標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 16517-1996 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),專注于石英晶體元件的質(zhì)量評定體系。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了電子元器件中石英晶體元件的鑒定批準(zhǔn)流程及要求,具體分為以下幾個方面:

  1. 適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)的第三部分特別針對石英晶體元件的質(zhì)量評定,明確了在電子元器件制造和應(yīng)用領(lǐng)域中,如何進行這些元件的鑒定與批準(zhǔn)工作,以確保其性能和可靠性滿足既定標(biāo)準(zhǔn)。

  2. 術(shù)語和定義:首先,標(biāo)準(zhǔn)會介紹相關(guān)的專業(yè)術(shù)語及其定義,幫助讀者準(zhǔn)確理解后續(xù)內(nèi)容中的專業(yè)表述。

  3. 分規(guī)范要求:這部分是標(biāo)準(zhǔn)的核心,詳細(xì)闡述了石英晶體元件在鑒定批準(zhǔn)過程中的具體技術(shù)要求和測試方法。這包括但不限于元件的物理特性、電性能參數(shù)(如頻率穩(wěn)定性、負(fù)載電容等)、環(huán)境適應(yīng)性(溫度、濕度、振動等)以及老化特性等的評估標(biāo)準(zhǔn)。

  4. 鑒定程序:標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了從樣品選取、檢驗項目確定、測試執(zhí)行到結(jié)果判定的整個鑒定流程。這涉及樣品準(zhǔn)備、測試環(huán)境條件、測試設(shè)備的精度要求以及數(shù)據(jù)處理方法等。

  5. 批準(zhǔn)準(zhǔn)則:基于測試結(jié)果,標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定了合格與不合格的判斷標(biāo)準(zhǔn)。只有當(dāng)石英晶體元件的各項性能指標(biāo)均達到或超過規(guī)定的最低要求時,才能獲得批準(zhǔn),意味著其符合行業(yè)或國家標(biāo)準(zhǔn),可用于生產(chǎn)制造和市場銷售。

  6. 記錄與報告:強調(diào)了在整個鑒定過程中,詳細(xì)記錄測試數(shù)據(jù)和觀察結(jié)果的重要性,并規(guī)定了報告的格式和內(nèi)容,確保鑒定信息的完整性和可追溯性。

  7. 監(jiān)督與復(fù)審:標(biāo)準(zhǔn)還可能包括對已批準(zhǔn)產(chǎn)品的后續(xù)監(jiān)督機制以及定期復(fù)審的規(guī)定,以保證產(chǎn)品質(zhì)量的持續(xù)穩(wěn)定。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-09-09 頒布
  • 1997-05-01 實施
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GB/T 16517-1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第3部分:分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)_第1頁
GB/T 16517-1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第3部分:分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)_第2頁
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文檔簡介

ICS31.020L21中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/t16517-1996idtiec1178-3:1993QC680200石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第3部分:分規(guī)范簽定批準(zhǔn)Quartzcrystalunits-AspeciicationintheQualityAssessmentSystemforElectronicComponentsPart3:Sectionalspecification--Qualificationapproval一1996-09-09發(fā)布1997-05-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T16517-1996二前言IEC前言1總則1.1范圍6600666006000060661.2引用標(biāo)準(zhǔn)2優(yōu)先額定值和詳細(xì)規(guī)范制定導(dǎo)則2.1、優(yōu)先額定值和特性·2.2詳細(xì)規(guī)范應(yīng)給出的內(nèi)容3質(zhì)質(zhì)量評定程序監(jiān)定批準(zhǔn)的條件3.13.2結(jié)構(gòu)類似3.3證明合格的試驗記錄3.4簽定批準(zhǔn)3.5,質(zhì)量一致性檢驗

GB/T16517-1996前.IEC1178-3:1993ECQ規(guī)范第3部分:分規(guī)范本標(biāo)準(zhǔn)等同采用《石英晶體元件鑒定批QC680200淮》、本標(biāo)準(zhǔn)的上層標(biāo)準(zhǔn)是GB/T12273一1996《石英品體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第1部分:總規(guī)范》。這樣,使我國石英晶體元件國家標(biāo)準(zhǔn)與IC電子元器件質(zhì)量評定體系中標(biāo)準(zhǔn)相一致,以適應(yīng)此領(lǐng)域中國際技術(shù)交流和經(jīng)濟貿(mào)易在來迅速發(fā)展的需要,便于我國生產(chǎn)的這類產(chǎn)品進行質(zhì)量認(rèn)證并進入國際市場本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:國營華星無線電器材廠。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:管興明、孫建華

GB/T16517-1996IEC前音1)IEC(國際電工委員會)是由各國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織IC的目的是促進電工電子領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化問題的國際合作。為此目的,除其他活動外,IEC發(fā)布國際標(biāo)準(zhǔn).國際標(biāo)準(zhǔn)的制定由技術(shù)委員會承扭,對所涉及內(nèi)容關(guān)切的任何亞C國家委員會均可參加國際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。與IEC有聯(lián)系的任何國際、政府和非官方組織也可以參加國際標(biāo)準(zhǔn)的制定。IEC與國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)根據(jù)兩組織間協(xié)商確定的條件保持密切的合作關(guān)系。2)IEC在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議是由對這些間題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的,對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。33)這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報告或?qū)t的形式發(fā)布,以推薦的形式供國際上使用,并在此意義上,為各國家委員會認(rèn)可。4)為了促進國際上的統(tǒng)一,各IEC國家委員會有責(zé)任使其國家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)盡可能采用IEC標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何差異均應(yīng)在國家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中指明。國際標(biāo)準(zhǔn)IEC1178-3是由IC第49技術(shù)委員會(頻率控制和選擇用壓電與介電器件)制定的本標(biāo)準(zhǔn)的部分技術(shù)內(nèi)容依據(jù)IEC122-1制定。本標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成IECQ石英晶體元件規(guī)范第3部分:分規(guī)范·鑒定批準(zhǔn)。IEC1178-1構(gòu)成總規(guī)范。IEC1178-2構(gòu)成分規(guī)范:能力批準(zhǔn)。IEC1178-2-1構(gòu)成空白詳細(xì)規(guī)范:能力批準(zhǔn)IEC1178-3-1構(gòu)成空白詳細(xì)規(guī)范:鑒定批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù):國際標(biāo)準(zhǔn)草案表決報告49(C0)22949(C0)243表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報告中查閱本標(biāo)準(zhǔn)封面上的QC號是IECQ規(guī)范號。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范鑒定批準(zhǔn)GB/T16517-1996第3部分:分規(guī)范idtIEc1178-3,1993QC680200Quartzcrystalunits-AspecificationintheOualityyAssessmentSystemforElectronicComponentsPart3:Sectionalspecification一ualificationapproval1總則1.1范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于以鑒定批準(zhǔn)為基礎(chǔ)的石英品體元件的質(zhì)量評定本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了總規(guī)范GB/T12273一1996(idtIEC1178-1:1993)中給定的優(yōu)先額定值和特性以及適用的試驗方法和測量方法,并給出了石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范中采用的一般性能要求。1.2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時,所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。IEC和ISO成員國保存有現(xiàn)行有效國際標(biāo)準(zhǔn)目錄GB/T12273—-1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第1部分:總規(guī)范(idtIEC1178-1:1993)SI/T10708-1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第3部分:空白詳細(xì)規(guī)范鑒定批準(zhǔn)(idtIEC1178-3-1:1993)IEC68環(huán)境試驗?IECQC001002(1986)IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)程序規(guī)則2優(yōu)先額定值和詳細(xì)規(guī)范制定導(dǎo)則2.1優(yōu)先額定值和特性詳細(xì)規(guī)范中給出的值應(yīng)優(yōu)先從GB/T12273—1996的2.3中選取。2.2:詳細(xì)規(guī)范應(yīng)給出的內(nèi)容詳細(xì)規(guī)范的制定要求在SJ/T10708空白詳細(xì)規(guī)范中給出:每一個詳細(xì)規(guī)范應(yīng)規(guī)定檢查要求的所有試驗和測量,至少應(yīng)包括空白詳細(xì)規(guī)范給出的有關(guān)試驗及其方法

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