千分尺自校指導(dǎo)書

外徑千分尺自校指導(dǎo)書目的為保證本公司使用的千分尺的測量準(zhǔn)確度，實(shí)現(xiàn)量值統(tǒng)一與溯源，規(guī)范千分尺的校準(zhǔn)程序，特制定本作業(yè)指導(dǎo)書。適用范圍本指導(dǎo)書適用于本公司的測砧為固定式的普通千分尺。計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)量塊。校準(zhǔn)條件溫度:22±5°C，恒溫2小時(shí)。校準(zhǔn)周期十個(gè)月校準(zhǔn)過程及方法（參照國標(biāo)JJG21-2008）6.1準(zhǔn)備校準(zhǔn)前,先清潔量具,千分尺、量塊恒溫2小時(shí)。外觀與各部分相互作用6.2.1千分尺不得有碰傷，銹蝕，帶磁或其他缺陷，標(biāo)尺刻線應(yīng)清晰，均勻，完整。千分尺上的標(biāo)識(shí)完整：分度值，測量范圍，制造商，全長，型號及序列號等。千分尺調(diào)整時(shí)應(yīng)順暢，平穩(wěn)，無卡滯現(xiàn)象，調(diào)零與鎖緊裝置的作用切實(shí)有效。測微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)6.3.1要求測微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)均不大于0.01mm.6.3.2自校方法測微螺桿的軸向竄動(dòng)，用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，使杠桿千分表與測微螺桿側(cè)量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分別往返加力3-5N,如圖1所示。杠桿千分表示值的變化，即為軸向串動(dòng)量。測微螺桿的徑向擺動(dòng)亦用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，將測微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測微螺桿端部，再沿杠桿千分表測量方向加力2~3N,然后以相反方向加力2?3N。這一檢定應(yīng)在相互垂直的兩個(gè)徑向方向檢定。如圖2所示，杠桿千分表示值的變化，即為徑向擺動(dòng)量。圖1圖2測砧與測微螺桿工作面相對偏移6.4.1要求不超過下表要求表1測量范圍相對偏移量0?250.125?500.1550~750.275?1000.3100?2000.4200~3000.5300?4000.8400~5001.06.4.2自校方法在平板上用杠桿百分表檢定。對于測量范圍大于300mm的千分尺用百分表檢定。檢定時(shí)，借助千斤頂將千分尺放置在平板上，如圖3所示，調(diào)整千斤頂使千分尺的測微螺桿與平板工作面平行，然后用百分表測出測砧與測微螺桿在這一方位上的偏移量x,然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90°，按上述方法測出測砧與測微螺桿在另一方位上的偏移量y。測砧與測微螺桿工作面的相對偏移量△按下式求得：△=（x2+y2）1/2此項(xiàng)檢定也可用其它專用檢具檢定。6.5測力6.5.1要求千分尺的側(cè)力（系指工作面與球面接觸時(shí)所作用的力）應(yīng)在6-10N范圍內(nèi)。6.5.2檢定方法用分度值不大于0.2N的專用測力計(jì)檢定。檢定時(shí)，使工作面與測力計(jì)的球工作面接觸后進(jìn)行?？叹€寬度及寬度差6.6.1要求固定套管縱刻線和微分筒上的刻線寬度為0.15?0.20mm,刻線寬度差應(yīng)不大于0.03mm?？叹€盤的刻線寬度為0.20?0.30mm,刻線寬度差應(yīng)不大于0.05mm。6.6.2自校方法在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢3條刻線。指針與刻度盤相對位置6.7.1要求板厚千分尺刻度盤上的指針末端應(yīng)蓋住刻線盤短刻線長度的30%?80%,指針末端上表面至刻度盤表面的距離應(yīng)不大于0.7mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應(yīng)一致，差值應(yīng)不大于0.05mm.6.7.2自校方法指針末端與刻度盤短刻線的相對位置可用目力估計(jì)。指針末端上表面至刻度盤表面的距離應(yīng)用塞尺進(jìn)行檢定。上述檢定應(yīng)在刻度盤上均勻分布的3個(gè)位置上進(jìn)行。指針末端與刻度盤的刻線的寬度差在工具顯微鏡上檢定。微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離6.8.1要求微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離應(yīng)不大于0.4mm,6.8.2自校方法在工具顯微鏡上檢定。也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定。檢定時(shí)在微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)一周內(nèi)不少于3個(gè)位置上進(jìn)行。微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置6.9.1要求當(dāng)測量下限調(diào)整正確后,微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對準(zhǔn)時(shí),微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應(yīng)相切，若不相切，壓線不大于0.05mm,離線不大于0.1mm。6.9.2自校方法當(dāng)測量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切時(shí)，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱刻線的偏移量。工作面的表面粗糙度要求外徑千分尺和校對量桿的工作面的表面粗糙度Ra應(yīng)不大于0.05pm。壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra應(yīng)不大于0.10》m,6.10.2自校方法用表面粗糙度比較樣塊用比較法檢定。6.11工作面的平面度要求零級外徑千分尺工作面的平面度不大于0.6》m,1級外徑千分尺工作面的平面度不大于1》m。壁厚千分尺測微螺桿工作面的平面度應(yīng)不大于1.2》m,板厚千分尺工作面的平面度應(yīng)不大于1》m。6.11.2自校方法用二級平晶用技術(shù)光波干涉法檢定。對于使用中的可用1級刀口尺用光隙法檢定。工作面直徑為6.5mm的，距離邊緣0.2mm范圍內(nèi)不計(jì)。對于8mm的，距離邊緣0.5mm范圍內(nèi)不計(jì)。6.12兩工作面的平行度要求當(dāng)外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開時(shí)千分尺兩工作面的平行度應(yīng)不大于下表規(guī)定。表2測量范圍平行度0級1級0~251225?501.32.550~1001.53100~1504150~2006200~3007300~4008400~50010板厚千分尺工作面的平行度應(yīng)不大于2》m。6.12.2自校方法量桿的尺寸及工作面的平行度在光學(xué)計(jì)或測長機(jī)上采用4等量塊用比較法進(jìn)行檢定。對于平工作面的量桿應(yīng)采用球面測帽在圖4所示的5點(diǎn)上進(jìn)行檢定。各點(diǎn)尺寸偏差均不應(yīng)超過表2中的規(guī)定。5點(diǎn)中的最大值與最小值之差即為量桿兩工作面的平行度。

6.13示值誤差6.13.1要求示值誤差檢測，示值誤差不應(yīng)超過±0.008mm,以5等量塊比較檢定，下表為一般推薦檢測點(diǎn)：（mm）表3 3mm測量范圍檢 定 點(diǎn)5?3010.1215.2420.3626.5030.0025?5030.1235.2440.3646.5050.0050~7555.1260.2465.3670.5075.0075?10080.1285.2490.3695.50100.00100~125105.12110.24115.36120.50125.00125~150130.12135.24140.36145.50150.00150~175155.12160.24165.36170.50175.006.13.2自校方法千分