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文檔簡介
1、目 錄傳感器系統(tǒng)綜合實驗臺使用說明2實驗一 金屬箔式應變計性能應變電橋8實驗二 半導體應變計直流半橋測試11實驗三 溫度傳感器鉑熱電阻13實驗四 電感式傳感器差動變壓器的標定15實驗五 光電傳感器光敏電阻實驗17實驗六 光纖傳感器位移測量19實驗七 霍爾式傳感器直流激勵特性21實驗八 電渦流傳感器靜態(tài)標定23實驗九 光柵傳感器衍射演示及測距實驗25使 用 說 明傳感器系統(tǒng)綜合實驗臺為完全模塊式結構,分主機、實驗模塊和實驗桌三部分。根據(jù)用戶不同的需求分為基本型和增強性兩種配置。主機由實驗工作平臺,傳感器綜合系統(tǒng)、高穩(wěn)定交、直流信號源,溫控電加熱源,旋轉源、位移機構、振動機構、儀表顯示、電動氣壓源
2、、數(shù)據(jù)采集處理和通信系統(tǒng)(RS232接口)、實驗軟件等組成。全套12個實驗模塊中均包含一種或一類傳感器及實驗所需的電路和執(zhí)行機構(位移裝置均由進口精密導軌組成,以確保純直線性位移),實驗時模塊可按實驗要求靈活組合,儀器性能穩(wěn)定可靠,方便實用。傳感器包括:(基本型含24種傳感器,序號1.1-1.24。增強型含28種傳感器,序號1.1-1.28)1.1 金屬箔式應變傳感器(箔式應變片 工作片4片;溫度補償片2片,應變系數(shù):2.06,精度2%)1.2 稱重傳感器(標準商用雙孔懸臂梁結構,量程0500g,精度2%)1.3 MPX擴散硅壓阻式壓力傳感器(差壓式,量程050KP,精度3%)1.4 半導體應
3、變傳感器(BY350,工作片2片,應變系數(shù)120)1.5 標準K分度熱電偶,(量程0800,精度3%)1.6 標準E分度熱電偶,(量程0800,精度3%)1.7 MF型半導體熱敏傳感器(負溫度系數(shù),25時電阻值10K)1.8 Pt100鉑熱電阻(量程0800,精度5%)1.9 半導體溫敏二極管(精度5%)1.10 集成溫度傳感器(電流型,精度2%)1.11 光敏電阻傳感器(cds器件,光電阻2M.1.12 光電轉速傳感器(近紅外發(fā)射-接收量程02400轉/分)1.13 光纖位移傳感器(多模光強型,量程2mm,在其線性工作范圍內精度5%)1.14 熱釋電紅外傳感器(光譜響應715m,光頻響應0.
4、510HZ)。1.15 半導體霍爾傳感器(由線性霍爾元件與梯度磁場組成。工作范圍:位移±2mm,精度5%)1.16 磁電式傳感器(動鐵與線圈)1.17 濕敏電阻傳感器(高分子材料,工作范圍595%RH,)1.18 濕敏電容傳感器(高分子材料,工作范圍595%RH)1.19 MQ3氣敏傳感器(酒精氣敏感,實驗演示用)1.20 電感式傳感器(差動變壓器,量程±5mm,精度5%)1.21 壓電加速度傳感器(PZT壓電陶瓷與質量塊。工作范圍530HZ )1.22 電渦流傳感器(線性工作范圍1mm,精度3%)1.23 電容傳感器(同軸式差動變面積電容,工作范圍±3mm,精度
5、2%)1.24 力平衡傳感器(綜合傳感器系統(tǒng))1.25 PSD光電位置傳感器(增強型選配單元,PSD器件與激光器組件,采用工業(yè)上的三角測量法,量程25mm,精度0.1%)1.26 激光光柵傳感器(增強型選配單元,光柵衍射及光柵莫爾條紋,莫爾條紋精密位移記數(shù)精度0.01mm)1.27 CCD圖象傳感器(增強型選配單元,光敏面尺寸:1/3英寸。采用計算機軟件與CCD傳感器配合,進行高精度物徑及高精度光柵莫爾條紋位移自動測試。)1.28 超聲波測距傳感器(增強型選配單元,量程范圍30600mm,精度10mm)主機配置:2.1 直流穩(wěn)壓電源:(傳感器工作直流激勵源與實驗模塊工作電源)+2V+10V分五
6、檔輸出,最大輸出電流1.5A+15V(±12V) 、最大輸出電流1.5A;激光器電源。2.2 音頻信號源:(傳感器工作交流激勵源)0.4KHz-10KHz輸出連續(xù)可調,最大Vp-p值20V。 00、1800端口反相輸出 00、LV端口功率輸出,最大輸出電流1.5A1800端口電壓輸出,最大輸出功率300mw2.3 低頻信號源:(供主機位移平臺與雙平行懸臂梁振動激勵,實現(xiàn)傳感器動態(tài)測試)1Hz30Hz輸出,連續(xù)可調,最大輸出電流1.5A,最大Vp-p值20V,激振I(雙平行懸臂梁)、激振II(圓形位移平臺)的振動源。轉換紐子開關的作用:(請?zhí)貏e注意)當?shù)瓜騐0側時,低頻信號源正常使用,
7、V0端輸出低頻信號,倒向Vi側時,斷開低頻信號電路,V0 端無低頻信號輸出,停止激振、的激勵。Vi作為電流放大器的信號輸入端,輸出端仍為V0端。激振不工作時激振選擇開關應位于置中位置。2.4 溫控電加熱源:(溫度傳感器加熱源)由E分度熱電偶控溫的300W電加熱爐,最高控制爐溫400,實驗控溫200。交流220V插口提供電爐加熱電源,作為溫度傳感器熱源、及熱電偶測溫、標定和傳感器溫度效應的溫度源等。2.5 旋轉源:(光電、電渦流傳感器測轉速之用)低噪聲旋轉電機,轉速0-2400轉/分,連續(xù)可調。(特別注意:電機不工作時紐子開關應置于“關”,否則直流穩(wěn)壓電源-2V會無輸出)。2.6 氣壓源:(提供
8、壓力傳感器氣壓源)電動氣泵,氣壓輸出20KP,連續(xù)可調。手動加壓氣囊:可加壓至滿量程40KP,通過減壓閥調節(jié)氣壓值。儀表顯示部分:3.1 電壓/頻率表:3 1/2位數(shù)字表、電壓顯示分02V、020V兩檔;頻率顯示分02KHz、020KHz兩檔,靈敏度50mv。3.2 數(shù)字式溫度表:(E分度)溫度顯示:0-800(用其他熱電偶測溫時應查對相應的熱電偶分度表)。3.3 氣壓表: 0-40KP(0-300mmHg)顯示。計算機通信與數(shù)據(jù)采集:4.1 通信接口:標準RS232口,提供實驗臺與計算機通信接口。4.2 數(shù)據(jù)采集卡:12位A/D轉換,采集卡信號輸入端為電壓/頻率表的“IN”端,采集卡頻率輸入
9、端為“轉速信號入”口。實驗模塊包含:(基本型含9個模塊,序號5.1-5.9,增強型含12個模塊,序號5.1-5.12,每個模塊包含一種或一類傳感器,使用方便)5.1 實驗公共電路模塊:提供所有實驗中所需的電橋、差動放大器、低通濾波器、電荷放大器、移項器、相敏檢波器等公用電路。5.2 應變式傳感器實驗模塊(包含電阻應變及壓力傳感器):金屬箔式標準商用稱重傳感器(帶加熱及溫度補償)、懸臂梁結構金屬箔式、半導體應變、MPX擴散硅壓阻式傳感器、放大電路。5.3 電感式傳感器實驗模塊:差動變壓器、螺管式傳感器、高精度位移導軌、放大電路。5.4 電容式傳感器實驗模塊:同軸式差動電容組成的雙T電橋檢測電路,
10、精密位移導軌。5.5 光電傳感器實驗模塊:光纖位移傳感器與光電耦合器、光敏電阻及信號變換電路,精密位移導軌、電機旋轉裝置。5.6 霍爾傳感器實驗模塊:霍爾傳感器、梯度磁場、變換電路及日本進口高精度位移導軌。5.7 溫度傳感器實驗模塊:提供7種溫度傳感器及變換電路,可控電加熱爐。5.8 電渦流傳感器實驗模塊:電渦流探頭、變換電路及日本進口精密位移導軌。5.9 濕敏氣敏傳感器實驗模塊:高分子濕敏電阻、濕敏電容、MQ3氣敏傳感器及變換電路。5.10 PSD光電位置傳感器實驗模塊:PSD器件及激光器組件、日本進口精密位移導軌,高倍放大器。(增強型單元)5.11 CCD 圖象傳感器及光柵測試實驗模塊:C
11、CD傳感器、光柵莫爾條紋位移傳感器及計機測試軟件、日本進口精密位移導軌。(增強型單元)5.12 超聲波傳感器測距實驗模塊:超聲波發(fā)射-接收探頭、精密位移裝置及時間-距離變換顯示電路,直接顯示探測距離(cm)及時間(s)(增強型單元)主機工作臺上裝置的傳感器有:磁電式、壓電加速度、半導體應變(2片)、金屬箔式應變(工作片4片,溫度補償片2片)、衍射光柵(增強型)。雙平行懸臂梁旁的支柱安裝有螺旋測微儀,可帶動懸臂梁上下位移。圓形位移(振動)平臺旁的支架可安裝電感、電容、霍爾、光纖、電渦流等傳感器探頭,在平臺振動時進行動態(tài)實驗。主機與實驗模塊的連接線采用了高可靠性的防脫落插座及插頭。實驗連接線均用燈
12、籠狀的插頭及配套的插座,接觸可靠,防旋防松脫,并可在使用日久斷線后重新修復(特別注意:在本型儀器上請勿同時使用舊型號的可鎖緊連接線,以免損壞新型連接線及造成插座松動)。實驗桌的傳感器模塊柜平時放置實驗模塊,抽屜中可放置傳感器探頭與配件。實驗操作須知:1、 使用本儀器前,請先熟悉儀器的基本狀況,對各傳感器激勵信號的大小、信號源、顯示儀表、位移及振動機構的工作范圍做到心中有數(shù)。主機面板上的紐子開關都應選擇好正確的倒向。2、 了解測試系統(tǒng)的基本組成:合適的信號激勵源傳感器處理電路(傳感器狀態(tài)調節(jié)機構)儀表顯示(數(shù)據(jù)采集或圖象顯示)3、 實驗操作時,在用實驗連接線接好各系統(tǒng)并確認無誤后方可打開電源,各
13、信號源之間嚴禁用連接線短路,主機與實驗模塊的直流電源連接線插頭與插座連接時尤要注意標志端對準后插入,如開機后發(fā)現(xiàn)信號燈、數(shù)字表有異常狀況,應立即關機,查清原因后再進行實驗。4、 實驗連接線插頭為燈籠狀簧片結構,插入插孔即能保證接觸良好,不須旋轉鎖緊,使用時應避免搖晃。為延長使用壽命,操作時請捏住插頭連接疊插。5、 實驗指導中的“注意事項”不可忽略。傳感器的激勵信號不準隨意加大,否則會造成傳感器永久性的損壞。6、 本實驗儀為教學實驗用儀器,而非測量用儀器,各傳感器在其工作范圍內有一定的線性和精度,但不能保證在整個信號變化范圍都是呈線性變化。限于實驗條件,有些實驗只能做為定性演示(如濕敏、氣敏傳感
14、器),能完成實驗指導書中的實驗內容,則整臺儀器正常。7、 本儀器的工作環(huán)境溫度40,需防塵。實驗一 金屬箔式應變計性能應變電橋實驗目的:1、觀察了解箔式應變片的結構及粘貼方式。 2、測試應變梁變形的應變輸出。3、比較各橋路間的輸出關系。實驗原理: 本實驗說明箔式應變片及直流電橋的原理和工作情況。 應變片是最常用的測力傳感元件。當用應變片測試時,應變片要牢固地粘貼在測試體表面,測件受力發(fā)生形變,應變片的敏感柵隨同變形,其電阻值也隨之發(fā)生相應的變化。通過測量電路,轉換成電信號輸出顯示。 電橋電路是最常用的非電量電測電路中的一種,當電橋平衡時,橋路對臂電阻乘積相等,電橋輸出為零,在橋臂四個電阻R1、
15、R2、R3、R4中,電阻的相對變化率分別為R1/ R1、R2/ R2、R3/ R3、R4/ R4 ,當使用一個應變片時,;當二個應變片組成差動狀態(tài)工作,則有;用四個應變片組成二個差動對工作,且R1= R2= R3= R4=R,。 實驗所需部件: 直流穩(wěn)壓電源+4V、應變式傳感器實驗模塊、貼于主機工作臺懸臂梁上的箔式應變計、螺旋測微儀、數(shù)字電壓表實驗步驟:1、連接主機與模塊電路電源連接線,差動放大器增益置于最大位置(順時針方向旋到底),差動放大器“+”“”輸入端對地用實驗線短路。輸出端接電壓表2V檔。開啟主機電源,用調零電位器調整差動放大器輸出電壓為零,然后拔掉實驗線,調零后模塊上的“增益、調零
16、”電位器均不應再變動。圖1 應變電橋測試橋路2、觀察貼于懸臂梁根部的應變計的位置與方向,按圖(1)將所需實驗部件連接成測試橋路,圖中R1、R2、R3分別為模塊上的固定標準電阻,R為應變計(可任選上梁或下梁中的一個工作片),圖中每兩個節(jié)之間可理解為一根實驗連接線,注意連接方式,勿使直流激勵電源短路。將螺旋測微儀裝于應變懸臂梁前端永久磁鋼上,并調節(jié)測微儀使懸臂梁基本處于水平位置。3、確認接線無誤后開啟主機,并預熱數(shù)分鐘,使電路工作趨于穩(wěn)定。調節(jié)模塊上的WD電位器,使橋路輸出為零。4、用螺旋測微儀帶動懸臂梁分別向上和向下位移各5mm ,每位移1mm記錄一個輸出電壓值,并記入下表:位移mm 電壓V根據(jù)
17、表中所測數(shù)據(jù)在坐標圖上做出VX曲線,計算靈敏度S:S=。注意事項:1、實驗前應檢查實驗連接線是否完好,學會正確插拔連接線,這是順利完成實驗的基本保證。2、由于懸臂梁彈性恢復的滯后及應變片本身的機械滯后,所以當螺旋測微儀回到初始位置后橋路電壓輸出值并不能馬上回到零,此時可一次或幾次將螺旋測微儀反方向旋動一個較大位移,使電壓值回到零后再進行反向采集實驗。3、實驗中實驗者用螺旋測微儀進行位移后應將手離開儀器后方能讀取測試系統(tǒng)輸出電壓數(shù),否則雖然沒有改變刻度值也會造成微小位移或人體感應使電壓信號出現(xiàn)偏差。4、因為是小信號測試,所以調零后電壓表應置2V檔。實驗二 半導體應變計直流半橋測試實驗目的:了解半
18、導體應變電橋的運用。實驗原理:半導體應變計主要是根據(jù)硅半導體材料的壓阻效應制成,當半導體晶體受到作用力時,晶體除產生應變外,電阻率也會發(fā)生變化。與金屬應變片相比,半導體應變計靈敏系數(shù)很高,可達100200,但是在穩(wěn)定性及重復性方面都不如金屬箔式片。實際使用時都是采用全橋工作形式以達到相對穩(wěn)定。實驗所需部件:半導體應變計(二片)、直流穩(wěn)壓電源(2V)、應變式傳感器實驗模塊、螺旋測微儀、電壓表+2V RR R RWDV差放R圖2 半導體應變計直流半橋測試橋路實驗步驟:1、按圖(2)接入二片半導體應變片和二個固定電阻,組成應變半橋。2、用螺旋測微儀將懸臂梁調至水平,激勵電壓接2V。3、打開主機電源,
19、調整電橋中WD電位器使電路輸出為零。4、用螺旋測微儀帶動懸臂梁分別向上和向下位移各5mm ,每位移1mm記錄一個輸出電壓值,并記入下表:位移mm 電壓V根據(jù)表中所測數(shù)據(jù)在坐標圖上做出VX曲線,計算靈敏度S:S=。注意事項:由于半導體半橋靈敏度高,輸出信號較大,必要時可適當減小差動放大器增益。實驗三 溫度傳感器鉑熱電阻實驗目的:了解鉑熱電阻的性能。實驗原理:pt100鉑熱電阻的電阻值在0時為100,測溫范圍一般為-200650 ,鉑熱電阻的阻值與溫度的關系近似線性,當溫度在0T650時,RT=R0(1+AT+BT2)式中RT鉑熱電阻T時的電阻值RO鉑熱電阻在0時的電阻值A系數(shù)(=3.96847&
20、#215;10-31/)B系數(shù)(-5.847×10-71/2)將鉑熱電阻作為橋路中的一部分在溫度變化時電橋失衡便可測得相應電路的輸出電壓變化值。實驗所需部件:鉑熱電阻(Pt100)、加熱爐、溫控器、溫度傳感器實驗模塊、數(shù)字電壓表實驗步驟:1、觀察已置于加熱爐頂部的鉑熱電阻,連接主機與實驗模塊的電源線及傳感器與模塊處理電路接口,鉑熱電阻電路輸出端VO接電壓表。2、開啟主機電源,調節(jié)鉑熱電阻電路調零旋鈕,使輸出電壓為零,電路增益適中,由于鉑電阻通過電流時產生自熱其電阻值要發(fā)生變化,因此電路有一個穩(wěn)定過程。3、開啟加熱爐,設定加熱爐溫度為100,觀察隨爐溫上升鉑電阻的阻值變化及輸出電壓變化
21、,(實驗時主機溫度表上顯示的溫度值是加熱爐的爐內溫度,并非是加熱爐頂端傳感器感受到的溫度)。并記錄數(shù)據(jù)填入下表:VO(mv) 做出V-T曲線,觀察其工作線性范圍。注意事項:加熱器溫度一定不能過高,以免損壞傳感器的包裝。實驗四 電感式傳感器差動變壓器的標定實驗目的:說明差動變壓器測試系統(tǒng)的組成和標定方法。實驗原理:電感傳感器是一種將位置量的變化轉為電感量變化的傳感器,差動變壓器由銜鐵、初級線圈和次級線圈組成,初級線圈做為差動變壓器激勵用,相當于變壓器原邊。次級線圈由兩個結構尺寸和參數(shù)相同的線圈反相串接而成,相當于變壓器副邊。差動變壓器是開磁路,工作是建立在互感基礎上的,其原理及輸出特性見圖(3)
22、。圖3 差動變壓器原理及輸出特性圖4 Lv接線圖實驗所需部件:差動變壓器、音頻信號源、電感傳感器實驗模塊、公共電路實驗模塊、螺旋測微儀、電壓表、示波器圖5差動變壓器測試橋路實驗步驟:1、按圖(5)接線,連接主機與實驗模塊電源,示波器接相敏檢波器、端,電壓表接低通濾波器輸出端,差動放大器稍有增益(10倍左右)即可。2、打開主機電源,調節(jié)音頻信號源輸出頻率,使次級線圈波形不失真,用手將中間鐵芯移至最左端,然后調節(jié)移相器,當示波器兩通道所示波形正好是同相或反相時,將鐵心重新安裝到位移裝置上,用測微儀將鐵芯置于線圈中部,調節(jié)電橋WD、WA電位器使系統(tǒng)輸出電壓為零。3、用測微儀分別帶動鐵芯向左和向右位移
23、5mm,每位移0.5mm記錄一電壓值并填入下表:位移mm0電壓V0作出V-X曲線,求出靈敏度S。 S=V/X,指出線性工作范圍。注意事項:觀察相敏檢波器、端波形時示波器各功能鍵及“觸發(fā)”選擇要正確,否則可能看不到正確的波形相位的變化。實驗五 光電傳感器光敏電阻實驗實驗目的:了解光敏電阻的原理和性能。實驗原理:由半導體材料制成的光敏電阻,工作原理基于內光電效應,當摻雜的半導體薄膜表面受到光照時,其導電率就發(fā)生變化。不同的材料制成的光敏電阻有不同的光譜特性和時間常數(shù)。由于存在非線性,因此光敏電阻一般用在控制電路中,不適用作測量元件。實驗所需部件:光敏電阻、光電傳感器實驗模塊、電壓表圖6 光敏電阻測
24、試橋路 圖7 光敏電阻實驗步驟:1、觀察光敏電阻,分別將光敏電阻置于光亮和黑暗之處,測得其亮電阻和暗電阻,暗電阻和亮電阻之差為光電阻值。在給定工作電壓下,通過亮電阻和暗電阻的電流為亮電流和暗電流,其差為光敏電阻的光電流。光電流越大,靈敏度越高。2、連接主機與實驗模塊的電源線及傳感器接口線,光敏電阻轉換電路輸出端V0接電壓表與示波器。3、開啟主機電源,通過改變光敏電阻的光照程度,調節(jié)控制電位器,觀察輸出電壓的變化情況。實驗電路又是一個暗光亮燈控制電路,可以設定暗光程度,依次試驗環(huán)境光照不同時光敏電阻控制亮燈的情況。實驗六 光纖傳感器位移測量實驗目的:了解光纖傳感器的工作原理和性能。實驗原理:反射
25、式光纖傳感器工作原理如圖(8)所示,光纖采用Y型結構,兩束多模光纖合并于一端組成光纖探頭,一束作為接收,另一束為光源發(fā)射,近紅外二級管發(fā)出的近紅外光經光源光纖照射至被測物,由被測物反射的光信號經接收光纖傳輸至光電轉換器件轉換為電信號,反射光的強弱與反射物與光纖探頭的距離成一定的比例關系,通過對光強的檢測就可得知位置量的變化。圖8 反射式光纖位移傳感器原理圖及輸出特性曲線實驗所需部件:光纖(光電轉換器)、光纖光電傳感器實驗模塊、電壓表、示波器、螺旋測微儀、反射鏡片實驗步驟:1、觀察光纖結構:本實驗儀所配的光纖探頭為半圓型結構,由數(shù)百根導光纖維組成,一半為光源光纖,一半為接收光纖。2、連接主機與實
26、驗模塊電源線及光纖變換器探頭接口,光纖探頭裝上探頭支架,探頭垂直對準反射片中央(鍍鉻圓鐵片),螺旋測微儀裝上支架,以帶動反射鏡片位移。3、開啟主機電源,光電變換器V0端接電壓表,首先旋動測微儀使探頭緊貼反射鏡片(如兩表面不平行可稍許扳動光纖探頭角度使兩平面吻合),此時V0輸出0,然后旋動測微儀,使反射鏡片離開探頭,每隔0.2mm記錄一數(shù)值并記入下表:Xmm00.20.40.60.811.21.41.61.822.22.42.62.833.23.43.63.84V位移距離如再加大,就可觀察到光纖傳感器輸出特性曲線的前坡與后坡波形,作出V-X曲線,通常測量用的是線性較好的前坡范圍。注意事項:1、光
27、纖請勿成銳角曲折,以免造成內部斷裂,端面尤要注意保護,否則會使光通量衰耗加大造成靈敏度下降。2、每臺儀器的光電轉換器(包括光纖)與轉換電路都是單獨調配的,請注意與儀器編號配對使用。3、實驗時注意增益調節(jié),輸出最大信號以3V左右為宜,避免過強的背景光照射。實驗七 霍爾式傳感器直流激勵特性實驗目的:了解霍爾式傳感器的直流激勵特性。實驗原理:霍爾元件是根據(jù)霍爾效應原理制成的磁電轉換元件,當霍爾元件位于由兩個環(huán)形磁鋼組成的梯度磁場中時就成了霍爾位移傳感器?;魻栐ㄒ院愣娏鲿r,就有霍爾電勢輸出,霍爾電勢的大小正比于磁場強度(磁場位置),當所處的磁場方向改變時,霍爾電勢的方向也隨之改變。WDR+2V差
28、動放大器 電壓表圖9霍爾傳感器直流激勵特性測試橋路實驗所需部件:霍爾傳感器、直流穩(wěn)壓電源(2V)、霍爾傳感器實驗模塊、電壓表、測微儀實驗步驟:1、安裝好模塊上的梯度磁場及霍爾傳感器,連接主機與實驗模塊電源及傳感器接口,確認霍爾元件直流激勵電壓為2V,霍爾元件另一激勵端接地,實驗接線按圖(9)所示,差動放大器增益10倍左右。2、用螺旋測微儀調節(jié)精密位移裝置使霍爾元件置于梯度磁場中間,并調節(jié)電橋直流電位器WD,使輸出為零。3、從中點開始,調節(jié)螺旋測微儀,前后移動霍爾元件各3.5mm,每變化0.5mm讀取相應的電壓值,并記入下表:Xmm0V0mv0作出V-X曲線,求得靈敏度和線性工作范圍。如出現(xiàn)非線性情況,請查找原因。注意事項:直流激勵電壓只能是2V,不能接+2V(4V)否則銻化銦霍爾元件會燒壞。實驗八 電渦流傳感器靜態(tài)標定實驗目的:了解電渦流傳感器的原理和性能。實驗原理:電渦流傳感器由平面線圈和金屬渦流片組成,當線圈中通以高頻交變電流后,在與其平行的金屬片上會感應產生電渦流,電渦流的大小影響線圈的阻抗Z,而渦流的大小與金屬渦流片的電阻率,導磁率、厚度、溫度以及與線圈的距離X有關,當平面線圈、被測體(渦流片)、激勵源確定
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