徠卡正置金相顯微鏡Leica DM4M

1、徠卡正置金相顯微鏡Leica DM4M產(chǎn)品描述：徠卡正置金相顯微鏡DM4M，德國進口高倍顯微鏡，可配接自動掃描臺進行多視場非金屬夾雜物和顆粒度分析、汽車清潔度分析系統(tǒng).具備明場、暗場、偏光、干涉等多種觀察方式。產(chǎn)品屬性： 【高倍顯微鏡，金相顯微鏡，清潔度分析顯微鏡，正置顯微鏡】產(chǎn)品參數(shù)：DM4M研究級半自動智能數(shù)字式正置金相顯微鏡，適合金屬、陶瓷、高分子材料、電子元器件、粉塵顆粒等樣品的觀察分析模塊化設計，可實現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置復消色差光路，整體光路支持25mm視野直徑6孔位物鏡轉盤，配接32mm直徑工業(yè)物鏡觀察方式可實現(xiàn)明場、暗場、偏光、干涉機身內置LED的透、反射照明電源，智能光強

2、變化的控制照明方式能自動記憶在不同物鏡下和不同觀察方式下最佳的光強、光闌大小及聚光鏡的組合，自動恢復到位，操作簡單快速。高倍顯微鏡機座帶液晶顯示屏顯示顯微鏡各部件工作狀態(tài)、參數(shù)光強、光闌、觀察方式調節(jié)和聚光鏡調節(jié)除可由按鍵控制外，還可由計算機控制操作可自動在不同倍數(shù)物鏡倍數(shù)下拍的照片中加相應倍數(shù)標尺具有色溫恒定系統(tǒng)，提高工作效率正置顯微鏡可配接攝像頭，數(shù)碼相機進行圖像采集、分析、測量可配接熒光觀察、高溫熱臺、陰極發(fā)光儀、光度計可配接4x4,6x6大樣品臺，觀察硅片等大尺寸樣品可配接自動掃描臺進行多視場非金屬夾雜物分析和顆粒粒度、清潔度分析顯微鏡您是否需要在許多樣品和材料科學與分析領域進行成像、

3、測量并分析類似特點？Leica DM4 M是您理想的工業(yè)顯微鏡，無論您是新手還是專業(yè)人士。使用 Leica DM4 M 進行手動例程檢查您可輕松調用之前的顯微鏡設置并通過獨特的軟件功能“保存和調用”(Store and Recall) 即時復制成像參數(shù)。適用于任何類型的樣本。一鍵式“智能自動化”可讓您輕松搞定重復性工作。這些具有記憶功能的顯微鏡可幫您減少培訓時間、改進工作流程和獲得出色的成像結果 始終如一。Leica DM4M“可復制”意味著“可靠”在諸如鋼鐵夾雜物比例測定、粒子分析、相位或顆粒分析等應用中，可復制性至關重要。Leica DM4 M顯微鏡系統(tǒng)值得您的信賴，獲得可復制的結果。始終

4、如一！節(jié)省寶貴時間：憑借照明管理器 (Illumination Manager) 和相襯管理器 (Contrast Manager)，顯微鏡能夠自動識別所選的相襯方法和正在使用的物鏡，準確打開和關閉孔徑光闌和視場光闌，且調整光線強度。共享和比較您的結果 隨時隨地！通過 Leica 顯微鏡副助手 (Leica Microscope Assistant，Leica LAS “保存和調用”模塊) 保存和調用顯微鏡設置和攝像頭參數(shù)。它們隨圖像一同保存和歸檔，并可隨時恢復。leica金相顯微鏡照明器選擇您需要的組件無憂照明！LED 照明有助于結果的可復制 無論您以明場 (BF)、高動態(tài)暗場 (HDF)、微分干涉相襯 (DIC)、熒光 (FL) 還是偏振 (POL) 狀態(tài)工作?？稍谌魏物@微鏡設置下以恒定的色彩溫度查看您的樣品：無需每次亮度改變時都重置攝像頭或調節(jié)白平衡。選擇一種或多種可用的相襯觀察方法，在樣品上檢測出