標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12274.1-2012 有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器 第1部分：總規(guī)范》相比于《GB 12274-1990》，主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)體系結(jié)構(gòu)的調(diào)整：最顯著的變化是從單一的標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)變?yōu)橄盗袠?biāo)準(zhǔn)，新標(biāo)準(zhǔn)為“第1部分：總規(guī)范”，意味著后續(xù)可能還會(huì)有其他部分針對(duì)特定類型或應(yīng)用的詳細(xì)規(guī)定，這提高了標(biāo)準(zhǔn)的適用性和靈活性。

  2. 技術(shù)內(nèi)容的更新：鑒于科技進(jìn)步和市場(chǎng)需求的變化，新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)石英晶體振蕩器的技術(shù)要求、測(cè)試方法及質(zhì)量評(píng)定準(zhǔn)則進(jìn)行了修訂和完善，以適應(yīng)更廣泛的現(xiàn)代電子設(shè)備需求。例如，可能包括了更嚴(yán)格的頻率穩(wěn)定度、相位噪聲、老化率等性能指標(biāo)，以及增加了對(duì)新型振蕩電路設(shè)計(jì)的考量。

  3. 質(zhì)量評(píng)定體系的改進(jìn)：新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)質(zhì)量評(píng)定程序和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了優(yōu)化，旨在提供更為嚴(yán)格和全面的質(zhì)量控制指導(dǎo)。這可能涉及到了產(chǎn)品分級(jí)、可靠性測(cè)試要求的細(xì)化，以及引入了更先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）方法來確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性與可靠性。

  4. 國際標(biāo)準(zhǔn)的接軌：為了促進(jìn)國際貿(mào)易和技術(shù)交流，新標(biāo)準(zhǔn)在制定時(shí)參考了國際上的先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)踐，增強(qiáng)了與國際標(biāo)準(zhǔn)如IEC（國際電工委員會(huì)）相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的兼容性。這意味著在某些關(guān)鍵參數(shù)和技術(shù)要求上，新標(biāo)準(zhǔn)與國際通行標(biāo)準(zhǔn)保持一致或相近，便于產(chǎn)品在全球市場(chǎng)上的認(rèn)可和流通。

  5. 術(shù)語和定義的明確：隨著技術(shù)的發(fā)展，行業(yè)內(nèi)出現(xiàn)了許多新術(shù)語和概念。新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)相關(guān)術(shù)語進(jìn)行了更新和明確，有助于減少理解歧義，提升行業(yè)內(nèi)外溝通的效率和準(zhǔn)確性。

  6. 環(huán)境和安全要求的強(qiáng)化：考慮到環(huán)境保護(hù)和用戶安全，新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了對(duì)材料、制造過程及產(chǎn)品使用中環(huán)保和安全性的要求，比如限制有害物質(zhì)的使用、提高產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）等。


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....

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  • 2013-02-15 實(shí)施
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GB/T 12274.1-2012有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器第1部分：總規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡(jiǎn)介

ICS31140

L21.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T122741—2012

代替.

GB12274—1990

有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器

第1部分總規(guī)范

:

Quartzcrystalcontrolledoscillatorsofassessedquality—

Part1Genericsecification

:p

(IEC60679-1:2007,MOD)

2012-11-05發(fā)布2013-02-15實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T122741—2012

.

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語定義和一般信息……………………

3、3

質(zhì)量評(píng)定程序……………

412

試驗(yàn)和測(cè)量程序…………………………

515

附錄規(guī)范性附錄邏輯電平驅(qū)動(dòng)的負(fù)載電路………

A()57

附錄規(guī)范性附錄閂鎖試驗(yàn)…………

B()60

附錄資料性附錄靜電放電敏感度的分級(jí)…………

C()61

附錄資料性附錄本部分與技術(shù)性差異及其原因…………

D()IEC60679-1:200762

參考文獻(xiàn)……………………

63

GB/T122741—2012

.

前言

有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器分為以下幾個(gè)部分

GB/T12274《》:

第部分總規(guī)范

———1:;

第部分使用指南

———2:;

第部分分規(guī)范能力批準(zhǔn)

———3:;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范能力批準(zhǔn)

———3-1:;

第部分分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———4:;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———4-1:。

本部分為的第部分

GB/T122741。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器第部分總規(guī)范與

GB12274—1990《1:》,GB12274—

相比主要變化如下

1990,:

增加了條術(shù)語和定義

———34;

根據(jù)電子元器件質(zhì)量認(rèn)證的通用規(guī)定全面規(guī)定了質(zhì)量評(píng)定程序的細(xì)則

———,;

增加了條電性能測(cè)量方法個(gè)機(jī)械和環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目耐久性試驗(yàn)方法

———25、9、;

增加了附錄附錄附錄和附錄

———A、B、CD。

本部分使用重新起草法修改采用石英晶體振蕩器第部分總規(guī)范

IEC60679-1:2007《1:》。

本部分與相比存在技術(shù)性差異這些差異涉及的條款已通過在其外側(cè)頁邊空白

IEC60679-1:2007,

位置的垂直單線進(jìn)行了標(biāo)示附錄中給出了相應(yīng)技術(shù)性差異及其原因的一覽表

(|)。D。

本部分還作了下列編輯性修改

:

規(guī)范性引用文件和中刪除了和

———3.2.39ANSIT1.105.03、ANSIT1.101、TelcordiaGR-253

ETSIEN300462。

將第章的優(yōu)先順序調(diào)至第章

———2“”3。

圖中直線線條的位置有偏移將其修正到正確位置

———2,。

圖右上方補(bǔ)畫ff段的抖動(dòng)允差線

———83~4。

調(diào)幅頻率響應(yīng)中總失真的計(jì)算公式改為放在調(diào)幅失真中

———5.5.22.4“”5.5.22.3“”。

用公制線徑代替英制線規(guī)

———。

本部分用環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)代替對(duì)應(yīng)的它們?cè)诒静糠值囊弥袩o技

———GB/T2423IEC60068,

術(shù)性差異

。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC182)。

本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)壓電晶體分會(huì)中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

:、。

本部分主要起草人章怡姜連生李曉英

:、、。

本部分所代替規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB12274—1990。

Ⅰ

GB/T122741—2012

.

有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器

第1部分總規(guī)范

:

1范圍

的本部分規(guī)定了采用能力批準(zhǔn)程序或鑒定批準(zhǔn)程序評(píng)定質(zhì)量的石英晶體振蕩器的試

GB/T12274

驗(yàn)方法和通用性要求

。

本部分適用于采用能力批準(zhǔn)程序或鑒定批準(zhǔn)程序評(píng)定質(zhì)量的石英晶體振蕩器

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

2:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)交變濕熱

GB/T2423.4—20082:Db

循環(huán)

(12h+12h)(IEC60068-2-30:2005,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則沖擊

GB/T2423.5—1995:Ea:(idt

IEC60068-2-27:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則碰撞

GB/T2423.6—1995:Eb:(idt

IEC60068-2-29:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)自由跌落

GB/T2423.8—1995:Ed:(idt

IEC60068-2-32:1990)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)振動(dòng)正弦

GB/T2423.10—20082:Fc:()

(IEC60068-2-6:1995,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速

GB/T2423.15—20082

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