實

13、驗室能力認(rèn)可準(zhǔn)則6GB 4793.1-2007/IEC 61010-1:2001測量控制和實驗室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分 通用要求7VIM國際通用計算學(xué)基本術(shù)語-8BY/QB0017-2010實驗室試驗標(biāo)準(zhǔn)（暫行）9GB/T 18268.1-2010 idt IEC 61326-1:1997測量、控制和實驗室用的電設(shè)備 電磁兼容性要求 第1部分:通用要求10主要產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)（性能要求、測試方法、安全）：進入到各具體部分1.5 中心實驗室 布置總圖 “遠(yuǎn)方”(2013.7.8)提供的經(jīng)我方提出的初步修改意見試驗室布置總圖1.5.1 “柏宜”提供的場地與實驗室規(guī)劃要求 場地：生產(chǎn)大樓第四樓層，建

14、筑面積3520×層高 M/ M(無梁/有梁)。面積計算：以立柱單元8×8M為基本，橫向(0.5+10+0.5)共11單元，縱向5單元，共計64/單元×11×5單元?！鞍匾恕睂嶒炇乙?guī)劃建設(shè)(討論稿)2013.5.30起。1.5.2 “遠(yuǎn)方”提供給“柏宜”的實驗室布置總圖，區(qū)域總面積(總50%樓層)1760(A稿)。1.5.3 “遠(yuǎn)方”提供給“柏宜”的實驗室布置總圖，區(qū)域總面積(總50%樓層)1760(B稿)。第二部分 照明產(chǎn)品性能2.1 編制說明 本部分是實驗室的核心部分-照明產(chǎn)品性能實驗室。以照明產(chǎn)品為主題，產(chǎn)品參數(shù)性能為中心。它應(yīng)能滿足照明產(chǎn)品自身的三

15、大測量內(nèi)容： 極大部分的電、光、色參數(shù) 光色度空間分布參數(shù)與分布曲線 現(xiàn)場照明工程質(zhì)量指標(biāo)。三大測量內(nèi)容部分參數(shù)可以通過軟件計算自動獲得。并具有多種文件互換版本(格式)，如GOS、CIE、IES、Tm14、EUT、CIB、CEN等。2.1.1 由于參數(shù)內(nèi)容的豐富復(fù)雜，單一測試系統(tǒng)又難以覆蓋照明產(chǎn)品的全部參數(shù)，故各個測量系統(tǒng)會有不同的側(cè)重，彼此之間也互有重疊部分，而相同參數(shù)也會有不同方法(?)測試等差別。2.1.2 測量系統(tǒng)均是按技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計制造的，但是LED照明標(biāo)準(zhǔn)體系與傳統(tǒng)照明標(biāo)準(zhǔn)體系有不同的內(nèi)涵。因此在執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)時，需慎重、細(xì)致地熟悉與理解之。2.1.3 本部分在標(biāo)準(zhǔn)匯總與測試系統(tǒng)互相

16、配合中，仍有許多設(shè)計考慮時無法細(xì)致酌別之處，有待過程中修改補充與調(diào)整。注：（？）在測試方法上可能會有依據(jù)上的不統(tǒng)一。2.2 照明產(chǎn)品性能 體系圖 燈具配光性能測試系統(tǒng)電光色參數(shù)測試系統(tǒng)光輻射生物安全測定系統(tǒng)照明產(chǎn)品性能LED（含溫度特性試驗）加速老化和壽命測試系統(tǒng) (燈和燈具) No.2 現(xiàn)場環(huán)境測試系統(tǒng)色坐標(biāo)、容差、顯色性色溫光譜峰值波長等空間分布電壓、電流、功率因數(shù)總照明功率總光通量眩光值GR顯色性Ra亮度L(cd/m3)照明功率LPD(w/m2)照度E(lx)統(tǒng)一眩光值UGR照度均勻度反射比(系統(tǒng)測量)光譜光色CRI(K)光強亮度顏色其它常用電光色參數(shù)UF光效lm/w柱面半柱面其他公常室

17、共用內(nèi)建房不筑間舒和與適工場眩業(yè)所光建 評筑 價室不外舒如適體眩育光場評所價照明工程質(zhì)量指標(biāo)電源效率燈具效率2.3 照明產(chǎn)品性能 燈與燈具產(chǎn)品的部分執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注1LED燈具電光色參數(shù)測試系統(tǒng)HAAS-2000高精度快速光譜輻射計配積分球0.5M/2M各一只。 可用于：·測量相對光譜功率分布、輻射功率、光通量(配積分球)，光效(lm/w)·主波長、峰值波長、光譜純度、半寬度·色溫、顯色指數(shù)、色品坐標(biāo)、色容差、紅色比·電壓、電流、功 率、功率因數(shù)1.1Q/TPYR 01-2010LED雙端管型照明燈 性

18、能要求1.2GB/T 7922-2008照明光源顏色的測量方法1.3GB/T 5702-2003( NEQ CIE 13.3-1995)光源顯色性評價1.4LB/T 001-2009整體式LED路燈的測量方法(第版)1.5LB/T 003-2009LED隧道燈1.6GB/T 24823-2009普通照明用LED模塊 性能要求1.7GB/T 24824-2009普通照明用LED模塊 測試方法1.8GB/T 24827-2009道路與街路照明燈具 性能要求1.9GB/T 24907-2010道路照明用LED燈 性能要求1.10GB/T 24908-2010普通照明用自鎮(zhèn)流LED燈 性能要求1.11

19、GB/T 29296-2012反射型自鎮(zhèn)流LED燈 性能要求 1.12IESNA LM-79-08 北美固態(tài)照明產(chǎn)品的電氣和光度測量的認(rèn)定方法1.13美國Energy Star關(guān)于對LED燈具規(guī)范的相關(guān)測量要求1.14CIE 127:2007(英文)LED測量1.15CIE 15:2004colorimetry 比色法/色度測量1.16ANSI C78.377-2006固態(tài)照明產(chǎn)品色度學(xué)的要求2燈具空間光強分布(配光曲線)、空間顏色分布、空間亮度分布測試系統(tǒng) GO-R5000全空間快速分布光度計(立式)(LM-79稱為測角光度計)Full-Field Speed Goniophotometer

20、(“變角/測角/測向”光度計)可用于:燈具及光源下述功能測量(近場/遠(yuǎn)場/全空間)·燈具空間光強分布(配光曲線)·燈具空間(光譜分布、顏色分布、平均顏色特性及空間顏色不均勻性)·燈具空間亮度分布(閃亮面積、平均亮度、眩光)·總光通量、光效能·燈具電壓、電流、功率、 諧波·各種傳統(tǒng)燈具及LED燈具標(biāo)準(zhǔn)對配光性能測試的要求·燈具最大規(guī)格 直徑1.6M/50kg2.1GB/T 23110-2008/CIE43-1979投光燈具光度測試2.2GB/T 7002-2008投光照明燈具光度測試2.3GB/T 9468-2008燈具分布光

21、度測量的一般要求2.4LM-80-08 IESNA(美國)LED光源流明維護率測量認(rèn)定方法2.5GB/T 22907-2008等同CIE 121-1996燈具的光度測試和分布光度學(xué)CIE 121:1996泛光燈光度測量法和測角光度測量法2.6GB/T 26178-2010/CIE84-1989 技術(shù)文件光通量測量法2.7CIE 70:1987照度分布測量法2.8CIE TC2-74(光輻射源的空間光譜輻射測量技術(shù)委員會)-求證關(guān)于1.11的內(nèi)容：消費日報2013.6.6 B3版美國通報LED燈具測試新規(guī)一文中有“TBT”通報評議會，對美國最近無日期發(fā)布的“LED燈測試程序”展開評議。·

22、;規(guī)定“測量LED燈流明輸出、輸入功率和相對光譜分布的方法”·規(guī)定“測量LED光源光通維持率的方法，以預(yù)測LED燈的額定壽命” B2版另有能源之星LED認(rèn)證新變化2013.4.1一文， B2/B3版是否即為1.11的“E.S要求”？序號 執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注3LED照明 現(xiàn)場環(huán)境測量設(shè)備(照明工程更必需)1 EZ-3000便攜式現(xiàn)場光譜光色綜合分析2 CX-2B 成像亮度計3 SR-2 光譜輻亮度計4 PHOTO-2000 面照度計5 PHOTO-2000 半柱面照度計6 PHOTO-2000 自動安平照度計7 PHOTO-2000 快速存儲照度計

23、8 Z-10 智能照度計用于：包括LED照明在內(nèi)各類照明產(chǎn)品·現(xiàn)場照明環(huán)境數(shù)量指標(biāo)：照度、亮度。質(zhì)量指標(biāo)：顏色、光譜成分、顯色性、反射比、眩光限制、照明均勻度等分析。·建筑、裝潢材料的光學(xué)性能分析。·(SR-2)實驗室兼用·能耗指標(biāo)：照明功率密度限制3.1GB/T 5700-2008照明測量方法3.2GB/T 5699-2008采光測量方法3.3GB/T 26180-2010/CIE 13.3:1995光源顯色性的表示與測量方法3.4GJJ 45-2006城市道路照明設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)3.5JGJ/T 163-2008城市夜景照明設(shè)計規(guī)范3.6CIE 15:200

24、4colorimetry 比色法/色度測量3.7GB 50034-2004建筑照明設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)3.8GB/T 16275-2008城市軌道交通照明3.9LB/T 004-2010半導(dǎo)體照明試點示范工程 LED道路和隧道照明現(xiàn)場檢測及驗收實施細(xì)則4光輻射安全測定系統(tǒng)OST-300光輻射安全測試系統(tǒng)用于：各種光源、燈具·光譜分布、光譜輻亮度、光譜輻照度、照度、光譜輻射曝光量、有效紫外輻射比(mWklm)·表現(xiàn)光源尺寸、色溫、色坐標(biāo)、顯色指數(shù)、色容差等。·覆蓋200nm3000nm全波段4.1GB/T 20145-2006/ IEC/EN 62471:2006/CIE S0

25、09/E:2002燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性4.2IEC/EN 60335-2-27:1997紫外和紅外輻射皮膚護理電器的特殊要求4.3IEC/EN 60598 Annex P 2005/32/EC歐盟指令等4.4IEC/EC 60432Incandescent Lamp UV radiation 白熾燈紫外輻射4.5GB 7000.1-2007/IEC 60598.1:2003燈具第1部分：一般要求和試驗5LED(燈和燈具)加速老化和壽命測試系統(tǒng)(含溫度特性試驗)LT-300ALED加速老化和壽命測試系統(tǒng)用于：LED燈和LED燈具產(chǎn)品·常規(guī)老化、過載老化、壽命試驗、光通量維持特性試驗

26、·顏色漂移特性試驗·溫度特性試驗·LED壽命推算系統(tǒng) TM-21-11推估方式(55/85/自選溫度3個測試溫度)13.4.1 E、S新規(guī)有光衰>30%時，視覺受影響，新規(guī)光通維持率定為70%，不是原50%的低標(biāo)準(zhǔn)要求。5.1GB/T 24824、23-2009同1.4 、 1.55.2QB/T 4057-2010普通照明用發(fā)光二極管 性能要求5.3LB/T 001-2009同1.35.4LM-80-2008 美國標(biāo)準(zhǔn)IESNALED光源流明維護率測量認(rèn)定方法5.5ASSIST(？)推薦參考文件？IEC 62612 IES TM-21LED壽命測試(非標(biāo)準(zhǔn)測

27、試)5.6ENERGY STAR 美國能源之星 Program Requirements Product Specification Eligibility Criteria-5.7IEC/PAS 62717:2011LED modules for general lighting Performance requirements5.8IEC/PAS 62722-2-1:2011Luminaire Performance Part 2-1: Particular requirements for LED luminaires序號設(shè)備/儀表/名稱型號單價LWH設(shè)備(m2)LWH占地(m2)水(m

28、3)電(KW)氣(m3)重量(kg)備 注1LED燈具電光色參數(shù)測試系統(tǒng)(高精度快速光譜輻射計)HAAS-200017.4萬元6×4×3m(24m2)5約500光通量需配積分球2燈具配光性能測試系統(tǒng)全空間快速分布光度計(立式)GO-R5000117萬元(套)18×6.5×6m 117m2(暗室)3×4×2.5m 12m2(操作室)15約2000(主機部分)樓板承重要求大于(600700)kg/m23現(xiàn)場環(huán)境測量系統(tǒng)3.1現(xiàn)場光譜光色綜合分析EZ-300029.8萬元6×6×2.5m(36 m2)2約1003.2成像

29、亮度計CX-2B3.3光譜輻亮度計SR-23.4柱面照度計PHOTO-20003.5半柱面照度計PHOTO-20003.6自動安平照度計PHOTO-20003.7快速存儲光度計PHOTO-20003.8智能照度計Z-104光輻射安全測定系統(tǒng)OST30069.8萬元8×3×2.5m(24m2暗室)10約600安規(guī)試驗5.1LED(燈和燈具)加速老化和壽命測試系統(tǒng)LT-300A26.8萬元3.5×2.5×2.5m(9m2)14約500可靠性壽命試驗5.2LED(單顆與模組)加速老化和壽命測試系統(tǒng)LT-200A39.8萬元3×4×2.5m(

30、12m2)14約8006合 計300.80萬元·234m2 暗室 占141m2 6m屋凈高 占117m22.4 照明產(chǎn)品性能 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求 2.5 照明產(chǎn)品性能 布置圖說明：1 暗室內(nèi)門、墻及天花板均涂無光黑色漆，有窗的部分都掛黑色絲絨布簾，絨面朝內(nèi)。2 地面建議鋪設(shè)黑色地毯。3 所有儀器必須有良好接地，請設(shè)置接地良好的單相220V供電。4 房間必須有足夠大的門以進儀器，圖中門位置為示意圖。5 暗室建議安裝中央空調(diào)，其四周墻體建議采用保溫材料（儀器四周需滿足恒溫要求25±1），空調(diào)管道的位置需與我方協(xié)商，以免碰到儀器。6 光闌外形如圖所示，由、兩部分組成，

31、為固定木板，厚度為200mm; 為兩對半開門板，厚度為60mm.第3部分 可靠性與失效分析 3.1 編制說明可靠性與失效分析部分是一個以照明產(chǎn)品為主要對象，但編寫的體系圖則具有通用性。其試驗的內(nèi)容方法，條件依據(jù)的是GB/T2423電工電子產(chǎn)品通用的環(huán)境實驗標(biāo)準(zhǔn)，產(chǎn)品可以按要求選擇使用。3.1.1 市場上的通用設(shè)備規(guī)格與具體產(chǎn)品實施時會有容積與數(shù)量要求無法滿足照明產(chǎn)品特殊的外型、大小懸殊的個體，是實施難關(guān)之一。3.1.2 本處列出的部分技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，既有通用的機械與氣候環(huán)境試驗方法，也需要補充具體產(chǎn)品的可靠性試驗要求方面的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。3.1.3 耐久性(壽命)試驗，是試驗室中占地與耗能大戶，也是可靠性

32、的核心試驗內(nèi)容。溫度耐久性試驗較簡單，只需保證試驗臺數(shù)，但電耐久性不僅會涉及壽命臺的數(shù)量，還涉及試驗技術(shù)方法如間歇、加速等，市場上沒有現(xiàn)成的試驗臺，要自制。3.1.4 失效分析是提高與改進制造質(zhì)量的最有效工作方法之一。除了必有的環(huán)境試驗設(shè)備外，它還應(yīng)該有一些物理化學(xué)手段，如缺陷分析觀察顯微鏡、X射線分析儀等。目前還開列不出系統(tǒng)內(nèi)容，在工作中需補充增添。3.1.5 本處的可靠性與失效分析部分，將EMC、安規(guī)與認(rèn)證(如IP防護，防爆等)歸入專門章節(jié)部分表述。3.2 可靠性與失效分析 體系圖No.3 可靠性與失效分析 耐久性（壽命）失效分析機械（環(huán)境）氣候（環(huán)境） 電耐久性多應(yīng)力溫度（儲存） 微結(jié)構(gòu)

33、失效熱失效12產(chǎn)品與包裝加速度離心力碰撞（結(jié)構(gòu)強度與撞擊）沖 擊振動（隨機）振動（正弦）附高溫應(yīng)力附低溫應(yīng)力溫濕度低 溫高 溫其它失效性能失效溫控儀熱成像分析儀熱阻測試儀X射線應(yīng)用儀視像顯微鏡溫度、電、其他加速壽命間歇壽命恒定壽命181719見2.2體系圖列入EMC及安規(guī)部分處理自(定)制1178916151413其 他高 溫低 溫高低溫沖擊高低溫循環(huán)恒溫恒濕交變濕熱低氣壓鹽 霧水試驗沙 塵多應(yīng)力風(fēng) 壓防紫外防臭氧腐蝕防 雷12106543注：此處編號為“設(shè)備部分序號”3.3 可靠性與失效分析 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)(補充修訂)序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注1可靠性試驗方法1.

34、1GB/T 2423.1-2008 / IEC60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫1.2GB/T 2423.2-2008 / IEC60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫1.3GB/T 2423.3-2006 / IEC60068-2-78：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗1.4GB/T 2423.4-2008 / IEC60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h-12h循環(huán))1.5GB/T 2423.5-1

35、995 / idt IEC68-2-27：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊1.6GB/T 2423.6-1995 / idt IEC68-2-29：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞1.7GB/T 2423.8-1995 / idt IEC68-2-30：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed和導(dǎo)則：自由跌落1.8GB/T 2423.10-2008 / IEC60068-2-6：1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc：振動(正弦)1.9GB/T 2423.15-2008 / IEC

36、60068-2-7：1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度1.10GB/T 2423.16-2008 / IEC60068-2-10：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導(dǎo)則：長霉1.11GB/T 2423.17-2008 / IEC60068-2-11：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka:鹽霧1.12GB/T 2423.18-2012 / IEC60068-2-52：1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）1.13GB/T 2423.21-2008 / IEC600

37、68-2-13：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M:低氣壓1.14GB/T 2423.22-2012 / IEC60068-2-14：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化1.15GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封1.16GB/T 2423.24-1995 / idt IEC68-2-5：1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射1.17GB/T 2423.25-2008 / IEC60068-2-40：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫

38、/低氣壓綜合試驗1.18GB/T 2423.26-2008 / IEC60068-2-41：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗1.19GB/T 2423.27-2005 / IEC60068-2-39：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗1.20GB/T 2423.30-1999 / idt IEC68-2-45：1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑浸漬1.21GB/T 2423.33-2005 / idt IEC68-1：1988電工電子產(chǎn)品環(huán)境

39、試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗1.22GB/T 2423.34-2005 / IEC60068-2-38：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗1.23GB/T 2423.35-2005 / IEC60068-2-50：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗1.24GB/T 2423.36-2005 / IEC60068-2-51：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗1

40、.25GB/T 2423.37-2006 / IEC60068-2-68：1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗1.26GB/T 2423.38-2008 / IEC60068-2-18：2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則1.27GB/T 2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱1.28GB/T 2423.41-1994電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注1.29GB/T 2423.43-2008電工電子

41、產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝1.30GB/T 2423.45-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序1.31GB/T 2423.48-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff：振動時間歷程法1.32GB/T 2423.49-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe：振動正弦拍頻法1.33GB/T 2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗1.34GB/T 2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方

42、法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗1.35GB/T 2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗77：結(jié)構(gòu)強度與撞擊1.36GB/T 2423.53-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Xb：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損1.37GB/T 2423.54-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Xc：流體污染1.38GB/T 2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eh:錘擊污染1.39GB/T 2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動（數(shù)字制作）和導(dǎo)則1

43、.40GB/T 2423.57-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成1.41GB/T 2423.58-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式1.42GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（高溫、低溫）/低氣壓/振動(隨機)綜合1.43GB/T 2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度1.44GB/T 2423.101-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：傾斜和搖擺1.45GB/T

44、 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合1.46GB/T 2689.1-1981恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗方法1.47GB/T 10593.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 第1部分：振動1.48GB/T 10593.2-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 第2部分：鹽霧1.49GB/T 10593.3-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動數(shù)據(jù)處理和歸納2可靠性試驗導(dǎo)則、設(shè)備性能確認(rèn)2.1GB/T 2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則2.2GB/T 2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導(dǎo)則2.3GB/T 2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)2.4GB/T 2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/