ASME與4730的射線異同點(diǎn)

1、JB/T4730-2005與ASME-2007第V卷射線技術(shù)的異同點(diǎn)梁剛柱（山東電力建設(shè)第三工程公司，濰坊，261031）摘要：介紹ASME-2007第V卷和JB/T4730-2005中的射線篇章射線技術(shù)不同點(diǎn)，比如檢測(cè)設(shè)備、底片黑度、幾何不清晰度、像質(zhì)計(jì)位置的擺放和透照厚度等。以加深對(duì)ASME標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)識(shí)和熟悉，更好的執(zhí)行相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)。關(guān)鍵詞：射線技術(shù)；底片黑度；像質(zhì)計(jì)中圖分類號(hào)：TG 115、28 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：BDifferences between ASME-2007 and JB/T4730-2005Abstract: The paper introduces some diffe

2、rences between ASME-2007 and JB/T4730-2005 about the radiation technique, for example examination facilities, density of film, geometric sharpness, IQI position and penetration thickness, etc. Its better to study the ASME standard and examine according to the relative standards.Keywords: radiation t

3、echnique; density of film; IQIASME是American Society of Mechanical Engineers（美國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)）的英文縮寫(xiě)，為世界好多國(guó)家所采用。主要領(lǐng)域?yàn)闄C(jī)械工程的發(fā)展，是一個(gè)集設(shè)計(jì)、制造、安裝、檢驗(yàn)、試驗(yàn)為一體的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程。ASME第V卷是無(wú)損檢驗(yàn)篇，闡述了各種檢驗(yàn)方法的工藝標(biāo)準(zhǔn)。JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)頒布時(shí)間較晚，是根據(jù)國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)和收稿日期：2010-08-12；作者：梁剛柱，男，漢，助工，學(xué)士。中國(guó)的實(shí)際國(guó)際所編制的，有些內(nèi)容是有區(qū)別的?，F(xiàn)將有差異的內(nèi)容進(jìn)行比較，來(lái)加深了解和技術(shù)上的交流。1、 通用要求由于各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行都有相應(yīng)的通用

4、要求，如人員要求，膠片要求，增感屏要求等，在深層次上比較沒(méi)有太多的意義。2、 觀察設(shè)備的要求2.1 觀片燈觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)是一樣的。2.2 黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))JB/T4730-2005規(guī)定黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過(guò)±0.05。黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。ASME-2007第V卷規(guī)定黑度計(jì)在使用期間應(yīng)至少每90天進(jìn)行校驗(yàn)一次。國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少為5個(gè)階梯，其黑度至少?gòu)?.0到4.0。如果測(cè)量值的誤差不超過(guò)±0.05，則其黑度計(jì)驗(yàn)收合格。2.3 像質(zhì)計(jì)JB/T4730-2005中采用的是線型像質(zhì)計(jì)，而ASME-2007

5、第V卷采用是線型像質(zhì)計(jì)或孔型像質(zhì)計(jì)。3、 射線源的透照厚度JB/T4730-2005AB級(jí)檢測(cè)等級(jí)： Ir192的透照厚度為20100mm，Co60的透照厚度為40200mm。采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到要求的前提下，允許射線最小透照厚度取下限值的1/2，即10mm，20mm。ASME-2007第V卷：對(duì)于特定射線能量（高能射線機(jī)或源）進(jìn)行照相時(shí)，透照厚度是半價(jià)層的倍數(shù)。Ir192的鋼半價(jià)層是8.9mm，Co60的鋼半價(jià)層是20.3mm。ASME-2007第V卷沒(méi)有透照厚度的上限，但由于照射時(shí)間的原因，往往也不可能是透照厚度無(wú)限大。對(duì)于透照厚度的下限，只要滿足射線照相靈敏度的

6、要求即可。4、 檢測(cè)技術(shù)4.1 檢驗(yàn)等級(jí)JB/T4730-2005分為A、AB、B三個(gè)等級(jí)檢驗(yàn)技術(shù)，而ASME-2007第V卷沒(méi)有相關(guān)的要求，只要各項(xiàng)參數(shù)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。4.2 雙壁雙影透照技術(shù)JB/T4730-2005中是小于等于100mm的管子可以做橢圓雙壁透照，且滿足以下條件：a) T(壁厚)8mm；b)焊縫寬度D/4。橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度(上下焊縫投影最大間距)在l倍焊縫寬度左右。ASME-2007第V卷是要求小于等于89mm的管子可以做橢圓雙壁透照，但必須不能超過(guò)幾何不清晰度限值。沒(méi)有開(kāi)口距離的具體要求，主要通過(guò)幾何不清晰度來(lái)保證的橢圓開(kāi)口的距離的。4.3 小徑管環(huán)向?qū)咏?/p>

7、頭的透照次數(shù)JB/T4730-2005小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測(cè)的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時(shí)，當(dāng)T/D0.12 時(shí)，相隔90°透照2 次。當(dāng)T/D>0.12 時(shí)，相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120°或60°透照3次。由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長(zhǎng)的100%檢測(cè)，此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。ASME-2007第V卷標(biāo)準(zhǔn)中沒(méi)有關(guān)于此項(xiàng)的具體說(shuō)明，當(dāng)要求全部覆蓋時(shí)，每個(gè)接頭至少要進(jìn)

8、行二次互成90°的曝光。如果不能橢圓透照，則應(yīng)該進(jìn)行重疊透照，至少3次。不同點(diǎn)：國(guó)內(nèi)通常采用一次透照，但是擴(kuò)大比例來(lái)進(jìn)行彌補(bǔ)的，所以DL/T 864標(biāo)準(zhǔn)比ASME檢驗(yàn)比例高。ASME-2007第I卷鍋爐建造篇中并沒(méi)有受熱面的檢驗(yàn)比例，國(guó)際慣例是10%或與業(yè)主協(xié)商，但必須是橢圓透照2次（ASME-2007第V卷沒(méi)有關(guān)于透照一次，而擴(kuò)大檢驗(yàn)比例來(lái)彌補(bǔ)的條例），雖然檢驗(yàn)比例低，但透照難度大，透照時(shí)間長(zhǎng)（因?yàn)樗媚z片不同，后面原因的闡述），工作量不比國(guó)內(nèi)的小。4.4 幾何不清晰度JB/T4730-2005是通過(guò)射線源至工件表面的距離來(lái)保證幾何不清晰的，AB級(jí)：，其中：射線至工件表面的距離；射

9、線源的有效焦距；工件厚度。ASME-2007第V卷是通過(guò)材料的厚度來(lái)控制幾何不清晰的，其中：射線源的有效尺寸；被透照焊縫或工件的射線源一側(cè)至膠片的距離（也可稱作工件的厚度）；射線源至被檢工件表面的距離。我們將符號(hào)統(tǒng)一：射線源的有效尺寸為；工件的厚度為；射線源至被檢工件表面的距離為。這樣我們可以得出JB/T4730-2005的幾何不清晰為：。將ASME-2007第V卷的幾何不清晰限制表中的工件厚度代入JB/T4730-2005的幾何不清晰度公式中，得到下表：工件厚度(mm)(mm)ASME-2007第V卷(mm)JB/T4730-2005<500.510.3650750.760.42751

10、001.020.46>1001.78/從上表中我們可以明顯看出，ASME-2007第V卷對(duì)幾何不清晰度的要求比JB/T4730-2005低。4.5 底片黑度的要求JB/T4730-2005中AB 級(jí): 2.0D4.0，用x射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，AB 級(jí)最低黑度允許降至1.5。采用多膠片方法時(shí)，單片觀察的黑度應(yīng)符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A 級(jí)，疊加觀察時(shí)，單片的黑度應(yīng)不低于1.3。對(duì)評(píng)定范圍內(nèi)的黑度D>4.0 的底片，如有計(jì)量檢定報(bào)告證明所用觀片燈在底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度。ASME-2007第V卷：在以X射線透照并作單片觀察時(shí)，應(yīng)至少為1.8，當(dāng)以射線透照并

11、作單片觀察時(shí)，應(yīng)至少為2.0。對(duì)于多片曝光并作疊合觀察時(shí)，疊合底片中的每一張底片的黑度至少應(yīng)為1.3。無(wú)論是單片觀察還是疊合觀察，最大黑度應(yīng)為4.0。被檢區(qū)域任一處黑度變化不能超出像質(zhì)計(jì)臨近黑度的負(fù)15%或正30%，如果超出，底片為廢片，應(yīng)重新拍攝。黑度應(yīng)圓整到十分位。JB/T4730-2005中沒(méi)有對(duì)黑度的變化進(jìn)行闡述。4.6 像質(zhì)計(jì)的擺放JB/T4730-2005中，像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端(在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4 左右位置)，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)。ASME-2007第V卷中沒(méi)有相應(yīng)的規(guī)定，只要靈敏度，黑度達(dá)到要求即可。像質(zhì)計(jì)的擺放位置有兩點(diǎn)是不同的：JB/T4

12、730-2005中，雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。而ASME-2007第V卷正好相反，雙壁單影可以膠片側(cè)也可以源側(cè)，雙壁雙影只能源側(cè)。其余的擺放位置是一樣的。4.7 像質(zhì)計(jì)靈敏度選用JB/T4730-2005是根據(jù)透照厚度（單壁是公稱厚度，多層透照時(shí)，是各層材料公稱厚度之和）來(lái)選用像質(zhì)計(jì)的，ASME-2007第V卷規(guī)范是根據(jù)透照材料的單壁公稱厚度（如果焊縫有余高，應(yīng)該加上余高）來(lái)選用像質(zhì)計(jì)的。舉例：假如對(duì)于雙面對(duì)接焊縫，公稱厚度是16mm，則透照厚度也為16mm，用單壁透照法時(shí)，按JB JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)對(duì)靈敏度的要求來(lái)選

13、用像質(zhì)計(jì)(AB級(jí))，11號(hào)鋼絲，直經(jīng)為0.32mm；按ASME-2007第V卷規(guī)范第5卷要求來(lái)選用像質(zhì)計(jì)，則應(yīng)按16加上2個(gè)余高來(lái)確定，9號(hào)鋼絲，直徑為0.51mm，顯然對(duì)于單壁單影，ASME-2007第V卷標(biāo)準(zhǔn)所要求的靈敏度比JB/T4730-2005要低些。對(duì)于小徑管的雙壁雙影時(shí)，JB/T4730-2005依據(jù)2倍壁厚進(jìn)行選擇像質(zhì)計(jì)，而ASME-2007第V卷還是依據(jù)單壁厚度加一個(gè)余高來(lái)選擇像質(zhì)計(jì)，故靈敏度要比JB/T4730-2005高的多。在實(shí)際工作中，若按ASME-2007第V卷標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行雙壁雙影透照時(shí)，通常采用微粒膠片和較好的檢測(cè)工藝方法，才能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求的像質(zhì)計(jì)靈敏度。如國(guó)內(nèi)AB級(jí)通常采用AGFA-D7(T-III型)膠片，而沙特采用AGFA-D4（T-II型）膠片。由于D4比D7的顆粒度小，所以感光速度慢，曝光時(shí)間長(zhǎng)。5、 結(jié)束語(yǔ)以上比較主要是工藝標(biāo)準(zhǔn)的比較，驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)ASME分散各個(gè)章節(jié)中，雖然大同小異，但多少有不同點(diǎn)，需要仔細(xì)的研究思考。ASME對(duì)于缺陷在于控制，而不在于檢出，加大檢驗(yàn)比例是無(wú)奈之舉。對(duì)于一個(gè)無(wú)損檢測(cè)人員學(xué)習(xí)ASME，不能光學(xué)第V卷，需要學(xué)習(xí)各個(gè)章節(jié)的探傷要求和