標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 26826-2011 碳納米管直徑的測量方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn),主要針對碳納米管直徑的測定提供了一套規(guī)范化的指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于單壁碳納米管、雙壁碳納米管以及多壁碳納米管直徑尺寸的測量,采用的方法包括透射電子顯微鏡法(TEM)、掃描電子顯微鏡法(SEM)和原子力顯微鏡法(AFM)。每種方法都有其適用范圍及特點(diǎn):
- 透射電子顯微鏡法(TEM)能夠直接觀察到碳納米管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)與外部形態(tài),適用于對單根或少量碳納米管進(jìn)行高分辨率成像分析。
- 掃描電子顯微鏡法(SEM)則更側(cè)重于表面形貌的研究,對于較大數(shù)量的碳納米管樣品更為適用,可以快速獲得樣品的整體信息。
- 原子力顯微鏡法(AFM)能夠在不破壞樣品的情況下測量其表面形貌,并且能夠提供三維圖像,特別適合研究碳納米管在基底上的分布情況及其相互作用。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2011-07-29 頒布
- 2011-12-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS5910020
G13..
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T26826—2011
碳納米管直徑的測量方法
Measurementfordiameterofcarbonnanotubes
2011-07-29發(fā)布2011-12-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T26826—2011
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任
。。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)納米材料分技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC279/SC1)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位清華大學(xué)天奈科技有限公司冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院
:、、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王垚寧國慶魏飛欒燕溫倩黃佳琦
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T26826—2011
碳納米管直徑的測量方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測量碳納米管直徑的原理儀器樣品的制備和保存測量方法圖像分析
(CNTs)、、、、、
結(jié)果計(jì)算典型樣品的測量示例等
、。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用透射電子顯微鏡及圖像分析技術(shù)測量碳納米管的直徑
(TEM)TEM。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于竹節(jié)狀等直徑變化顯著的碳納米管樣品
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
粉末冶金用粉末的取樣方法
GB/T5314(ISO3954:1977,EQV)
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
。
31
.
碳納米管carbonnanotubesCNTs
,
具有管狀結(jié)構(gòu)的納米碳材料依據(jù)管壁碳原子的層數(shù)可以分為單壁碳納米管管壁為單層碳原子
,()、
雙壁碳納米管管壁為兩層碳原子和多壁碳納米管管壁為三層或三層以上碳原子
()()。
注本標(biāo)準(zhǔn)所述的碳納米管包括單壁碳納米管雙壁碳納米管和多壁碳納米管
:、。
32
.
碳納米管直徑diameterofcarbonnanotubes
碳納米管垂直于軸向方向的截面圓直徑包括內(nèi)徑與外徑內(nèi)徑指內(nèi)層石墨層形成的截面圓直徑
,。;
外徑指外層石墨層形成的截面圓直徑
。
33
.
有效視場validvisualfield
規(guī)定的視場中可識別直徑的碳納米管根數(shù)比例超過視場
TEM80%。
4方法
41總則
.
本方法利用透射電子顯微鏡定量測量碳納米管直徑透射電子顯微鏡能將碳納米管樣品圖像放大
。
到幾十萬倍甚至上百萬倍點(diǎn)分辨率優(yōu)于能夠清楚反映碳納米管樣品的形貌和微觀結(jié)構(gòu)以
,,0.3nm,,
便利用其圖像測量統(tǒng)計(jì)碳納米管直徑
。
本方法的基本操作步驟是首先將碳納米管樣品分散后置于透射電子顯微鏡專用的微柵上并正確
:,
保存其次利用透射電子顯微鏡觀察碳納米管的中空結(jié)構(gòu)獲取一定數(shù)量的有效視場圖像然
;,,TEM;
后通過對同一碳納米管樣品的所有有效視場圖像分析測量并統(tǒng)計(jì)
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