BST電氣測(cè)試要求

1、.BST 電子設(shè)計(jì)規(guī)范 JS-97-08：.；電氣測(cè)試要求目錄10 引言20 檢測(cè)特性30 檢測(cè)要求40 測(cè)試方案/報(bào)告格式 A 設(shè)計(jì)可靠性測(cè)試闡明 A1熱沖擊 A2振動(dòng) A3跌落 A4碰撞 A5溫度/濕度 A6鹽霧 A7電源通/斷 A8瞬時(shí)浪涌 A9電氣快速瞬變/脈沖串A10灰塵污染A11高度加速壽命實(shí)驗(yàn)HALT 10 引言本文件是關(guān)于電氣和電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試的公司規(guī)范。可靠性測(cè)試是產(chǎn)品驗(yàn)收過(guò)程的一個(gè)方面。其他方面不在這里討論。11 目的本規(guī)范規(guī)定為確定產(chǎn)品和過(guò)程可靠性而要求的測(cè)試。20 檢測(cè)特性21 目的進(jìn)展可靠性的測(cè)試，利用外界和運(yùn)轉(zhuǎn)中的受力，找出設(shè)計(jì)與制造方面的薄弱環(huán)節(jié)。此外，證明該產(chǎn)

2、品符合的某些設(shè)計(jì)要求如規(guī)范和平安可以同時(shí)完成。除滿足最低接納規(guī)范外，最好能超越要求進(jìn)展測(cè)試直到發(fā)生缺點(diǎn)，從而確定合格與不合格之間的邊境條件。30 檢測(cè)要求本節(jié)規(guī)定環(huán)境和進(jìn)展測(cè)試的要求，測(cè)試程序，樣品大小，功能測(cè)試及診斷。此外，還定義處理測(cè)試缺點(diǎn)的要求。一切貝思特公司的電氣產(chǎn)品必需遵守一切要求。331設(shè)計(jì)可靠性測(cè)試DRT這些測(cè)試必需在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間進(jìn)展，某些測(cè)試在一個(gè)產(chǎn)品運(yùn)用后再設(shè)計(jì)之后應(yīng)反復(fù)進(jìn)展。測(cè)試闡明印刷電路板樣品數(shù)量注4A1熱沖擊2A2振動(dòng)1A3跌落1A4碰撞2或多于2A5溫度/濕度PCB/模件：4個(gè)A6鹽霧1A7電源能/斷1A8瞬間沖擊1A9電氣快速瞬變/脈沖串1A1.0 熱沖擊 本實(shí)驗(yàn)

3、的目的是確定一個(gè)產(chǎn)品能否包括潛在的制造的組裝缺陷，如裂痕和薄弱焊點(diǎn)。A1.1 實(shí)驗(yàn)條件 實(shí)驗(yàn)條件不運(yùn)用做為設(shè)計(jì)要求闡明應(yīng)力只加于PCB印刷電路板上。需求兩個(gè)樣品能夠被破壞熱沖擊周期數(shù)目為個(gè)。產(chǎn)品不施加電源，在應(yīng)力操作時(shí)間中，不進(jìn)展功能測(cè)試。艙室低溫為T(mén)L= -20C艙室高溫為T(mén)H=+60C極端溫度下的操作時(shí)間(t1)該當(dāng)足夠使實(shí)驗(yàn)下的樣品在極端溫度下處于穩(wěn)定形狀。這將由實(shí)驗(yàn)決議或設(shè)定為分鐘。兩個(gè)極端之間的轉(zhuǎn)換時(shí)間不大于秒。A1.2 驗(yàn)收規(guī)范闡明應(yīng)力作用后不允許有缺點(diǎn)或誤差。缺點(diǎn)包括不能滿足任何全功能檢測(cè)規(guī)范，誤差包括虛焊和焊錫與器件插腳之間的間隙。A1.3 測(cè)試程序闡明根據(jù)規(guī)定的條件，施加熱沖

4、擊(環(huán)境)。應(yīng)力作用后進(jìn)展全功能實(shí)驗(yàn)。危險(xiǎn)點(diǎn)處的PCB橫截面，在放大倍的顯微鏡下察看斷面部位，尋覓虛焊和或焊錫和器件插腳間的間隙危險(xiǎn)點(diǎn)包括具有許多插腳的接頭和大的器件這些點(diǎn)應(yīng)該在產(chǎn)品可靠性測(cè)試方案中明確闡明A2.0 振動(dòng) 本實(shí)驗(yàn)隨機(jī)振動(dòng)部分的目的是驗(yàn)證在振動(dòng)應(yīng)力作用下和作用后產(chǎn)品的性能。這些應(yīng)力作用在將產(chǎn)品運(yùn)至任務(wù)現(xiàn)場(chǎng)，也能夠在正常的運(yùn)用操作中產(chǎn)生。 A2.1檢測(cè)條件 檢測(cè)條件不應(yīng)作為設(shè)計(jì)要求。擺動(dòng)式正弦振動(dòng)正弦振動(dòng)有以下條件：闡明一切產(chǎn)品處于受力形狀。振動(dòng)頻率范圍為赫茲。振動(dòng)幅度將為：o.35mm 印刷電路板擺動(dòng)次數(shù)實(shí)驗(yàn)時(shí)間小時(shí)每一個(gè)產(chǎn)品取向都處于振動(dòng)形狀振動(dòng)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，接通電源，進(jìn)展有限功

5、能測(cè)試。A2.2 驗(yàn)收規(guī)范有限功能實(shí)驗(yàn)和目測(cè)將證明在擺動(dòng)正弦振動(dòng)實(shí)驗(yàn)中和隨機(jī)振動(dòng)實(shí)驗(yàn)后沒(méi)有出現(xiàn)缺點(diǎn)：A2.3 實(shí)驗(yàn)程序闡明1在進(jìn)展有限功能實(shí)驗(yàn)時(shí)，施加正弦振動(dòng)。2振動(dòng)情況進(jìn)展后，進(jìn)展有限功能檢測(cè)和目測(cè)。A3.0 跌落實(shí)驗(yàn) 本實(shí)驗(yàn)的目的是實(shí)驗(yàn)在產(chǎn)品組裝，運(yùn)輸和安裝中因大意而引起的跌落之后產(chǎn)品的性能。A3.1 實(shí)驗(yàn)條件 測(cè)試條件可以作為設(shè)計(jì)要求。A3.1.1 控制跌落 # 闡明1本測(cè)試部分只適用于PCB和模件，沒(méi)有包裝到位2測(cè)試中一切正常的機(jī)械封裝，電纜，蓋子等都應(yīng)該到位3測(cè)試中樣品不加電4一切的產(chǎn)品邊緣都應(yīng)有一個(gè)跌落實(shí)驗(yàn)5跌落高度為100mm6跌落在混凝土或金屬外表上 A3.1.2 運(yùn)輸包裝箱跌

6、落# 闡明1本部分實(shí)驗(yàn)是樣品處于正常運(yùn)輸包裝中進(jìn)展的。因此，不加電壓。一切產(chǎn)品將被測(cè)試。2跌落部位：頂面和底面，一切包裝角部和邊緣，包裝分量小于或等于20Kg3跌落部位：包裝底面，底面角部和邊線，包裝分量大于20Kg4跌落于混凝土或金屬外表5跌落高度視產(chǎn)品/包裝質(zhì)量而定，參見(jiàn)圖A3-1圖A3-1 跌落高度產(chǎn)品/包裝質(zhì)量跌落高度mm113200A32驗(yàn)收規(guī)范一個(gè)有限功能測(cè)試和目測(cè)應(yīng)證明沒(méi)有缺點(diǎn)發(fā)生。A40碰撞本實(shí)驗(yàn)的目的是驗(yàn)證碰撞某些產(chǎn)品不會(huì)發(fā)生平安事故。A41實(shí)驗(yàn)條件本實(shí)驗(yàn)的目的不應(yīng)做為設(shè)計(jì)要求。#闡明1僅僅是用于普通載客的產(chǎn)品才做這個(gè)實(shí)驗(yàn)2樣品經(jīng)預(yù)選處置，不帶電儲(chǔ)存，在環(huán)境艙室溫度0中施加輸

7、入/輸出信號(hào)3小時(shí)。3該碰撞將耗費(fèi)6/75焦耳1.3m跌落高度或13.5焦耳2.6m跌落高度的能量碰撞物是一個(gè)金屬球，碰撞部位直徑501mm，總質(zhì)量：0.53kg物體從1.3m高度跌落到產(chǎn)品上，產(chǎn)品具有一個(gè)25.8103mm2或小于25.8103mm2的外表積，或從2.6m高度跌落到具有一個(gè)大于25.8103mm2的一個(gè)外表的產(chǎn)品上。注：物體類(lèi)型，參數(shù)和跌落高度的其他組合可被用于獲得一樣的碰撞能量。4碰撞實(shí)驗(yàn)中，樣品不加電源5每一個(gè)樣品應(yīng)碰撞3次。并應(yīng)碰撞樣品的不同部位6碰撞后，假設(shè)能夠，應(yīng)進(jìn)展一個(gè)有限功能測(cè)試A42驗(yàn)收規(guī)范該產(chǎn)品能夠被破壞，但碰撞將不會(huì)產(chǎn)生平安事故或違反規(guī)定。A50 溫度/濕

8、度本實(shí)驗(yàn)的目的是驗(yàn)證在溫度循環(huán)變化和高濕度環(huán)境中和以后,該產(chǎn)品可以有效運(yùn)轉(zhuǎn)。這些應(yīng)力加速在正?，F(xiàn)場(chǎng)操作中可以預(yù)期的缺點(diǎn)過(guò)程。A51實(shí)驗(yàn)條件實(shí)驗(yàn)條件不應(yīng)作為設(shè)計(jì)要求例如減少額定值。這些條件不能準(zhǔn)確模擬預(yù)期的環(huán)境條件。#闡明1對(duì)于一切產(chǎn)品施加應(yīng)力：對(duì)于PCB/模件類(lèi)產(chǎn)品，電子器件已從機(jī)械封裝上拆下來(lái)以保證內(nèi)部環(huán)境應(yīng)力能均勻地施加。 分系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品在正常封裝內(nèi)部測(cè)試，一切門(mén)都封鎖，蓋子到位。2高溫極限規(guī)定如下：PCB/模件：TH=603實(shí)驗(yàn)進(jìn)展24個(gè)周期，見(jiàn)以下圖4在溫度/濕度實(shí)驗(yàn)期間有限功能實(shí)驗(yàn)應(yīng)對(duì)一切樣本繼續(xù)進(jìn)展。然后進(jìn)展全功能測(cè)試5對(duì)于輸入/輸出口施加額定負(fù)載或周期負(fù)載。輸入功率口施加額定電源。

9、6樣品在一樣的環(huán)境艙內(nèi)保管30分鐘，環(huán)境艙內(nèi)相對(duì)濕度75%，溫度25，然后置于正常的實(shí)驗(yàn)室條件下。7全功能測(cè)試方案必需提供多個(gè)樣品A52驗(yàn)收規(guī)范在實(shí)驗(yàn)中進(jìn)展的有限功能測(cè)試和在實(shí)驗(yàn)后進(jìn)展的全功能測(cè)試應(yīng)該證明沒(méi)有缺點(diǎn)發(fā)生。A60鹽霧本實(shí)驗(yàn)?zāi)康氖球?yàn)證產(chǎn)品暴露在鹽霧環(huán)境后的性能A61實(shí)驗(yàn)條件#闡明1假設(shè)能夠，將一切級(jí)別的產(chǎn)品，裝配下來(lái)的樣品置于鹽霧環(huán)境中，并應(yīng)包括安裝能夠在其環(huán)境空間安裝的地方。例如，印刷電路板PCB能夠從模件和分系統(tǒng)裝配下來(lái)。2鹽溶液應(yīng)為5%分量的氯化鈉溶于蒸餾水中的溶液。PH值為6.850.35。3實(shí)驗(yàn)前不需求預(yù)選處置4有三種鹽霧實(shí)驗(yàn)時(shí)間，每種兩小時(shí)，環(huán)境溫度2510。5在每種實(shí)驗(yàn)

10、后，產(chǎn)品應(yīng)儲(chǔ)存在一樣的環(huán)境中40/93%相對(duì)濕度21小時(shí)6最后的儲(chǔ)存期后，進(jìn)展一個(gè)有限功能測(cè)試。7在有限功能實(shí)驗(yàn)完成后才干清潔產(chǎn)品8鹽霧實(shí)驗(yàn)前，一切接頭插腳和接線孔都予以屏蔽A62驗(yàn)收規(guī)范一個(gè)有限功能實(shí)驗(yàn)和目測(cè)應(yīng)證明在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中和實(shí)驗(yàn)后沒(méi)有發(fā)生缺點(diǎn)。應(yīng)進(jìn)展一個(gè)內(nèi)部的外觀檢查以檢驗(yàn)滲入的鹽能夠?qū)е碌娜秉c(diǎn)。A70電源接通/斷開(kāi)本實(shí)驗(yàn)的目的是驗(yàn)證主電源交流或直流反復(fù)接通/斷開(kāi)開(kāi)關(guān)動(dòng)作后產(chǎn)品的性能。A71測(cè)試條件測(cè)試條件不應(yīng)該作為設(shè)計(jì)要求#闡明1一切產(chǎn)品都必需做這個(gè)實(shí)驗(yàn)2拾次接通/斷開(kāi)過(guò)程組合一個(gè)完好的實(shí)驗(yàn)。任何通斷循環(huán)之間不應(yīng)有延遲景象3如能夠，在實(shí)驗(yàn)中進(jìn)展有限功能測(cè)試。實(shí)驗(yàn)后進(jìn)展有限功能測(cè)試4在輸

11、入/輸出口參與額定負(fù)載和周期負(fù)載5在輸入電源口參與額定電壓A72驗(yàn)收規(guī)范#闡明1實(shí)驗(yàn)后產(chǎn)品應(yīng)任務(wù)2實(shí)驗(yàn)中維護(hù)安裝如保險(xiǎn)絲和回路斷路器不能開(kāi)路3實(shí)驗(yàn)中不要錯(cuò)誤地從儲(chǔ)存安裝消除數(shù)據(jù)或?qū)?shù)據(jù)寫(xiě)入存儲(chǔ)安裝A73測(cè)試程序執(zhí)行以上所述電源接通/斷開(kāi)循環(huán)，選擇的有限功能測(cè)試必需完全符合驗(yàn)收規(guī)范。A80 瞬間浪涌本實(shí)驗(yàn)的目的是驗(yàn)證在對(duì)大樓交流電源AC干線和產(chǎn)品信號(hào)/控制輸入/輸出口施加非直接的高能脈沖時(shí)產(chǎn)品的操作。這種脈沖沖擊典型地由照明，負(fù)載轉(zhuǎn)換和功率因數(shù)補(bǔ)償引起。A81檢測(cè)條件檢測(cè)條件可以做為設(shè)計(jì)要求#闡明1AC主干線口必需銜接一切的測(cè)試樣品和AC干線之間的接口設(shè)備例如變壓器和電源等輸入/輸出口信號(hào)/控制

12、線，運(yùn)用中長(zhǎng)度10m，對(duì)于輸入/輸出口的類(lèi)似類(lèi)型，那么只對(duì)一個(gè)口或一部分口施加應(yīng)力2對(duì)于AC主干線地LG口，沖擊開(kāi)路電壓峰值應(yīng)為1KV， 3對(duì)于各干線線LL口，沖擊開(kāi)路電壓峰值應(yīng)為500V4對(duì)于各輸入/輸出口信號(hào)/控制沖擊峰值開(kāi)路電壓應(yīng)為1000VLG，和500VLL。5浪涌源阻抗為：2：AC干線LL口和信號(hào)/控制輸入/輸出口12：AC干線LG口6產(chǎn)品電源和輸入/輸出信號(hào)是能任務(wù)的，因此能進(jìn)展有限功能的測(cè)試A82驗(yàn)收規(guī)范一個(gè)有限功能測(cè)試應(yīng)證明以下各項(xiàng)：峰值電壓V規(guī)范1KV允許出現(xiàn)缺點(diǎn)和損壞，但不能發(fā)生平安事故。A83檢測(cè)程序#闡明1交流干線LL和LG口每個(gè)電壓值, 相位值極性分別兩次沖擊2兩次

13、沖擊之間的時(shí)間最少1分鐘*，應(yīng)能保證可進(jìn)展有限功能測(cè)試A9.0 電氣快速瞬變/脈沖串 EFT/B 本實(shí)驗(yàn)的目的是驗(yàn)證在中等能量轉(zhuǎn)變瞬間產(chǎn)品性能。A9.1 測(cè)試條件 測(cè)試條件可被用做設(shè)計(jì)要求。#在一切交流干線和信號(hào)/控制輸入/輸出口上所引起的EFT脈沖。只需在運(yùn)用中導(dǎo)線長(zhǎng)度3m. 有必要使一切在AC干線和測(cè)試樣品之間的正常設(shè)備(例如，變電壓，電源等)在實(shí)驗(yàn)時(shí)聯(lián)接起來(lái)。2EFT/B 脈沖將有以下特點(diǎn)：反復(fù)頻率=5和15KHz上升時(shí)間5ns沖擊繼續(xù)時(shí)間：50ns脈沖串繼續(xù)時(shí)間：50ms脈沖串周期：300ms與AC電源電壓頻率不同步各脈沖的等式為1.27Vp(1-e-t/t1)e-t/t2Vp=峰值開(kāi)

14、路電壓圖AB-1中定義的運(yùn)用電壓exp：e為底t1=3.5ns t2=55.6ns3脈沖沖擊實(shí)驗(yàn)中和后進(jìn)展有限功能測(cè)試.A9.2 驗(yàn)收規(guī)范一個(gè)有限功能測(cè)試應(yīng)證明以下各項(xiàng):信號(hào)/控制 輸入/輸出口峰值電壓 規(guī)范500V不允許缺點(diǎn)出現(xiàn)500V1KV實(shí)驗(yàn)時(shí)允許出缺點(diǎn)，但該產(chǎn)品在應(yīng)力外來(lái)干擾消逝時(shí)應(yīng)能自動(dòng)繼續(xù)任務(wù)。沒(méi)有缺點(diǎn)和平安事故。能滿足適當(dāng)?shù)漠a(chǎn)品平安要求。AC干線峰值電壓KV規(guī)范1.5允許出現(xiàn)缺點(diǎn)和損壞，但不能發(fā)生平安事故。A9.3 測(cè)試程序# 闡明1給各口施加特別脈沖。繼續(xù)時(shí)間是進(jìn)展有限功能測(cè)試必需的時(shí)間，但是每步最少1分鐘。進(jìn)展實(shí)驗(yàn)直至發(fā)生缺點(diǎn)或到達(dá)了測(cè)試要求的極限.A10.0 灰塵污染 這項(xiàng)

15、實(shí)驗(yàn)的目的，是確定在現(xiàn)場(chǎng)安裝的，在某些倉(cāng)庫(kù)內(nèi)的和工廠裝配區(qū)中的產(chǎn)品對(duì)灰塵的不敏感度。A10.1 實(shí)驗(yàn)條件 實(shí)驗(yàn)條件不得用作設(shè)計(jì)要求。#說(shuō) 明1 將灰塵施放在PCB和微型組件類(lèi)的產(chǎn)品上。假設(shè)需求向腔室內(nèi)施放灰塵，可把產(chǎn)品裝配。2灰塵的類(lèi)型是“粗糙狀的洋灰塵土(如SEA J726)。也可用其它適宜的類(lèi)型的灰塵。3灰塵的數(shù)量是每立方米腔容6kg。4腔內(nèi)溫度是不受控制的。5腔內(nèi)濕度是不受控制的。6在灰塵暴露期間，產(chǎn)品不帶電或監(jiān)控。7灰塵暴露周期見(jiàn)圖A10-1所示。8全部銜接器插頭和外殼布線孔都應(yīng)覆蓋住。9產(chǎn)品要裝在要求的現(xiàn)場(chǎng)方位的灰塵腔室內(nèi)。圖A10-1 灰塵暴露周期A10.2 驗(yàn)收規(guī)范 有限功能性實(shí)

16、驗(yàn)要檢查出在灰塵暴露后，產(chǎn)品不出現(xiàn)缺點(diǎn)。A10.3 實(shí)驗(yàn)程序 實(shí)驗(yàn)程序根據(jù) Ref、32。#說(shuō) 明1 按上述規(guī)定的周期，進(jìn)展灰塵實(shí)驗(yàn)。2有限功能性實(shí)驗(yàn)進(jìn)展之后才干清潔樣機(jī)。等產(chǎn)品從灰塵腔室內(nèi)移出后的15分鐘之內(nèi)，進(jìn)展有限功能性實(shí)驗(yàn)。A10.4 要求的實(shí)驗(yàn)方案資料#說(shuō) 明1 闡明產(chǎn)品能否需求裝配。2灰塵的類(lèi)型假設(shè)與A19.1節(jié)中所規(guī)定的規(guī)范類(lèi)型不同。3規(guī)定有限功能性實(shí)驗(yàn)或者檢查哪一種產(chǎn)品性能。A11.0 高度加速壽命實(shí)驗(yàn)HALT 高度加速壽命實(shí)驗(yàn)HALT是在設(shè)計(jì)或重新設(shè)計(jì)電子產(chǎn)品和電氣產(chǎn)品期間，所采用的一種加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)AST。產(chǎn)品和制造工藝兩方面都可以采用HALT表示其特性。 這個(gè)HALT方法是利用一種“實(shí)驗(yàn)至失敗的概念來(lái)促使和檢測(cè)缺乏之處。其目的是使產(chǎn)品和工藝設(shè)計(jì)更加耐用。A11.1 實(shí)驗(yàn)條件 實(shí)驗(yàn)條件不得用作設(shè)計(jì)要求。#說(shuō) 明1 對(duì)PCB和微型組件類(lèi)的產(chǎn)品施加應(yīng)力。假設(shè)需求，可以從分系統(tǒng)類(lèi)產(chǎn)品中撤除PCB和微型組件。從外殼上撤除電子器件，以便應(yīng)力可以均勻的的作用在電子安裝上。2HALT包括以下作用的應(yīng)力： “冷和“熱溫度階段應(yīng)力包括冷啟動(dòng)/運(yùn)轉(zhuǎn)。 快速溫度循環(huán)。 6個(gè)自在度6DOF振動(dòng)分級(jí)應(yīng)力。 組合溫度循環(huán)和6DOF振動(dòng)。3