第節(jié)-巖性孔隙度測(cè)井系列課件

第一章測(cè)井方法及其地質(zhì)響應(yīng)第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列第二節(jié)電阻率測(cè)井系列第三節(jié)地層傾角測(cè)井第四節(jié)成像測(cè)井方法第一章測(cè)井方法及其地質(zhì)響應(yīng)第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井1屬常規(guī)測(cè)井方法--主要是指目前在油氣勘探開(kāi)發(fā)中，探井、評(píng)價(jià)井、開(kāi)發(fā)井測(cè)井工程中都要測(cè)量的測(cè)井方法，即所謂“九條”曲線系列：

巖性、孔隙度測(cè)井系列電阻率測(cè)井系列地層傾角測(cè)井自然伽馬、自然電位、井徑三巖性曲線淺、中、深三電阻率曲線聲波、中子、密度三孔隙度曲線屬常規(guī)測(cè)井方法--主要是指目前在油氣勘探開(kāi)發(fā)中，探井、評(píng)價(jià)井2在地層復(fù)雜的情況下再加上地層傾角、自然伽馬能譜二項(xiàng)構(gòu)成所謂的“十一條曲線”，這也是測(cè)井地質(zhì)學(xué)研究所依靠的基本測(cè)井信息。這些測(cè)井方法從70年代的數(shù)字測(cè)井系列、到80年代的數(shù)控測(cè)井系列，直到90年代的成像測(cè)井系統(tǒng)(如5700和MAXIS-500)都保留著，也都是常測(cè)的項(xiàng)目。本章將簡(jiǎn)要介紹各種方法的測(cè)量信息、影響因素，所能解釋的地質(zhì)現(xiàn)象。重點(diǎn)：地質(zhì)響應(yīng)。在地層復(fù)雜的情況下再加上地層傾角、自然伽馬能譜二項(xiàng)構(gòu)成所3第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井二、伽馬測(cè)井三、聲波測(cè)井四、中子測(cè)井五、密度測(cè)井第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井4一、自然電位測(cè)井鉆井中觀測(cè)到一種非人工產(chǎn)生的直流電位差，且可以毫伏級(jí)的精度記錄下來(lái)，人們稱之為自然電位。自然電位曲線可以作為劃分巖性、判斷儲(chǔ)層性質(zhì)的基本測(cè)井方法。1、自然電位產(chǎn)生的原因

1)擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)2)過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)2、影響自然電位異常幅度的因素

√3、自然電位曲線的應(yīng)用

√一、自然電位測(cè)井鉆井中觀測(cè)到一種非人工產(chǎn)生的直流電位差51)擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)

●是鉆井液濾液與砂巖中地層水接觸的結(jié)果：鉆井液濾液和地層水都主要含NaCl，假設(shè)：

鉆井液濾液的濃度是Cmf，地層水濃度是CW；一般是CW＞Cmf，即地層中的Na+、CI-離子均由地層向鉆井液濾液方向擴(kuò)散；由于CI-的遷移速度比Na+快

→在地層水內(nèi)富集正電荷，鉆井液濾液中富集負(fù)電荷，→形成由于離子擴(kuò)散而產(chǎn)生的電動(dòng)勢(shì)--擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)。1、自然電位產(chǎn)生的原因1)擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)●是鉆井液濾液與砂巖中地層水接觸6●實(shí)驗(yàn)證明，純水砂巖的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)等于：aW--表示地層水的電化學(xué)活度(礦化度)，與含鹽量和化學(xué)成分有關(guān)amf--表示鉆井液濾液的電化學(xué)活度，與含鹽量和化學(xué)成分有關(guān)K1--擴(kuò)散電位系數(shù)，與溶液的成分和溫度有關(guān)

對(duì)于氯化鈉溶液，溫度為18℃時(shí)，K1值為-11.6mV礦化度較低時(shí)溶液的電阻率與其礦化度呈線性關(guān)系●實(shí)驗(yàn)證明，純水砂巖的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)等于：aW--表示地層水的7

式中：K2--泥巖的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)。對(duì)于NaCl溶液，在25℃時(shí)，K2＝59.1mV●

對(duì)于與純水砂巖相鄰的泥巖：泥質(zhì)顆粒對(duì)CI-離子選擇性吸附，CI-離子都被束縛在泥質(zhì)顆粒表面，不能自由移動(dòng)，只有Na+可在地層水中移動(dòng)。泥巖井壁上只發(fā)生Na+離子擴(kuò)散

→泥巖一方為負(fù)；井內(nèi)鉆井液一方為正：→形成擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)：式中：K2--泥巖的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)?！駥?duì)于與純水砂82）過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)

由于地層和鉆井液柱壓力差引起的過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)。在壓力差作用下，溶液通過(guò)毛細(xì)管時(shí)管壁吸附負(fù)離子，使溶液中正離子相對(duì)增長(zhǎng)，且同溶液一起向壓力低的一端移動(dòng)→在毛細(xì)管兩端：壓力低的一端帶正電，壓力高的一端帶負(fù)電→產(chǎn)生電位差--過(guò)濾電位。

只有地層壓力與鉆井液柱壓力相差懸殊、且在鉆井液未形成前，過(guò)濾電位才有較大顯示。一般情況下很小，常忽略不計(jì)。1、自然電位產(chǎn)生的原因低壓高壓2）過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)由于地層和鉆井液柱壓力差引起的過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)。9由于電動(dòng)勢(shì)E砂和E泥的存在，在井與砂巖和泥巖的接觸處，產(chǎn)生自然電流，該自然電流回路的總自然電動(dòng)勢(shì)為上述兩個(gè)電動(dòng)勢(shì)的代數(shù)和：(t=25℃)總自然電動(dòng)勢(shì)

E總：當(dāng)砂巖含泥質(zhì)時(shí)，擴(kuò)散吸附電位值：

kda--地層的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)從-11.6(純砂巖)變到+59.1(純泥巖)由于電動(dòng)勢(shì)E砂和E泥的存在，在井與砂巖和泥巖的接觸處，產(chǎn)102、影響自然電位異常幅度的因素⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響⑵巖性的影響⑶溫度的影響⑷地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響⑸地層電阻率的影響⑹地層厚度的影響⑺井徑擴(kuò)大和侵入的影響2、影響自然電位異常幅度的因素⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度11⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響

地層水和泥漿濾液中含鹽量差異(礦化度)是造成自然電場(chǎng)中擴(kuò)散電位Ed和擴(kuò)散吸附電位Eda的基本原因。

(地層水濃度CW、泥漿濾液濃度Cmf)當(dāng)Cw＞Cmf時(shí)，SP曲線上砂巖層段出現(xiàn)負(fù)異常；當(dāng)Cw＜Cmf時(shí)，砂巖層段則出現(xiàn)正異常；當(dāng)Cw＝Cmf時(shí)，無(wú)造成自然電場(chǎng)的電動(dòng)勢(shì)產(chǎn)生。在一定的范圍內(nèi)Cw和Cmf差別大，

造成自然電場(chǎng)的電動(dòng)勢(shì)高，曲線變化明顯。2、影響自然電位異常幅度的因素⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響地層水和泥漿濾液12⑵巖性的影響2、影響自然電位異常幅度的因素

在砂泥巖剖面中，SP曲線以泥巖為基線，只有在砂質(zhì)滲透性巖層處才出現(xiàn)SP曲線異常。目的層為較厚的純砂巖時(shí)，與圍巖之間的E總達(dá)到最大值即靜自然電位，此時(shí)SP曲線上出現(xiàn)最大的負(fù)異常幅度。在其它條件不變情況下，目的層含泥質(zhì)時(shí)，E總隨目的層泥質(zhì)含量增加而下降，所測(cè)曲線幅度也隨之減小。⑵巖性的影響2、影響自然電位異常幅度的因素在砂泥巖剖面13

擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kd和擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kda與絕對(duì)溫度T成正比，同樣條件的巖層由于埋藏深度不同，其溫度不同，因此Kd和Kda值有差別→導(dǎo)致同樣巖性的巖層，由于埋深不同，產(chǎn)生的SP曲線幅度有差異。⑶溫度的影響Kda/t=18℃為18℃時(shí)的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)；t--地層溫度為計(jì)算方便，先計(jì)算出18℃時(shí)的Kd和Kda值，然后用下式可計(jì)算出任何地層溫度t℃時(shí)的Kda值。

擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kd和擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kda與絕對(duì)溫度T14⑷地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響地層水和泥漿濾液內(nèi)所含鹽類不同→所含離子不同

→離子價(jià)和遷移率均有差異，直接影響Kd和Kda值。

純砂巖井段，溶液中所含化學(xué)成分改變時(shí)，擴(kuò)散電位系數(shù)Kd隨之改變(下表)。因此，不同溶質(zhì)的溶液，即使在其它環(huán)境條件都相同的情況下，所產(chǎn)生的Kd值各異。

⑷地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響地層水和泥漿濾液內(nèi)15⑸地層電阻率的影響

●

井內(nèi)各部分電阻率相差不大且地層很厚：Usp≈SSP。

●

目的層電阻率很高時(shí)，△Usp＜SSP，

地層的電阻率越高，則△Usp越低?！鶕?jù)該特點(diǎn)可用SP幅度的差異定性地分辨油水層。⑹地層厚度的影響SP曲線的幅度△Usp隨著地層厚度變薄而減小，且曲線變得平緩。⑸地層電阻率的影響●井內(nèi)各部分電阻率相差不大且地層很16⑺井徑擴(kuò)大和侵入的影響

●井徑擴(kuò)大：使井的截面加大，等效電阻隨之減小，致使△Usp減小。

●泥漿侵入：使地層水和泥漿濾液的接觸面向地層內(nèi)部推移，→有侵入的滲透層井段△Usp比同樣滲透層沒(méi)有泥漿侵入(或侵入極淺)時(shí)所測(cè)△Usp要低；→侵入越深△Usp越低。2、影響自然電位異常幅度的因素⑺井徑擴(kuò)大和侵入的影響●井徑擴(kuò)大：使井的截面加大，等173、自然電位曲線應(yīng)用在判斷巖性、地層對(duì)比、劃分滲透層、計(jì)算地層水電阻率、估計(jì)泥質(zhì)含量及判斷水淹層等項(xiàng)工作中，目前都常使用自然電位測(cè)井資料。⑴劃分滲透性巖層⑵估計(jì)泥質(zhì)含量⑶確定地層水電阻率RW⑷判斷水淹層3、自然電位曲線應(yīng)用在判斷巖性、地層對(duì)比、劃分滲透層、計(jì)18⑴劃分滲透性巖層

在淡水泥漿的砂泥巖剖面中，SP曲線以大段泥巖層的SP曲線為基線，

●負(fù)異常井段可認(rèn)為是滲透性巖層，其中，純砂巖井段出現(xiàn)最大的負(fù)異常；

●含泥質(zhì)的砂巖負(fù)異常幅度較低，且隨泥質(zhì)含量的增多而異常幅度下降。3、自然電位曲線應(yīng)用⑴劃分滲透性巖層在淡水泥漿的砂泥巖剖面中，SP曲線以大19此外，△Usp還決定于砂巖滲透層孔隙中所含流體的性質(zhì)，一般含水砂巖的自然電位幅度

比含油砂巖的自然電位幅度要高。圖1-8砂巖層上部含油下部含水時(shí)自然電位曲線泥巖基線此外，△Usp還決定于砂巖滲透層孔隙中所含流體的性質(zhì)，一20識(shí)別出滲透層后，用“半幅點(diǎn)”法確定滲透層的界面位置。

●當(dāng)滲透層厚度滿足h/d＞4時(shí)，半幅點(diǎn)法是可信的，地層越厚精度越高。

●薄滲透層：用“半幅點(diǎn)”法劃分界面，所求地層厚度會(huì)產(chǎn)生偏高誤差。一般以微電極系或短電極距的視電阻率曲線為主配合自然電位曲線來(lái)劃分滲透層界面較為可靠。半幅點(diǎn)法示意圖識(shí)別出滲透層后，用“半幅點(diǎn)”法確定滲透層的界面位置。半幅21⑵估計(jì)泥質(zhì)含量一般把砂巖中所含的細(xì)粉砂和濕粘土的混合物叫泥質(zhì)。泥質(zhì)在砂巖中存在狀態(tài)有三種：分散泥質(zhì)、層狀泥質(zhì)、結(jié)構(gòu)泥質(zhì)。

泥質(zhì)含量及其存在狀態(tài)與砂巖井段產(chǎn)生的擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)有直接關(guān)系。因而用SP曲線可估計(jì)泥質(zhì)含量。

目前，常用方法是圖版法和計(jì)算法兩種。3、自然電位曲線應(yīng)用⑵估計(jì)泥質(zhì)含量一般把砂巖中所含的細(xì)粉砂和濕粘土的混合物22

對(duì)各種含泥質(zhì)砂巖取樣，測(cè)定其泥質(zhì)含量Qsh，然后繪制出Qsh與經(jīng)過(guò)巖層厚度和電阻率校正的SP幅度的關(guān)系曲線

--該地區(qū)確定砂巖滲透層泥質(zhì)含量圖版。讀取待解釋滲透層SP幅度△Usp，經(jīng)過(guò)SP-3圖版校正得到；用砂巖滲透層泥質(zhì)含量的圖版求出泥質(zhì)含量Qsh值。①

圖版法求泥質(zhì)含量對(duì)各種含泥質(zhì)砂巖取樣，測(cè)定其泥質(zhì)含量Qsh，然后繪制出Q23

每塊圖版是在Rxo/Rt(Rxo--沖洗帶電阻率，Rt--原狀地層電阻率)、Rs/Rm(Rs--圍巖電阻率，Rm--泥漿電阻率)取不同數(shù)值時(shí)，所作的△Usp/SSP與h/d關(guān)系曲線族；各圖版中曲線號(hào)：

Rt/Rm（無(wú)侵入)

Rxo/Rm(有侵入)

SP-3圖版無(wú)侵入有侵入--侵入帶直徑di與井徑d比值為5(di/d＝5)Rs/Rm=20Rxo=0.2Rt縱坐標(biāo)△Usp/SSPRs/Rm=5Rxo=RtRxo=5RtRs/Rm=1橫坐標(biāo)h/dRs/Rm=20Rs/Rm=5Rs/Rm=1每塊圖版是在Rxo/Rt(Rxo--沖洗帶電阻率，Rt24②

經(jīng)驗(yàn)公式估算泥質(zhì)含量當(dāng)砂巖中所含泥質(zhì)呈層狀分布形成砂泥質(zhì)交互層狀，泥質(zhì)和砂質(zhì)層的電阻率差別不大時(shí)，地層的泥質(zhì)含量可用下式計(jì)算。

PSP--含泥質(zhì)砂巖的自然電位幅度；SSP--本地區(qū)含水純砂巖的靜自然電位。②經(jīng)驗(yàn)公式估算泥質(zhì)含量PSP--含泥質(zhì)砂巖的自然電位幅度；25⑶確定地層水電阻率RW

評(píng)價(jià)油氣儲(chǔ)層時(shí)，經(jīng)常以巖層的孔隙度、含油飽和度等重要參數(shù)作依據(jù)。確定這些參數(shù)時(shí)，都需要地層水電阻率值。SP測(cè)井資料是確定地層水電阻率的常用方法之一。①厚含水層純凈砂巖層地層水電阻率RW②

溶液礦化度較高時(shí)地層水電阻率RW3、自然電位曲線應(yīng)用⑶確定地層水電阻率RW評(píng)價(jià)油氣儲(chǔ)層時(shí)，經(jīng)常以巖層的孔26在求地層水電阻率時(shí)，要選擇剖面中較厚的飽含水的純凈砂巖層，讀出該層的SP幅度△Usp，并根據(jù)泥漿資料確定泥漿濾液電阻率Rmf，根據(jù)下式可求出RW值--這對(duì)于低礦化度的地層水和泥漿濾液來(lái)說(shuō)，所得RW是正確的。Rmf--泥漿濾液電阻率Rw--地層水電阻率K—自然電位系數(shù)①厚含水層純凈砂巖地層水電阻率RW在求地層水電阻率時(shí)，要選擇剖面中較厚的飽含水的純凈砂巖27

地層水和泥漿濾液礦化度較高時(shí)，礦化度與溶液電阻率非線性關(guān)系，為了求取RW準(zhǔn)確值，引入“等效電阻率”概念（即不論溶液礦化度范圍，溶液的等效電阻率和溶液的礦化度總是保持線性關(guān)系），此時(shí)：

該式適用于任何礦化度的溶液，但求出的是地層水等效電阻率；之后用SP-2圖版求出RW。Rmfe--泥漿濾液等效電阻率Rwe--地層水等效電阻率K--自然電位系數(shù)②溶液礦化度較高時(shí)地層水電阻率RW地層水和泥漿濾液礦化度較高時(shí)，礦化度與溶液電阻率非線性關(guān)28確定地層水電阻率RW的一般步驟：Ⅰ)確定含水層的靜自然電位值SSPⅡ)確定泥漿濾液等效電阻率RmfeⅢ)確定Rw值確定地層溫度t確定地層溫度下的泥漿電阻率確定泥漿濾液電阻率Rmf確定Rmfe

確定地層水電阻率RW的一般步驟：Ⅰ)確定含水層的靜自然電29Ⅰ)確定含水層的靜自然電位值SSP選含水層相當(dāng)厚、無(wú)侵入，且目的層與圍巖和泥漿的電阻率相差不大時(shí)，可以直接讀出該含水層的自然電位幅度值△Usp近似作為SSP使用。

若含水層不能滿足上述條件，則必須對(duì)該層△Usp進(jìn)行厚度、電阻率和侵入校正得到SSP--使用SP-3圖版。

●

根據(jù)Rs/Rm、Rxo/Rt值選出與之最接近的一塊圖版；

●

用Rt/Rm(或Rxo/Rm)值在所選圖版中選一條曲線，

●

在橫坐標(biāo)上找目的層的h/d值，過(guò)該點(diǎn)作縱軸的平行線與選定曲線得一交點(diǎn)，該點(diǎn)的縱坐標(biāo)為校正系數(shù)△Usp/SSPⅠ)確定含水層的靜自然電位值SSP選含水層相當(dāng)厚、無(wú)侵30Ⅱ)確定泥漿濾液等效電阻率Rmfe

為確定Rmfe，必須知道地層溫度t和地層溫度下的泥漿電阻率，確定方法如下：

A、確定地層溫度t

根據(jù)目的層深度，用“估計(jì)地層溫度圖版”確定地層溫度。估計(jì)地層溫度圖版Ⅱ)確定泥漿濾液等效電阻率Rmfe為確定Rmfe，必31已知溶液礦化度C和溫度t時(shí)，在圖版上投點(diǎn)A(

，18℃)，若A點(diǎn)落到某條斜線上(該斜線號(hào)碼即為NaCl溶液礦化度)，沿該斜線下滑到溫度為地層溫度t的水平線與其相交，交點(diǎn)的橫坐標(biāo)讀數(shù)--地層溫度下的泥漿電阻率。B、確定地層溫度下的泥漿電阻率首先，在測(cè)井曲線圖頭上查出18℃時(shí)泥漿電阻率值

然后，利用“NaCl溶液電阻率與其濃度和溫度的關(guān)系圖版”求出。圖版中曲線號(hào)為溶液的濃度C（礦化度）。已知溶液礦化度C和溫度t時(shí)，在圖版上投點(diǎn)A(，32第節(jié)-巖性孔隙度測(cè)井系列課件33根據(jù)和泥漿密度用“估計(jì)Rmf和Rme圖版”確定Rmf，如泥漿密度1.32g/cm3

＝0.45Ω·m時(shí)，先在圖版中選定曲線號(hào)為1.32的曲線，后在縱軸找到0.45Ω·m點(diǎn)，過(guò)該點(diǎn)作平行于橫軸的直線與選定曲線相交，交點(diǎn)的橫坐標(biāo)讀數(shù)即為Rmf。

C、確定泥漿濾液電阻率Rmf估計(jì)Rmf和Rme圖版Rmf根據(jù)和泥漿密度用“估計(jì)Rmf和Rme圖版”確定Rm34用近似公式Rmf＝0.75計(jì)算得到Rmf。D、確定Rmfe

●如果泥漿濾波中只含有NaCl、溫度為75°F(24℃)，當(dāng)Rmf＞0.1Ω·m

→則Rmfe＝Rmf；

●如果Rmf＜0.1Ω·m，需用SP-2圖版求出Rmfe值。先用地層溫度t選擇一條曲線，然后在縱軸上找到Rmf點(diǎn)，過(guò)此點(diǎn)作水平線與選定曲線的交點(diǎn)的橫坐標(biāo)即為所求的Rmfe值。用近似公式Rmf＝0.75計(jì)算得到Rmf。D、確35RwRmfe

或RweRmfRwRmfe或RweRmf36Ⅲ)確定Rw值

●首先，用SP-1圖版求出地層水的等效電阻率Rwe。作法：用地層溫度t在圖版中選一條曲線，并在橫軸上找到目的層SSP值點(diǎn)，過(guò)此點(diǎn)作橫軸的垂線與選定的曲線相交，交點(diǎn)的縱坐標(biāo)即校正系數(shù)μ＝Rmfe/Rwe，

◆將第2步驟中確定的Rmfe值代入，Rwe＝Rmfe/μ；●然后，用SP-2圖版求出Rw值。②確定地層水電阻率RW的步驟：Ⅲ)確定Rw值●首先，用SP-1圖版求出地層水的等效電37μ＝Rmfe/RweRwRmfe

或Rweμ＝Rmfe/RweRwRmfe或Rwe38注意：利用SP測(cè)井資料求地層水電阻率的適用條件：

●

只適合于有一定滲透性的地層，

●

地層水中主要化學(xué)成分是NaCl，

●

泥漿電阻率不高，

●

自然電位中過(guò)濾電位可以忽略不計(jì)。

不適用：滲透率很低的地層、壓力枯竭的地層、很重的鉆井液等，有大的過(guò)濾電位存在。②確定地層水電阻率RW的步驟：注意：②確定地層水電阻率RW的步驟：39⑷判斷水淹層儲(chǔ)層何種部位被水淹取決于巖層各部分滲透性，一般規(guī)律是滲透性好的部分容易被水淹；利用測(cè)井資料判斷水淹層位及估計(jì)水淹程度是檢查注水效果的重要課題。3、自然電位曲線應(yīng)用目前，某些油田

●利用SP曲線上基線偏移確定水淹層位；

●并根據(jù)偏移量△Esp大小(原基線與偏移后基線間所的毫伏數(shù))

估計(jì)水淹程度。⑷判斷水淹層儲(chǔ)層何種部位被水淹取決于巖層各部分滲透性40統(tǒng)計(jì)資料表明：△Esp＞8mV--為高含水層；5mV＜△Esp＜8mV--為中含水層；△Esp＜5mV--低含水層或由巖性變化引起。

圖中展示了水淹層測(cè)井曲線，在自然電位測(cè)井曲線上、下部基線偏移，偏移量△Esp≈30mV屬于高含水層，經(jīng)射孔后得知其含水率達(dá)到99%。

水淹層測(cè)井曲線統(tǒng)計(jì)資料表明：圖中展示了水淹層測(cè)井曲線，在自然電位測(cè)井曲41二、伽馬測(cè)井1、自然伽馬測(cè)井測(cè)量地層放射性強(qiáng)度隨深度的變化曲線。GR與SP測(cè)井相配合能很好地劃分巖性和確定滲透性地層。自然伽馬測(cè)井曲線的應(yīng)用：⑴劃分巖性⑵進(jìn)行地層對(duì)比⑶估算地層中泥質(zhì)含量二、伽馬測(cè)井1、自然伽馬測(cè)井測(cè)量地層放射性強(qiáng)度隨深度的變42美國(guó)石油學(xué)會(huì)在休斯敦大學(xué)建立了自然伽馬刻度井--由3層模型地層組成：2個(gè)低放射性地層，中間為一個(gè)高放射性地層。各層的鈾、釷、鉀含量經(jīng)過(guò)精確測(cè)定，三者分別占總放射性量的19%、47%和34%。定義高放射性地層與低放射性地層讀數(shù)之差為200API單位，作為標(biāo)準(zhǔn)刻度單位。選擇孔隙度精確測(cè)定過(guò)的純灰?guī)r地層組成模型井，地層孔隙和井中充滿淡水，以此作為儀器的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)。如美國(guó)休斯敦大學(xué)的中子刻度井，把儀器零線與孔隙度為19%的印地安納石灰?guī)r井段測(cè)得的曲線偏轉(zhuǎn)幅度差值的1/1000定為一個(gè)中子測(cè)井單位--

API中子測(cè)井單位。關(guān)于API單位--美國(guó)石油學(xué)會(huì)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)單位。自然伽馬測(cè)井API單位中子測(cè)井API單位美國(guó)石油學(xué)會(huì)在休斯敦大學(xué)建立了自然伽馬刻度井--由343自然伽馬測(cè)井曲線的應(yīng)用：主要根據(jù)地層中泥質(zhì)含量變化引起GR曲線幅度變化區(qū)分不同巖性：⑴劃分巖性

●純石灰?guī)r、砂巖、白云巖、石膏、硬石膏，煤層、鹽巖等GR顯低值；●火山灰、泥巖顯示高值；

●含泥質(zhì)巖石自然伽馬顯示中等，并且隨泥質(zhì)含量增減而變化。自然伽馬測(cè)井響應(yīng)曲線自然伽馬測(cè)井曲線的應(yīng)用：主要根據(jù)地層中泥質(zhì)含量變化引起G44GR與Rt交會(huì)圖商58-5井1716.3～1720.3m，生物灰?guī)r1750.0～1760.0m，凝灰?guī)r1795.0～1805.0m，砂巖與泥巖泥巖砂巖生物灰?guī)r火山巖GR與Rt交會(huì)圖商58-5井泥巖砂巖生物灰?guī)r火山巖45GR-AC交會(huì)圖不同亞相帶測(cè)井值范圍不同商74-6井取心段1829～1838m，凝灰?guī)r商74-12井取心段1976～2008m，砂質(zhì)白云巖GR-AC交會(huì)圖商74-6井取心段1829～1838m，凝灰46商58-4井取芯段：1702.4～1732.4m主要為：火山角礫巖、凝灰?guī)r、生物灰?guī)rAC-COND交會(huì)圖商58-4井取芯段：1702.4～1732.4mAC-CON47

需要注意：對(duì)某一地區(qū)來(lái)說(shuō)，應(yīng)根據(jù)巖心分析結(jié)果與GR曲線進(jìn)行對(duì)比分析，找出地區(qū)性的規(guī)律，再應(yīng)用于自然伽馬曲線的解釋。一般情況下：●泥巖的GR幅度為75～150API單位，平均為100API單位；●硬石膏和純石灰?guī)r的GR幅度為15～20API單位；●白云巖和純砂巖的GR幅度為20～30API單位。需要注意：對(duì)某一地區(qū)來(lái)說(shuō)，應(yīng)根據(jù)巖心分析結(jié)果與GR曲線進(jìn)48第節(jié)-巖性孔隙度測(cè)井系列課件49①GR曲線幅度主要決定于地層中的放射性物質(zhì)，通常對(duì)于不同巖性GR曲線幅度較為穩(wěn)定--GR曲線與地層中所含流體性質(zhì)無(wú)關(guān)，地層水礦化度對(duì)其也沒(méi)什么影響。②對(duì)比的標(biāo)準(zhǔn)層易于選取--

通常用厚層泥巖作為標(biāo)準(zhǔn)層，進(jìn)行油田范圍或區(qū)域范圍內(nèi)的地層對(duì)比。③GR對(duì)泥質(zhì)含量、粒級(jí)反映較敏感→韻律性清晰。⑵進(jìn)行地層對(duì)比①GR曲線幅度主要決定于地層中的放射性物質(zhì)，通常對(duì)于不同50商16-2井、商74-16井火山巖期次劃分GRSPCOND周期性變化商16-2井、商74-16井火山巖期次劃分GR51樁45-1井韻律層劃分樁52⑶估算地層中泥質(zhì)含量GR目的--目的層GR幅度Grmax--純泥巖層GR幅度Grmin--純砂巖層GR幅度

①用GR相對(duì)幅度變化計(jì)算出泥質(zhì)含量指數(shù)IGR：

②用下式將IGR轉(zhuǎn)化為泥質(zhì)含量Vsh：

G--希爾奇指數(shù)，可根據(jù)實(shí)驗(yàn)室取心分析資料確定，北美第三系地層G＝3.7，老地層G＝2。

⑶估算地層中泥質(zhì)含量GR目的--目的層GR幅度①用GR532、自然伽馬能譜測(cè)井自然伽馬測(cè)井只能測(cè)量地層中放射性元素的總含量，無(wú)法分辨地層中含有什么樣的放射性元素；

自然伽馬能譜測(cè)井，可測(cè)量不同放射性元素放射出不同能量的伽馬射線，從而確定地層中含有何種放射性元素。1)自然伽馬能譜測(cè)井原理2)自然伽馬能譜測(cè)井的應(yīng)用2、自然伽馬能譜測(cè)井自然伽馬測(cè)井只能測(cè)量地層中放射性元素541)自然伽馬能譜測(cè)井原理

不同巖石的化學(xué)成分不同，其放射性物質(zhì)成分各異。

●泥巖地層主要成分為粘土礦物，粘土礦物所含的放射性元素如右表。1)自然伽馬能譜測(cè)井原理不同巖石的化學(xué)成分不同，其放射55

●純砂巖和碳酸鹽巖的放射性元素含量都低；

●當(dāng)水中含有易溶鈾元素，并在適宜條件下沉淀后，可形成高放射性滲透層--可用自然伽馬能譜測(cè)井劃分這些地層?！窦兩皫r和碳酸鹽巖的放射性元素含量都低；●當(dāng)水中56據(jù)實(shí)驗(yàn)室對(duì)鈾、釷、鉀放射伽馬射線能量測(cè)定，發(fā)現(xiàn)鉀放射的單色伽馬射線能量為1.46MeV；

鈾及其衰變產(chǎn)物放射的是多能譜伽馬射線，在高能區(qū)，1.76MeV的峰值明顯，易于鑒別。

釷及其衰變產(chǎn)物放射多能譜伽馬射線，其中2.62MeV峰值易于識(shí)別。鈾、釷、鉀放射的伽馬射線的能譜圖據(jù)實(shí)驗(yàn)室對(duì)鈾、釷、鉀放射伽馬射線能量測(cè)定，發(fā)現(xiàn)鉀放射的單57

●自然伽馬能譜側(cè)井能分別測(cè)量不同幅度的脈沖數(shù)，從而得出不同能量的伽馬射線能譜，用以測(cè)定不同的放射性元素。自然伽馬能譜測(cè)井與自然伽馬測(cè)井的主要差異：

●自然伽馬能譜測(cè)井根據(jù)測(cè)出的伽馬射線特征峰值，經(jīng)刻度，輸出的是U、Th、K三條曲線與一條總的自然伽馬曲線?！褡匀毁ゑR能譜側(cè)井能分別測(cè)量不同幅度的脈沖數(shù)，從而得出不582)自然伽馬能譜測(cè)井的應(yīng)用圖中4122～4220m井段是純石灰?guī)r，U、Th、K三條曲線顯示低異常，GR也顯示低異常；純石灰?guī)r泥巖，富含有機(jī)質(zhì)泥巖上、下兩層GR高值--泥巖。自然伽馬能譜曲線上，上部泥巖U顯高值，K稍高--富含有機(jī)質(zhì)。

下部泥巖K、Th含量均高，U含量也高但低于上部泥巖-→兩層泥巖性質(zhì)不同。①劃分巖性2)自然伽馬能譜測(cè)井的應(yīng)用圖中4122～4220m井段是59下圖中1600ft和1638ft處，GR曲線上顯示兩個(gè)尖峰，

似乎應(yīng)為兩個(gè)薄泥巖層；在自然伽馬能譜測(cè)井曲線中K、Th兩條曲線無(wú)顯示，而在U曲線顯示2個(gè)尖峰，與GR曲線吻合，表明不是泥巖層，應(yīng)為一滲透層--其U含量較高可能是溶有U的水運(yùn)移中沉淀下來(lái)。下圖中1600ft和1638ft處，GR曲線上顯示兩個(gè)尖峰，60據(jù)經(jīng)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)：

Th/U＞7時(shí)，主要為陸相泥巖和鋁土礦，是風(fēng)化完全、有氧化和淋濾作用的陸相沉積；

2＜Th/U＜7時(shí)，為海相沉積環(huán)境，巖性為灰色和綠色泥巖及雜砂巖；

Th/U＜2時(shí)，海相沉積，為黑色海相泥巖、石灰?guī)r及磷酸鹽巖。②利用Th/U比值曲線研究沉積環(huán)境據(jù)經(jīng)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)：②利用Th/U比值曲線研究沉積環(huán)境61

圖中畫(huà)出了不同礦物的分區(qū)帶，根據(jù)自然伽馬能譜測(cè)井得出的K、Th含量，即可鑒別地層含有粘土礦物。自然伽馬能譜測(cè)井的用途是可用來(lái)直接尋找放射性礦物。③用自然伽馬能譜測(cè)井區(qū)分粘土礦物K、Th含量鑒別粘土礦物的關(guān)系圖圖中畫(huà)出了不同礦物的分區(qū)帶，根據(jù)自然伽馬能譜測(cè)井得出的62X地區(qū)米1井2700-3400m井段釷-鉀比值交會(huì)圖表明：主要粘土礦物類型為蒙脫石、伊/蒙混層礦物和伊利石。蒙脫石混合粘土伊利石高嶺石綠泥石含釷重礦物X地區(qū)米1井2700-3400m井段釷-鉀比值交會(huì)圖表明：主63④用自然伽馬能譜測(cè)井尋找頁(yè)巖儲(chǔ)集層富含有機(jī)物的高放射性黑色頁(yè)巖，在局部地段有裂縫、燧石、粉砂或碳酸鹽巖夾層--可成為產(chǎn)油層，這種夾層在能譜測(cè)井曲線上的特點(diǎn)：鉀、釷含量低，鈾含量高。圖中5450ft～5510ft井段為富含有機(jī)質(zhì)的頁(yè)巖生油層。其局部地段有工業(yè)性油流產(chǎn)出--在NGS曲線上具有高鈾、低鉀、低釷的特征。頁(yè)巖儲(chǔ)集層在能譜曲線的特征④用自然伽馬能譜測(cè)井尋找頁(yè)巖儲(chǔ)集層富含有機(jī)物的高放射性64⑤尋找高放射性碎屑巖和碳酸鹽巖儲(chǔ)集層純的儲(chǔ)集層，其U、Th、K40的含量很低；當(dāng)這些巖石中含有高放射性礦物(如獨(dú)居石、鋯石等)時(shí)，純砂巖的U、Th、K含量會(huì)很高。

●圖中440ft～450ft間，顯示低鉀、高鈾、高釷，其高放射性為膨潤(rùn)土和凝灰?guī)r薄層造成，特點(diǎn)是釷含量很高?！裣虏康膸讉€(gè)高含鈾而鉀含量均不高的地層，為砂巖。高放射性砂巖地層測(cè)井曲線⑤尋找高放射性碎屑巖和碳酸鹽巖儲(chǔ)集層純的儲(chǔ)集層，其U65⑥用自然伽馬能譜測(cè)井研究生油層巖石中的有機(jī)物對(duì)鈾的富集起著重要作用，故可用自然伽馬能譜測(cè)井在縱向、橫向上，追蹤生油層和評(píng)價(jià)生油層的生油能力。圖中顯示：碳含量與鈾含量或U/K比存在線性關(guān)系，U或U/K比越高→有機(jī)碳越多，泥巖為生油巖且生油能力強(qiáng)。有機(jī)碳含量與U/K及U的關(guān)系A(chǔ)B⑥用自然伽馬能譜測(cè)井研究生油層巖石中的有機(jī)物對(duì)鈾的富集66⑦用自然伽馬能譜測(cè)井求取泥質(zhì)含量研究發(fā)現(xiàn)，地層中泥質(zhì)含量與釷或鉀的含量存在較好的線性關(guān)系，而與地層的鈾含量關(guān)系較小。一般用總計(jì)數(shù)率、釷含量、鉀含量的測(cè)井值計(jì)算泥質(zhì)含量。A、利用計(jì)數(shù)率求泥質(zhì)含量B、利用釷含量求泥質(zhì)含量C、利用鉀含量求泥質(zhì)含量⑦用自然伽馬能譜測(cè)井求取泥質(zhì)含量研究發(fā)現(xiàn)，地層中泥質(zhì)含67A、利用計(jì)數(shù)率求泥質(zhì)含量SVCT—用總計(jì)數(shù)率求出的泥質(zhì)含量指數(shù)SVCE—用總計(jì)數(shù)率求出的泥質(zhì)體積含量CTS—總計(jì)數(shù)率

GCUR—Hilchie指數(shù)CTSmin—純地層計(jì)數(shù)率CTSmax—泥巖總計(jì)數(shù)率泥質(zhì)含量指數(shù)泥質(zhì)體積含量A、利用計(jì)數(shù)率求泥質(zhì)含量SVCT—用總計(jì)數(shù)率求出的泥質(zhì)含量指68B、利用釷含量求泥質(zhì)含量SVTH--用釷含量求得的泥質(zhì)含量指數(shù)SVTE--用釷含量求得的泥質(zhì)體積含量Th--釷含量

Thmin--純地層釷含量Thmax--泥巖釷含量泥質(zhì)含量指數(shù)泥質(zhì)體積含量B、利用釷含量求泥質(zhì)含量SVTH--用釷含量求得的泥質(zhì)含量指69C、利用鉀含量求泥質(zhì)含量SVTH--用鉀含量求出的泥質(zhì)含量指數(shù)SVKE--用鉀含量求得的泥質(zhì)體積含量K40--鉀含量

K40min--純地層鉀含量K40max--泥巖鉀含量泥質(zhì)含量指數(shù)泥質(zhì)體積含量C、利用鉀含量求泥質(zhì)含量SVTH--用鉀含量求出的泥質(zhì)含量70⑧用自然伽馬能譜測(cè)井區(qū)分泥質(zhì)砂巖和云母利用釷和鉀的交會(huì)圖，可以給出三種組成礦物（石英、云母、泥質(zhì)）的百分含量。釷、鉀含量交會(huì)圖⑧用自然伽馬能譜測(cè)井區(qū)分泥質(zhì)砂巖和云母利用釷和鉀的交會(huì)71第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井二、伽馬測(cè)井(結(jié)束)三、聲波測(cè)井四、中子測(cè)井五、密度測(cè)井第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井721、自然電位測(cè)井：⑴自然電位產(chǎn)生的原因

⑵影響自然電位異常幅度的因素

⑶自然電位曲線的應(yīng)用

①劃分滲透性巖層

②

估計(jì)泥質(zhì)含量

③

確定地層水電阻率RW

④

判斷水淹層2、自然伽馬測(cè)井曲線的應(yīng)用：

⑴劃分巖性⑵進(jìn)行地層對(duì)比⑶估算地層中泥質(zhì)含量3、自然伽馬能譜測(cè)井的應(yīng)用

①劃分巖性②研究沉積環(huán)境③區(qū)分粘土礦物

④尋找頁(yè)巖儲(chǔ)集層⑥研究生油層⑦求取泥質(zhì)含量

⑧區(qū)分泥質(zhì)砂巖和云母1、自然電位測(cè)井：⑴自然電位產(chǎn)生的原因2、自然伽馬測(cè)井曲73第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井二、伽馬測(cè)井三、聲波測(cè)井四、中子測(cè)井五、密度測(cè)井第一章測(cè)井方法及其地質(zhì)響應(yīng)第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井第一章測(cè)井74三、聲波測(cè)井將一個(gè)受控聲波振源放入井中，聲源發(fā)出的聲波引起周圍質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)，在地層中產(chǎn)生體波--縱波和橫波；在井壁-鉆井液界面上產(chǎn)生誘導(dǎo)的界面波--偽瑞利波和斯通萊波。這些波作為地層信息的載體，被井下接收器接收，送至地面的記錄下來(lái)，即為聲波測(cè)井。

根據(jù)聲系(接收器、聲源的統(tǒng)稱)排列及尺寸的不同，聲波測(cè)井儀可分為補(bǔ)償聲波測(cè)井儀(BHC)、長(zhǎng)源距聲波測(cè)井儀(LSS)和陣列聲波測(cè)井儀。三、聲波測(cè)井將一個(gè)受控聲波振源放入井中，聲源發(fā)出的聲波引75由于地層巖石成分、結(jié)構(gòu)、孔隙中流體成分的變化，聲波在井內(nèi)地層中傳播時(shí)，波的速度、幅度甚至頻率都會(huì)發(fā)生變化。只記錄聲波速度變化的稱為聲速測(cè)井(AC)，

記錄聲幅度變化的稱為聲幅測(cè)井。●

聲速測(cè)井中短源聲系--僅記錄縱波(即首波)傳播時(shí)差；●

長(zhǎng)源距聲系--可記錄縱波、橫波、偽瑞利波、斯通萊波等各種波列的傳播時(shí)差，又稱為全波聲波測(cè)井。

●

陣列聲波儀--可記錄縱波聲速、全波列聲速，還可以記錄聲幅。由于地層巖石成分、結(jié)構(gòu)、孔隙中流體成分的變化，聲波在井內(nèi)761、陣列聲波測(cè)井的輸出顯示⑴縱波時(shí)差△tp

根據(jù)源距為8ft（2.4384m）和10ft的聲系可得出2種縱波時(shí)差--8ft源距的時(shí)差△tp，10ft長(zhǎng)源距時(shí)差△tlp

⑵橫波時(shí)差△tS

根據(jù)陣列聲波的波形，找出橫波首波，

即可計(jì)算出橫波時(shí)差△tS。⑶橫波時(shí)差△ts與縱波時(shí)差△tp的比值：⑷泊松比、縱波平均能量(幅度)、橫波平均能量(幅度)等1、陣列聲波測(cè)井的輸出顯示⑴縱波時(shí)差△tp根據(jù)源距77橫波首波波至可用如下方法識(shí)別：①根據(jù)縱波首波時(shí)間確定：一般地層條件下，縱波速度約為橫波速度的1.5～1.8倍--橫波首波滯后于縱波首波時(shí)間為(1.5～1.8)Tp。

②根據(jù)縱波首波與橫波間波峰數(shù)確定：相同源距條件下，縱波首波與橫波到達(dá)時(shí)間有一定范圍，通常約為5～9個(gè)波峰。

③同一地層，一般條件下縱波與橫波速度基本保持不變--利用波形圖中各縱波首波起始點(diǎn)聯(lián)線；再找出橫波首波起始點(diǎn)清楚處聯(lián)線，使其與縱波首起始點(diǎn)聯(lián)線近于平行--即可確定。

橫波首波波至可用如下方法識(shí)別：①根據(jù)縱波首波時(shí)間確定：一般782、聲波全波列信息采集依據(jù)到達(dá)接收探頭的先后分別為：滑行縱波(P波)滑行橫波(S波)偽瑞利波斯通萊波(ST)偽瑞利波斯通萊波縱波橫波聲波全波列的成分示意圖2、聲波全波列信息采集依據(jù)到達(dá)接收探頭的先后分別為：滑79聲波全波列各種波型在到時(shí)、振幅、頻率特性等方面各不相同。聲波全波列各種波型在到時(shí)、振幅、頻率特性等方面各不相同。803、聲波全波列測(cè)井資料解釋與應(yīng)用聲波全波列測(cè)井含有大量的地層聲學(xué)性質(zhì)，從而拓寬了聲波測(cè)井的應(yīng)用范圍，主要有以下應(yīng)用。1)估算地層孔隙度2)劃分巖性3)劃分含氣層4)判斷裂縫帶5)估算巖石力學(xué)的某些參數(shù)6)合成地震記錄7）檢測(cè)異常壓力和斷層3、聲波全波列測(cè)井資料解釋與應(yīng)用聲波全波列測(cè)井含有大量的811)估算地層孔隙度根據(jù)雷依曼(Raymer)平均時(shí)間修正公式，可以利用橫波時(shí)差估算地層孔隙度φ：△tmas—巖石骨架橫波時(shí)差△tf—孔隙中流體的時(shí)差m—經(jīng)驗(yàn)指數(shù)，與巖性有關(guān)，砂巖＝2，碳酸鹽巖＝2～2.2△tR—橫、縱波時(shí)差比值(△tR=△ts/△tp)，最好利用地區(qū)巖性統(tǒng)計(jì)資料，如巖性已知可用以下參考值：砂巖為1.58～1.78，含氣砂巖為1.6，石灰?guī)r為1.9，白云巖為1.8。1)估算地層孔隙度根據(jù)雷依曼(Raymer)平均時(shí)間822)劃分巖性相關(guān)實(shí)驗(yàn)及實(shí)際測(cè)井資料表明，橫波時(shí)差與縱波時(shí)差的比值與巖性密切相關(guān)，因此可以做△tP和△tS交會(huì)圖，圖中不同巖性分布范圍不同，由此可以確定巖性。利用縱波、橫波時(shí)差交會(huì)圖判別巖性2)劃分巖性相關(guān)實(shí)驗(yàn)及實(shí)際測(cè)井資料表明，橫波時(shí)差與縱波83沉積巖中的不同造巖礦物，其橫波時(shí)差與縱波時(shí)差比值有大致的變化范圍，因此當(dāng)巖性未知時(shí)，可參考下表數(shù)據(jù)來(lái)判斷巖性。沉積巖中的不同造巖礦物，其橫波時(shí)差與縱波時(shí)差比值有大致的84商58-4井取芯段：1702.4～1732.4m主要為：火山角礫巖、凝灰?guī)r、生物灰?guī)rAC-COND交會(huì)圖一般，依靠單一測(cè)井值很難確定巖性?？衫枚喾N參數(shù)的交會(huì)圖識(shí)別。商58-4井取芯段：1702.4～1732.4mAC-CON853)劃分含氣層

●儲(chǔ)集層含天然氣時(shí)，縱波速度明顯下降，如儲(chǔ)層巖性、物性基本相同時(shí)(φ＝25%～30%)，含氣層的縱波速度約低于水層縱波速度的40%；●

有時(shí)發(fā)生周波跳躍現(xiàn)象(即在含氣疏松地層情況下，地層大量吸收聲波能量，聲波發(fā)生較大的衰減，因而在聲波時(shí)差曲線上出現(xiàn)忽大忽小的幅度急劇變化現(xiàn)象)。3)劃分含氣層●儲(chǔ)集層含天然氣時(shí)，縱波速度明顯下降，如864)判斷裂縫帶

裂縫帶--縱、橫波幅度下降，可在全波列圖中看出。通常認(rèn)為：

垂直裂縫帶--縱波衰減明顯低于橫波衰減，

中到高角度裂縫帶--縱波衰減明顯大于橫波衰減；

低角度裂縫帶--縱波衰減又明顯低于橫波衰減。如果能與其他判斷裂縫的測(cè)井方法（如傾角測(cè)井方法等）綜合應(yīng)用，會(huì)得出更為準(zhǔn)確的結(jié)果。4)判斷裂縫帶裂縫帶--縱、橫波幅度下降，可在全波列圖875)估算巖石力學(xué)的某些參數(shù)⑴計(jì)算泊松比σ：⑵計(jì)算楊氏模量E：⑶計(jì)算切變模量μ：⑷計(jì)算體積模量k：⑸計(jì)算拉梅常數(shù)λ：5)估算巖石力學(xué)的某些參數(shù)⑴計(jì)算泊松比σ：⑵計(jì)算楊氏88聲速測(cè)井的發(fā)展一直同地震勘探有著密切的關(guān)系；使綜合勘探中地震與測(cè)井聯(lián)系的橋梁--通過(guò)縱向分辨率較高的測(cè)井約束和刻度標(biāo)定，使地震勘探解決部分開(kāi)發(fā)地質(zhì)問(wèn)題。合成地震記錄--利用已知測(cè)井資料(密度測(cè)井與聲波時(shí)差計(jì)算反射系數(shù)),通過(guò)數(shù)學(xué)方法模擬實(shí)際地震記錄的一項(xiàng)技術(shù),主要用途：鑒別反射波,識(shí)別多次波,建立地震模型.……優(yōu)化地震勘探設(shè)計(jì)、提高了采集及解釋精度、準(zhǔn)確標(biāo)定地質(zhì)層位.6)合成地震記錄，準(zhǔn)確標(biāo)定層位聲速測(cè)井的發(fā)展一直同地震勘探有著密切的關(guān)系；使綜合勘探中89唐7－12標(biāo)定結(jié)果Ng2Ed2Es1Es2Es3上唐7－12標(biāo)定結(jié)果Ng2Es2Es3上907）檢測(cè)異常壓力和斷層

①檢測(cè)異常壓力--前面已經(jīng)提過(guò)；②斷層--

●

壓性斷層--常發(fā)生重結(jié)晶作用或形成變質(zhì)礦物，使巖石更為致密、堅(jiān)硬，孔隙度、滲透性變差，使得聲波時(shí)差和幅度衰減變小。

●

張性斷層--疏松的角礫巖，裂縫發(fā)育，孔隙度、滲透性變好，使得聲波時(shí)差和幅度衰減變大。7）檢測(cè)異常壓力和斷層①檢測(cè)異常壓力--前面已經(jīng)提過(guò)；91第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列三、聲波測(cè)井

(結(jié)束)

重點(diǎn)：聲波全波列測(cè)井資料解釋與應(yīng)用1)估算地層孔隙度2)劃分巖性3)劃分含氣層4)判斷裂縫帶5)估算巖石力學(xué)的某些參數(shù)6)合成地震記錄(層位標(biāo)定)7）檢測(cè)異常壓力和斷層四、中子測(cè)井五、密度測(cè)井第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列三、聲波測(cè)井(結(jié)束)92贈(zèng)送精美圖標(biāo)贈(zèng)送精美圖標(biāo)931、字體安裝與設(shè)置如果您對(duì)PPT模板中的字體風(fēng)格不滿意，可進(jìn)行批量替換，一次性更改各頁(yè)面字體。在“開(kāi)始”選項(xiàng)卡中，點(diǎn)擊“替換”按鈕右側(cè)箭頭，選擇“替換字體”。（如下圖）在圖“替換”下拉列表中選擇要更改字體。（如下圖）在“替換為”下拉列表中選擇替換字體。點(diǎn)擊“替換”按鈕，完成。942、替換模板中的圖片模板中的圖片展示頁(yè)面，您可以根據(jù)需要替換這些圖片，下面介紹兩種替換方法。方法一：更改圖片選中模版中的圖片（有些圖片與其他對(duì)象進(jìn)行了組合，選擇時(shí)一定要選中圖片本身，而不是組合）。單擊鼠標(biāo)右鍵，選擇“更改圖片”，選擇要替換的圖片。（如下圖）注意：為防止替換圖片發(fā)生變形，請(qǐng)使用與原圖長(zhǎng)寬比例相同的圖片。941、字體安裝與設(shè)置如果您對(duì)PPT模板中的字體風(fēng)格不滿意，可進(jìn)94PPT放映設(shè)置PPT放映場(chǎng)合不同，放映的要求也不同，下面將例舉幾種常用的放映設(shè)置方式。讓PPT停止自動(dòng)播放1.單擊”幻燈片放映”選項(xiàng)卡，去除“使用計(jì)時(shí)”選項(xiàng)即可。讓PPT進(jìn)行循環(huán)播放1.單擊”幻燈片放映”選項(xiàng)卡中的“設(shè)置幻燈片放映”，在彈出對(duì)話框中勾選“循環(huán)放映，按ESC鍵終止”。95PPT放映設(shè)置PPT放映場(chǎng)合不同，放映的要求也不同，下面將例贈(zèng)送精美圖標(biāo)贈(zèng)送精美圖標(biāo)961、字體安裝與設(shè)置如果您對(duì)PPT模板中的字體風(fēng)格不滿意，可進(jìn)行批量替換，一次性更改各頁(yè)面字體。在“開(kāi)始”選項(xiàng)卡中，點(diǎn)擊“替換”按鈕右側(cè)箭頭，選擇“替換字體”。（如下圖）在圖“替換”下拉列表中選擇要更改字體。（如下圖）在“替換為”下拉列表中選擇替換字體。點(diǎn)擊“替換”按鈕，完成。972、替換模板中的圖片模板中的圖片展示頁(yè)面，您可以根據(jù)需要替換這些圖片，下面介紹兩種替換方法。方法一：更改圖片選中模版中的圖片（有些圖片與其他對(duì)象進(jìn)行了組合，選擇時(shí)一定要選中圖片本身，而不是組合）。單擊鼠標(biāo)右鍵，選擇“更改圖片”，選擇要替換的圖片。（如下圖）注意：為防止替換圖片發(fā)生變形，請(qǐng)使用與原圖長(zhǎng)寬比例相同的圖片。971、字體安裝與設(shè)置如果您對(duì)PPT模板中的字體風(fēng)格不滿意，可進(jìn)97PPT放映設(shè)置PPT放映場(chǎng)合不同，放映的要求也不同，下面將例舉幾種常用的放映設(shè)置方式。讓PPT停止自動(dòng)播放1.單擊”幻燈片放映”選項(xiàng)卡，去除“使用計(jì)時(shí)”選項(xiàng)即可。讓PPT進(jìn)行循環(huán)播放1.單擊”幻燈片放映”選項(xiàng)卡中的“設(shè)置幻燈片放映”，在彈出對(duì)話框中勾選“循環(huán)放映，按ESC鍵終止”。98PPT放映設(shè)置PPT放映場(chǎng)合不同，放映的要求也不同，下面將例第一章測(cè)井方法及其地質(zhì)響應(yīng)第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列第二節(jié)電阻率測(cè)井系列第三節(jié)地層傾角測(cè)井第四節(jié)成像測(cè)井方法第一章測(cè)井方法及其地質(zhì)響應(yīng)第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井99屬常規(guī)測(cè)井方法--主要是指目前在油氣勘探開(kāi)發(fā)中，探井、評(píng)價(jià)井、開(kāi)發(fā)井測(cè)井工程中都要測(cè)量的測(cè)井方法，即所謂“九條”曲線系列：

巖性、孔隙度測(cè)井系列電阻率測(cè)井系列地層傾角測(cè)井自然伽馬、自然電位、井徑三巖性曲線淺、中、深三電阻率曲線聲波、中子、密度三孔隙度曲線屬常規(guī)測(cè)井方法--主要是指目前在油氣勘探開(kāi)發(fā)中，探井、評(píng)價(jià)井100在地層復(fù)雜的情況下再加上地層傾角、自然伽馬能譜二項(xiàng)構(gòu)成所謂的“十一條曲線”，這也是測(cè)井地質(zhì)學(xué)研究所依靠的基本測(cè)井信息。這些測(cè)井方法從70年代的數(shù)字測(cè)井系列、到80年代的數(shù)控測(cè)井系列，直到90年代的成像測(cè)井系統(tǒng)(如5700和MAXIS-500)都保留著，也都是常測(cè)的項(xiàng)目。本章將簡(jiǎn)要介紹各種方法的測(cè)量信息、影響因素，所能解釋的地質(zhì)現(xiàn)象。重點(diǎn)：地質(zhì)響應(yīng)。在地層復(fù)雜的情況下再加上地層傾角、自然伽馬能譜二項(xiàng)構(gòu)成所101第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井二、伽馬測(cè)井三、聲波測(cè)井四、中子測(cè)井五、密度測(cè)井第一節(jié)巖性、孔隙度測(cè)井系列一、自然電位測(cè)井102一、自然電位測(cè)井鉆井中觀測(cè)到一種非人工產(chǎn)生的直流電位差，且可以毫伏級(jí)的精度記錄下來(lái)，人們稱之為自然電位。自然電位曲線可以作為劃分巖性、判斷儲(chǔ)層性質(zhì)的基本測(cè)井方法。1、自然電位產(chǎn)生的原因

1)擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)2)過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)2、影響自然電位異常幅度的因素

√3、自然電位曲線的應(yīng)用

√一、自然電位測(cè)井鉆井中觀測(cè)到一種非人工產(chǎn)生的直流電位差1031)擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)

●是鉆井液濾液與砂巖中地層水接觸的結(jié)果：鉆井液濾液和地層水都主要含NaCl，假設(shè)：

鉆井液濾液的濃度是Cmf，地層水濃度是CW；一般是CW＞Cmf，即地層中的Na+、CI-離子均由地層向鉆井液濾液方向擴(kuò)散；由于CI-的遷移速度比Na+快

→在地層水內(nèi)富集正電荷，鉆井液濾液中富集負(fù)電荷，→形成由于離子擴(kuò)散而產(chǎn)生的電動(dòng)勢(shì)--擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)。1、自然電位產(chǎn)生的原因1)擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)●是鉆井液濾液與砂巖中地層水接觸104●實(shí)驗(yàn)證明，純水砂巖的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)等于：aW--表示地層水的電化學(xué)活度(礦化度)，與含鹽量和化學(xué)成分有關(guān)amf--表示鉆井液濾液的電化學(xué)活度，與含鹽量和化學(xué)成分有關(guān)K1--擴(kuò)散電位系數(shù)，與溶液的成分和溫度有關(guān)

對(duì)于氯化鈉溶液，溫度為18℃時(shí)，K1值為-11.6mV礦化度較低時(shí)溶液的電阻率與其礦化度呈線性關(guān)系●實(shí)驗(yàn)證明，純水砂巖的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)等于：aW--表示地層水的105

式中：K2--泥巖的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)。對(duì)于NaCl溶液，在25℃時(shí)，K2＝59.1mV●

對(duì)于與純水砂巖相鄰的泥巖：泥質(zhì)顆粒對(duì)CI-離子選擇性吸附，CI-離子都被束縛在泥質(zhì)顆粒表面，不能自由移動(dòng)，只有Na+可在地層水中移動(dòng)。泥巖井壁上只發(fā)生Na+離子擴(kuò)散

→泥巖一方為負(fù)；井內(nèi)鉆井液一方為正：→形成擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)：式中：K2--泥巖的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)。●對(duì)于與純水砂1062）過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)

由于地層和鉆井液柱壓力差引起的過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)。在壓力差作用下，溶液通過(guò)毛細(xì)管時(shí)管壁吸附負(fù)離子，使溶液中正離子相對(duì)增長(zhǎng)，且同溶液一起向壓力低的一端移動(dòng)→在毛細(xì)管兩端：壓力低的一端帶正電，壓力高的一端帶負(fù)電→產(chǎn)生電位差--過(guò)濾電位。

只有地層壓力與鉆井液柱壓力相差懸殊、且在鉆井液未形成前，過(guò)濾電位才有較大顯示。一般情況下很小，常忽略不計(jì)。1、自然電位產(chǎn)生的原因低壓高壓2）過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)由于地層和鉆井液柱壓力差引起的過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)。107由于電動(dòng)勢(shì)E砂和E泥的存在，在井與砂巖和泥巖的接觸處，產(chǎn)生自然電流，該自然電流回路的總自然電動(dòng)勢(shì)為上述兩個(gè)電動(dòng)勢(shì)的代數(shù)和：(t=25℃)總自然電動(dòng)勢(shì)

E總：當(dāng)砂巖含泥質(zhì)時(shí)，擴(kuò)散吸附電位值：

kda--地層的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)從-11.6(純砂巖)變到+59.1(純泥巖)由于電動(dòng)勢(shì)E砂和E泥的存在，在井與砂巖和泥巖的接觸處，產(chǎn)1082、影響自然電位異常幅度的因素⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響⑵巖性的影響⑶溫度的影響⑷地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響⑸地層電阻率的影響⑹地層厚度的影響⑺井徑擴(kuò)大和侵入的影響2、影響自然電位異常幅度的因素⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度109⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響

地層水和泥漿濾液中含鹽量差異(礦化度)是造成自然電場(chǎng)中擴(kuò)散電位Ed和擴(kuò)散吸附電位Eda的基本原因。

(地層水濃度CW、泥漿濾液濃度Cmf)當(dāng)Cw＞Cmf時(shí)，SP曲線上砂巖層段出現(xiàn)負(fù)異常；當(dāng)Cw＜Cmf時(shí)，砂巖層段則出現(xiàn)正異常；當(dāng)Cw＝Cmf時(shí)，無(wú)造成自然電場(chǎng)的電動(dòng)勢(shì)產(chǎn)生。在一定的范圍內(nèi)Cw和Cmf差別大，

造成自然電場(chǎng)的電動(dòng)勢(shì)高，曲線變化明顯。2、影響自然電位異常幅度的因素⑴地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響地層水和泥漿濾液110⑵巖性的影響2、影響自然電位異常幅度的因素

在砂泥巖剖面中，SP曲線以泥巖為基線，只有在砂質(zhì)滲透性巖層處才出現(xiàn)SP曲線異常。目的層為較厚的純砂巖時(shí)，與圍巖之間的E總達(dá)到最大值即靜自然電位，此時(shí)SP曲線上出現(xiàn)最大的負(fù)異常幅度。在其它條件不變情況下，目的層含泥質(zhì)時(shí)，E總隨目的層泥質(zhì)含量增加而下降，所測(cè)曲線幅度也隨之減小。⑵巖性的影響2、影響自然電位異常幅度的因素在砂泥巖剖面111

擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kd和擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kda與絕對(duì)溫度T成正比，同樣條件的巖層由于埋藏深度不同，其溫度不同，因此Kd和Kda值有差別→導(dǎo)致同樣巖性的巖層，由于埋深不同，產(chǎn)生的SP曲線幅度有差異。⑶溫度的影響Kda/t=18℃為18℃時(shí)的擴(kuò)散吸附電位系數(shù)；t--地層溫度為計(jì)算方便，先計(jì)算出18℃時(shí)的Kd和Kda值，然后用下式可計(jì)算出任何地層溫度t℃時(shí)的Kda值。

擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kd和擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù)Kda與絕對(duì)溫度T112⑷地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響地層水和泥漿濾液內(nèi)所含鹽類不同→所含離子不同

→離子價(jià)和遷移率均有差異，直接影響Kd和Kda值。

純砂巖井段，溶液中所含化學(xué)成分改變時(shí)，擴(kuò)散電位系數(shù)Kd隨之改變(下表)。因此，不同溶質(zhì)的溶液，即使在其它環(huán)境條件都相同的情況下，所產(chǎn)生的Kd值各異。

⑷地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響地層水和泥漿濾液內(nèi)113⑸地層電阻率的影響

●

井內(nèi)各部分電阻率相差不大且地層很厚：Usp≈SSP。

●

目的層電阻率很高時(shí)，△Usp＜SSP，

地層的電阻率越高，則△Usp越低?！鶕?jù)該特點(diǎn)可用SP幅度的差異定性地分辨油水層。⑹地層厚度的影響SP曲線的幅度△Usp隨著地層厚度變薄而減小，且曲線變得平緩。⑸地層電阻率的影響●井內(nèi)各部分電阻率相差不大且地層很114⑺井徑擴(kuò)大和侵入的影響

●井徑擴(kuò)大：使井的截面加大，等效電阻隨之減小，致使△Usp減小。

●泥漿侵入：使地層水和泥漿濾液的接觸面向地層內(nèi)部推移，→有侵入的滲透層井段△Usp比同樣滲透層沒(méi)有泥漿侵入(或侵入極淺)時(shí)所測(cè)△Usp要低；→侵入越深△Usp越低。2、影響自然電位異常幅度的因素⑺井徑擴(kuò)大和侵入的影響●井徑擴(kuò)大：使井的截面加大，等1153、自然電位曲線應(yīng)用在判斷巖性、地層對(duì)比、劃分滲透層、計(jì)算地層水電阻率、估計(jì)泥質(zhì)含量及判斷水淹層等項(xiàng)工作中，目前都常使用自然電位測(cè)井資料。⑴劃分滲透性巖層⑵估計(jì)泥質(zhì)含量⑶確定地層水電阻率RW⑷判斷水淹層3、自然電位曲線應(yīng)用在判斷巖性、地層對(duì)比、劃分滲透層、計(jì)116⑴劃分滲透性巖層

在淡水泥漿的砂泥巖剖面中，SP曲線以大段泥巖層的SP曲線為基線，

●負(fù)異常井段可認(rèn)為是滲透性巖層，其中，純砂巖井段出現(xiàn)最大的負(fù)異常；

●含泥質(zhì)的砂巖負(fù)異常幅度較低，且隨泥質(zhì)含量的增多而異常幅度下降。3、自然電位曲線應(yīng)用⑴劃分滲透性巖層在淡水泥漿的砂泥巖剖面中，SP曲線以大117此外，△Usp還決定于砂巖滲透層孔隙中所含流體的性質(zhì)，一般含水砂巖的自然電位幅度

比含油砂巖的自然電位幅度要高。圖1-8砂巖層上部含油下部含水時(shí)自然電位曲線泥巖基線此外，△Usp還決定于砂巖滲透層孔隙中所含流體的性質(zhì)，一118識(shí)別出滲透層后，用“半幅點(diǎn)”法確定滲透層的界面位置。

●當(dāng)滲透層厚度滿足h/d＞4時(shí)，半幅點(diǎn)法是可信的，地層越厚精度越高。

●薄滲透層：用“半幅點(diǎn)”法劃分界面，所求地層厚度會(huì)產(chǎn)生偏高誤差。一般以微電極系或短電極距的視電阻率曲線為主配合自然電位曲線來(lái)劃分滲透層界面較為可靠。半幅點(diǎn)法示意圖識(shí)別出滲透層后，用“半幅點(diǎn)”法確定滲透層的界面位置。半幅119⑵估計(jì)泥質(zhì)含量一般把砂巖中所含的細(xì)粉砂和濕粘土的混合物叫泥質(zhì)。泥質(zhì)在砂巖中存在狀態(tài)有三種：分散泥質(zhì)、層狀泥質(zhì)、結(jié)構(gòu)泥質(zhì)。

泥質(zhì)含量及其存在狀態(tài)與砂巖井段產(chǎn)生的擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)有直接關(guān)系。因而用SP曲線可估計(jì)泥質(zhì)含量。

目前，常用方法是圖版法和計(jì)算法兩種。3、自然電位曲線應(yīng)用⑵估計(jì)泥質(zhì)含量一般把砂巖中所含的細(xì)粉砂和濕粘土的混合物120

對(duì)各種含泥質(zhì)砂巖取樣，測(cè)定其泥質(zhì)含量Qsh，然后繪制出Qsh與經(jīng)過(guò)巖層厚度和電阻率校正的SP幅度的關(guān)系曲線

--該地區(qū)確定砂巖滲透層泥質(zhì)含量圖版。讀取待解釋滲透層SP幅度△Usp，經(jīng)過(guò)SP-3圖版校正得到；用砂巖滲透層泥質(zhì)含量的圖版求出泥質(zhì)含量Qsh值。①

圖版法求泥質(zhì)含量對(duì)各種含泥質(zhì)砂巖取樣，測(cè)定其泥質(zhì)含量Qsh，然后繪制出Q121

每塊圖版是在Rxo/Rt(Rxo--沖洗帶電阻率，Rt--原狀地層電阻率)、Rs/Rm(Rs--圍巖電阻率，Rm--泥漿電阻率)取不同數(shù)值時(shí)，所作的△Usp/SSP與h/d關(guān)系曲線族；各圖版中曲線號(hào)：

Rt/Rm（無(wú)侵入)

Rxo/Rm(有侵入)

SP-3圖版無(wú)侵入有侵入--侵入帶直徑di與井徑d比值為5(di/d＝5)Rs/Rm=20Rxo=0.2Rt縱坐標(biāo)△Usp/SSPRs/Rm=5Rxo=RtRxo=5RtRs/Rm=1橫坐標(biāo)h/dRs/Rm=20Rs/Rm=5Rs/Rm=1每塊圖版是在Rxo/Rt(Rxo--沖洗帶電阻率，Rt122②

經(jīng)驗(yàn)公式估算泥質(zhì)含量當(dāng)砂巖中所含泥質(zhì)呈層狀分布形成砂泥質(zhì)交互層狀，泥質(zhì)和砂質(zhì)層的電阻率差別不大時(shí)，地層的泥質(zhì)含量可用下式計(jì)算。

PSP--含泥質(zhì)砂巖的自然電位幅度；SSP--本地區(qū)含水純砂巖的靜自然電位。②經(jīng)驗(yàn)公式估算泥質(zhì)含量PSP--含泥質(zhì)砂巖的自然電位幅度；123⑶確定地層水電阻率RW

評(píng)價(jià)油氣儲(chǔ)層時(shí)，經(jīng)常以巖層的孔隙度、含油飽和度等重要參數(shù)作依據(jù)。確定這些參數(shù)時(shí)，都需要地層水電阻率值。SP測(cè)井資料是確定地層水電阻率的常用方法之一。①厚含水層純凈砂巖層地層水電阻率RW②

溶液礦化度較高時(shí)地層水電阻率RW3、自然電位曲線應(yīng)用⑶確定地層水電阻率RW評(píng)價(jià)油氣儲(chǔ)層時(shí)，經(jīng)常以巖層的孔124在求地層水電阻率時(shí)，要選擇剖面中較厚的飽含水的純凈砂巖層，讀出該層的SP幅度△Usp，并根據(jù)泥漿資料確定泥漿濾液電阻率Rmf，根據(jù)下式可求出RW值--這對(duì)于低礦化度的地層水和泥漿濾液來(lái)說(shuō)，所得RW是正確的。Rmf--泥漿濾液電阻率Rw--地層水電阻率K—自然電位系數(shù)①厚含水層純凈砂巖地層水電阻率RW在求地層水電阻率時(shí)，要選擇剖面中較厚的飽含水的純凈砂巖125

地層水和泥漿濾液礦化度較高時(shí)，礦化度與溶液電阻率非線性關(guān)系，為了求取RW準(zhǔn)確值，引入“等效電阻率”概念（即不論溶液礦化度范圍，溶液的等效電阻率和溶液的礦化度總是保持線性關(guān)系），此時(shí)：

該式適用于任何礦化度的溶液，但求出的是地層水等效電阻率；之后用SP-2圖版求出RW。Rmfe--泥漿濾液等效電阻率Rwe--地層水等效電阻率K--自然電位系數(shù)②溶液礦化度較高時(shí)地層水電阻率RW地層水和泥漿濾液礦化度較高時(shí)，礦化度與溶液電阻率非線性關(guān)126確定地層水電阻率RW的一般步驟：Ⅰ)確定含水層的靜自然電位值SSPⅡ)確定泥漿濾液等效電阻率RmfeⅢ)確定Rw值確定地層溫度t確定地層溫度下的泥漿電阻率確定泥漿濾液電阻率Rmf確定Rmfe

確定地層水電阻率RW的一般步驟：Ⅰ)確定含水層的靜自然電127Ⅰ)確定含水層的靜自然電位值SSP選含水層相當(dāng)厚、無(wú)侵入，且目的層與圍巖和泥漿的電阻率相差不大時(shí)，可以直接讀出該含水層的自然電位幅度值△Usp近似作為SSP使用。

若含水層不能滿足上述條件，則必須對(duì)該層△Usp進(jìn)行厚度、電阻率和侵入校正得到SSP--使用SP-3圖版。

●

根據(jù)Rs/Rm、Rxo/Rt值選出與之最接近的一塊圖版；

●

用Rt/Rm(或Rxo/Rm)值在所選圖版中選一條曲線，

●

在橫坐標(biāo)上找目的層的h/d值，過(guò)該點(diǎn)作縱軸的平行線與選定曲線得一交點(diǎn)，該點(diǎn)的縱坐標(biāo)為校正系數(shù)△Usp/SSPⅠ)確定含水層的靜自然電位值SSP選含水層相當(dāng)厚、無(wú)侵128Ⅱ)確定泥漿濾液等效電阻率Rmfe

為確定Rmfe，必須知道地層溫度t和地層溫度下的泥漿電阻率，確定方法如下：

A、確定地層溫度t

根據(jù)目的層深度，用“估計(jì)地層溫度圖版”確定地層溫度。估計(jì)地層溫度圖版Ⅱ)確定泥漿濾液等效電阻率Rmfe為確定Rmfe，必129已知溶液礦化度C和溫度t時(shí)，在圖版上投點(diǎn)A(

，18℃)，若A點(diǎn)落到某條斜線上(該斜線號(hào)碼即為NaCl溶液礦化度)，沿該斜線下滑到溫度為地層溫度t的水平線與其相交，交點(diǎn)的橫坐標(biāo)讀數(shù)--地層溫度下的泥漿電阻率。B、確定地層溫度下的泥漿電阻率首先，在測(cè)井曲線圖頭上查出18℃時(shí)泥漿電阻率值

然后，利用“NaCl溶液電阻率與其濃度和溫度的關(guān)系圖版”求出。圖版中曲線號(hào)為溶液的濃度C（礦化度）。已知溶液礦化度C和溫度t時(shí)，在圖版上投點(diǎn)A(，130第節(jié)-巖性孔隙度測(cè)井系列課件131根據(jù)和泥漿密度用“估計(jì)Rmf和Rme圖版”確定Rmf，如泥漿密度1.32g/cm3

＝0.45Ω·m時(shí)，先在圖版中選定曲線號(hào)為1.32的曲線，后在縱軸找到0.45Ω·m點(diǎn)，過(guò)該點(diǎn)作平行于橫軸的直線與選定曲線相交，交點(diǎn)的橫坐標(biāo)讀數(shù)即為Rmf。

C、確定泥漿濾液電阻率Rmf估計(jì)Rmf和Rme圖版Rmf根據(jù)和泥漿密度用“估計(jì)Rmf和Rme圖版”確定Rm132用近似公式Rmf＝0.75計(jì)算得到Rmf。D、確定Rmfe

●如果泥漿濾波中只含有NaCl、溫度為75°F(24℃)，當(dāng)Rmf＞0.1Ω·m

→則Rmfe＝Rmf；

●如果Rmf＜0.1Ω·m，需用SP-2圖版求出Rmfe值。先用地層溫度t選擇一條曲線，然后在縱軸上找到Rmf點(diǎn)，過(guò)此點(diǎn)作水平線與選定曲線的交點(diǎn)的橫坐標(biāo)即為所求的Rmfe值。用近似公式Rmf＝0.75計(jì)算得到Rmf。D、確133RwRmfe

或RweRmfRwRmfe或RweRm