光伏電站IV曲線測(cè)試的意義課件

1、光伏電站IV曲線測(cè)試的意義本PPT不能作為光伏IV曲線測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或者標(biāo)準(zhǔn)的替代版本操作者應(yīng)嚴(yán)格按照IEC61829，IEC62446及相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，任何由于違反操作規(guī)程或者由于對(duì)本PPT誤讀造成的傷害或損失，德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀不承擔(dān)連帶責(zé)任免責(zé)聲明IV曲線測(cè)試的目的 測(cè)量串開(kāi)路電壓（Voc）和短路電流（Isc）以及極性。最大功率點(diǎn)電壓（Vmpp）、電流（Impp）和峰值功率（Pmax）的測(cè)量。光伏組件/組串填充系數(shù)FF的測(cè)量。識(shí)別光伏組件/陣列缺陷或遮光等問(wèn)題。積塵損失、溫升損失，功率衰減、串并聯(lián)適配損失計(jì)算等IV曲線的基礎(chǔ)概念 Voc 開(kāi)路電壓Isc 短路電流Vmpp最大功率點(diǎn)電壓

2、Impp最大功率點(diǎn)電流Pmax峰值功率IV曲線的基礎(chǔ)概念 填充因子FF是太陽(yáng)能電池品質(zhì)的量度，定義為實(shí)際的最大輸出功率除以理想目標(biāo)的輸出功率(IscVoc)， FF越大，太陽(yáng)能電池的質(zhì)量越高。FF的典型值通常處于6085%，并由太陽(yáng)能電池的材料和器件結(jié)構(gòu)決定。影響IV曲線的因素 輻照度越大，短路電流越大，輻照度對(duì)于開(kāi)路電壓影響不大影響IV曲線的因素 溫度越高，開(kāi)路電壓越小，溫度對(duì)短路電流影響不大影響IV曲線的因素 溫度一定的情況下，輻照度越高，組件輸出功率越大組件的IV曲線分析 STC狀態(tài)下的組件電參數(shù)組件的IV曲線分析 IV曲線測(cè)試儀測(cè)試的數(shù)值轉(zhuǎn)換到STC條件下的值和廠家出廠的datashe

3、et值進(jìn)行對(duì)比才有意義IV曲線測(cè)試步驟 確保待測(cè)組串和逆變器斷開(kāi)被測(cè)試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測(cè)試設(shè)備。根據(jù)被測(cè)試組件的特性、類(lèi)型和數(shù)量對(duì)測(cè)試儀器進(jìn)行設(shè)置。與I-V 曲線測(cè)試儀相關(guān)的輻照度計(jì)應(yīng)安裝成與陣列平面匹配，并對(duì)其進(jìn)行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。在使用參考電池裝置的情況下，應(yīng)對(duì)其進(jìn)行檢查，以確保其與被測(cè)陣列具有相同的電池技術(shù)，或者針對(duì)技術(shù)上的差異進(jìn)行適當(dāng)?shù)男拚?。IV曲線測(cè)試步驟 I-V曲線測(cè)試儀使用電池溫度探頭時(shí)，它應(yīng)與組件后部緊密接觸，并且在朝向模塊中心的電池中心，同時(shí)檢查并且串Voc值在期望的范圍內(nèi)。在輻照度達(dá)到儀器要求值并穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始測(cè)試IV曲線測(cè)試接線 注意事

4、項(xiàng)：參考組件和待測(cè)組件保持水平背板溫度傳感器放置待測(cè)組件中心位置輻照度不穩(wěn)定時(shí)或過(guò)低時(shí)會(huì)影響STC換算 IV曲線評(píng)估 1、階梯或凹陷2、低電流3、低電壓4、圓膝5、豎直腿淺坡6、水平腿陡坡IV曲線評(píng)估-階梯或凹陷 I-V 曲線中的階梯或凹陷表示被測(cè)試的陣列或組件的不同區(qū)域之間的不匹配情況，可能會(huì)有如下情況引起：陣列或組件局部遮擋。陣列或組件局部污漬或以其他方式遮蔽（比如雪等）PV電池片/組件損壞。旁路二極管短路。注意：即使組件中只有一個(gè)單元被部分遮蔽也可能會(huì)導(dǎo)致相關(guān)的旁路二極管導(dǎo)通，并在曲線中產(chǎn)生一個(gè)凹陷。IV曲線評(píng)估-低電流 許多因素可以導(dǎo)致預(yù)期電流和測(cè)量電流之間的變化，這些總結(jié)如下陣列原因

5、：均勻污染條紋遮擋（縱向組件）污垢壩（縱向組件）光伏組件劣化建模原因：PV組件數(shù)據(jù)輸入錯(cuò)誤錯(cuò)誤地輸入多個(gè)并聯(lián)串IV曲線評(píng)估-低電流 測(cè)量原因：輻照傳感器校準(zhǔn)或測(cè)量問(wèn)題。輻射傳感器未安裝在陣列的平面中。I-V曲線測(cè)量時(shí)輻照度改變。反射效應(yīng)導(dǎo)致輻照傳感器記錄偏高的輻照度。輻照太低或太陽(yáng)太接近地平線。IV曲線評(píng)估-低電壓 電壓變化的潛在原因包括以下陣列原因：.旁路二極管導(dǎo)通或短路。光伏串的組件數(shù)量錯(cuò)誤。電勢(shì)誘導(dǎo)衰減（PID）。對(duì)整個(gè)電池片/組件/組串有明顯的、均勻的遮擋。建模原因：錯(cuò)誤地輸入PV組件數(shù)據(jù)。錯(cuò)誤輸入串中的組件數(shù)目。測(cè)量原因：PV電池溫度與測(cè)量值不同。IV曲線評(píng)估-圓膝 I-V 曲線的膝

6、蓋的倒圓可能是老化過(guò)程的表現(xiàn)。在得出結(jié)論之前，檢查I-V曲線的水平和垂直腿的斜率。如果它們已經(jīng)改變，則會(huì)在膝蓋的形狀中產(chǎn)生視覺(jué)上類(lèi)似的效果。IV曲線評(píng)估-豎直腿中的淺坡 最大功率點(diǎn)（V mpp）和V oc之間的I-V曲線的后一部分的斜率受到對(duì)被測(cè)電路的串聯(lián)電阻的影響。增加的電阻將減小曲線的該部分中的斜率的陡度。串聯(lián)電阻增加的潛在原因包括：光伏配線損壞或故障（或電纜尺寸不足）。組件或陣列互連處故障（連接不良）。組件自身串聯(lián)電阻增加（電池片連接導(dǎo)致高阻或接線盒老化腐蝕）當(dāng)使用長(zhǎng)電纜測(cè)試陣列時(shí)，這些電纜的電阻將影響曲線形狀，并可能對(duì)曲線產(chǎn)生影響，建議使用四線法測(cè)量IV曲線評(píng)估-水平腿的陡坡 I-V曲線上部的斜率變化可能是由于：PV電池中的分流路徑。組件I sc不匹配。錐形陰影或污垢（例如污垢壩）。如何利用IV曲線測(cè)試儀快速定位問(wèn)題組件 測(cè)量組串發(fā)現(xiàn)曲線 有臺(tái)階依次遮擋單個(gè)組件，短路電流會(huì)下降，但曲線臺(tái)階基本不變當(dāng)遮擋到某個(gè)組