涂層厚度測(cè)量

1、TT130 TT130 超聲波測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀 超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。料的厚度。 凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。一、一、TT130 TT130 超聲波測(cè)厚儀外觀超聲波測(cè)

2、厚儀外觀發(fā)射插座接收插座機(jī)身液晶屏探頭鍵盤校準(zhǔn)試塊二、液晶屏顯示： BATT-低電壓標(biāo)志 凸凸-耦合標(biāo)志 m/s-聲速單位mm-厚度單位 三、鍵盤功能說明ON-開機(jī)鍵 ZERO-校準(zhǔn)鍵 VEL-聲速鍵 -聲速、厚度、厚度單元調(diào)整鍵 -聲速、厚度、厚度單元調(diào)整鍵 VEL+ZERO-厚度存儲(chǔ)鍵 四、四、性能指標(biāo)性能指標(biāo)顯示方式：四位數(shù)字液晶顯示 顯示最小單位：0.01mm工作頻率：5MHz 測(cè)量范圍：1.2mm225.0mm （鋼） 管材測(cè)量下限：20mm3.0mm測(cè)量誤差：(1%H+0.1)mm，H 為被測(cè)物實(shí)際厚度 聲速調(diào)節(jié)范圍：1000 m/s9999m/s已知厚度反測(cè)聲速：測(cè)量范圍 100

3、0 m/s9999m/s，試塊厚度20mm 時(shí)，聲速測(cè)量精度為1mm/H100%；試塊厚度20mm 時(shí)，聲速測(cè)量精度為5% 使用溫度范圍：040電源：二節(jié) 5 號(hào)干電池 功耗：工作電流20mA (3V) 外形尺寸：126 mm68 mm23 mm重量：170g 五、主要功能自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn)，可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正 線性自動(dòng)補(bǔ)償，在全范圍內(nèi)利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)探頭非線性誤差進(jìn)行修正，以提高準(zhǔn)確度。 采用上、下調(diào)節(jié)鍵可對(duì)聲速、厚度進(jìn)行快速調(diào)整，可快速查詢厚度存儲(chǔ)單元。 耦合狀態(tài)提示：提供耦合標(biāo)志，通過觀察其穩(wěn)定狀態(tài)可知耦合是否正常。 可存儲(chǔ)十個(gè)厚度值，關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)不丟失，為高空及野外工作帶來方便。 測(cè)聲速功能

4、：根據(jù)樣塊厚度直接測(cè)出其聲速，避免了查表或換算的麻煩。 可存儲(chǔ)五種不同材料的聲速。 低電壓提示。 自動(dòng)關(guān)機(jī)：定時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)會(huì)幫您斷電。 全鍵膜密閉式操作-防油污，提高使用壽命。 六、測(cè)量步驟1測(cè)量準(zhǔn)備測(cè)量準(zhǔn)備 將探頭插頭插入主機(jī)探頭插座中， 按鍵開機(jī)，全屏幕顯示數(shù)秒后顯示上次關(guān)機(jī)前使用的聲速，如下圖所示，此時(shí)可開始測(cè)量。上次關(guān)機(jī)前使用的聲速2聲速的調(diào)整聲速的調(diào)整 如果當(dāng)前屏幕顯示為厚度值，按 VEL 鍵進(jìn)入聲速狀態(tài)，屏幕將顯示當(dāng)前聲速存儲(chǔ)單元的內(nèi)容。每按一次，聲速存儲(chǔ)單元變化一次，可循環(huán)顯示五個(gè)聲速值。如果希望改變當(dāng)前顯示聲速單元的內(nèi)容，用或鍵調(diào)整到期望值即，時(shí)將此值存入該單元。按 VEL 鍵進(jìn)

5、入聲速狀態(tài)用或鍵調(diào)整后的值3校準(zhǔn)校準(zhǔn) 在每次更換探頭、更換電池之后應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。此步驟對(duì)保證測(cè)量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要，可重復(fù)多次。 將聲速調(diào)整到 5900m/s 后按 ZERO 鍵，進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)，屏幕顯示： 在隨機(jī)試塊上涂耦合劑，將探頭與隨機(jī)試塊耦合，屏幕顯示的橫線將逐條消失，直到屏幕顯示 4.00mm 即校準(zhǔn)完畢。然后轉(zhuǎn)入測(cè)量狀態(tài)，測(cè)量隨機(jī)試塊，若示值誤差超出儀器的測(cè)量誤差還需再次進(jìn)行校準(zhǔn)，直到示值誤差在測(cè)量誤差范圍內(nèi)為止。測(cè)量厚度測(cè)量厚度 將耦合劑涂于被測(cè)處，將探頭與被測(cè)材料耦合即可測(cè)量，屏幕將顯示被測(cè)材料厚度，如圖：說明：當(dāng)探頭與被測(cè)材料耦合時(shí)，顯示耦合標(biāo)志。如果耦合標(biāo)志閃爍或不出現(xiàn)說

6、明耦合不好。拿開探頭后，厚度值保持，耦合標(biāo)志消失。如圖：5 5測(cè)量聲速測(cè)量聲速 如果希望測(cè)量某種材料的聲速,可利用已知厚度試塊測(cè)量聲速。先用游標(biāo)卡尺或千分尺測(cè)量試塊，準(zhǔn)確讀取厚度值。將探頭與已知厚度試塊耦合，直到顯示出一厚度值，拿開探頭后，用或鍵將顯示值調(diào)整到實(shí)際厚度值，然后按 VEL 鍵即可顯示出被測(cè)聲速，同時(shí)該聲速被存入當(dāng)前聲速存儲(chǔ)單元。聲速測(cè)量必須選擇足夠厚度的測(cè)試塊，推薦最小壁厚為 20mm。例：若測(cè)量厚度為例：若測(cè)量厚度為 25mm 25mm 材料的聲速，操作如下：材料的聲速，操作如下：1.任選一個(gè)聲速測(cè)量，顯示某一厚度值如下：2.用或鍵將顯示值調(diào)整到 25.00mm，顯示如下：3.

7、 按 VEL 鍵顯示出被測(cè)聲速,顯示如下:6 6厚度值存儲(chǔ)厚度值存儲(chǔ)6.1 存儲(chǔ) 按住 VEL 鍵，再按 ZERO 鍵,進(jìn)入厚度存儲(chǔ)狀態(tài)，顯示某一厚度存儲(chǔ)單元號(hào)，此時(shí)可用或 鍵設(shè)定所需單元（用或鍵可循環(huán)顯示 09 單元）。測(cè)量厚度的同時(shí)，將測(cè)量值存入設(shè)定單元。每測(cè)一次新值即將舊值刷新，該單元記錄的是最后一次測(cè)量的值。按VEL 鍵可退出厚度存儲(chǔ)狀態(tài)。6.2 查看存儲(chǔ)內(nèi)容 按住 VEL 鍵,再按 ZERO 鍵,顯示當(dāng)前厚度存儲(chǔ)單元號(hào),用或鍵找到要查看的單元(用或鍵可循環(huán)顯示 09 號(hào)單元)，再操作一次即顯示該單元的內(nèi)容。此時(shí)測(cè)量也可將新測(cè)的值存入該單元。按 VEL 鍵可退出厚度存儲(chǔ)狀態(tài)。例：查看

8、3 號(hào)單元存儲(chǔ)的厚度值 1. 按住 VEL 鍵,再按 ZERO 鍵,顯示如下:2. 用或鍵找到 3 號(hào)單元, 顯示如下:3. 按住 VEL 鍵,再按 ZERO 鍵,顯示出 3 號(hào)單元存儲(chǔ)的厚度值如下:4.按 VEL 鍵退出厚度存儲(chǔ)狀態(tài)。如果不按 VEL 鍵退出厚度存儲(chǔ)狀態(tài)，那么再測(cè)量的厚度值將該單元的舊值刷新。7 7低電壓指示低電壓指示 如果屏幕顯示 BATT 標(biāo)志，說明電池電壓已低落，應(yīng)及時(shí)更換電池后再繼續(xù)使用。8自動(dòng)關(guān)機(jī) 如果二分鐘內(nèi)不進(jìn)行任何操作，將自動(dòng)關(guān)機(jī)。HCC-24HCC-24磁阻法測(cè)厚儀磁阻法測(cè)厚儀 磁阻法測(cè)厚儀是一種用電池供電的便攜磁阻法測(cè)厚儀是一種用電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器，

9、可快速無損地測(cè)量導(dǎo)磁材式測(cè)量?jī)x器，可快速無損地測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚度。例如：鐵料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯等。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯示測(cè)量次數(shù)、平均值、最大值及最小值。示測(cè)量次數(shù)、平均值、最大值及最小值。 膜厚儀膜厚儀一、儀器外型一、儀器外型二、按鍵說明二、按鍵說明1、“開/關(guān)”：儀器的開關(guān)鍵。 2、“統(tǒng)計(jì)RES”：數(shù)理統(tǒng)計(jì)鍵，對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計(jì)，并順序顯示下述數(shù)據(jù)，即測(cè)量的次數(shù)（N）、平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）。 3、“清除DEL”：

10、從統(tǒng)計(jì)中消除當(dāng)前測(cè)量值的鍵。 4、“校正CAL”：用于校正儀器的鍵。 5、“”：處在校正方式時(shí)，遞增顯示數(shù)值的鍵；在正常測(cè)試時(shí)，用于普通模式與連續(xù)測(cè)量模式轉(zhuǎn)換。 6、“”：處在校正方式時(shí)，遞減顯示數(shù)值的鍵；在正常測(cè)試時(shí)，用于普通模式與連續(xù)測(cè)量模式轉(zhuǎn)換。三、儀器的基本使用方法三、儀器的基本使用方法 用本儀器進(jìn)行測(cè)試使用起來非常簡(jiǎn)單：首先用螺絲刀撬開儀器背面的電池盒蓋，裝入電池。然后按“開/關(guān)”鍵開機(jī)，儀器顯示“-”，2秒鐘后顯示“0m”，儀器便進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。此時(shí)，用戶只要將儀器的探頭垂直壓在被測(cè)面上（如圖1）。注意，探頭按下時(shí)，探頭的尾部會(huì)抬起，手不要碰到探頭的金屬部分，以免影響保持探頭內(nèi)體自由

11、上下活動(dòng)。保持探頭放置穩(wěn)定，儀器顯示器上會(huì)出現(xiàn)一個(gè)標(biāo)志，并顯示測(cè)試結(jié)果。如果要再測(cè)一次，往上提探頭使其離開被測(cè)面，然后再按下探頭，儀器隨后就會(huì)顯示新的測(cè)試結(jié)果。如果被測(cè)面是弧形的，按圖2的方式，使探頭下端的三角開叉跨在被測(cè)件上，這樣便能穩(wěn)固地放置探頭，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。 為了保證儀器正常工作并獲得最佳工作狀態(tài)，請(qǐng)注意以下2個(gè)使用細(xì)節(jié)： 1. 在儀器開機(jī)時(shí)，使探頭遠(yuǎn)離被測(cè)件和其它鐵磁性物體（10cm以上），直到儀器顯示 “0m”為止。 2. 每次測(cè)試后，盡量上提探頭，使其遠(yuǎn)離被測(cè)件，這樣會(huì)使儀器處于良好的環(huán)境適應(yīng)狀態(tài)。四、正式測(cè)試前的準(zhǔn)備工作四、正式測(cè)試前的準(zhǔn)備工作 用戶購買后的新儀器在進(jìn)行實(shí)際

12、使用前，都必須要進(jìn)行儀器的校正，這是保證儀器達(dá)到標(biāo)稱精度的重要保證，請(qǐng)務(wù)必重視。 儀器有多種校正方法，使用很靈活，用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇如下一種方式：1）全范圍高準(zhǔn)確度的傳統(tǒng)校正法 用戶通過隨機(jī)配備的三個(gè)不同厚度的試片和裸基體完成校正，具體步驟如下： 步驟一 在儀器處于開機(jī)后的狀態(tài)時(shí)，按一下“校正CAL”鍵，儀器屏上會(huì)出現(xiàn)“CAL”，同時(shí)會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，該數(shù)值如果不為“ 0”，按“”鍵，直到該數(shù)值由大到小變到“0”為止。然后將探頭放在裸基體的測(cè)試面上進(jìn)行測(cè)試（注意，這里的裸基體一定要和實(shí)際被測(cè)物的材料和形狀完全相同。不要使用隨機(jī)配備的標(biāo)準(zhǔn)金屬基塊，那只能用來驗(yàn)證儀器本身工作是否正常，不能用來校

13、正儀器）?？梢詼y(cè)試幾下，待儀器上顯示的數(shù)值基本穩(wěn)定后，按一下 “校正CAL”鍵，儀器的零點(diǎn)便校正完畢，它會(huì)顯示一個(gè)新的數(shù)值。 步驟二 接上一步驟，用第一個(gè)試片來校正?？匆幌聝x器上顯示的數(shù)值和隨機(jī)配備最薄的試片的實(shí)際厚度是否一致，該片所標(biāo)注的實(shí)際厚度在20m左右。用“”或“”鍵，使儀器上顯示的數(shù)值和該試片的實(shí)際厚度值一致。然后將該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進(jìn)行測(cè)試，可以重復(fù)幾次。待儀器顯示的測(cè)量值穩(wěn)定后，按一下“校正 CAL”鍵，第一個(gè)試片的校正結(jié)束，儀器又顯示下一個(gè)校正片的厚度值。 步驟三 用步驟二相同的方法，只是所用試片要換成厚度 200m左右的那一片。 步驟四 依然和步驟二相同，但

14、所用的試片要換成1200m左右的那一片。到這個(gè)步驟的最后階段，按一下“校正CAL”鍵，儀器屏上還會(huì)繼續(xù)顯示一個(gè)校正片的厚度值，如 “1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”鍵，校正便全部結(jié)束了。這時(shí)的儀器便可以進(jìn)行高準(zhǔn)確度的實(shí)際測(cè)量了。 在以后使用時(shí)，如果有必要，可以再次做上面四個(gè)步驟的校正。儀器會(huì)記住了上次的零點(diǎn)和每個(gè)試片的厚度值，這樣就可以根據(jù)儀器提示，不用再修正試片厚度值，便能輕松完成各個(gè)步驟。2）上下限校正法 步驟一 先校正兩者中較小的那個(gè)厚度值。在儀器開機(jī)后的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用“”或“”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其和兩點(diǎn)中較小的那個(gè)厚度值一致。然后，在裸基體

15、上平放對(duì)應(yīng)厚度的試片，探頭再壓上進(jìn)行測(cè)試。如果是樣品，那么直接測(cè)試該樣品?？梢灾貜?fù)幾次測(cè)試，待儀器顯示的測(cè)試值穩(wěn)定后，按一下“校正 CAL”鍵，該點(diǎn)的校正便完成，儀器進(jìn)入下一點(diǎn)校正。 步驟二 接上一步驟，用“”、“”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其和兩點(diǎn)中較大的那個(gè)厚度值一致。按步驟一同樣的方法，用另一塊對(duì)應(yīng)的試片或樣品進(jìn)行測(cè)試，待儀器顯示的測(cè)量值穩(wěn)定后，按兩次“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），上下限的校正便完成了。 如果以后還要做同樣的上下限校正，借助儀器已經(jīng)記住的兩個(gè)校正點(diǎn)厚度值，能進(jìn)一步讓用戶省去上面兩個(gè)步驟中調(diào)整厚度的那部分操作，使用將更加便捷。3）單點(diǎn)校正法 在儀器開機(jī)后

16、的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用 “”或“”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其為“0”或與樣品的厚度值一致。然后，將探頭直接放在裸基體上進(jìn)行測(cè)試。如果是樣品，那么直接測(cè)試該樣品?？梢灾貜?fù)測(cè)幾次，待儀器顯示的測(cè)試值穩(wěn)定后，按兩下“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），單點(diǎn)校正便完成了。4）任意多個(gè)校正點(diǎn)校正法 如果用戶接觸到的被測(cè)物件形狀比較特殊，而且涂層厚度的范圍也比較大，同時(shí)精度又有更高的要求，那么用戶可以自行挑選多個(gè)校正點(diǎn)（最多10個(gè)）進(jìn)行校正，儀器允許的校正點(diǎn)厚度為0 1999m。有一點(diǎn)請(qǐng)注意，在實(shí)際進(jìn)行校正的過程中，多個(gè)厚度執(zhí)行順序必須由小到大依次進(jìn)行。具體的操作步驟和上面的傳

17、統(tǒng)校正法類似，此處就不再重復(fù)了。五、儀器的其它操作說明五、儀器的其它操作說明 1、通過多次測(cè)量后，按“統(tǒng)計(jì)RES”鍵可依次顯示出測(cè)量次數(shù)、測(cè)量結(jié)果的平均值、最大值、最小值。按了“統(tǒng)計(jì)RES”鍵后，如再次測(cè)量，儀器會(huì)清除原有的測(cè)量值，并存儲(chǔ)新的測(cè)量值，并重新計(jì)算各個(gè)統(tǒng)計(jì)值。 如果在測(cè)量中，因探頭放置不穩(wěn)，顯示出一個(gè)明顯錯(cuò)誤測(cè)量值，可按“清除DEL”鍵消除該測(cè)量值，以免影響統(tǒng)計(jì)結(jié)果的準(zhǔn)確性。 2、儀器使用完畢后，按“開/關(guān)”鍵，關(guān)閉電源。本儀器還有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，如不進(jìn)行任何操作，顯示屏上也沒有顯示，儀器會(huì)在大約五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。 3、本儀器有電源狀態(tài)指示功能，當(dāng)電源電壓不足時(shí)，顯示器左上角顯示“B

18、AT”。此后，儀器雖仍能工作約二小時(shí)，但建議用戶此時(shí)應(yīng)更換電池。 4、除上述常規(guī)的工作模式外，本儀器還有一種連續(xù)顯示模式。在常規(guī)工作模式下,按“”或“”鍵即可進(jìn)入連續(xù)顯示模式，這時(shí)顯示器右上角出現(xiàn)“FREE”標(biāo)志。在該狀態(tài)下，測(cè)量值不儲(chǔ)存，每次測(cè)量完成后，探頭不必提離被測(cè)物，測(cè)量和顯示仍繼續(xù)進(jìn)行。這樣，通過探頭在被測(cè)物表面移動(dòng)，可觀察到測(cè)量值的連續(xù)變化。 再次按“”或“”鍵可退回到常規(guī)工作模式，這時(shí)“FREE”標(biāo)志消失。 測(cè)量值的變化一般是由于涂鍍層厚度不均勻引起的，但被測(cè)零件的表面曲率變化或邊緣效應(yīng)以及基體表面粗糙度也會(huì)造成測(cè)量值的變化。QNIX1200QNIX1200膜厚儀膜厚儀一、一、Q

19、NIX1200QNIX1200膜厚儀系統(tǒng)概述膜厚儀系統(tǒng)概述 QNIX1200膜厚儀可提供存儲(chǔ)功能和RS232電腦接口。它有探頭Fe。Fe探頭用來測(cè)量涂（鍍）在鋼、鐵上的非磁性涂層，如漆、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。二、二、QNIX1200QNIX1200膜厚儀測(cè)量范圍膜厚儀測(cè)量范圍 測(cè)量范圍為02000m或0-100mil不具備存儲(chǔ)功能的儀器，可同時(shí)拉動(dòng)兩邊的開關(guān)實(shí)現(xiàn)測(cè)量單位之間的轉(zhuǎn)換。 在開機(jī)狀態(tài)下，同時(shí)向前推動(dòng)兩邊的開關(guān)并停留一秒一上，單位發(fā)生轉(zhuǎn)換。儀器在存儲(chǔ)狀態(tài)工作時(shí)，可通過相應(yīng)的程序軟件實(shí)現(xiàn)從m到mil之間的轉(zhuǎn)換。三、三、QNIX1200QNIX1200膜厚儀分辨率膜厚儀分辨率 儀器的分辨率和測(cè)量涂層的厚度有關(guān)，具體如下： 測(cè)量范圍為0.0-99.9m時(shí)，分辨率為0.1m測(cè)量范圍為100-999m時(shí)，分辨率為1m QNIX1200膜厚儀溫度范圍儀器自身帶有溫度補(bǔ)償，是測(cè)量數(shù)據(jù)更精確。使用溫度范圍：550QNIX1200膜厚儀電池的使用和更換該儀器使用