TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書

-.z.TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書V1.0關(guān)鍵詞：TYPEC、數(shù)據(jù)線摘要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?？s略語：范圍標(biāo)準(zhǔn)適用于TYPEATOC數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以TYPEC協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)V1.1為準(zhǔn)。編寫依據(jù)序號(hào)No.文件編號(hào)DocNo.文件名稱DocTitle1G1217電連接器試驗(yàn)方法2MIL-STD-202GTestmethodstandardelectronicandelectricalponentparts3GB/T3048電線電纜電性能試驗(yàn)方法4GB4098射頻電纜試驗(yàn)方法5EIA-364-101AttenuationTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems6EIA-364-106StandingWaveRatio(SWR)TestProcedureforElectricalConnectors7EIA-364-108Impedance,ReflectionCoefficient,ReturnLoss,andVSWRMeasuredintheTimeandFrequencyDomainTestProcedureforElectricalConnectors,CableAssembliesorInterconnectionSystems8GB5441.2工作電容試驗(yàn)-電橋法9EIA-364-103PropagationDelayTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems10IEC68-2-1根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：寒冷11GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法12IEC68-2-2根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：干熱13GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法14IEC68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉0020的15GB/T2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2局部：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉16ASTMG21StandardPracticeforDeterminingResistanceofSyntheticPolymericMaterialstoFungi17IEC61587-1Mechanicalstructuresforelectronicequipment―TestsforIEC60917andIEC60297―Part1Climaticmechanicaltestsandsafetyaspectsforcabinetsrackssubracksandchassis18GR487GenericRequirementsforElectronicEquipmentCabinets19IEC68-2-30根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db及導(dǎo)則：交變濕熱〔12＋12h循環(huán)〕20GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法21IEC68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2局部：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變〔氯化鈉溶液〕22GB/T2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2局部：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變〔氯化鈉溶液〕23IEC529Degreesofprotectionprovidedbyenclosure(IPcode)24GB4208外殼防護(hù)等級(jí)〔IP代碼〕25EIA-364-38BCablepull-outtestprocedureforelectricalconnectors26EIA-364-41CCablefle*ingtestprocedureforelectricalconnectors27IEC60950Safetyofinformationtechnologyequipment28EN60950Safetyofinformationtechnologyequipment29UL60950Safetyofinformationtechnologyequipment30GB4943信息技術(shù)設(shè)備的平安31IEC60332Testsonelectriccabiesunderfireconditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗(yàn)33UL1581Referencestandardforelecticalwires,cables,andfle*iblecords34GR1217Genericrequirementsforseparableelectricalconnectorsusedintelemunicationshardware35GR950GenericRequirementsforOpticalNetworkUnit(ONU)Closures36USBType-CCableandConnectorSpecificationV1.1數(shù)據(jù)線正常工作和存儲(chǔ)條件數(shù)據(jù)線應(yīng)能在以下條件下正常工作：3.1.1工作環(huán)境溫度：-20℃～+55℃；〔僅作單體驗(yàn)證目的，與整機(jī)匹配時(shí)以整機(jī)試驗(yàn)環(huán)境為準(zhǔn)〕；3.1.2相對(duì)濕度：5%～95%；3.1.3大氣壓力：86kPa～106kPa;3.1.4數(shù)據(jù)線的存儲(chǔ)溫度：-40℃～+85℃；數(shù)據(jù)線主要參數(shù)數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細(xì)尺寸以及工藝要求以3D圖檔為準(zhǔn)1、 typeC金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不能是折彎成型，不承受接縫；2、金屬插頭局部，要求做不銹鋼原色，外表噴砂處理:50u〞~150u〞MATTNICKELPLATINGOVERALL3、保證至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)格〔BOM清單,包括端子圖紙2D&可拆解版本的3D〕要有確認(rèn)才能認(rèn)可(認(rèn)證時(shí)必須提供以上文件)。線材主體信息：外觀5V/3AAplugTOCplug,cover式，白色半霧面,素材細(xì)咬花處理，MT11006主體構(gòu)造工程規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭局部顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold&Cable&Housing&其他輔料NON-PVC無鹵滿足ROSH,且無如下有害物質(zhì)添加:溴系阻燃劑BrominatedFlameRetardants氯系阻燃劑ChlorinatedFlameRetardants聚氯乙烯PolyvinylChloride(PVC)鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化銻AntimonyTrio*ide鈹及其化合物Beryllium(Be)anditspounds接口USBμBreceptacletoTYPECplug滿足5V3A其他應(yīng)符合5.2節(jié)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)VoltageRating:30VAC/DC導(dǎo)體材質(zhì)規(guī)格如下：材質(zhì)：鍍錫銅SignalNameWireGauge(AWG)VBUS/GND端到端阻抗不大于80mΩ絕緣材質(zhì)NON-PVC，須滿足5.2章節(jié)測(cè)試性能要求關(guān)鍵尺寸USB2.0Bplug參考協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)TYPECplug紅圈標(biāo)示尺寸為重點(diǎn)尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)要求各組件BOMLIST原材料信息需明確到具體牌號(hào)應(yīng)滿足TYPEC2.0規(guī)格鍍層厚度測(cè)試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測(cè)試區(qū)域和方法：TYPEC/A：TYPEC/A產(chǎn)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域?yàn)镻IN針頭部觸點(diǎn)，因此鍍層工藝為考慮本錢一般只覆蓋PIN針觸點(diǎn)位置，其他區(qū)域?yàn)閒lashAu,所以鍍層的量測(cè)范圍定義在PIN針觸點(diǎn)弧頂?shù)淖罡咛庡儗雍穸葹樵谟|點(diǎn)弧頂最高點(diǎn)0.5mm的范圍內(nèi)進(jìn)展測(cè)量，同一觸點(diǎn)在0.5mm范圍內(nèi)測(cè)量三次取平均值0.5mm0.5mm鍍層厚度為在觸點(diǎn)弧頂最高點(diǎn)0.5mm的范圍內(nèi)進(jìn)展測(cè)量，同一觸點(diǎn)在0.5mm范圍內(nèi)測(cè)量三次取平均值0.5mm0.5mm線序Table3-20USBType-CtoUSB2.0AMWiringUSBType-CPlugUSB2.0AMPinSignalNamePinSignalNameA1,B1,A12,B12GND4GNDA4,B4,A9,B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D?ShellShieldShellShieldNotes:1.PinA5(CC)oftheUSBType-CplugshallbeconnectedtoVBUSthrougharesistorRp.SeeSection4.5.3.2.2andTable4-13forthefunctionaldescriptionandvalueofRp.2.ContactsB6andB7shouldnotbepresentintheUSBType-Cplug.3.AllVBUSpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.BypasscapacitorsarenotrequiredfortheVBUSpinsatthiscable.4.AllGroundreturnpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.5.AllUSBType-Cplugpinsthatarenotlistedinthistableshallbeopen(notconnected).Table4-13DFPCCTermination(Rp)RequirementsDFPAdvertisementCurrentSourceto1.7–5.5VResistorpull-upto4.75–5.5VResistorpull-upto3.3V±5%DefaultUSBPower80μA±20%56kΩ±20%(Note1)36kΩ±20%1.5A5V180μA±8%22kΩ±5%12kΩ±5%3.0A5V330μA±8%10kΩ±5%4.7kΩ±5%Notes:1.ForRpwhenimplementedintheUSBType-CplugonaUSBType-CtoUSB3.1Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Micro-BReceptacleAdapterAssemblyoraUSBType-CcaptivecableconnectedtoaUSBhost,avalueof56kΩ±5%shallbeused,inordertoprovidetolerancetoIRdroponVBUSandGNDinthecableassembly.技術(shù)要求線材外觀要求線材外觀要求如下：外觀金屬插頭/pin腳檢查參照樣品和PDM圖紙檢驗(yàn)，線纜兩端插頭的構(gòu)造外型〔型號(hào)〕要求與樣品一致；插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形；用干布〔無塵布〕能擦除的臟污，允許；用干布〔無塵布〕不能擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超出1%〔不良數(shù)/樣本數(shù)〕時(shí)，提交不合格電子流確認(rèn)】插頭上不允許有油漬；5、劃痕L≤2mm,W≤0.1mm,用手觸摸無深度感，允收一條；6、USBA公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、USBA公插頭內(nèi)的連接器PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良；8、金屬插頭〔USBA公以及TYPEC公〕與注塑局部匹配正常，不允許歪斜，夾角90o±2.5o標(biāo)簽檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗(yàn)，標(biāo)簽上的印刷圖案和字體要求一致；2、標(biāo)簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位〔USBA公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜〕不允許缺膠、破損；2、合模線(毛邊)H≤0.2mm；3、水口位〔毛邊〕在不刺手的前提下，H≤1mm，可接收；4、壓痕L≤5mm，W≤0.2mm，USBA公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；5、點(diǎn)狀壓痕D≤1.5mm，USBA公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；線材外觀線材不允許有破損、漏銅；線材上不允許有臟污；點(diǎn)狀壓痕D≤2.5mm，DS≥25mm，允收6個(gè)；線狀壓痕L≤5mm，W≤1mm，DS≥25mm，允收3條；扎帶下的壓痕允許；5、有感刮傷：L≤5mm,W≤1mm，DS≥25mm，允收2條；無感刮傷：L≤30mm,W≤1mm，DS≥30mm，允收3條；未盡事宜參考"終端數(shù)據(jù)線檢驗(yàn)通用操作指導(dǎo)書"線材性能要求TestconditionTemperature：15℃to35℃Airpressure：86to106kPaRelativehumidity：25%to85%NOTestdescriptionTestprocedurePerformanceRelatedstandard1插拔耐久測(cè)試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能正常。測(cè)試前，測(cè)試后插拔力應(yīng)滿足要求，樣品外觀構(gòu)造、功能及電氣性能應(yīng)正常，允許端子接觸點(diǎn)外表有正常磨損，但不允許有物理損壞測(cè)試速度為12.5mm/分鐘以插入力和拔出力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，測(cè)試TYPEC端子插拔次數(shù)10000次〔正反方向各5000次，每2500次換一個(gè)方向〕做完25次插拔之后，插拔力變化不能超過33%A公插拔1500次測(cè)試完畢后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求EIA364-092插入力EIA364-131.插拔力測(cè)試儀器2.測(cè)試速度為12.5mm/分鐘3.單位為N插拔耐久測(cè)試前后：TypeC:插入力5～20N；USBAM:35N(MA*)EIA364-133拔出力EIA364-131.插拔力測(cè)試儀器2.測(cè)試速度為12.5mm/分鐘3.單位為N插拔耐久測(cè)試前后：TypeC:拔出力8～20NUSBAM:10N(Min)EIA364-134滾筒測(cè)試跌落高度1米，跌落次數(shù)150次，每50檢查一次，跌落速度參考值10-12次/分次〔以跌落在滾筒鐵板中心位置為準(zhǔn)〕測(cè)試后，樣品外觀、機(jī)械構(gòu)造應(yīng)正常，功能和電氣性能正應(yīng)常的5端子強(qiáng)度測(cè)試1.F1/F2(+/-Y)=50N，做到75N觀察損壞情況

F3,F4(+/-*)=50N

F5(+Z)=100N

F1和F2方向的測(cè)試均采用新樣品測(cè)試，F(xiàn)3-F5方向視情況進(jìn)展互用施力點(diǎn)為接口到SR處15mm〔從外殼平面量起15mm；如SR缺乏15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性缺乏以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置〕測(cè)試速度：5mm/min上下左右4個(gè)方向力量要求大于5.0Kg，插入方向要求大于10Kg，連接器不允許有失效，接口允許有可恢復(fù)的變形，數(shù)據(jù)線電氣性能正常；構(gòu)造無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型標(biāo)準(zhǔn):公頭鐵殼上掛重10kgf，持續(xù)時(shí)間1分鐘進(jìn)料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):公頭鐵殼上掛重6kgf，持續(xù)時(shí)間1分鐘兩端殼體都需要測(cè)試抗拉脫力，測(cè)試后兩端殼體不應(yīng)有脫落現(xiàn)象7端子強(qiáng)度耐久測(cè)試測(cè)試力：F1=F2=2kgf

測(cè)試次數(shù)：2000次/方向；施力點(diǎn)為接口到SR處15mm〔從靠近金屬頭尾部量起15mm。如SR缺乏15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性缺乏以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置〕；測(cè)試速度：10-15次/min數(shù)據(jù)線外觀構(gòu)造、功能及電氣性能應(yīng)正常，端子不應(yīng)有損壞或嚴(yán)重變形8端子鍍層膜厚膜厚測(cè)試儀。TypeC端/uB母座。最少樣品數(shù)量：每個(gè)端子3pcsTypeC/BplugPlatinggoldAu不小于30μ″,PlatingNi不小于80μ″9成品電阻測(cè)試1、CTOA測(cè)試2、屏蔽層測(cè)試殼對(duì)殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)1.1要求25℃時(shí)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：Vbus:0.135Ω最大GND：0.135Ω最大線材規(guī)格1M,電源22AWG10溫升測(cè)試TYPECVbus/GND通電5A(4對(duì)pin)，USBAM單VBUS/GND通電3ATYPEC/USBAM非電源pin腳通流0.25A；利用shield//GND回流，通流不低于3A25℃時(shí)測(cè)試溫度穩(wěn)定30分鐘后測(cè)試針對(duì)plug單體和cable組件整體的兩項(xiàng)測(cè)試均需滿足任意點(diǎn)溫升不允許超過30度USBType-CCableandConnectorSpecification11接觸阻抗LLCR是從REC焊接點(diǎn)的尾部到Plug焊點(diǎn),包括Plug端和Rec所有內(nèi)部的端子和PaddleCards*使用四線測(cè)試法*測(cè)試電壓20mV最大,電流100mA.VBUS/GND初始接觸阻抗30mΩ,其他pin初始接觸阻抗40mΩMa*最大,所有Pin環(huán)境測(cè)試后LCCR最大增量為10mΩ連接器13耐壓測(cè)試兩兩pin之間打〔含外殼〕認(rèn)證測(cè)試：100VAC/60s/0.5mA產(chǎn)線測(cè)試：100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩pin之間打〔含外殼〕認(rèn)證測(cè)試：300VDC60s100MΩ產(chǎn)線測(cè)試：300VDC/0.1s/10M?15高溫存儲(chǔ)轉(zhuǎn)接頭：〔70±2〕℃,24H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上,進(jìn)展測(cè)試連接器：〔105±2〕℃,120H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上,進(jìn)展測(cè)試部品外觀無損壞;線纜電氣性能正常16低溫存儲(chǔ)〔-40±2〕℃,120H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上,進(jìn)展測(cè)試樣品外觀無損壞;線纜電氣性能正常17溫度沖擊采用兩箱法，低溫-40℃，高溫70℃，上下溫各停留不少于20分鐘，最大轉(zhuǎn)換時(shí)間為20秒，10個(gè)循環(huán)。測(cè)試后，樣品外觀、機(jī)械構(gòu)造應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常18鹽霧測(cè)試5%NaCl,35℃,連續(xù)噴霧48小時(shí)〔針對(duì)pin針，uB鐵殼局部應(yīng)可承受至少24H連續(xù)噴霧〕，噴霧時(shí)接口需斜向下放置，確保鹽霧能進(jìn)入，但同時(shí)不能在接口中形成積水。然后移出進(jìn)展2小時(shí)晾干。試驗(yàn)后，樣品外觀應(yīng)無明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。VBUS/GND初始接觸阻抗30mΩ,其他pin初始接觸阻抗40mΩMa*最大,所有Pin環(huán)境測(cè)試后LCCR最大增量為10mΩ(僅針對(duì)連接器)EIA36419高溫高濕試驗(yàn)溫度〔70±2〕℃，濕度(85±3)%RH，進(jìn)展168小時(shí)樣品外觀無損壞;主要考察膠料和線料20交變濕熱25～55℃，相對(duì)濕度〔95±3〕％，168小時(shí)測(cè)試后，樣品外觀、機(jī)械構(gòu)造應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測(cè)試測(cè)試時(shí)間：7天,產(chǎn)品狀態(tài)：5天非配插，5天配插，溫濕度：70%RH，30℃,氣體種類：Cl2：10+/-3ppb,NO2:200+/-50ppb,H2S:10+/-5ppb,SO2:100+/-20ppb試驗(yàn)后，樣品外觀應(yīng)無明顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象，功能應(yīng)正常。VBUS/GND初始接觸阻抗30mΩ,其他pin初始接觸阻抗40mΩMa*最大,所有Pin環(huán)境測(cè)試后LCCR最大增量為10mΩ(僅針對(duì)連接器)連接器22耐化學(xué)溶劑測(cè)試將家用化學(xué)物品〔1.護(hù)手霜；2.防曬乳液；3.口紅；4.化裝粉底；5.驅(qū)蟲凍膠；6.食用油，所用化學(xué)用品型號(hào)或配方為我司終端現(xiàn)有用品〕涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(shí)后用水清洗掉家用化學(xué)品再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查2.將以下溶劑〔1.汽油；2.酒精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用化學(xué)用品型號(hào)或配方為我司終端現(xiàn)有用品〕涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(shí)〔汽油放置24小時(shí)〕后用水清洗掉溶劑再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查線纜、SR、殼體不會(huì)有明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測(cè)試耐UV輻照進(jìn)展1個(gè)循環(huán)為24小時(shí)的測(cè)試，具體為在干熱40℃下，太陽輻射強(qiáng)度為1120W/㎡，保持20小時(shí)，再關(guān)閉太陽輻射源4小時(shí)，試驗(yàn)持續(xù)循環(huán)96小時(shí)24EMC參考終端產(chǎn)品USB數(shù)據(jù)線充電線可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)V1.2EMCclassA標(biāo)準(zhǔn)CE/FCC25DifferentialImpedanceThistestensuresthattheD+/D?linesofthecableassemblyhavetheproperimpedance.Fortheentirecableassembly.75ohmsminand105ohmsma*.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10826PropagationDelayThepurposeofthetestistoverifytheend-to-endpropagationoftheD+/D?linesofthecableassembly.20nsma*.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10327Intra-pairSkewThistestensuresthatthesignalonboththeD+andD?linesofcableassemblyarriveatthereceiveratthesametime.100psma*.400psrisetime(20%-80%).EIA364–