GB/T 16921-2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標準GB/T16921-2005/ISO3497:2000代替GB/T16921-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法Metaliiecoatings-Measurementofcoatingthiekness-X-rayspectrometricmethods（ISO3497:2000,IDT)2005-10-12發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T16921-2005/ISO3497:2000三次前言范圍2術語和定義3原理4儀器5影響測量結果的因素6儀器的校準…….7規(guī)程…………···測量不確定度·：：········：···················…·······9測試報告……………·…·……附錄A(資料性附錄）常見覆蓋層測量的典型測量范圍參考文獻

GB/T16921-2005/IS03497:2000本標準等同采用ISO3497:2000（E)《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法》英文版)本標準按（B/T1.1的編輯要求，根據(jù)ISO3497重新起草。本標準對應ISO3497作了如下修改：-取消了ISO3497的前言內容，重新起草了本標準前言：增加了“目次內容”；用"本標準"代替“本國際標準"本標準代替GB/T16921—1997《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法》本標準與GB/T16921—1997相比主要變化如下：在范圍中增加了警告：-在術語和定義中增加了基體材料、基體金屬和基體的定義，且將歸一化強度(1997年版的2.3:本版的2.4)的數(shù)學符號定義為。(1997年版為1n),相應的數(shù)學關系式也隨之改變;在3.3.3能量色散中，將波長和能量的關系式進行了修正：在原理中.將其內容進行了重新排列.增加了3.5.3比率方法和3.7數(shù)學反卷積的描述：-對5.1.2隨機誤差的標準偏差以及5.6覆蓋層密度的公式進行了修正；對5.16試樣表面的傾斜度的影響，做了更精確的修正：在儀器的校準中增加了6.1.5計算機模擬主要參數(shù)的無標樣技術的描述；本標準的附錄A為資料性附錄。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術委員會歸口本標準起草單位：機械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質量監(jiān)督檢測中心本標準起草人：姜新華、凌國偉、劉建國、鐘立暢、宋智玲，本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T16921-1997。

GB/T16921-2005/IS03497:2000金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法范圍警告：本標準不包括人員防X射線輻射的問題,關于此重要方面的信息，可參考現(xiàn)行的國際和國家標準及地方法規(guī)。本標準規(guī)定了應用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法1.2本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度.則測量結果也可用覆蓋層的線性厚度表示。1.3本測量方法可同時測量三層覆盞層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。1.4給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用儀器設備和操作規(guī)程而不同，2術語和定義下列術語和定義適用于本標準21X射線熒光：X-rayfluorescence（XRr)高強度入射X射線撞擊置于入射光束路徑上的材料時產(chǎn)生的二次輻射注：此二次發(fā)射具有該材料的波長和能量特征。2.2英光輻射強度intensityoffluorescentradiation輻射強度。.由儀器測量的、用每秒計數(shù)(輻射脈沖)來表示。23飽和厚度：saturationthickness即為超過時，熒光強度不再產(chǎn)生任何可察覺的變化的厚度注：飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長、材料的密度和原子序數(shù)、入射角度以及材料表面的熒光輻射2.4日一化強度x。normalizedintensity在同一條件下得到的覆蓋層試樣：和未涂覆基體材料。的強度差與厚度大于或等于飽和厚度的材料.(見2.3)和未涂覆基體材料.的強度差之比。住1：歸一化強度數(shù)學關系式為大中：一覆蓋層試樣的強度：