工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用

1、工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用一一當(dāng)前進(jìn)展當(dāng)前進(jìn)展二二關(guān)鍵技術(shù)關(guān)鍵技術(shù)三三應(yīng)用實(shí)例應(yīng)用實(shí)例一一當(dāng)前進(jìn)展當(dāng)前進(jìn)展 美國美國GSI公司的公司的V-STARS系統(tǒng)系統(tǒng)一一當(dāng)前進(jìn)展當(dāng)前進(jìn)展 挪威的挪威的MetroNor系統(tǒng)系統(tǒng)一一當(dāng)前進(jìn)展當(dāng)前進(jìn)展 德國德國AICON 3D公司的公司的DPA-Pro系統(tǒng)系統(tǒng)一一當(dāng)前進(jìn)展當(dāng)前進(jìn)展 德國的德國的TRITOP系統(tǒng)系統(tǒng) 一一當(dāng)前進(jìn)展當(dāng)前進(jìn)展數(shù)字近景攝影測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)研究與應(yīng)用數(shù)字近景攝影測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)研究與應(yīng)用 黃桂平黃桂平 博士論文博士論文 2005航天器交會(huì)對(duì)接和月球車導(dǎo)航中視覺測(cè)量關(guān)鍵技

2、術(shù)研究與應(yīng)用航天器交會(huì)對(duì)接和月球車導(dǎo)航中視覺測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)研究與應(yīng)用王保豐王保豐 博士論文博士論文 2007計(jì)算機(jī)視覺工業(yè)測(cè)量系統(tǒng)的建立與標(biāo)定計(jì)算機(jī)視覺工業(yè)測(cè)量系統(tǒng)的建立與標(biāo)定 王保豐王保豐 碩士論文碩士論文 2004 工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量中人工標(biāo)志的研究與應(yīng)用工業(yè)數(shù)字?jǐn)z影測(cè)量中人工標(biāo)志的研究與應(yīng)用 范生宏范生宏 碩士論文碩士論文 2006數(shù)字工業(yè)攝影測(cè)量中的標(biāo)志點(diǎn)匹配和數(shù)字工業(yè)攝影測(cè)量中的標(biāo)志點(diǎn)匹配和自檢校光束法平差快速解算自檢校光束法平差快速解算馮其強(qiáng)馮其強(qiáng) 碩士論文碩士論文 2007 我院部分研究成果我院部分研究成果 國內(nèi)院校國內(nèi)院校武漢大學(xué)、天津大學(xué)、北京航空航天大學(xué)、國防科技大學(xué)武漢大學(xué)、

3、天津大學(xué)、北京航空航天大學(xué)、國防科技大學(xué) 二二關(guān)鍵技術(shù)關(guān)鍵技術(shù)1.高精度標(biāo)志點(diǎn)中心圖像獲取高精度標(biāo)志點(diǎn)中心圖像獲取2.高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置3.相機(jī)初始外方位元素獲取及方法相機(jī)初始外方位元素獲取及方法4.編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)5.同名點(diǎn)自動(dòng)匹配方法及策略同名點(diǎn)自動(dòng)匹配方法及策略6.光束法統(tǒng)一平差光束法統(tǒng)一平差7.與其它測(cè)量系統(tǒng)的融合及統(tǒng)一數(shù)據(jù)處理與其它測(cè)量系統(tǒng)的融合及統(tǒng)一數(shù)據(jù)處理1. 高精度標(biāo)志點(diǎn)中心圖像獲取高精度標(biāo)志點(diǎn)中心圖像獲取回光反射標(biāo)志回光反射標(biāo)志準(zhǔn)二值影像準(zhǔn)二值影像閃光燈閃光燈 圖像獲取圖像獲取1. 高精度標(biāo)志點(diǎn)中心圖像獲取高精度標(biāo)

4、志點(diǎn)中心圖像獲取 標(biāo)志點(diǎn)識(shí)別及精確定位標(biāo)志點(diǎn)識(shí)別及精確定位圖像圖像利用利用Canny算子檢測(cè)邊算子檢測(cè)邊緣緣含有虛假含有虛假邊緣的圖像邊緣的圖像 幾何檢驗(yàn)幾何檢驗(yàn)灰度檢驗(yàn)灰度檢驗(yàn)標(biāo)志點(diǎn)標(biāo)志點(diǎn)邊緣圖像邊緣圖像 灰度加權(quán)質(zhì)心法灰度加權(quán)質(zhì)心法灰度平方加權(quán)質(zhì)心法灰度平方加權(quán)質(zhì)心法標(biāo)志點(diǎn)標(biāo)志點(diǎn)像坐標(biāo)像坐標(biāo) 像點(diǎn)坐標(biāo)測(cè)量精度優(yōu)于像點(diǎn)坐標(biāo)測(cè)量精度優(yōu)于0.020.02像素像素 2. 高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置 相機(jī)內(nèi)參數(shù)：相機(jī)內(nèi)參數(shù)：10參數(shù)相機(jī)畸變模型參數(shù)相機(jī)畸變模型 徑向畸變徑向畸變 枕形畸變枕形畸變桶形畸變桶形畸變表達(dá)式：表達(dá)式：357123.rk rk rk r 分解到像

5、平面坐標(biāo)系的分解到像平面坐標(biāo)系的x軸和軸和y軸上軸上 ：246123246123.rrxk xrk xrk xryk yrk yrk yr其中：其中：00222()()xxxyyyrxy2. 高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置 相機(jī)內(nèi)參數(shù)：相機(jī)內(nèi)參數(shù)：10參數(shù)相機(jī)畸變模型參數(shù)相機(jī)畸變模型 偏心畸變偏心畸變 理想狀態(tài)理想狀態(tài)實(shí)際狀態(tài)實(shí)際狀態(tài)表達(dá)式：表達(dá)式：22212( )P rPPr分解到像平面坐標(biāo)系的分解到像平面坐標(biāo)系的x軸和軸和y軸上軸上 ：22122221(2)2(2)2ddxP rxP x yyP ryPx y偏心偏心畸變畸變分布分布示意示意圖圖2. 高精度相機(jī)標(biāo)定

6、算法及標(biāo)定裝置高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置 像平面畸變像平面畸變120mmxb xb yy 相機(jī)畸變模型相機(jī)畸變模型 rdmrdmxxxxyyyy 相機(jī)內(nèi)參數(shù)：相機(jī)內(nèi)參數(shù)：10參數(shù)相機(jī)畸變模型參數(shù)相機(jī)畸變模型2. 高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置 試驗(yàn)場(chǎng)法標(biāo)定試驗(yàn)場(chǎng)法標(biāo)定由一組控制點(diǎn)構(gòu)成試驗(yàn)場(chǎng)，用待標(biāo)定相機(jī)對(duì)試驗(yàn)場(chǎng)攝影，由一組控制點(diǎn)構(gòu)成試驗(yàn)場(chǎng)，用待標(biāo)定相機(jī)對(duì)試驗(yàn)場(chǎng)攝影，然后根據(jù)單像片空間后方交會(huì)或多像片后方交會(huì)求解相然后根據(jù)單像片空間后方交會(huì)或多像片后方交會(huì)求解相機(jī)內(nèi)參數(shù)。機(jī)內(nèi)參數(shù)。控制架控制架2. 高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置高精度相機(jī)標(biāo)定算法及標(biāo)定裝置 光束法平差自

7、標(biāo)定光束法平差自標(biāo)定將內(nèi)參數(shù)作為附加參數(shù)，連同物方點(diǎn)坐標(biāo)、外方位元素同將內(nèi)參數(shù)作為附加參數(shù)，連同物方點(diǎn)坐標(biāo)、外方位元素同時(shí)進(jìn)行光束法平差計(jì)算。時(shí)進(jìn)行光束法平差計(jì)算。111223311333: : VA XA XA XLPVXLPX1、X2和和X3分別為攝站參數(shù)、物方點(diǎn)坐標(biāo)和內(nèi)參數(shù)的改正數(shù)向量；分別為攝站參數(shù)、物方點(diǎn)坐標(biāo)和內(nèi)參數(shù)的改正數(shù)向量；A1、A2和和A3分別為相應(yīng)的系數(shù)矩陣；分別為相應(yīng)的系數(shù)矩陣；L1為像點(diǎn)坐標(biāo)的觀測(cè)值向量；為像點(diǎn)坐標(biāo)的觀測(cè)值向量；P1為像點(diǎn)坐標(biāo)的權(quán)矩陣；為像點(diǎn)坐標(biāo)的權(quán)矩陣；L3為內(nèi)部參數(shù)虛擬的觀測(cè)值向量，一般為零向量；為內(nèi)部參數(shù)虛擬的觀測(cè)值向量，一般為零向量；P3為內(nèi)部參

8、數(shù)虛擬觀測(cè)值的權(quán)矩陣。為內(nèi)部參數(shù)虛擬觀測(cè)值的權(quán)矩陣。 3. 相機(jī)初始外方位元素獲取及方法相機(jī)初始外方位元素獲取及方法 單張像片定向單張像片定向 裝置：定向棒（裝置：定向棒（AutoBar） 算法：單像空間后方交會(huì)算法：單像空間后方交會(huì)A(X1,Y1,Z1)B(X2,Y2,Z2)C(X3,Y3,Z3)SA(x1,y1)B(x2,y2)C(x3,y3)a?xyzXYZO 通過解算一元四次方程求得其中通過解算一元四次方程求得其中3個(gè)控制點(diǎn)到個(gè)控制點(diǎn)到攝站的距離，利用第攝站的距離，利用第4個(gè)控制點(diǎn)消除歧異解；個(gè)控制點(diǎn)消除歧異解； 計(jì)算計(jì)算3個(gè)控制點(diǎn)在像空間坐標(biāo)系中的坐標(biāo)；個(gè)控制點(diǎn)在像空間坐標(biāo)系中的坐標(biāo)

9、； 通過分解旋轉(zhuǎn)矩陣線性計(jì)算外方位元素。通過分解旋轉(zhuǎn)矩陣線性計(jì)算外方位元素。 AutoBar3.相機(jī)初始外方位元素獲取及方法相機(jī)初始外方位元素獲取及方法 多張像片定向多張像片定向 裝置：定向棒、編碼標(biāo)志裝置：定向棒、編碼標(biāo)志 算法：概略定向算法：概略定向 利用自動(dòng)定向棒對(duì)部分像片進(jìn)行利用自動(dòng)定向棒對(duì)部分像片進(jìn)行空間后方交會(huì)；空間后方交會(huì)； 利用已定向像片通過空間前方交利用已定向像片通過空間前方交會(huì)計(jì)算部分編碼標(biāo)志點(diǎn)坐標(biāo)；會(huì)計(jì)算部分編碼標(biāo)志點(diǎn)坐標(biāo)； 對(duì)至少含有對(duì)至少含有4個(gè)編碼標(biāo)志點(diǎn)的像片個(gè)編碼標(biāo)志點(diǎn)的像片進(jìn)行空間后方交會(huì)；進(jìn)行空間后方交會(huì)； 重復(fù)步驟，直至沒有像片重復(fù)步驟，直至沒有像片可進(jìn)行后

10、方交會(huì)為止；可進(jìn)行后方交會(huì)為止； 光束法平差，提高定向精度。光束法平差，提高定向精度。 AutoBar編碼標(biāo)志編碼標(biāo)志4. 編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與識(shí)別編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與識(shí)別 編碼標(biāo)志編碼標(biāo)志編碼標(biāo)志是一種自身帶有編碼標(biāo)志是一種自身帶有數(shù)字編碼信息數(shù)字編碼信息的人工標(biāo)志，可的人工標(biāo)志，可以通過圖像處理等方法進(jìn)行以通過圖像處理等方法進(jìn)行自動(dòng)識(shí)別自動(dòng)識(shí)別，實(shí)現(xiàn)工業(yè)攝影測(cè)，實(shí)現(xiàn)工業(yè)攝影測(cè)量中人工標(biāo)志的量中人工標(biāo)志的自動(dòng)匹配自動(dòng)匹配，進(jìn)而作為不同像片之間的公，進(jìn)而作為不同像片之間的公共點(diǎn)實(shí)現(xiàn)像片的共點(diǎn)實(shí)現(xiàn)像片的自動(dòng)拼接自動(dòng)拼接 。點(diǎn)分布型編碼標(biāo)志點(diǎn)分布型編碼標(biāo)志 同心圓環(huán)型編碼標(biāo)志同心圓環(huán)型編碼標(biāo)志 4. 編碼

11、標(biāo)志的設(shè)計(jì)與識(shí)別編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與識(shí)別 點(diǎn)狀編碼標(biāo)志設(shè)計(jì)點(diǎn)狀編碼標(biāo)志設(shè)計(jì)模版點(diǎn)模版點(diǎn)編碼點(diǎn)編碼點(diǎn)308022211103m采用十進(jìn)制編碼原理。利用每一個(gè)編采用十進(jìn)制編碼原理。利用每一個(gè)編碼點(diǎn)的數(shù)字標(biāo)識(shí)數(shù)作為數(shù)字碼點(diǎn)的數(shù)字標(biāo)識(shí)數(shù)作為數(shù)字2的冪產(chǎn)的冪產(chǎn)生一個(gè)數(shù)字，所有三個(gè)編碼點(diǎn)產(chǎn)生的生一個(gè)數(shù)字，所有三個(gè)編碼點(diǎn)產(chǎn)生的數(shù)字之和為該編碼標(biāo)志的編碼。數(shù)字之和為該編碼標(biāo)志的編碼。識(shí)別簡單、穩(wěn)定、可靠識(shí)別簡單、穩(wěn)定、可靠有足夠的編碼數(shù)量有足夠的編碼數(shù)量 設(shè)計(jì)原則設(shè)計(jì)原則 編碼原理編碼原理4. 編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與識(shí)別編碼標(biāo)志的設(shè)計(jì)與識(shí)別 點(diǎn)狀編碼標(biāo)志識(shí)別點(diǎn)狀編碼標(biāo)志識(shí)別LABCDABCDL投影不變量：投影不變量：交

12、比交比ADBCBDACDCBARL.),(.) , , (DACBDBCADCBARL) , , (),(DCBARDCBARLL 計(jì)算設(shè)計(jì)模板交比；計(jì)算設(shè)計(jì)模板交比； 尋找符合條件的點(diǎn)集，利用交比不變量進(jìn)行尋找符合條件的點(diǎn)集，利用交比不變量進(jìn)行匹配，得到圖像中模版點(diǎn)的對(duì)應(yīng)點(diǎn)集；匹配，得到圖像中模版點(diǎn)的對(duì)應(yīng)點(diǎn)集； 仿射變換求出仿射參數(shù)；仿射變換求出仿射參數(shù)； 通過仿射參數(shù)恢復(fù)其它編碼點(diǎn)，解碼得到編通過仿射參數(shù)恢復(fù)其它編碼點(diǎn)，解碼得到編碼標(biāo)志的編碼。碼標(biāo)志的編碼。識(shí)別過程識(shí)別過程5. 同名點(diǎn)自動(dòng)匹配方法及策略同名點(diǎn)自動(dòng)匹配方法及策略 同名點(diǎn)匹配同名點(diǎn)匹配在像點(diǎn)精確定位、像片概略定向完成后，確定同

13、一物在像點(diǎn)精確定位、像片概略定向完成后，確定同一物方點(diǎn)在不同像片上的同名像點(diǎn)。方點(diǎn)在不同像片上的同名像點(diǎn)。 匹配方法匹配方法基于空間前方交會(huì)的自動(dòng)匹配算法基于空間前方交會(huì)的自動(dòng)匹配算法同名點(diǎn)5. 同名點(diǎn)自動(dòng)匹配方法及策略同名點(diǎn)自動(dòng)匹配方法及策略 匹配過程匹配過程l 雙片前方交會(huì)雙片前方交會(huì)l 合并物方點(diǎn)合并物方點(diǎn)l 初始匹配初始匹配l 剔除屬于同一像片的像點(diǎn)剔除屬于同一像片的像點(diǎn)l 同名像點(diǎn)數(shù)閾值判斷同名像點(diǎn)數(shù)閾值判斷l(xiāng) 多片前方交會(huì)多片前方交會(huì)l 像點(diǎn)坐標(biāo)殘差閾值判斷像點(diǎn)坐標(biāo)殘差閾值判斷l(xiāng) 確定同名像點(diǎn)確定同名像點(diǎn)6. 光束法統(tǒng)一平差光束法統(tǒng)一平差 自檢校光束法平差自檢校光束法平差待答解參數(shù)

14、待答解參數(shù)物方點(diǎn)坐標(biāo)、外方位元素、相機(jī)內(nèi)參數(shù)物方點(diǎn)坐標(biāo)、外方位元素、相機(jī)內(nèi)參數(shù)平差模型平差模型111223311333: : VA XA XA XLPVXLPX1、X2和X3分別為外方位元素、物方點(diǎn)坐標(biāo)和內(nèi)參數(shù)的改正數(shù)向量；A1、A2和A3分別為相應(yīng)的系數(shù)矩陣；L1為像點(diǎn)坐標(biāo)的觀測(cè)值向量；P1為像點(diǎn)坐標(biāo)的權(quán)矩陣；L3為內(nèi)部參數(shù)虛擬的觀測(cè)值向量，一般為零向量；P3為內(nèi)部參數(shù)虛擬觀測(cè)值的權(quán)矩陣。 7. 與其它測(cè)量系統(tǒng)的融合及統(tǒng)一數(shù)據(jù)處理與其它測(cè)量系統(tǒng)的融合及統(tǒng)一數(shù)據(jù)處理 經(jīng)緯儀測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)緯儀測(cè)量系統(tǒng) 全站儀測(cè)量系統(tǒng)全站儀測(cè)量系統(tǒng)作為長度控制條件或控制點(diǎn)作為長度控制條件或控制點(diǎn)參與光束法統(tǒng)一平差參與

15、光束法統(tǒng)一平差作為控制點(diǎn)對(duì)相機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)作為控制點(diǎn)對(duì)相機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)場(chǎng)法標(biāo)定場(chǎng)法標(biāo)定作為控制點(diǎn)對(duì)像片進(jìn)行定向作為控制點(diǎn)對(duì)像片進(jìn)行定向三三應(yīng)用實(shí)例應(yīng)用實(shí)例 “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 網(wǎng)狀星載天線測(cè)量網(wǎng)狀星載天線測(cè)量 星載天線真空條件下高低溫檢測(cè)星載天線真空條件下高低溫檢測(cè)1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 54 54所承擔(dān)了所承擔(dān)了“探月工程探月工程”50米天線的研制工作米天線的研制工作 天線參數(shù)：天線參數(shù)： 口徑：口徑：50m50m 焦距：焦距：17.5m17.5m 站址：北京密云站址：北京密云 用途：用途： “探月工程探月工程” 測(cè)控系統(tǒng)和地面測(cè)

16、控系統(tǒng)和地面接收系統(tǒng)的重要組成部分；接收系統(tǒng)的重要組成部分； 天文觀測(cè)的射電望遠(yuǎn)鏡。天文觀測(cè)的射電望遠(yuǎn)鏡。1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)測(cè)量點(diǎn)布設(shè)方案測(cè)量點(diǎn)布設(shè)方案編碼標(biāo)志布設(shè)方案編碼標(biāo)志布設(shè)方案1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)基準(zhǔn)尺布設(shè)方案基準(zhǔn)尺布設(shè)方案3 3根長度為根長度為2.846m2.846m的基準(zhǔn)尺的基準(zhǔn)尺1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)俯仰角為俯仰角為7 7時(shí)的測(cè)量示

17、意圖時(shí)的測(cè)量示意圖 俯仰角為俯仰角為3030時(shí)的測(cè)量示意圖時(shí)的測(cè)量示意圖 1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)1488個(gè)回光反射標(biāo)志個(gè)回光反射標(biāo)志100個(gè)編碼標(biāo)志個(gè)編碼標(biāo)志500張圖像張圖像測(cè)量時(shí)間為測(cè)量時(shí)間為1.5小時(shí)小時(shí)數(shù)據(jù)處理時(shí)間約為數(shù)據(jù)處理時(shí)間約為0.5小時(shí)小時(shí)1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)7 7 工位工位3030 工位工位序號(hào)序號(hào)面型精度面型精度序號(hào)序號(hào)面型精度面型精度第一次第一次30m30m1.881.88第一次第一次30m30m1.591.

18、5950m50m4.054.0550m50m3.583.58第二次第二次30m30m1.441.44第二次第二次30m30m0.800.8050m50m1.871.8750m50m1.061.06通過兩次檢測(cè)、一次調(diào)整，面型精度完全滿足設(shè)計(jì)要求。通過兩次檢測(cè)、一次調(diào)整，面型精度完全滿足設(shè)計(jì)要求。 檢測(cè)和調(diào)整結(jié)果檢測(cè)和調(diào)整結(jié)果 （mm）1. “探月工程探月工程”50米大型天線測(cè)量米大型天線測(cè)量 天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)天線工作狀態(tài)下?lián)隙葯z測(cè)測(cè)試頻率(GHz)第一旁瓣電平(dB)技術(shù)要求測(cè)量結(jié)果方位俯仰7.600 -18-26.67, -18.17-28.00, -23.502.5093-24.83

19、, -21.67-21.16, -25.50頻率(GHz)技術(shù)要求波束寬度（）測(cè)量結(jié)果效率（%）增益（dB）方位俯仰效率（%）增益（dB）7.6004864.370.06030.0678115.8568.1982.50935059.360.16800.169055.0959.782備注：X波段天線效率按30米口徑計(jì)算，S波段天線效率按50米口徑計(jì)算測(cè)試結(jié)果表明：該天線測(cè)試結(jié)果表明：該天線S/X頻段的電性能指標(biāo)滿足或優(yōu)于設(shè)計(jì)指標(biāo)，頻段的電性能指標(biāo)滿足或優(yōu)于設(shè)計(jì)指標(biāo)，從而驗(yàn)證了反射面精度調(diào)整的結(jié)果。從而驗(yàn)證了反射面精度調(diào)整的結(jié)果。 電測(cè)結(jié)果電測(cè)結(jié)果2. 網(wǎng)狀星載天線測(cè)量網(wǎng)狀星載天線測(cè)量 天線概況天

20、線概況框架由碳纖維管制作而成，反射面由高強(qiáng)度細(xì)繩為骨框架由碳纖維管制作而成，反射面由高強(qiáng)度細(xì)繩為骨架，上面鋪上纖維網(wǎng)而構(gòu)成的面狀天線。架，上面鋪上纖維網(wǎng)而構(gòu)成的面狀天線。 直徑：直徑：2.8m、6.4m、17.2m2. 網(wǎng)狀星載天線測(cè)量網(wǎng)狀星載天線測(cè)量 天線概況天線概況直徑直徑2.8m天線天線2. 網(wǎng)狀星載天線測(cè)量網(wǎng)狀星載天線測(cè)量 天線概況天線概況直徑直徑6.4m天線天線2. 網(wǎng)狀星載天線測(cè)量網(wǎng)狀星載天線測(cè)量 天線概況天線概況直徑直徑17.2m天線天線2. 網(wǎng)狀星載天線測(cè)量網(wǎng)狀星載天線測(cè)量測(cè)量方式法向偏差第一次攝影測(cè)量0.267第二次攝影測(cè)量0.269經(jīng)緯儀測(cè)量0.330 測(cè)量結(jié)果（測(cè)量結(jié)果（

21、2.8m）標(biāo)志點(diǎn)及攝站分布標(biāo)志點(diǎn)及攝站分布 基準(zhǔn)尺標(biāo)定值測(cè)量值基準(zhǔn)尺1 1471.000 1470.911基準(zhǔn)尺2 1471.000 1471.089基準(zhǔn)尺測(cè)量誤差（基準(zhǔn)尺測(cè)量誤差（mm）與經(jīng)緯儀比較結(jié)果（與經(jīng)緯儀比較結(jié)果（mm）兩次測(cè)量重復(fù)性偏差為：兩次測(cè)量重復(fù)性偏差為：0.049mm 3.星載天線真空條件下高低溫檢測(cè)星載天線真空條件下高低溫檢測(cè) 項(xiàng)目背景：項(xiàng)目背景：在熱真空試驗(yàn)過程中進(jìn)行星載天線熱變形測(cè)量，以驗(yàn)證產(chǎn)品的在熱真空試驗(yàn)過程中進(jìn)行星載天線熱變形測(cè)量，以驗(yàn)證產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造工藝、裝配是否滿足天線平面度技術(shù)指標(biāo)要求。設(shè)計(jì)、制造工藝、裝配是否滿足天線平面度技術(shù)指標(biāo)要求。 衛(wèi)星天線面板展

22、開狀態(tài)圖衛(wèi)星天線面板展開狀態(tài)圖 真空室及天線狀態(tài)真空室及天線狀態(tài) 真空度優(yōu)于真空度優(yōu)于1.310-3Pa溫度范圍：溫度范圍：-90+90 測(cè)量精度要求優(yōu)于測(cè)量精度要求優(yōu)于0.15mm 3.星載天線真空條件下高低溫檢測(cè)星載天線真空條件下高低溫檢測(cè) 測(cè)量方案：測(cè)量方案：采用采用2臺(tái)相機(jī)組成攝影測(cè)量系統(tǒng)對(duì)該衛(wèi)星在熱真空高臺(tái)相機(jī)組成攝影測(cè)量系統(tǒng)對(duì)該衛(wèi)星在熱真空高低溫下的變形進(jìn)行測(cè)量。低溫下的變形進(jìn)行測(cè)量。 雙相機(jī)測(cè)量雙相機(jī)測(cè)量 相機(jī)保護(hù)罐相機(jī)保護(hù)罐 3.星載天線真空條件下高低溫檢測(cè)星載天線真空條件下高低溫檢測(cè) 測(cè)量結(jié)果：測(cè)量結(jié)果：周期均方根極大值極小值極大點(diǎn)極小點(diǎn)平面度3次變化量低溫拉偏10.2640.985-0.465X63Z51.450.02低溫拉偏20.2540.958-0.479X63Z51.437低溫拉偏30.2550.736-0.721X63Z51.457低溫10.2670.921-0.819X63Z51.740.007低溫20.2620.982-0.757X63Z51.739低溫30.2660.924-0.822X63Z51.746高溫10.2590.574-0.716X