統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制SPC培訓(xùn)課件(PPT 96頁(yè))

1、統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制SPCStatistical Process ControlAgenda一統(tǒng)計(jì)的部分特征概念二數(shù)據(jù)類型介紹三控制圖的介紹.選用.判定Agenda一統(tǒng)計(jì)的部分特征概念二數(shù)據(jù)類型介紹三控制圖的介紹.選用.判定統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制Statistical Process Control統(tǒng)計(jì)控制的過(guò)程統(tǒng)計(jì)控制的過(guò)程Statistically Controlled Process概述 - SPC for SCP Process 過(guò)程和Variation 變異 (變差) Common Cause 一般原因（普通原因、機(jī)遇原因） Special Cause 特殊原因（非機(jī)遇原因）

2、Statistically Controlled 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（“受控”）第一組、過(guò)程Process Process 過(guò)程：將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的一組彼此相關(guān)的資源和活動(dòng)過(guò)程：將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的一組彼此相關(guān)的資源和活動(dòng). .Variation Variation 變異變異 ( (變差變差) )：Common Variation, Special VariationCommon Variation, Special Variation過(guò)程 和 變異位置位置分布分布形狀形狀大小大小大小一般原因 vs. 特殊原因原因分類原因分類定義和特點(diǎn)定義和特點(diǎn)舉例舉例一般原因一般原因(Common (Common

3、Cause)Cause)造成一般變異。造成一般變異。 隨時(shí)間的推移穩(wěn)定、可重復(fù)隨時(shí)間的推移穩(wěn)定、可重復(fù) 可以預(yù)測(cè)可以預(yù)測(cè) 不易識(shí)別、不易消除不易識(shí)別、不易消除 大量的大量的 引起引起細(xì)微的變異細(xì)微的變異 正常的正常的特殊原因特殊原因(Special (Special Cause) Cause) 造成特殊變異。造成特殊變異。 并非始終的作用于過(guò)程并非始終的作用于過(guò)程 難以預(yù)測(cè)難以預(yù)測(cè) 易識(shí)別、易消除易識(shí)別、易消除 少少量的量的 引起引起嚴(yán)重的變異嚴(yán)重的變異 異常的異常的 原材料的微小變化原材料的微小變化 設(shè)備的微小震動(dòng)設(shè)備的微小震動(dòng) 刀具的正常磨損刀具的正常磨損 模具正常的老化模具正常的老化 操

4、作者細(xì)微的不穩(wěn)定操作者細(xì)微的不穩(wěn)定 夾具的正常磨損夾具的正常磨損 使用了一批不合格的原材料使用了一批不合格的原材料 設(shè)備的不正確調(diào)整設(shè)備的不正確調(diào)整 刀具的嚴(yán)重磨損刀具的嚴(yán)重磨損 模具損壞模具損壞 操作者做錯(cuò)（判定標(biāo)準(zhǔn)錯(cuò)）操作者做錯(cuò)（判定標(biāo)準(zhǔn)錯(cuò)） 使用了錯(cuò)誤的夾具使用了錯(cuò)誤的夾具 SPC 目的目的 改進(jìn)改進(jìn)消除特殊原因改進(jìn)一般原因2021-12-26一般原因一般原因(Common Cause)(Common Cause)一般變異一般變異(Common Variation)(Common Variation) 過(guò)程穩(wěn)定過(guò)程穩(wěn)定 可采用抽樣方法可采用抽樣方法系統(tǒng)措施（系統(tǒng)措施（System Act

5、ionSystem Action） 可改進(jìn)約可改進(jìn)約85%85%的制程問(wèn)題的制程問(wèn)題 多需管理人員支持多需管理人員支持 一般成本較高一般成本較高特殊原因特殊原因(Special Cause) (Special Cause) 特殊變異特殊變異( (S Specialpecial Variation) Variation) 過(guò)程還不夠穩(wěn)定過(guò)程還不夠穩(wěn)定 需全檢以保證質(zhì)量需全檢以保證質(zhì)量局部措施（局部措施（Local ActionLocal Action） 可改進(jìn)約可改進(jìn)約15%15%的制程問(wèn)題的制程問(wèn)題 多由現(xiàn)場(chǎng)工作人員制定實(shí)施多由現(xiàn)場(chǎng)工作人員制定實(shí)施 一般成本較低一般成本較低一般變異 vs. 特

6、殊變異大小失控(有特殊原因)受控(特殊原因消除)受控受控 vs. 失控失控Statistically Controlled 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)(“受控受控”)僅存在造成變異的一般原因，特殊原因已經(jīng)消除。僅存在造成變異的一般原因，特殊原因已經(jīng)消除。該過(guò)程輸出的產(chǎn)品的特性的總體分布該過(guò)程輸出的產(chǎn)品的特性的總體分布(曲線曲線)的位置、分的位置、分布、形狀無(wú)變化，可按照預(yù)測(cè)繼續(xù)生產(chǎn)相同分布的布、形狀無(wú)變化，可按照預(yù)測(cè)繼續(xù)生產(chǎn)相同分布的(一一定比率的定比率的)符合規(guī)范的產(chǎn)品。符合規(guī)范的產(chǎn)品。“受控受控”標(biāo)準(zhǔn)值 Criterion中心線 Center Line，CL （一般取平均值 Average,

7、 or mean）規(guī)格限 Spec Limit，SL（規(guī)格上限 USL，規(guī)格下限 LSL）控制限 Control Limit，CL（控制上限 UCL，控制下限 LCL）第二組、控制區(qū)別：規(guī)格限區(qū)別：規(guī)格限 和和 控制限控制限控制限控制限 Control LimitControl Limit，CLCL上控制限上控制限 Upper Control LimitUpper Control Limit，UCLUCL下控制限下控制限 Lower Control LimitLower Control Limit，LCLLCL控制限均值(平均值) Average，X (Xbar) = (X1+X2+Xn) /

8、 n中位數(shù)（中值，中間值）Median，Xmed：Xi大小排列，中間的那個(gè)（* 該值和比它大及比它小的數(shù)值是等差的，Xmed = Xmin + R/2）眾數(shù) Mode ：出現(xiàn)次數(shù)最多的那個(gè)全距，變差，極差 R (Range) = Max(X1,.,Xn) - Min(X1,Xn)（步差，移動(dòng)極差 Moving Range，MR）方差（Variance），標(biāo)準(zhǔn)差，Sigma（Standard Deviation）平均差：一組數(shù)據(jù)值與其均值之差的絕對(duì)值的平均數(shù)一組數(shù)據(jù)：X1，X2，Xn-1，Xn Individual 單值 Xi規(guī)格 Spec: X0+/-a(或+a/-b) X0 標(biāo)準(zhǔn)值(期望值，

9、目標(biāo)值)，a(或a,b)為上下公差USL(Limit) 規(guī)格上限，LSL 規(guī)格下限公差，容差 Tolerance，Deviation, D = USL-LSL = 2a(或a + b)第三組、統(tǒng)計(jì)物理概念區(qū)別：區(qū)別：公差公差D D 和和 全距全距R R平均值平均值 和和 中位數(shù)、眾數(shù)中位數(shù)、眾數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差 和和 平均差平均差方差標(biāo)準(zhǔn)差 樣本方差樣本標(biāo)準(zhǔn)差nxxnii212)(，nxxnii12)(1)(212nxxSnii，1)(12nxxSnii方差 與 標(biāo)準(zhǔn)差為什么用樣本估計(jì)總體的方差時(shí)，分母的為什么用樣本估計(jì)總體的方差時(shí)，分母的n n必須改為必須改為( (n-1) n-1) ？，自由度

10、（自由度（DF, Degree of FreedomDF, Degree of Freedom）：指當(dāng)以樣本的統(tǒng)計(jì)量來(lái)估計(jì)總體的參數(shù)時(shí)，樣本中獨(dú)立或能自由變化的數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)稱為該統(tǒng)計(jì)量的自由度。-在估計(jì)總體的平均數(shù)時(shí)在估計(jì)總體的平均數(shù)時(shí)：樣本中的n個(gè)數(shù)全部加起來(lái)，其中任何一個(gè)數(shù)都和其他數(shù)據(jù)相獨(dú)立，從其中抽出任何一個(gè)數(shù)都不影響其他數(shù)據(jù)（這也是隨機(jī)抽樣所要求的）。因此一組數(shù)據(jù)中每一個(gè)數(shù)據(jù)都是獨(dú)立的，所以自由度就是估計(jì)總體參數(shù)時(shí)獨(dú)立數(shù)據(jù)的數(shù)目，而平均數(shù)是根據(jù)n個(gè)獨(dú)立數(shù)據(jù)來(lái)估計(jì)的，因此自由度為n。-在估計(jì)總體的方差（標(biāo)準(zhǔn)差）時(shí)在估計(jì)總體的方差（標(biāo)準(zhǔn)差）時(shí)：從公式我們可以看出，總體的方差是由各數(shù)據(jù)與總體平

11、均數(shù)的差值求出來(lái)的，因此必須將固定后才可以求總體的方差。因此，由于被固定，它就不能獨(dú)立自由變化，也就是方差受到總體平均數(shù)的限制，此n個(gè)數(shù)據(jù)就少了一個(gè)自由變化的機(jī)會(huì)，因此要從n里減掉一個(gè)。那為什么平均數(shù)被固定后會(huì)限制數(shù)據(jù)的自由變化？那為什么平均數(shù)被固定后會(huì)限制數(shù)據(jù)的自由變化？，假設(shè)一個(gè)樣本有兩個(gè)數(shù)值，X1=10,X2=20,我們現(xiàn)在要用這個(gè)樣本估計(jì)總體的方差，則樣本的平均數(shù)是：Xm= X/n=(10+20)/2=15現(xiàn)在假設(shè)我們已知Xm=15,X1=10,根據(jù)公式Xm= X/n，則有：X2=2Xm-X1=215-10=20由此我們可以知道：在有兩個(gè)數(shù)據(jù)樣本中，當(dāng)平均數(shù)的值和其中一個(gè)數(shù)據(jù)的值已知時(shí)

12、，另一個(gè)數(shù)據(jù)的值就不能自由變化了，因此這個(gè)樣本的自由度就減少一個(gè)，變成了（n-1）。依此類推：在一組數(shù)據(jù)中，當(dāng)其平均數(shù)和前面的數(shù)據(jù)都已知時(shí)，最后一個(gè)數(shù)據(jù)就被固定而不能獨(dú)立變化了，因此這個(gè)樣本能夠獨(dú)立自由變化的數(shù)目就是（n-1）個(gè).均值均值 XbarXbarAverageAverage(X1+X2+Xn) / n平均，最基本最常用的的量度中位數(shù)中位數(shù) XmedXmedMedianMedianXi大小排列，中間的那個(gè) 消除了最大和最小值的影響 測(cè)量不經(jīng)濟(jì)或時(shí)間長(zhǎng)時(shí)，用它來(lái)預(yù)測(cè)平均值眾數(shù)眾數(shù)ModeMode出現(xiàn)次數(shù)最多的那個(gè) 消除了最大和最小值的影響 用于極度傾斜的分布 用于不規(guī)則的分布，如出現(xiàn)兩個(gè)

13、高峰均值、中位數(shù)、眾數(shù)全距、標(biāo)準(zhǔn)差、平均差全距全距 R RRangeRangeMax(X1,.,Xn) - Min(X1,Xn) 簡(jiǎn)單，最基本最常用的的量度 數(shù)據(jù)越少越好用標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差SigmaSigma 考慮了所有數(shù)據(jù)的情況從而能真實(shí)反映數(shù)據(jù)離散程度的大小 避免了絕對(duì)值計(jì)算平均差平均差 充分考慮了每一個(gè)數(shù)值離中的情況 較靈敏，故易受極端值影響 計(jì)算方法較簡(jiǎn)單 絕對(duì)值運(yùn)算給數(shù)學(xué)處理帶來(lái)不便nxxnii12)(nXXDAnii1.統(tǒng)計(jì)物理概念的總結(jié)對(duì)統(tǒng)計(jì)物理概念的描述對(duì)統(tǒng)計(jì)物理概念的描述集中趨勢(shì)集中趨勢(shì)變異程度變異程度分布形狀分布形狀均值均值中位數(shù)中位數(shù)眾數(shù)眾數(shù)其他指標(biāo)其他指標(biāo)全距全距方差方差標(biāo)

14、準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差變異系數(shù)變異系數(shù)其他指標(biāo)其他指標(biāo)偏度偏度峰度峰度位置位置分布分布形狀形狀大小大小大小* D為公差（容差）。精確度精確度Cp(U) = (USL-Xbar) / 3CpuCp(L) =(Xbar-LSL) / 3Cpl精準(zhǔn)度精準(zhǔn)度Cpk = Min(Cpu, Cpl)準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度第四組、過(guò)程能力精確度 和 準(zhǔn)確度精確度好，準(zhǔn)確度差準(zhǔn)確度好，精確度差過(guò)程過(guò)程能力能力規(guī)格下限受控且制程能力滿足要求(普通原因的變差減少)規(guī)格上限時(shí)間受控但過(guò)程能力不足 (普通原因?qū)е碌淖儾钐?過(guò)程能力。如果分析表明過(guò)程呈正態(tài)分布，且穩(wěn)定，可用Cpk表示；如果過(guò)程呈正態(tài)分布，但不穩(wěn)定，則應(yīng)計(jì)算系統(tǒng)Ppk;如果

15、過(guò)程呈非正態(tài)分布，則需要采用其它統(tǒng)計(jì)方法（如PPM）。應(yīng)用Cpk計(jì)算過(guò)程能力的前提條件一、過(guò)程處于“受控”狀態(tài)：特性值或其轉(zhuǎn)化值服從正態(tài)分布；控制限符合客戶的要求；期望值位于控制限的中心。二、測(cè)量變差相對(duì)較?。y(cè)量系統(tǒng)的能力保證）。xf(x)xf(x)68.27%xf(x)95.45%99.73%-1 +1 -2 +2 -3 +3 正態(tài)分布正態(tài)分布Normal DistributionNormal Distribution-3-2-1+1+2+30.135%0.135%99.73%95.45%68.27%正態(tài)分布LSLUSLaverageX0XiD/2Abs(X0-average) 過(guò)程能力，

16、Process Capability 過(guò)程能力指數(shù)，Process Capability Index過(guò)程能力 of Process指數(shù) of Process指數(shù)注：為各組平均值之標(biāo)準(zhǔn)差同左注：為各單值之標(biāo)準(zhǔn)差過(guò)程能力穩(wěn)定的、已知的過(guò)程（短期的）穩(wěn)定的、已知的過(guò)程（短期的）不穩(wěn)定的、未知的過(guò)程（長(zhǎng)期的）不穩(wěn)定的、未知的過(guò)程（長(zhǎng)期的）Cpk vs. Ppk 要求 初期之過(guò)程能力Ppk=1.67 穩(wěn)定之過(guò)程能力Cpk=1.33過(guò)程能力 要求思考題：6Sigma意味著什么?6 6SigmaSigma質(zhì)量表示：質(zhì)量特性的分散程度只占規(guī)格限的一半質(zhì)量表示：質(zhì)量特性的分散程度只占規(guī)格限的一半! !對(duì)顧客要求

17、高度符合對(duì)顧客要求高度符合! !思考題思考題Cpk經(jīng)常被用于計(jì)算 計(jì)量型數(shù)據(jù) 特性的穩(wěn)定過(guò)程能力，那么，Cpk可否被用于計(jì)算 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) 特性的穩(wěn)定過(guò)程能力？思考題：思考題：是否所有圖中體現(xiàn)的特殊變異都是不好的、不受歡迎的是否所有圖中體現(xiàn)的特殊變異都是不好的、不受歡迎的？思考題思考題對(duì)于單邊公差的特性，是否可以用Cpk表征其精準(zhǔn)度？Agenda一統(tǒng)計(jì)的部分特征概念二數(shù)據(jù)類型介紹三控制圖的介紹.選用.判定計(jì)數(shù)型計(jì)數(shù)型(Attribute)(Attribute)：不連續(xù)的,計(jì)數(shù)的 如: 1,2,3; 好/壞, 計(jì)量型計(jì)量型(Variable)(Variable)：連續(xù)的,可測(cè)量的 如: 長(zhǎng)度, 1

18、0米.電流: 1A 等二 數(shù)據(jù)類型思考題：本公司的過(guò)程特性思考題：本公司的過(guò)程特性質(zhì)量數(shù)據(jù)：直通率，F(xiàn)OR，LRR（批拒收率），DR（不良率），不良品數(shù)，單項(xiàng)不良品數(shù)，不良數(shù)，電流/電壓值，尺寸，稱重制程參數(shù)：錫膏厚度，爐溫（Peak溫度、熔點(diǎn)以上保持時(shí)間），車間溫、濕度，電批扭力，氣壓值，烙鐵溫度生產(chǎn)數(shù)據(jù)：?jiǎn)挝划a(chǎn)量， Cycle Time（標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)），耗料率/拋料率（報(bào)廢率），結(jié)單率練習(xí)Agenda一統(tǒng)計(jì)的部分特征概念二數(shù)據(jù)類型介紹三控制圖的介紹.選用.判定 第一組、分類 第二組、根據(jù)數(shù)據(jù)類型選擇圖型.繪圖.讀圖 第三組、判定準(zhǔn)則 第四組、一般原因分析 1.計(jì)量型控制圖 A.B. 單值圖 2

19、.計(jì)數(shù)型控制圖A.不良品率(p- Chart)B.不良品數(shù)(np- Chart)C.缺點(diǎn)數(shù)(c- Chart)D.單位缺點(diǎn)數(shù)(u- Chart).A. SPC Chart - 分類（依對(duì)象分）分類（依對(duì)象分） 1 1、分析分析用用控制圖控制圖: : 先有數(shù)據(jù)，先有數(shù)據(jù)，后有后有控制限。控制限。 A.A.決定方針用；決定方針用； B.B.制程分析用；制程分析用； C.C.制程能力研究用；制程能力研究用； D.D.為制程控制做準(zhǔn)備。為制程控制做準(zhǔn)備。2 2、控制控制用用控制圖控制圖: : 先有先有控制限，后有數(shù)據(jù)?？刂葡蓿笥袛?shù)據(jù)。 用于控制制程品質(zhì)，如有異常點(diǎn)，則：用于控制制程品質(zhì)，如有異常點(diǎn)，

20、則： A.A.追查不正常原因追查不正常原因； B.B.迅速消除此原因迅速消除此原因； C.C.研究采取防止研究采取防止此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生的措施。此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生的措施。Is it STILL under control?Is it under control?B. SPC Chart - 分類（依用途分）分類（依用途分） 圖型原則圖型原則控制線計(jì)算時(shí)機(jī)控制線計(jì)算時(shí)機(jī) 初始控制線計(jì)算初始控制線的再計(jì)算初始設(shè)定流程或研究流程時(shí)流程中發(fā)生已知的改變,且已驗(yàn)證其對(duì)流程的影響.1收集數(shù)據(jù),選圖描點(diǎn)、連線2計(jì)算平均值、控制限繪制中心線、控制線3分析讀圖4改進(jìn)重繪SPC Chart - 繪制繪制2021-12

21、-26選圖選圖 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖計(jì)算計(jì)算X和和R控制界限控制界限 計(jì)算X和RR = Rk/子群數(shù)量X = Xk/子群數(shù)量計(jì)算控制界限參考值參考值 樣本組X1X2X3X4X51404038434124042393939342394143404404039424154239424340643414140417433837424183743433540實(shí)例:平均數(shù)與全距控制圖樣本組X1X2X3X4X510394141363811404442403912433839414213384036394114363539383915403940394816424646474717364043414318373

22、9403842194037393943204740393640214037404342樣本組X1X2X3X4X5223939394045233133353935244040404142254644414139樣本組12345678各組平均數(shù)40.439.84140.441.241.241.239.6全距53434268樣本組1011121314151617各組平均數(shù)394140.638.837.441.245.640.6全距55554957樣本組1819202122232425各組平均數(shù)39.239.640.440.440.434.640.642.2全距561166827計(jì)算如下:X=40.2

23、64 R=5.48查系數(shù)表查系數(shù)表,當(dāng)當(dāng)N=5時(shí)時(shí),D4=2.11,D3=0X控制圖上下限:CL= =40.264UCL= + A2 =43.4249LCL= - A2 =37.1031R控制圖上下限:CL= =5.48UCL= =11.5867LCL= =0R控制圖分析結(jié)論在控制圖中有第16個(gè)及第23個(gè)樣本組的點(diǎn)分別超出控制上限及控制下限,表示制程平均發(fā)生變化,而R控制圖并無(wú)點(diǎn)超出界限或在界限上,表示制程變異并未增大.計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 以缺陷數(shù)或, 接受/不接受 的決定為基礎(chǔ) 可用于許多流程(制造業(yè)和非制造業(yè)) 可用于一個(gè)以上的品質(zhì)特性選圖選圖 NP和和P圖圖 NP圖圖 P圖

24、圖 C和和U圖圖 C圖的計(jì)算圖的計(jì)算 U圖的計(jì)算圖的計(jì)算 P控制圖實(shí)例選用條件:1.產(chǎn)品不是良品就是不良品2.抽樣放回3.彼此獨(dú)立進(jìn)進(jìn)行 樣品不良率計(jì)算公式為:P=標(biāo)準(zhǔn)差公式為:S=上下限計(jì)算公式如下:控制上限(ucl): +3= +3 ( 為平均不良率,n為樣本數(shù)) 中心線(cl) : 控制下限(lcl) -3= -3 如果下限計(jì)算結(jié)果可能為負(fù)數(shù),因?yàn)槎?xiàng)分配并不對(duì)稱,且其下限為零,故當(dāng)控制下限出現(xiàn)小于零的情況,應(yīng)取0表示.平均不良率應(yīng)用加權(quán)平均數(shù)來(lái)計(jì)算(用不良數(shù)總數(shù)于全體的樣本總數(shù)之比).例: 某廠生產(chǎn)的MOUSE用的包裝袋,檢驗(yàn)其底部是否有破損即包裝為不良品,取30個(gè)樣本,每個(gè)樣本數(shù)為5

25、0個(gè),這些樣本是在機(jī)器每天三班制的連續(xù)工作每半小時(shí)取一次而得. 樣本數(shù)不良數(shù)樣本數(shù)不良數(shù)樣本數(shù)不良數(shù)1811521102161224221839131223154141472415510151325266121692617715176271288185286910191329810520113010計(jì)算結(jié)果如下:平均不良率P= =0.233(CL)用P當(dāng)真實(shí)過(guò)程不合格的估計(jì)值,可以計(jì)算控制上限和下限,如下: UCL=P+3 =0.412 LCL=P- 3 =0.054P控制圖如下:針對(duì)控制圖進(jìn)行分析 由控制圖中我們可以發(fā)現(xiàn)來(lái)自樣本12及25的兩點(diǎn)超出控制上限,故制程是在非控制狀態(tài),必須進(jìn)一步探

26、討是否有異常原因.分析樣本12得知,在這半小時(shí)里,有一批新進(jìn)的包裝袋被使用,所以這異常的現(xiàn)象是由于新原料加入引起.而在樣本25那半小時(shí),有一個(gè)沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的員工在操作此機(jī)器,而使樣本25有這么高的不良率. 故:現(xiàn)在將超出控制界限的兩個(gè)點(diǎn)刪除掉,并重新計(jì)算控制界限,并繪制控制以后的制程.超出控制超出控制限的點(diǎn)限的點(diǎn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出控制限超出極差上控制限： 控制限計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤 分布寬度增大 測(cè)量系統(tǒng)改變 測(cè)量系統(tǒng)沒(méi)有適當(dāng)?shù)姆直媪Τ鱿驴刂葡蓿?控制限計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤 分布寬度變小（變好） 測(cè)量系統(tǒng)改變SPC Chart - 讀圖讀圖2021-12-26鏈鏈 連續(xù)7點(diǎn)在中心線之上或之下 連續(xù)7點(diǎn)上升或下降

27、高于極差中心線的鏈或上升鏈： 輸出值寬度增加，可能無(wú)規(guī)律，或過(guò)程某要素變化 測(cè)量系統(tǒng)改變低于極差中心線的鏈或上升鏈： 輸出值寬度減小好事！研究推廣 測(cè)量系統(tǒng)改變SPC Chart - 讀圖讀圖2021-12-26明顯的明顯的非隨機(jī)非隨機(jī)圖形圖形 明顯的趨勢(shì) 周期性 數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系（如子組內(nèi)第一個(gè)總是最大值）* 一般的，約2/3的點(diǎn)應(yīng)落在控制限中間1/3的區(qū)域，約1/3的點(diǎn)應(yīng)落在其他2/3的區(qū)域如極差控制圖中：明顯多于2/3的點(diǎn)落在控制限中間1/3的區(qū)域： 控制限計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤 過(guò)程或取樣方法被分層 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯明顯少于2/3的點(diǎn)落在控制限中間1/3的區(qū)域： 控制限計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤 分組中包

28、含不同的過(guò)程、批次SPC Chart - 讀圖讀圖2021-12-26讀圖讀圖 三.控制圖的判異準(zhǔn)則控制狀態(tài),意指制程安定,控制狀態(tài)也稱安定狀態(tài).我們無(wú)法知道制程的真正狀態(tài),只能對(duì)制程的某種特性值收集數(shù)據(jù),將其繪在控制圖上,由控制圖來(lái)觀察制程的狀態(tài).在判定制程是否處于控制狀態(tài),可利用以下基準(zhǔn):1. 控制圖的點(diǎn)沒(méi)有逸出界外.2. 點(diǎn)的排列方法沒(méi)有習(xí)性,呈隨機(jī)現(xiàn)象.在正常控制的狀態(tài)下,控制圖上的點(diǎn)子應(yīng)是隨機(jī)分步,在中心線的上下方約有同數(shù)的點(diǎn),以中心線近旁為最多,離中心線愈遠(yuǎn)點(diǎn)愈少,且不可能顯示有規(guī)則性或系統(tǒng)性的現(xiàn)象.歸納得到下面兩種情形:1. 控制圖上的點(diǎn),大多數(shù)集中在中心線附近,少數(shù)出現(xiàn)在控制界

29、限附近,且為隨機(jī)分布.2. 一般控制圖上的點(diǎn),25點(diǎn)中有0點(diǎn);35點(diǎn)中有1點(diǎn)以下;100點(diǎn)中有2點(diǎn)以下,超出控制界限外時(shí),可稱為安全控制狀態(tài).以上兩點(diǎn)僅是作為一個(gè)參考, 應(yīng)在實(shí)際中靈活運(yùn)用.實(shí)際分析. 非隨機(jī)控制界限內(nèi)的判定利用點(diǎn)的排法判定是否處在控制狀態(tài),可依據(jù)以下法則: 1.點(diǎn)在中心線的一方連續(xù)出現(xiàn). 2.點(diǎn)在中心線的一方出現(xiàn)很多時(shí). 3.點(diǎn)接近控制界限出現(xiàn)時(shí). 4.點(diǎn)持續(xù)上升或下降時(shí). 5.點(diǎn)有周期性變動(dòng)時(shí). 連串連續(xù)七點(diǎn)或八點(diǎn)在中心線與控制上限或中心線與控制下限之間的型誤差的機(jī)率是約為 ( 1/2 )8 =0.0039,在如此小的機(jī)率竟會(huì)出現(xiàn),可想像有異常原因發(fā)生,在中心線的上方或下方

30、出現(xiàn)的點(diǎn)較多如下: 1.連續(xù) 10 點(diǎn)以上至少有 10 點(diǎn) 2.連續(xù) 14 點(diǎn)以上至少有 12 點(diǎn) 3. 連續(xù) 17 點(diǎn)以上至少有14 點(diǎn) 4. 連續(xù) 20 點(diǎn)以上至少有16 點(diǎn)點(diǎn)子出現(xiàn)在控制界限附近,三倍標(biāo)準(zhǔn)差與二倍標(biāo)準(zhǔn)差間.1. 連續(xù) 3 點(diǎn)中有 2 點(diǎn).2. 連續(xù) 7 點(diǎn)中有 3 點(diǎn).3. 連續(xù)10 點(diǎn)中有 4 點(diǎn)控制圖中的點(diǎn)的趨勢(shì)傾向連續(xù)7點(diǎn)以上一直上升或一直下降,趨勢(shì)是以向某一個(gè)方向連續(xù)移動(dòng),而趨勢(shì)傾向的發(fā)生有以下可能原因:1.由于工具磨損或制程中某些成分劣化所造成.2.人的因素造成,如工作者疲勞.3.季節(jié)性因素造成,如氣溫變化. 控制圖中的點(diǎn)的趨勢(shì)傾向連續(xù)7點(diǎn)以上一直上升或一直下降

31、,趨勢(shì)是以向某一個(gè)方向連續(xù)移動(dòng),而趨勢(shì)傾向的發(fā)生有以下可能原因:1.由于工具磨損或制程中某些成分劣化所造成.2.人的因素造成,如工作者疲勞.3.季節(jié)性因素造成,如氣溫變化. 周期性循環(huán)變化控制圖上的點(diǎn),呈現(xiàn)一個(gè)周期性循環(huán)變化時(shí),應(yīng)調(diào)查下列不良原因:1.機(jī)器開(kāi)動(dòng)或關(guān)閉,造成溫度或壓力的增減.2.物料的品質(zhì)受季節(jié)或供應(yīng)商的影響.3.由于周期性的預(yù)防保養(yǎng),造成機(jī)器性能的周期變化表現(xiàn).4.由于操作員疲勞及隨后的休息造成的周期性的變化.5.由于材料的機(jī)械及化學(xué)性質(zhì)所造成的周期性. 過(guò)于集中型點(diǎn)子大都集中在中心線附近1.5倍標(biāo)準(zhǔn)差間,其型誤差機(jī)率是 0.0027,如果抽樣選擇不當(dāng),可能會(huì)造成點(diǎn)子集中在中線附近,例如兩個(gè)不同操作員的結(jié)是點(diǎn)在同一張圖上.像這種母體混合的情形相當(dāng)普遍.以下是一些造居這種情形的可能原因:1.兩個(gè)或兩個(gè)以上的操作員點(diǎn)在同一張圖上.2.兩臺(tái)或兩臺(tái)以上的機(jī)器點(diǎn)在同一張圖上.3.兩家品質(zhì)差異很大的供應(yīng)商點(diǎn)在同一張圖上.4.兩臺(tái)或更多的量測(cè)設(shè)備間的差異.兩條以上生產(chǎn)線制程方法上的差異. 一般異常原因探討一般異常原因探討管理不善者1.人員教育,訓(xùn)練不足,2.原始設(shè)計(jì)有錯(cuò)誤或圖上標(biāo)示的問(wèn)題等.3.治具,夾具設(shè)計(jì)不當(dāng)或使用不當(dāng).4.不良材料混入制程.5.未推行標(biāo)準(zhǔn)化活動(dòng).6.測(cè)試儀器未加校正與維護(hù).7.未落實(shí)保養(yǎng)工作上