GB/T 19502-2004表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則

ICS71.040.50G04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19502—2004/ISO14707:2000表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則Surfacechemicalanalysis-Glowdischargeopticalemissionspectrometry（GD-0SE)一Introductiontouse(ISO14707:2000,IDT)2004-04-30發(fā)布2004-12-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T19502-2004/ISO14707:2000次前言引言1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義……4原理5儀器5.1輝光放電發(fā)射光源5.2光學(xué)單元··…·：：：5.3光電檢測器和測量裝置6，分析步驃6.1檢定6.2測定附錄A（規(guī)范性附錄)安全

GB/T19502-2004/ISO14707:2000前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO14707:2000《表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則》本標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)施應(yīng)用中應(yīng)同時(shí)引用ISO3497:1990金屬鍍層鍍層厚度的測定X射線光譜法》等相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為規(guī)范性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：寶山鋼鐵股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張毅、陳英穎、沈電洪、張志穎。

GB/T19502-2004/IS014707:2000輝光放電發(fā)射光譜法（GD-OES)用于測定固體樣品的化學(xué)成分,它既可以進(jìn)行體材分析.也可以進(jìn)行深度部析。體材分析時(shí),對樣品中元素含量在深度方向上的變化認(rèn)為是可以忽略的；而深度部析的主要目的通常是要獲得濃度隨深度變化的信息。輝光放電發(fā)射光譜法深度部面的厚度范圍從幾個(gè)納米到一百微米左右。與任何一種儀器分析方法一樣,輝光放電發(fā)射光譜分析的質(zhì)量主要取決于如何使儀器處于最佳狀態(tài)和如何正確地使用儀器。為確保輝光放電發(fā)射光譜分析的質(zhì)量，應(yīng)遵循本標(biāo)準(zhǔn)所提供的方法通則。

GB/T19502-2004/IS014707:2000表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則1范圍本標(biāo)準(zhǔn)為采用輝光放電發(fā)射光譜法進(jìn)行體材分析和深度部析提供了方法通則。這里所討論的方法通則僅限于剛性的固體樣品的分析，不包括粉末、氣體或溶液的分析。結(jié)合將來其他特定的標(biāo)準(zhǔn)方法.本方法通則應(yīng)能夠?qū)崿F(xiàn)儀器的規(guī)范管理和測量條件的控制。盡管在近年來有不同類型的輝光放電發(fā)射光源問世.但本通則中仍以Grimm型光源為例。這是因?yàn)榭紤]到目前在用的輝光放電光譜儀絕大多數(shù)采用Grimm型光源。應(yīng)該明確的是,本通則包含的條款同樣適用于其他類型(如Marcus型)的光源.Grimm型光源僅作為一個(gè)實(shí)例。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。ISO3497:1990金屬鍍層鍍層厚度的測定X射線光譜法（MetalliccoatingsMeasurementofcoatingthickness-X-rayspectrometricmethods)ISO5725-1:1994測量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度）第一部分：基本原理和定義(Accura-cy(truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part1:Generalprinciplesanddefinitions）測量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度）1SO5725-2:1994）第二部分：標(biāo)準(zhǔn)測量方法重復(fù)性和再現(xiàn)性測定的基本方法（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part2:Basicmethodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasurementmethod）ISO5725-3:1994測量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度）第三部分：標(biāo)準(zhǔn)測量方法精密度的中位測量（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part3:lntermediatemeasuresoftheprecisionofastandardmeasurementmethod)1SO5725-4:1994測量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度）第四部分：標(biāo)準(zhǔn)測量方法真值測定的基木方法（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresultsPart4:Basicmethodsforthedeterminationofthetruenessofastandardmeasurementmethod)1SO6955:1982分析光譜學(xué)方法火焰發(fā)射、原子吸收和原于熒光詞匯（Analyticalspectro-seopiemcthods-Flameemissionsatomicabsorption.andatomicfl