測試組入職培訓(xùn)基礎(chǔ)教程—集成運(yùn)放和比較器(二)

1、四四 、運(yùn)放運(yùn)放& &比較器主要測試的參數(shù)及測試方法：比較器主要測試的參數(shù)及測試方法： 一般來說集成運(yùn)算放大器的電參數(shù)分為兩類：直流參數(shù)和交流參數(shù)。一般來說集成運(yùn)算放大器的電參數(shù)分為兩類：直流參數(shù)和交流參數(shù)。 直流參數(shù)主要包括：失調(diào)電壓直流參數(shù)主要包括：失調(diào)電壓VosVos（VioVio） 、偏置電流、偏置電流IBPIBP和和IBN IBN 、失調(diào)、失調(diào)電流電流IosIos（IoIo）、失調(diào)電壓調(diào)節(jié)范圍、輸出幅度（、失調(diào)電壓調(diào)節(jié)范圍、輸出幅度（輸出高電平電壓輸出高電平電壓VOH VOH 和和輸出低電平電壓輸出低電平電壓VOLVOL） 、開環(huán)電壓增益、開環(huán)電壓增益AVO AVO

2、、電源電壓抑制比、電源電壓抑制比（PSRRPSRR） 、共模抑制比共模抑制比CMRRCMRR（KCMRKCMR）、共模輸入范圍、電源電流、共模輸入范圍、電源電流Icc（IsIs）十項(xiàng)。十項(xiàng)。 交流參數(shù)主要包括：大信號壓擺率（交流參數(shù)主要包括：大信號壓擺率（SRSR） 、小信號過沖、單位增益帶、小信號過沖、單位增益帶寬、建立時(shí)間、上升時(shí)間、下降時(shí)間六項(xiàng)。寬、建立時(shí)間、上升時(shí)間、下降時(shí)間六項(xiàng)。 而其中電源電流、偏置電流、失調(diào)電流、失調(diào)電壓、輸出幅度、開環(huán)增而其中電源電流、偏置電流、失調(diào)電流、失調(diào)電壓、輸出幅度、開環(huán)增益、電源電壓抑制比、共模抑制比、大信號壓擺率、單位增益帶寬這十項(xiàng)益、電源電壓抑制比

3、、共模抑制比、大信號壓擺率、單位增益帶寬這十項(xiàng)參數(shù)反映了運(yùn)算放大器的精度、速度、放大能力等重要指標(biāo)，故作為考核參數(shù)反映了運(yùn)算放大器的精度、速度、放大能力等重要指標(biāo)，故作為考核運(yùn)放器件性能的關(guān)鍵參數(shù)。運(yùn)放器件性能的關(guān)鍵參數(shù)。 集成運(yùn)算放大器 通常運(yùn)算放大器電參數(shù)的測試分為兩種方法：一種是單管測試法，另一種是帶輔助放大器的測通常運(yùn)算放大器電參數(shù)的測試分為兩種方法：一種是單管測試法，另一種是帶輔助放大器的測試方法。盡管單管測試法外圍線路較為簡單，但由于不同運(yùn)放各項(xiàng)電參數(shù)差異很大，不利于計(jì)算機(jī)試方法。盡管單管測試法外圍線路較為簡單，但由于不同運(yùn)放各項(xiàng)電參數(shù)差異很大，不利于計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自動測試，故

4、在生產(chǎn)測試中較少采用。測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自動測試，故在生產(chǎn)測試中較少采用。 為了能采用統(tǒng)一的測量線路實(shí)現(xiàn)自動測試，發(fā)展了利用輔助放大器進(jìn)行測試的新方法。該測試方為了能采用統(tǒng)一的測量線路實(shí)現(xiàn)自動測試，發(fā)展了利用輔助放大器進(jìn)行測試的新方法。該測試方法具有以下優(yōu)點(diǎn)：法具有以下優(yōu)點(diǎn)：1）被測器件的直流狀態(tài)能自動穩(wěn)定，且易于建立測試條件；）被測器件的直流狀態(tài)能自動穩(wěn)定，且易于建立測試條件；2）環(huán)路具有較高的增益，有利于微小量的精確測量；）環(huán)路具有較高的增益，有利于微小量的精確測量；3）可在閉環(huán)條件下實(shí)現(xiàn)開環(huán)測試；）可在閉環(huán)條件下實(shí)現(xiàn)開環(huán)測試；4）易于實(shí)現(xiàn)不同參數(shù)測試的轉(zhuǎn)換，有利）易于實(shí)現(xiàn)不同參數(shù)測試的轉(zhuǎn)換，有

5、利于實(shí)現(xiàn)自動測試。于實(shí)現(xiàn)自動測試。 鑒于運(yùn)用輔助放大器測試方法所具有鑒于運(yùn)用輔助放大器測試方法所具有的優(yōu)越性，該方法已被國際電工委員會的優(yōu)越性，該方法已被國際電工委員會（IEC）確定為運(yùn)算放大器測試標(biāo)準(zhǔn)。）確定為運(yùn)算放大器測試標(biāo)準(zhǔn)。 右圖為運(yùn)放的輔助放大器測試方法的右圖為運(yùn)放的輔助放大器測試方法的基本原理圖。圖中運(yùn)放基本原理圖。圖中運(yùn)放A為輔助放大器，為輔助放大器，DUT為被測運(yùn)放。輔助放大器應(yīng)滿足以下為被測運(yùn)放。輔助放大器應(yīng)滿足以下要求：要求： A開環(huán)增益大于開環(huán)增益大于60dB； B 輸入失調(diào)電流和輸入偏置電流應(yīng)很??；輸入失調(diào)電流和輸入偏置電流應(yīng)很??；C動態(tài)范圍足夠大；動態(tài)范圍足夠大； 集

6、成運(yùn)算放大器集成運(yùn)算放大器 下面以下面以Accotest/STS8200測試系統(tǒng)的運(yùn)放包為例，說明各參數(shù)的測試方法。測試系統(tǒng)的運(yùn)放包為例，說明各參數(shù)的測試方法。 SU8113/SU8114是是STS8200系統(tǒng)專用系統(tǒng)專用DUT板，可測試板，可測試單運(yùn)放、單運(yùn)放、雙運(yùn)放、四運(yùn)放，雙雙運(yùn)放、四運(yùn)放，雙比較器、四比較器等器件的主要參數(shù)比較器、四比較器等器件的主要參數(shù)。運(yùn)放環(huán)路與運(yùn)放環(huán)路與LOAD BOARD連接示意圖連接示意圖SU8113/SU8114示意圖示意圖集成運(yùn)算放大器SU81138113/SU81148114的原理框圖見下圖。的原理框圖見下圖。SU81138113上有上有4 4個(gè)相同的輔

7、助運(yùn)放環(huán)個(gè)相同的輔助運(yùn)放環(huán)SU81148114，可以同，可以同時(shí)搭接時(shí)搭接4 4個(gè)閉環(huán)反饋環(huán)路，完成個(gè)閉環(huán)反饋環(huán)路，完成4 4單元運(yùn)放的測試。單元運(yùn)放的測試。集成運(yùn)算放大器SU81138113/SU81148114中所用到主要硬件資源說明如下：中所用到主要硬件資源說明如下：DVI0 0：向：向DUT提供正電源提供正電源V+，并可測試其工作電流，并可測試其工作電流ICC+。DVI1 1：向：向DUT提供負(fù)電源提供負(fù)電源V-，并可測試其工作電流，并可測試其工作電流ICC-。測試單電源運(yùn)放時(shí)，。測試單電源運(yùn)放時(shí)， V-應(yīng)設(shè)為零。應(yīng)設(shè)為零。DVI2 2：比較器測試時(shí)為上拉電阻提供電平。：比較器測試時(shí)為

8、上拉電阻提供電平。DVI3 3：連接：連接DUT的輸出端，可完成對的輸出端，可完成對DUT輸出端的開短路測試。輸出端的開短路測試。 OVI0 0：提供偏置電壓以控制：提供偏置電壓以控制DUT的輸出電壓的輸出電壓VO，或通過高速模擬開關(guān)，或通過高速模擬開關(guān)PLS向向DUT 同反相輸入端提供電平（可用于壓擺率參數(shù)同反相輸入端提供電平（可用于壓擺率參數(shù)SR的測試）。的測試）。OVI1 1：通過高速模擬開關(guān)：通過高速模擬開關(guān)PLS向向DUT同反相輸入端提供電平（可用于壓擺率參數(shù)同反相輸入端提供電平（可用于壓擺率參數(shù) SR的測試，或用于同反相輸入端的開短路測試）。的測試，或用于同反相輸入端的開短路測試）

9、。OVI2 2：連接輔助運(yùn)放的輸出端，測量所有閉環(huán)直流參數(shù)。：連接輔助運(yùn)放的輸出端，測量所有閉環(huán)直流參數(shù)。QTMU+：時(shí)間測量單元，連接被測運(yùn)放的輸出端，測量時(shí)間參數(shù)：時(shí)間測量單元，連接被測運(yùn)放的輸出端，測量時(shí)間參數(shù)SR。ACSM+：交流信號源，連接：交流信號源，連接DUT反相輸入端，提供交流參數(shù)反相輸入端，提供交流參數(shù)BW所需的交流信號；所需的交流信號； 交流電壓表，連接交流電壓表，連接DUT輸出端，測量交流參數(shù)輸出端，測量交流參數(shù)BW 集成運(yùn)算放大器1、電源電流電源電流ICC1.1 定義：在規(guī)定電源電壓、輸入電壓和輸出電壓下，流入（或流出）器件電源端的電在規(guī)定電源電壓、輸入電壓和輸出電壓下

10、，流入（或流出）器件電源端的電 流值。流值。集成運(yùn)算放大器1.2 測試規(guī)范測試規(guī)范1.3 1.3 測試方法測試方法DUT電源端通過電源端通過DVI0和和DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，對于單電源器件，對于單電源器件 V-=0V。(2) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0電壓，使電壓，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(3) 用用DVI0測試測試DUT的的V+端電流端電流ICC。集成運(yùn)算放大器1.4 1.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：double Vccp = Icc-GetConditionCurSelDouble(short(0); /初始值初始值V

11、+= Vccp=30Vdouble Vccn = Icc-GetConditionCurSelDouble(1); /初始值初始值V-= Vccn=0Vdouble Vo = Icc-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值Vo =0Vdvi0.Set(FV, Vccp, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);dvi1.Set(FV, Vccn, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME); ovi0.Set(FV, -Vo, OVI40_5V, OVI40_

12、40MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);DUT_RELAY_ON(K1K4, K11, OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); delay_ms(RELAY_TIME);dvi0.MeasureVI(MI, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSetTestResult(i, 0, adresulti*1000);cbit.SetOn(-1);dvi0.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_O

13、N); dvi1.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);ovi0.Set(FV, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);集成運(yùn)算放大器2、輸入失調(diào)電壓Vos（Vio）2.1 定義：在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，兩輸入端所加的直流補(bǔ)償電壓。 一個(gè)理想的運(yùn)放，當(dāng)輸入電壓為0時(shí)，輸出電壓也應(yīng)為0。但實(shí)際上它的差分輸入級很難做到完全對稱。通常在輸入電壓為0時(shí)，存在一定的輸出電壓。這個(gè)在輸入端所加的直流補(bǔ)償電壓即為Vos。 單管測試法集成運(yùn)算放大器 2.3 2.3 測試方法測試方法DUTDU

14、T電源端通過電源端通過DVI0DVI0與與DVI1DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+V+、V-V-，對于單電源器件，對于單電源器件 V-=0V V-=0V。(2) (2) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0OVI0電壓，使電壓，使DUTDUT輸出電壓輸出電壓VoVo設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(3) (3) 用用OVI2OVI2在輔助運(yùn)放輸出端測試輸出電壓在輔助運(yùn)放輸出端測試輸出電壓V VL L。(4) (4) 輸入失調(diào)電壓輸入失調(diào)電壓：2.2 2.2 測試規(guī)范測試規(guī)范V Vioio=V=VL L/(R/(RF F/R/RI I)=V)=VL L/(50K/100)=V/(50K/100)=V

15、L L/500/500集成運(yùn)算放大器2.4 2.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：dvi0.Set(FV,0,DVI400_50V,DVI400_400MA,RELAY_ON);dvi1.Set(FV,0,DVI400_50V,DVI400_400MA,RELAY_ON); dvi0.SetClamp(25,25); /dvi0電流箝位設(shè)置為電流箝位設(shè)置為25%。dvi1.SetClamp(25,25); /dvi1電流箝位設(shè)置為電流箝位設(shè)置為25%。dvi0.Set(FV,Vccp,DVI400_50V,DVI400_400MA,RELAY_ON); dvi1.Set(FV, Vccn

16、, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);/注意注意DVI0與與DVI1電壓檔位根據(jù)電壓檔位根據(jù)V+和和V-電壓來設(shè)置。下面參數(shù)的測試同理。電壓來設(shè)置。下面參數(shù)的測試同理。ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON); /ovi2設(shè)置設(shè)置FIMV模式，等待測試模式，等待測試ovi0.Set(FV,-Vo,OVI40_5V,OVI40_40MA, RELAY_ON); /ovi0設(shè)置設(shè)置DUT輸出偏置電壓輸出偏置電壓delay_ms(RELAY_TIME); /RELAY_TIME為程序最開頭設(shè)定的宏定義，根據(jù)實(shí)

17、際情況用戶自行為程序最開頭設(shè)定的宏定義，根據(jù)實(shí)際情況用戶自行 設(shè)定，樣例程序中設(shè)定為設(shè)定，樣例程序中設(shè)定為1ms。DUT_RELAY_ON(K1K4, K11, OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20); /ovi2 MV模式，采樣點(diǎn)數(shù)為模式，采樣點(diǎn)數(shù)為SAMPLE_TIMES(樣例樣例 程序?yàn)槌绦驗(yàn)?0，采樣間隔時(shí)間，采樣間隔時(shí)間20us)集成運(yùn)算放大器for (int i=0; iSetTestResult(i, 0, a

18、dresulti/500*1000); /ovi2讀回輔助運(yùn)放輸出，除以讀回輔助運(yùn)放輸出，除以500倍倍 放大倍數(shù)，再乘以放大倍數(shù)，再乘以1000將輸出結(jié)果轉(zhuǎn)化為將輸出結(jié)果轉(zhuǎn)化為mv單位。單位。cbit.SetOn(-1);dvi0.SetClamp(100,100);dvi1.SetClamp(100,100);/每次使用到箝位時(shí)，在測試完本函數(shù)時(shí)回復(fù)每次使用到箝位時(shí)，在測試完本函數(shù)時(shí)回復(fù)100%。dvi0.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); dvi1.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, REL

19、AY_ON); ovi0.Set(FV, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON); ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);集成運(yùn)算放大器3 3、輸入偏置電流輸入偏置電流IB+ 、IB-3.13.1定義：定義：在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，流入（或流出）在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，流入（或流出） 器件同相端的電流器件同相端的電流為為IB+，流入（或流出）器件流入（或流出）器件反反相端的電流相端的電流為為IB-。集成

20、運(yùn)算放大器3.3 3.3 測試方法測試方法(1) DUT電源端通過電源端通過DVI0與與DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，對于單電源器件，對于單電源器件V-=0V。(2) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0電壓，使電壓，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(3) 閉合開關(guān)閉合開關(guān)KK15和和KK16，在輔助運(yùn)放輸出端用，在輔助運(yùn)放輸出端用OVI0測試輸出電壓測試輸出電壓VL0。(4) 斷開開關(guān)斷開開關(guān)KK16，在輔助運(yùn)放輸出端用，在輔助運(yùn)放輸出端用OVI0測試輸出電壓測試輸出電壓VL1。同相端輸入偏置電流同相端輸入偏置電流：(7) 斷開開關(guān)斷開開關(guān)KK15，在輔助運(yùn)

21、放輸出端用，在輔助運(yùn)放輸出端用OVI0測試輸出電壓測試輸出電壓VL2。反反相端輸入偏置電流相端輸入偏置電流： 注：注：KK15：用于：用于DUT反相輸入端短接反相輸入端短接IB測試電阻（位于測試電阻（位于SU8113上）上） KK16：用于：用于DUT同相輸入端短接同相輸入端短接IB測試電阻（位于測試電阻（位于SU8113上）上）3.2 3.2 測試規(guī)范測試規(guī)范Ib-=(VL2-VL0)/(RF/RI)*R）Ib+=(VL1-VL0)/(RF/RI)*R)集成運(yùn)算放大器3.4 3.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：。ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20)

22、;for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i= (adresulti/500*1000); /vosa1為為UNITA在采樣電阻在采樣電阻RJ1A,RJ2A被短接時(shí)輔助運(yùn)放的輸被短接時(shí)輔助運(yùn)放的輸 出電壓，單位為出電壓，單位為mv。for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= (adresulti/500*1000); /vosa2為為UNITA在采樣電阻在采樣電阻RJ1A被短接時(shí)輔助運(yùn)放的輸出電壓，被短接時(shí)輔助運(yùn)放的輸出電

23、壓， 單位為單位為mv。 for (i=0; iSetTestResult(i, 0, (vosa2i-vosa1i)/100.0*1000); /采樣電阻為采樣電阻為100K，vosa1,vosa2單單 位為位為mv, Ibp單位為單位為nA。/ Ibp-SetTestResult(i, 1, (vosb2i-vosb1i)/100.0*1000);集成運(yùn)算放大器4 4、輸入失調(diào)電流、輸入失調(diào)電流IOSIOS（IOIO）4.1 4.1 定義：定義：在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，流入（或在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，流入（或 流出）器件兩輸入

24、端的電流之差。流出）器件兩輸入端的電流之差。4.2 4.2 測試原理和方法同測試原理和方法同Ib+Ib+、Ib-Ib- 5、輸入偏置電流輸入偏置電流Ibias5.1 5.1 定義：定義：在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，流入（或在規(guī)定的電源電壓下，被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值）時(shí)，流入（或 流出）器件兩輸入端的平均電流。流出）器件兩輸入端的平均電流。5.2 5.2 測試原理和方法同測試原理和方法同Ib+Ib+、Ib-Ib-Ios= Ibp-IbnIos= Ibp-Ibn Ibias =(Ibp+Ibn)/2=(Ibp+Ibn)/2集成運(yùn)算放大器6 6、開環(huán)電壓增益開環(huán)電

25、壓增益AVO（GV）6.1 6.1 定義：定義：器件開環(huán)時(shí)，在規(guī)定的電源電壓、負(fù)載電阻和輸出電壓范圍內(nèi)，輸出電壓器件開環(huán)時(shí)，在規(guī)定的電源電壓、負(fù)載電阻和輸出電壓范圍內(nèi)，輸出電壓 變化與差模輸入電壓變化之比。變化與差模輸入電壓變化之比。集成運(yùn)算放大器6.3 6.3 測試方法測試方法(1) 開環(huán)電壓增益也稱大信號電壓增益，根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)際測試中采用閉環(huán)方法進(jìn)行測開環(huán)電壓增益也稱大信號電壓增益，根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)際測試中采用閉環(huán)方法進(jìn)行測試。試。(2) DUT電源端通過電源端通過DVI0 0和和DVI1 1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，對于單電源器件，對于單電源器件V-=0=0V。

26、(3) 閉合閉合K9 9（或（或K1010）使）使DUT輸出端接入規(guī)定的負(fù)載電阻輸出端接入規(guī)定的負(fù)載電阻RL（R2=22=2K或或R3=103=10K）。）。(4) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0 0電壓，使電壓，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(5) 在輔助運(yùn)放輸出端用在輔助運(yùn)放輸出端用OVI2 2測試輸出電壓測試輸出電壓VL1 1。(6) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0 0電壓，使被測器件輸出電壓電壓，使被測器件輸出電壓Vo2 2設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(7) 在輔助運(yùn)放輸出端用在輔助運(yùn)放輸出端用OVI2 2測試輸出電壓測試輸出電壓VL2 2。開環(huán)電壓益開環(huán)電壓益 : ，單位為單位

27、為V/V。 換算為換算為dB: 6.2 6.2 測試規(guī)范測試規(guī)范集成運(yùn)算放大器6.4 6.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：double Vo = GV-GetConditionCurSelDouble(2); / 初始值初始值Vo = 1V double dVo = GV-GetConditionCurSelDouble(3); / 初始值初始值dVo = 10V 。ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi0.Set(FV, -Vo, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON); 。ovi2.Measur

28、eVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i= adresulti/500*1000;。集成運(yùn)算放大器ovi0.Set(FV, -(Vo+dVo), OVI40_20V, OVI40_40MA, RELAY_ON); 。ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= adresulti/500*1000;fo

29、r (i=0; i SITENUM; i+) vosa1i = fabs(vosa1i - vosa2i); if (vosa1i SetTestResult(i, 0, 20*log10(fabs(dVo*1000/vosa1i);集成運(yùn)算放大器7.共模抑制比共模抑制比CMRR（變電源法）（變電源法）7.1 定義定義：在規(guī)定的電源電壓和輸出電壓范圍內(nèi)，器件差模電壓增益與共模電在規(guī)定的電源電壓和輸出電壓范圍內(nèi)，器件差模電壓增益與共模電 壓增益之比。壓增益之比。集成運(yùn)算放大器 7.2 7.2 測試規(guī)范測試規(guī)范7.3 7.3 測試方法測試方法(1) 共模抑制比（變電源法）采用同時(shí)改變器件電源共模抑

30、制比（變電源法）采用同時(shí)改變器件電源V+和和V-的方法，使器件輸入端等效得到共模輸入電壓。的方法，使器件輸入端等效得到共模輸入電壓。(2) DUT電源端通過電源端通過DVI0和和DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，等效器件輸入端接入共模電壓，等效器件輸入端接入共模電壓VCM1。(3) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0電壓，使電壓，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(4) 在輔助運(yùn)放輸出端用在輔助運(yùn)放輸出端用OVI2測試輸出電壓測試輸出電壓VL1。(5) 改變改變DUT電源端施加的電源電壓為電源端施加的電源電壓為V1+、V1-，等效器件輸入端接入共模電壓，等效器件輸

31、入端接入共模電壓VCM2。(6) 通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0電壓，使電壓，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo1設(shè)為規(guī)定值，設(shè)為規(guī)定值， V= VCC=VCM1-VCM2=Vo-Vo1。(7) 在輔助運(yùn)放輸出端用在輔助運(yùn)放輸出端用PVM測試輸出電壓測試輸出電壓VL2。共模抑制比共模抑制比 ，單位為，單位為V/V。 換算換算dB后后集成運(yùn)算放大器7.4 7.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：dvi0.Set(FV, 5.0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); dvi1.Set(FV, 0 , DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON

32、); delay_ms(RELAY_TIME);ovi0.Set(FV, -1.4, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i = adresulti/500*1000;dvi0.Set(FV, 1.5, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);

33、 dvi1.Set(FV, -3.5, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);ovi0.Set(FV, 2.0, OVI40_2V, OVI40_40MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);。集成運(yùn)算放大器ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= adresulti/500*1000;for (i=0; i SITENUM;

34、i+) vosa1i = fabs(vosa1i - vosa2i); if (vosa1i SetTestResult(i, 0, 20*log10(fabs(3.5*1000/vosa1i);集成運(yùn)算放大器8.電源電壓抑制比電源電壓抑制比PSRR8.1 定義定義：器件電源的單位電壓變化所引起的輸入失調(diào)電壓的變化率。器件電源的單位電壓變化所引起的輸入失調(diào)電壓的變化率。集成運(yùn)算放大器 8.2 8.2 測試規(guī)范測試規(guī)范8.3 8.3 測試方法測試方法 DUT電源端通過電源端通過DVI0和和DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，對于單電源，對于單電源 器件器件V-=0V。(2)

35、通過設(shè)置通過設(shè)置OVI0電壓，使電壓，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo設(shè)為規(guī)定值。設(shè)為規(guī)定值。(3) 在輔助運(yùn)放輸出端用在輔助運(yùn)放輸出端用OVI2測試輸出電壓測試輸出電壓VL0。(4) 同時(shí)改變正負(fù)電源端施加的電壓，由同時(shí)改變正負(fù)電源端施加的電壓，由V+變?yōu)樽優(yōu)閂1+，V-變?yōu)樽優(yōu)閂1-。(5) 在輔助運(yùn)放輸出端用在輔助運(yùn)放輸出端用OVI2測試輸出電壓測試輸出電壓VL1。電源電壓抑制比電源電壓抑制比： , 單位為單位為V/V。 換算為換算為dB后后集成運(yùn)算放大器8.4 8.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：double Vccp1 = PSRR-GetConditionCurSelDoubl

36、e(short(0); /初始值初始值V1+= Vccp1 =5Vdouble Vccp2 = PSRR-GetConditionCurSelDouble(1);/初始值初始值V2+= Vccp2 =30Vdouble Vccn = PSRR-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值V-= Vccn=0Vdouble Vo = PSRR-GetConditionCurSelDouble(3); /初始值初始值Vo= 1.4Vdvi0.Set(FV, Vccp1, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);dvi1.Set(FV, V

37、ccn, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);ovi0.Set(FV, -Vo, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);DUT_RELAY_ON(K1K4, K11, OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); delay_ms(RELAY_TIME);ovi2.

38、MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i = adresulti/500*1000;集成運(yùn)算放大器dvi0.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);dvi0.Set(FV, Vccp2, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);DUT_RELAY_ON(K1K4, K11,

39、OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); delay_ms(RELAY_TIME);ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= adresulti/500*1000;for (i=0; i SITENUM; i+) vosa1i = fabs(vosa1i - vosa2i); if (vosa1i SetTestResult( i, 0,

40、 20*log10(fabs(25*1000/vosa1i );集成運(yùn)算放大器8. 輸出高電平電壓輸出高電平電壓VOH8.1 定義定義：在規(guī)定電源電壓、輸入電壓和輸出負(fù)載下，器件所能輸出的最大在規(guī)定電源電壓、輸入電壓和輸出負(fù)載下，器件所能輸出的最大 正（高）電平值。正（高）電平值。集成運(yùn)算放大器 8.2 8.2 測試規(guī)范測試規(guī)范8.3 測試方法測試方法該方法適用于比較器和運(yùn)放器件的該方法適用于比較器和運(yùn)放器件的VOH（Vo+）參數(shù)測試。對于正負(fù)電源器件該參數(shù)）參數(shù)測試。對于正負(fù)電源器件該參數(shù) 通常記為通常記為Vo+，對于單電源器件該參數(shù)通常記為，對于單電源器件該參數(shù)通常記為VOH。(2) DU

41、T電源端通過電源端通過DVI0和和DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，對于單電源器件，對于單電源器件V-=0V。(3) DUT接成開環(huán)工作方式。接成開環(huán)工作方式。(4) 設(shè)置設(shè)置OVI1電壓通過電壓通過PLS到到DUT同相輸入端，反相輸入端接地，使同相輸入端，反相輸入端接地，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo為正為正 （高）電平。（高）電平。(5) DUT輸出端接入規(guī)定的負(fù)載電阻輸出端接入規(guī)定的負(fù)載電阻R2=2K（或（或R3=10K）。）。(6) 用用DVI3 在在DUT輸出端測試不同負(fù)載電阻條件下輸出電壓的擺幅輸出端測試不同負(fù)載電阻條件下輸出電壓的擺幅VOH（Vo+）。）。集成

42、運(yùn)算放大器8.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：。double Vinp = Voh-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值Vinp =1Vovi1.Set(FV, Vinp, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);。dvi3.Set(FI, 0, DVI400_50V, DVI400_40UA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);dvi3.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSetTestResult(i, 0, adresulti);集成運(yùn)算放大

43、器9. 輸出輸出低低電平電壓電平電壓VOL9.1 定義定義：在規(guī)定電源電壓、輸入電壓和輸出負(fù)載下，器件所能輸出的最小在規(guī)定電源電壓、輸入電壓和輸出負(fù)載下，器件所能輸出的最小 負(fù)（低）電平值。負(fù)（低）電平值。集成運(yùn)算放大器 9.2 9.2 測試規(guī)范測試規(guī)范9.3 9.3 測試方法測試方法該方法適用于比較器和運(yùn)放器件的該方法適用于比較器和運(yùn)放器件的VOL（Vo-）參數(shù)測試。對于正負(fù)電源器件該參）參數(shù)測試。對于正負(fù)電源器件該參 數(shù)通常記為數(shù)通常記為Vo-，對于單電源器件該參數(shù)通常記為，對于單電源器件該參數(shù)通常記為VOL。(2) DUT電源端通過電源端通過DVI0和和DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定

44、的電源電壓V+、V-，對于單電源器件，對于單電源器件V-=0V。(3) DUT接成開環(huán)工作方式。接成開環(huán)工作方式。設(shè)置設(shè)置OVI1電壓通過電壓通過PLS到到DUT反相輸入端，同相輸入端接地，使反相輸入端，同相輸入端接地，使DUT輸出電壓輸出電壓Vo 為負(fù)（低）電平。為負(fù)（低）電平。(5) DUT輸出端接入規(guī)定的負(fù)載電阻輸出端接入規(guī)定的負(fù)載電阻R2=2K（或（或R3=10K）。）。(6) 用用DVI3在在DUT輸出端測試不同負(fù)載電阻條件下輸出電壓的擺幅輸出端測試不同負(fù)載電阻條件下輸出電壓的擺幅VOL（Vo-）集成運(yùn)算放大器10. 壓擺率壓擺率SR10.1 定義定義：在規(guī)定電源電壓、輸出負(fù)載下，輸

45、入端在施加規(guī)定的大信號階躍在規(guī)定電源電壓、輸出負(fù)載下，輸入端在施加規(guī)定的大信號階躍 脈沖電壓時(shí)，輸出電壓的上升沿隨時(shí)間的最大變化率。脈沖電壓時(shí)，輸出電壓的上升沿隨時(shí)間的最大變化率。集成運(yùn)算放大器 10.2 10.2 測試規(guī)范測試規(guī)范集成運(yùn)算放大器10.3 測試方法測試方法(1) DUT電源端通過電源端通過DVI0和和DVI1施加規(guī)定的電源電壓施加規(guī)定的電源電壓V+、V-，推薦雙電源測試。，推薦雙電源測試。(2) DUT同相輸入端接地，反相輸入端接入同相輸入端接地，反相輸入端接入PLS（輸入電平由（輸入電平由OVI0和和OVI1設(shè)置）設(shè)置）施加規(guī)定的脈沖沿信號電壓施加規(guī)定的脈沖沿信號電壓Vi。(

46、3) 設(shè)置設(shè)置TMU的相應(yīng)閾值電壓為規(guī)定值。的相應(yīng)閾值電壓為規(guī)定值。在在DUT輸出端用輸出端用TMU檢測器件輸出電壓上升沿幅度變化檢測器件輸出電壓上升沿幅度變化 和對應(yīng)的變化時(shí)間和對應(yīng)的變化時(shí)間 （參見（參見上上圖）。圖）。(5) 計(jì)算求出計(jì)算求出 集成運(yùn)算放大器10.4 部分測試程序代碼：部分測試程序代碼：。double Vo = SRp-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值Vo =0V。ovi1.Set(FV, 3, OVI40_10V, OVI40_40MA, RELAY_ON); ovi0.Set(FV, -3, OVI40_10V, OVI40_4

47、0MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);qtmu0.SetStartInput(QTMU_PLUS_IMPEDANCE_1M,QTMU_PLUS_VRNG_5V,QTMU_PLUS_FILTER_PASS);qtmu0.SetStopInput(QTMU_PLUS_IMPEDANCE_1M,QTMU_PLUS_VRNG_5V,QTMU_PLUS_FILTER_PASS);qtmu0.SetStartTrigger(-2,QTMU_PLUS_POS_SLOPE);/DUT輸出爬升至輸出爬升至-2V時(shí)時(shí)QTMU開始開始計(jì)時(shí)。計(jì)時(shí)。qtmu0.SetStopTrigger(2,QTMU_PLUS_POS_SLOPE); /DUT輸出爬升至輸出爬升至2V時(shí)時(shí)QTMU結(jié)束計(jì)結(jié)束計(jì)時(shí)。時(shí)。qtmu0.SetInSource();qtmu0.Connect();集成運(yùn)算放大器DUT_RELAY_ON