自動校準診斷ppt課件

1、第六章 自動校準和自診斷自動校準可提高儀器的準確度自診斷可提高一同的可靠性一、儀器的系統(tǒng)誤差及其校準1.根據(jù)系統(tǒng)誤差的變化規(guī)律，采用一定的丈量方法或計算方法，將其從丈量結(jié)果中扣除。2.采用高準確度的儀器去校準準確度低的儀器。二、儀器缺點的檢測和診斷對待缺點的兩種戰(zhàn)略1.采用冗余技術(shù)，缺點產(chǎn)生時，設法避開缺點，屏蔽它的影響。2.檢測缺點，及時發(fā)現(xiàn)，及時排除，使儀器可靠地任務。 缺點檢測 缺點診斷靠儀器內(nèi)部的缺點檢測單元來自動實現(xiàn)缺點檢測和診斷，成為自檢。三、儀器缺點的自檢 自檢針對的部件： 1儀器的數(shù)字電路 2模擬電路部分 3軟件部分 自檢的方式 1開機自檢 2周期性自檢 3鍵控自檢 4延續(xù)監(jiān)控

2、自檢的原理自檢必需處理的問題 怎樣產(chǎn)生該部件的測試矢量集 怎樣組成自檢電路 怎樣進展自檢6.2 儀器的內(nèi)部自動校準智能儀器的系統(tǒng)誤差主要存在于模擬量通道里。零點漂移+倍率變化一、零點漂移和倍率變化功能量程選擇dk1放大器dk2濾波器dk3采樣堅持dk4模數(shù)轉(zhuǎn)換dk5e1e2e3e4e5運算放大器的e和dk結(jié)論：1.由于A、Ri、R1、R2都隨溫度變化而變化，故實踐的放大倍數(shù)會隨溫度變化發(fā)生溫度漂移。2.Eos、Ios和R1、R2均是溫度的函數(shù)，所以，溫度變化的時候，等效的零漂電壓VOS也會隨著變化。串聯(lián)的零漂電壓和倍率二、零點漂移的內(nèi)部自動校準電路三、倍率編譯的內(nèi)部自動校準四、內(nèi)部自動校準的程

3、序流程6.4 儀器中數(shù)字電路的缺點檢測一、常用自檢技術(shù)掃描設計技術(shù)特征分析技術(shù)環(huán)繞技術(shù)1.掃描技術(shù)2.特征分析技術(shù) 在邏輯電路的輸入端輸入測試矢量，在任一察看點上察看相應序列，根須序列數(shù)據(jù)流的變化來診斷缺點。一長串數(shù)據(jù)中，并不是每一位都是有用的，所以，要簡化數(shù)據(jù)串，提取特征。 常用數(shù)據(jù)流緊縮和提取特征的方法轉(zhuǎn)移計數(shù)法：察看跳變個數(shù)邊沿計數(shù)法：記錄上升沿或下降沿的個數(shù)1計數(shù)法：記錄數(shù)據(jù)流中1或0的個數(shù)余數(shù)表示法：讓被察看數(shù)據(jù)流流入線性反響移位存放器LFSR中，最后讀取余數(shù)。線性反響移位存放器CP序號A1A2A3010111102111301140015100601071018110電路故障電路響應序列特征值a/101110111110a/0 b/0 d/001010101111b/101011111011c/1 d/1 Y/111111111100c/000000011110Y/000000000000無故障電路010101111013.環(huán)繞技術(shù)二、數(shù)字電路各組成部分的缺點檢測CPU的檢測RAM的檢測ROM的檢測I/O端口的自檢總線的自檢6.5 儀器中模擬電路的缺點測試模擬電路的缺點測試的困難利用環(huán)繞技術(shù)進展模擬量通道的自檢6.6 儀器自檢的安排采用可測性設計，便于自檢充分利用本身資源進展自檢