GB/T 15078-2008貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法

犐犆犛７７．１２０．９９

犎６８

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１５０７８—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１５０７８—１９９４

貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻

的測(cè)量方法

犜犲狊狋犻狀犵犿犲狋犺狅犱犳狅狉犮狅狀狋犪犮狋狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲狅犳狆狉犲犮犻狅狌狊犿犲狋犪犾狊

犲犾犲犮狋狉犻犮犪犾犮狅狀狋犪犮狋犿犪狋犲狉犻犪犾狊

２００８０３３１發(fā)布２００８０９０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜１５０７８—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１５０７８—１９９４《貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法》。

本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比，主要變化如下：

———用于測(cè)量裝置的直流電源、電位器、可調(diào)電阻，采用直流恒流源替代，優(yōu)化了測(cè)量線路；

———試樣的表面清潔處理更合理、科學(xué)。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)由貴研鉑業(yè)股份有限公司負(fù)責(zé)起草。

本標(biāo)準(zhǔn)由昆明貴研金峰科技有限公司參加起草。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：吳慶偉、黃韶華、馬駿、朱武勛。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１５０７８—１９９４。

Ⅰ

書(shū)

犌犅／犜１５０７８—２００８

貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻

的測(cè)量方法

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬及其合金電觸點(diǎn)材料（靜態(tài)）接觸電阻的測(cè)量方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬及其合金電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量。其他金屬及合金電觸點(diǎn)材料也可參照

使用。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ８１７０數(shù)值修約規(guī)則

３術(shù)語(yǔ)和定義

本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義。

３．１

靜態(tài)接觸狊狋犪狋犻犮犮狅狀狋犪犮狋

觸點(diǎn)相互靜止接觸、無(wú)連續(xù)性的離合動(dòng)作。

３．２

收縮電阻犮狅狀狊狋狉犻犮狋犻狅狀狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

電流通過(guò)接觸面時(shí)，因電流線急劇收縮而產(chǎn)生的電阻增量。

３．３

膜電阻犿犲犿犫狉犪狀犲狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

觸點(diǎn)表面膜所產(chǎn)生的電阻。

３．４

接觸電阻犮狅狀狋犪犮狋狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

電流通過(guò)觸點(diǎn)時(shí)在接觸處產(chǎn)生的電阻。它是收縮電阻與膜電阻之和。

３．５

體積電阻犫狌犾犽狉犲狊犻狊狋犪狀犮犲

觸點(diǎn)材料自身的電阻。其數(shù)值與材料的電阻率和幾何尺寸有關(guān)。

３．６

探頭狆狉狅犫犲

測(cè)量試樣接觸電阻的一種