標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 14056.1-2008 表面污染測定 第1部分:β發(fā)射體(Eβmax>0.15 MeV)和α發(fā)射體》相比于其前身《GB/T 14056-1993 表面污染測定 第一部分:β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
-
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)與結(jié)構(gòu)變化:新標(biāo)準(zhǔn)采用了更加國際化的編號(hào)體系,由原先的四位數(shù)字年份后綴改為點(diǎn)號(hào)分隔的多位數(shù)字,同時(shí)明確分為不同部分,便于未來擴(kuò)展和修訂。這反映了標(biāo)準(zhǔn)體系向國際標(biāo)準(zhǔn)接軌的努力。
-
技術(shù)內(nèi)容更新:雖然基本測量對(duì)象——β發(fā)射體(Eβmax>0.15 MeV)和α發(fā)射體保持一致,但2008版標(biāo)準(zhǔn)可能納入了近年來在放射性測量技術(shù)、安全標(biāo)準(zhǔn)及環(huán)境保護(hù)要求方面的最新研究成果,提高了檢測精度和安全性要求。具體可能包括更先進(jìn)的檢測方法、更嚴(yán)格的限量標(biāo)準(zhǔn)或是對(duì)測量不確定度評(píng)估的詳細(xì)指導(dǎo)。
-
術(shù)語和定義:隨著科學(xué)進(jìn)步,相關(guān)專業(yè)術(shù)語可能有所更新或增補(bǔ),以更好地適應(yīng)行業(yè)實(shí)踐和國際交流。新版標(biāo)準(zhǔn)中可能會(huì)對(duì)一些關(guān)鍵概念給出更準(zhǔn)確、清晰的定義,減少理解歧義。
-
測試方法與儀器:考慮到科技進(jìn)步,2008版標(biāo)準(zhǔn)可能推薦或規(guī)定了新的測量技術(shù)和儀器設(shè)備,這些新技術(shù)可能提高了檢測效率,降低了操作復(fù)雜度,或者增強(qiáng)了對(duì)環(huán)境因素的抗干擾能力。
-
質(zhì)量控制與質(zhì)量保證:為了確保測量結(jié)果的可靠性和可比性,新標(biāo)準(zhǔn)可能強(qiáng)化了質(zhì)量控制措施和實(shí)驗(yàn)室間比對(duì)的要求,包括但不限于校準(zhǔn)程序、數(shù)據(jù)處理規(guī)則及實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)證等方面的規(guī)定。
-
安全與防護(hù):鑒于對(duì)人員健康和環(huán)境安全的更高重視,新標(biāo)準(zhǔn)可能加強(qiáng)了在樣品處理、廢棄物處置及個(gè)人防護(hù)裝備使用方面的指導(dǎo)原則,確保檢測活動(dòng)符合最新的安全標(biāo)準(zhǔn)。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2008-07-02 頒布
- 2009-04-01 實(shí)施



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GB/T 14056.1-2008表面污染測定第1部分:β發(fā)射體(Eβmax>0.15 MeV)和α發(fā)射體-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
犐犆犛17.240
犉74
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜14056.1—2008
代替GB/T14056—1993
表面污染測定
第1部分:β發(fā)射體(犈β犿犪狓>0.15犕犲犞)
和α發(fā)射體
犈狏犪犾狌犪狋犻狅狀狅犳狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀—
犘犪狉狋1:犅犲狋犪犲犿犻狋狋犲狉狊(犿犪狓犻犿狌犿犫犲狋犪犲狀犲狉犵狔犵狉犲犪狋犲狉狋犺犪狀0.15犕犲犞)
犪狀犱犪犾狆犺犪犲犿犻狋狋犲狉狊
(ISO7503.1:1988,MOD)
20080702發(fā)布20090401實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書
犌犅/犜14056.1—2008
前言
GB/T14056《表面污染測定》包括下列3個(gè)部分:
———第部分:發(fā)射體()和發(fā)射體;
1β犈βmax>0.15MeVα
———第2部分:氚表面污染;
———第部分:同質(zhì)異能躍遷和電子俘獲發(fā)射體、低能發(fā)射體()。
3β犈βmax<0.15MeV
本部分是GB/T14056的第1部分,本部分修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO7503.1:1988《表面污染測
定———第1部分:β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體》。
本部分與ISO7503.1:1988主要技術(shù)性差異如下:
———ISO7503.1:1988引用的其他國際標(biāo)準(zhǔn)中由相應(yīng)的我國標(biāo)準(zhǔn)代替(見第2章);
———增加了我國標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于表面污染控制水平的規(guī)定(4.2.1)。
為便于使用,本部分做了下列修改:
———“ISO7503的本部分”改為“GB/T14056的本部分”;
———用小數(shù)點(diǎn)“.”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)“,”;
———有的條款的段落增加了條的編號(hào)。
本部分代替GB/T14056—1993《表面污染測定第1部分:β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)
和α發(fā)射體》,本部分與GB/T14056—1993相比主要變化如下:
———對(duì)原文中少數(shù)條款的表述進(jìn)行了修改;
———恢復(fù)了GB/T14056—1993相對(duì)于ISO7503.1:1988刪去的部分,包括4.2.3.6的注,5.6的
注3、注4、注5,A.2的最后一款。
本部分的附錄A為規(guī)范性附錄。
本部分由中國核工業(yè)集團(tuán)公司提出。
本部分由全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC58)歸口。
本部分起草單位:核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。
本部分主要起草人:高米力,張立波。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T14056—1993。
Ⅰ
書
犌犅/犜14056.1—2008
表面污染測定
第1部分:β發(fā)射體(犈β犿犪狓>0.15犕犲犞)
和α發(fā)射體
1范圍
GB/T14056的本部分規(guī)定了測定β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體表面污染
的方法。
本部分適用于以單位面積放射性活度表示的設(shè)備、設(shè)施、放射性物質(zhì)的容器以及密封源的表面污染
測定。
本部分僅限于符合下述條件的β發(fā)射體和α發(fā)射體:
a)β粒子加單能電子的粒子產(chǎn)生率為每100次衰變發(fā)射出接近100個(gè)粒子;
b)α粒子的粒子產(chǎn)生率為每100次衰變發(fā)射出接近100個(gè)粒子。
β發(fā)射體詳見附錄A中表A.3。
本部分不適用于皮膚和工作服的污染測定。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T14056的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本
部分。
GB/T5202輻射防護(hù)儀器α、β和α/β(β能量大于60keV)污染測量儀與監(jiān)測儀(GB/T5202—
2008,IEC60325:2002,IDT)
GB/T12128用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測儀的參考源β發(fā)射體和α發(fā)射體(GB/T12128—1989,
neqISO8769:1986)
GB18871電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于GB/T14056的本部分。
3.1
表面污染狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀
表面具有放射性物質(zhì)的污染。
3.2
固定的表面污染犳犻狓犲犱狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀
在正常工作條件下以不可轉(zhuǎn)移的方式附著在表面的污染。
注:“
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