測井曲線代碼大全(共8頁)

1、測井曲線(qxin)代碼RD、RS深、淺側向(c xin)電阻率RDC、RSC環(huán)境(hunjng)校正后的深、淺側向電阻率VRD、VRS垂直校正后的深、淺側向電阻率DEN密度DENC環(huán)境校正后的密度VDEN垂直校正后的密度CNL補償中子CNC環(huán)境校正后的補償中子VCNL垂直校正后的補償中子GR自然伽馬GRC環(huán)境校正后的自然伽馬VGR垂直校正后的自然伽馬AC聲波VAC垂直校正后聲波PE有效光電吸收截面指數VPE垂直校正后的有效光電吸收截面指數SP自然電位VSP垂直校正后的自然電位CAL井徑VCAL垂直校正后井徑KTh無鈾伽馬GRSL能譜自然伽馬U鈾Th釷K鉀WCCL磁性定位TGCN套管中子TGG

2、R套管伽馬R252.5米底部梯度電阻率VR25環(huán)境校正后的2.5米底部梯度電阻率DEV井斜角AZIM井斜方位角TEM井溫RM井筒鉆井液電阻率POR2次生孔隙度POR孔隙度PORW含水孔隙度PORF沖洗帶含水孔隙度PORT總孔隙度PERM滲透率SW含水飽和度SXO沖洗帶含水飽和度SH泥質含量(hnling)CAL0井徑(jn jn)差值HF累計(li j)烴米數PF累計孔隙米數DGA視顆粒密度SAND，LIME，DOLM，OTHR分別為砂巖，石灰?guī)r，白云巖，硬石膏含量VPO2垂直校正次生孔隙度VPOR垂直校正孔隙度VPOW垂直校正含水孔隙度VPOF垂直校正沖洗帶含水孔隙度VPOT垂直校正總孔隙度

3、VPEM垂直校正滲透率VSW垂直校正含水飽和度VSXO垂直校正沖洗帶含水飽和度VSH垂直校正泥質含量VCAO垂直校正井徑差值VDGA垂直校正視顆粒密度VSAN，VLIM，VDOL，VOTH分別為垂直校正砂巖，石灰?guī)r，白云巖，硬石膏含量巖石力學參數PFD1破裂壓力梯度POFG上覆壓力梯度PORG地層壓力梯度POIS泊松比TOUR固有剪切強度UR單軸抗壓強度YMOD楊氏模量SMOD切變模量BMOD體積彈性模量CB體積壓縮系數BULK出砂指數MACMAC偶極子陣列聲波XMAC-交叉偶極子陣列聲波DTC1縱波時差DTS1橫波時差DTST1斯通利波時差DTSDTC-縱橫波速度比TFWV10-單極子全波列

4、波形TXXWV10-XX偶極子波形TXYWV10- XY偶極子波形TYXWV10- YX偶極子波形TYYWV10- YY偶極子波形WDST-計算各向異性開窗時間WEND-計算各向異性( xin y xn)關窗時間DTSF-計算(j sun)的快橫波時差DTSS-計算的慢橫波(hngb)時差固井CCL磁性定位CBL聲幅VDL聲波變密度（二維）AC聲波CAL裸眼井徑GR自然伽馬主要測井曲線及其含義 一、自然電位測井：測量在地層電化學作用下產生的電位。自然電位極性的“正”、“負”以及幅度的大小與泥漿濾液電阻率Rmf和地層水電阻率Rw的關系一致。RmfRw時，SP幾乎是平直的； RmfRw時SP為負異

5、常；RmfRw時，SP在滲透層表現為正異常。自然電位測井SP曲線的應用：劃分滲透性地層。判斷巖性，進行地層對比。估計泥質含量。確定地層水電阻率。判斷水淹層。沉積相研究。自然電位正異常RmfRw時，SP出現正異常。淡水層Rw很大（淺部地層）咸水泥漿（相對與地層水電阻率而言）自然電位測井自然電位曲線與自然伽馬、微電極曲線具有較好的對應性。自然電位曲線在水淹層出現基線偏移二、普通視電阻率測井（R4、R2.5）普通視電阻率測井是研究各種介質中的電場分布的一種測井方法。測量時先給介質通入電流造成人工電場，這個場的分布特點決定于周圍介質的電阻率，因此，只要測出各種介質中的電場分布特點就可確定介質的電阻率。

6、視電阻率曲線的應用：劃分巖性剖面。求巖層的真電阻率。求巖層孔隙度。深度校正。地層對比。電極系測井2.5米底部梯度電阻率進套管時有一屏蔽尖，它對應套管鞋深度；若套管下的較深，在測井圖上可能無屏蔽尖，這時可用曲線回零時的半幅點向上推一個電極距的長度即可。底部梯度電極系分層：頂：低點；底：高值。三、微電極測井（ML）微電極測井是一種微電阻率測井方法。其縱向分辨能力強，可直觀地判斷滲透層。主要應用：劃分巖性剖面。確定巖層界面。確定含油砂巖的有效厚度。確定大井徑井段。確定沖洗帶電阻率Rxo及泥餅厚度hmc。微電極確定油層有效厚度微電極測井微電極曲線應能反映出巖性變化，在淡水泥漿、井徑規(guī)則的條件下，對于砂

7、巖、泥質砂巖、砂質泥巖、泥巖，微電極曲線的幅度及幅度差，應逐漸減小。四、雙感應測井感應測井是利用電磁感應原理測量介質電導率的一種測井方法，感應測井得到一條介質電導率隨井深變化的曲線就是感應測井曲線。 感應測井曲線的應用：劃分滲透層。確定巖層真電阻率。快速、直觀地判斷油、水層。油層：RILDRILMRFOC水層：RILD RILM RFOC純泥層： RILD、RILM基本重合五、雙側向測井雙側向測井是采用電流屏蔽方法，迫使主電極的電流經聚焦后成水平狀電流束垂直于井軸側向流入地層，使井的分流作用和低阻層對電流的影響減至最小程度，因而減少了井眼和圍巖的影響，較真實地反映地層電阻率的變化，并能解決普通

8、電極系測井所不能解決的問題。雙側向測井資料的應用：確定地層的真電阻率。劃分巖性剖面。快速、直觀地判斷油、水層。六、八側向測井和微球形聚焦測井.、八側向是一種淺探測的聚焦測井，電極距較小，縱向分層能力強，主要用來反映井壁附近介質的電阻率變化。、微球形聚焦測井是一種中等探測深度的微聚焦電法測井，是確定沖洗帶電阻率測井中較好的一種方法 主要應用：劃分薄層。確定Rxo。七、井徑測井主要用途：計算固井水泥量；測井解釋環(huán)境影響校正；提供鉆井工程所需數據。滲透層井徑數值略小于鉆頭直徑值。致密層一般應接近鉆頭直徑值。泥巖段，一般大于鉆頭直徑值。八、聲波時差測井根據巖石的聲學物理特性發(fā)展起來的一種測井方法，它測

9、量地層聲波速度。主要用途：判斷氣層；確定巖石孔隙度。計算礦物含量含氣層，聲波時差出現周波跳躍現象，或者測井值變大。在大井眼處（大于0.4米），也會出現聲波時差變大或跳躍九、補償聲波測井聲波時差曲線數值不得低于巖石的骨架值,不得大于流體時差值。補償聲波測井聲波時差數值應符合地區(qū)規(guī)律（如孤東地區(qū)上館陶），利用聲波時差計算的地層孔隙度值與補償中子、補償密度或巖性密度計算的地層孔隙度值基本一致。滲透層不得出現與地層無關的跳動，如有周波跳躍，測速應降至1200m/h以下重復測量。十、自然伽馬測井自然伽馬測井是在井內測量巖層中自然存在的放射性核素衰變過程中放射出來的射線的強度來研究地質問題的一種測井方法。

10、 GR的用途：判斷巖性。地層對比。估算泥質含量。大井眼處，自然伽馬低值顯示十一、補償中子測井（CNL，%）補償中子測井是采用雙源距比值法的熱中子測井，它沿井剖面測量由中子源所造成的熱中子通量（即能量為0.0250.01ev的熱中子空間分布密度）。補償中子測井直接給出石灰?guī)r孔隙度值曲線。如果巖石骨架為其它巖性，則為視石灰?guī)r孔隙度。 主要應用：確定地層孔隙度。計算礦物含量DN曲線重疊直觀確定巖性。與補償密度曲線重疊判斷氣層。補償中子測井致密層測井值應與巖石骨架值相吻合。十二、補償密度測井（DEN，g/cm3） 利用同位素伽馬射線源向地層輻射伽馬射線，再用與伽馬源相隔一定距離的探測器來測量經地層散射

11、、吸收之后到達探測器的伽馬射線強度。由于被探測器接收到的散射伽馬射線強度與地層的巖石體積密度有關，故稱為密度測井。主要應用：識別巖性。確定巖層的孔隙度。計算礦物含量。測井曲線與補償中子、補償聲波、自然伽馬曲線有相關性。十三、高頻等參數感應測井 高頻感應是一個五線圈系探測系統，每個線圈系由一個發(fā)射線圈和兩個接收線圈組成。五個線圈系的長度分別為0.5、0.7、1.0、1.4、2.0m，工作頻率分別為14.0、7.0、3.5、1.75、0.875MHz。直接測量結果為五條相位差曲線，通過相位差與電阻率之間的對應關系，計算后得到五條電阻率曲線。 主要應用：劃分薄層；計算地層電阻率、侵入帶電阻率及侵入半

12、徑；評價儲集層流體飽和類型；劃分油氣水界面；評價儲集層徑向非均質性，進而研究儲集層內可動油的分布。評價儲集層的滲流能力較高的縱向分辨率高頻感應圖中的油/水分界面高頻感應與雙感應的比較裸眼井測井系列的選擇砂泥巖剖面：泥巖、砂巖為主的地層。碳酸鹽巖剖面：灰?guī)r、白云巖為主的地層。復雜巖性剖面：火成巖、變質巖、礫巖及其它復雜碎屑巖地層。測井系列選擇原則能體現其先進性、有效性及可行性；能有效地劃分儲層；具有不同徑向探測能力，能有效地求解地層真電阻率；能定量計算儲層孔隙度、滲透率、含水飽和度及其它地質參數；能有效地判斷油、氣、水層；能進行地層對比。裸眼井測井系列分類側向和感應的選擇方法測井資料質量檢查測井

13、曲線的準確性是保證測井解釋結果可靠的前提，然而，由于測井環(huán)境中各種隨機因素的影響，測井曲線的幅度不可避免地受到許多非地層因素的影響，因此，為了保證測井解釋與數據處理的精度，要對測井資料進行質量檢驗。通過測井資料質量檢查過程，保證了測井曲線的質量。測井曲線深度和幅度偏差的校正利用專門的處理程序，交會圖是一種常用的檢查測井質量的技術方法。用中子密度交會圖檢查測井曲線質量用中子密度的GR-Z值圖識別巖性，檢查測井曲線質量。測井資料的解釋測井資料解釋：利用測井資料分析地層的巖性，判斷油、氣、水層，計算孔隙度、飽和度、滲透率等地質參數，評價油氣層的質量等。 定性解釋人工定性地判斷油氣水層一般采用比較分析

14、的方法，是一項地區(qū)性、經驗性很強的工作。首先劃分滲透層；再對儲集層的物性（孔隙性、滲透性等）進行分析；最后分段解釋油氣水層：在地層水電阻率基本相同的井段內，對地層的巖性、物性、含油性進行比較，然后逐層作出結論。用SP（GR）曲線異常確定儲層位置用微電極曲線確定分層界面分層時環(huán)顧左右，考慮各曲線的合理性扣除夾層（泥層和致密層），厚層細分劃分界面：SP、GR、微電極、聲波、感應、CNL、DEN半幅點。 R4、 R2.5極值儲層特征： SP幅度異常，GR低值，微電極有幅度差，AC、CNL、DEN 數值符合地區(qū)規(guī)律，CAL等于或略小于鉆頭值（平直）油層的電性特征：電阻率高，在巖性相同的情況下，一般深探

15、測電阻率是鄰近水層的3-5倍以上。巖性越粗，含油飽和度越高，電阻率數值也越高；自然電位異常幅度略小于鄰近水層；淺探測電阻率小于或等于深探測電阻率數值，即侵入性質為低侵或無侵；計算的含油飽和度大于50%，好油層可達60-80%。水層的電性特征：自然電位異常幅度大，一般大于油層；深探測電阻率數值低。砂泥巖剖面水層電阻率一般為2-3歐姆米；明顯高侵。即淺探測電阻率數值大于深探測電阻率數值；計算的含油飽和度數值接近0，或小于30%。定性解釋的方法油層最小電阻率法； 標準水層對比法；鄰井資料對比法；徑向電阻率法。徑向電阻率法-泥漿侵入剖面沖洗帶：巖石孔隙受到泥漿濾液的強烈沖洗，原始流體被擠走，孔隙中為泥

16、漿濾液和殘余地層水或殘余油氣。過渡帶：距井壁有一定的距離，泥漿濾液減少，原始流體增加。未侵入帶：未受泥漿侵入的原狀地層。高侵剖面泥漿高侵:RxoRt。用淡水泥漿鉆井的水層一般形成典型的高侵剖面，部分具有高礦化度地層水的油氣層，也可能形成高侵剖面，但Rxo和Rt的差別比相應的水層小。低侵剖面一般是油氣層具有典型的低侵剖面（ Rxo明顯低于Rt），部分水層（RmfRw)也可能出現低侵剖面，但Rxo和Rt的差別比相應的油氣層小。定量解釋的基礎阿爾奇公式定量解釋基礎資料的了解:包括油田的構造特點和油氣藏類型、各時代地層的分布規(guī)律、各主要含油層系的巖電變化規(guī)律；鉆井過程中的油氣顯示、鉆井取心、井壁取心、

17、巖屑錄井、氣測資料、試油試水資料深度校正：在測井解釋前，必須進行測井曲線校深，使所有測井曲線有完全一致的對應關系。環(huán)境校正：對井眼、鉆井液、圍巖等因素造成的偏差進行校正。地層水電阻率的確定地層水有時也稱作原生水或孔隙水，是飽和在多孔地層巖石中未被鉆井泥漿污染的水。地層水電阻率Rw是重要的解釋參數，因為利用電阻率測井資料計算含水飽和度（或含油飽和度）時，Rw是必不可少的。有以下幾種方法得到Rw數值：水分析資料自然電位曲線（水層） SSP=Klg(Rmf/Rt) 電阻率-孔隙度資料（水層）F=Rt/Rw=a/m根據地區(qū)統計規(guī)律儲層參數計算孔隙度AC計算：=（t-tma）/(tmf-tma)/ Cp

18、Cp為地層壓實校正系數，約為（1.68-0.0002*地層深度H）tma為巖石骨架值，砂巖一般取180tmf為流體聲波時差，一般取水的時差值620t為巖石聲波時差讀數。DEN計算： =(-ma）/（f -ma）f為為孔隙流體密度，ma為巖石骨架密度，砂巖一般為2.65，石灰?guī)r為2.71，白云巖為2.87。為巖石密度讀數。CNL：直接讀出儲層參數計算飽和度根據阿爾奇公式：F=Ro/Rw=a/m I=Rt/Ro=b/Swn有Sw=（abRw/mRt）1/n 一般取a=0.7，b=1，n=2， m=2.06，得出：儲層參數計算滲透率lgK=D1+1.7lgMd+7.1lg其中D1為經驗系數，取值范圍為79.5lgMd=C0+C1GR(C0、C1為經驗系數)C0=lgMd0，Md0一般取0.20；C1=-1.75- lgMd0GR=(GR-GRmin)/（GRmax-GRmin）儲層參數計算泥質含量泥質含量Vsh:Vsh= (2c*SH 1)/(2c-1)C為經驗系數（新生界地層C=3.4-4，老地層C=2）。SH=(Gi-GMINi)/(G