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4.1MOS管的串、并聯(lián)特性晶體管的驅(qū)動(dòng)能力是用其導(dǎo)電因子β來表示的,β值越大,其驅(qū)動(dòng)能力越強(qiáng)。多個(gè)管子的串、并情況下,其等效導(dǎo)電因子應(yīng)如何推導(dǎo)?一、兩管串聯(lián):

第四章邏輯設(shè)計(jì)技術(shù)1設(shè):Vt相同,工作在線性區(qū)。將上式代入(1)得:由等效管得:2比較(3)(4)得:同理可推出N個(gè)管子串聯(lián)使用時(shí),其等效增益因子為:3二、兩管并聯(lián):

同理可證,N個(gè)Vt相等的管子并聯(lián)使用時(shí):44.2各種邏輯門的實(shí)現(xiàn)一、與非門:5與非門電路的驅(qū)動(dòng)能力在一個(gè)組合邏輯電路中,為了使各種組合門電路之間能夠很好地匹配,各個(gè)邏輯門的驅(qū)動(dòng)能力都要與標(biāo)準(zhǔn)反相器相當(dāng)。即在最壞工作條件下,各個(gè)邏輯門的驅(qū)動(dòng)能力要與標(biāo)準(zhǔn)反相器的特性相同。設(shè):標(biāo)準(zhǔn)反相器的導(dǎo)電因子為βn=βp,與非門:βn1=βn2=β’nβp1=βp2=β’p6(1)a,b=1,1時(shí),下拉管的等效導(dǎo)電因子:βeffn=β’n/2(2)a,b=0,0時(shí),上拉管的等效導(dǎo)電因子:βeffp=2β’p(3)a,b=1,0或0,1時(shí),上拉管的等效導(dǎo)電因子:βeffp=β’p綜合以上情況,在最壞的工作情況下,即:(1)、(3),應(yīng)使:βeffp=β’p=βp;βeffn=β’n/2=βn

即要求p管的溝道寬度比n管大1.25倍以上。7二、或非門:8(1)當(dāng)a,b=0,0時(shí),上拉管的等效導(dǎo)電因子:βeffp=β’p/2(2)當(dāng)a,b=1,1時(shí),下拉管的等效導(dǎo)電因子:βeffn=2β’n(3)當(dāng)a,b=1,0或0,1時(shí),下拉管的等效導(dǎo)電因子:βeffn=β’n綜合以上情況,在最壞的工作情況下,即:(1)、(3),應(yīng)使:βeffp=β’p/2=βp;βeffn=β’n=βn

即:β’p=2β’n

所以W’p/W’n=2μn/μp≈22.5=5即要求p管的寬度要比n管寬度大5倍。9三、CMOS與或非門:10(1)a,b,c,d=0,0,0,0時(shí):βeffp=β’p(2)a,b,c,d=1,1,1,1時(shí):βeffn=β’n(3)a,b,c,d有一個(gè)為1時(shí):βeffp=2β’p/3(4)a,b,c,d=1,1,0,0或a,b,c,d=0,0,1,1時(shí):βeffn=β’n/2(5)a,b,c,d=0,1,0,1或1,0,1,0或0,1,1,0或1,0,0,1時(shí):βeffp=β’p/2綜合以上情況,在最壞的工作情況下,即:(4)、(5),應(yīng)使:βeffp=β’p/2=βpβeffn=β’n/2=βn則:W’p/W’n=μn/μp≈2.511四、CMOS傳輸門(1)單管傳輸門一個(gè)MOS管可以作為一個(gè)開關(guān)使用,電路中Cl是其負(fù)載電容。當(dāng)Vg=0時(shí),T截止,相當(dāng)于開關(guān)斷開。當(dāng)Vg=1時(shí),T導(dǎo)通,相當(dāng)于開關(guān)合上。12Vi〈Vg-Vt時(shí):輸入端處于開啟狀態(tài),設(shè)初始時(shí)Vo=0,則Vi剛加上時(shí),輸出端也處于開啟狀態(tài),MOS管導(dǎo)通,溝道電流對(duì)負(fù)載電容Cl充電,至Vo=Vi。Vi≥Vg-Vt時(shí):輸入溝道被夾斷,設(shè)初時(shí)Vo〈Vg-Vt,則Vi剛加上時(shí),輸出端導(dǎo)通,溝道電流對(duì)Cl充電,隨著Vo的上升,溝道電流逐漸減小,當(dāng)Vo=Vg-Vt時(shí),輸出端也夾斷,MOS管截止,Vo保持Vg-Vt不變。綜上所述:Vi<Vg-Vt時(shí),MOS管無損地傳輸信號(hào)Vi≥Vg-Vt時(shí),Vo=Vg-Vt信號(hào)傳輸有損失,為不使Vo有損失需增大Vg。13(2)CMOS傳輸門

為了解決NMOS管在傳輸時(shí)的信號(hào)損失,通常采用CMOS傳輸門作為開關(guān)使用。它是由一個(gè)N管和一個(gè)P管構(gòu)成。工作時(shí),NMOS管的襯底接地,PMOS管的襯底接電源,且NMOS管柵壓Vgn與PMOS管的柵壓Vgp極性相反。ViVoVdd14Vgp=1,Vgn=0時(shí):雙管截止,相當(dāng)于開關(guān)斷開;Vgp=0,vgn=1時(shí):雙管有下列三種工作狀態(tài):Vi<Vgn+VtnN管導(dǎo)通,

Vi<Vgp+|Vtp|P管截止

Vi通過n管對(duì)Cl充電至:Vo=ViVi>Vgn+VtnN管截止,Vi>Vgp+|Vtp|P管導(dǎo)通

Vi通過P管對(duì)Cl充電至:Vo=Vi通過上述分析,CMOS傳輸門是較理想的開關(guān),它可將信號(hào)無損地傳輸?shù)捷敵龆恕?5傳輸門特性16五、異或門與同或門(1)異或門:17簡(jiǎn)化的電路:T1,T2組成一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)反相器,T3,T4組成CMOS傳輸門,T5,T6是一個(gè)特殊的CMOS反相器。18(a)當(dāng)B=1時(shí),傳輸門斷開,特殊反相器工作:(b)當(dāng)B=0時(shí),特殊反相器不工作,傳輸門把A送到X:X=AABX所以:11001110100019(2)同或門:20

T6、T7總是導(dǎo)通的:ABX001100010111A,B=0,0時(shí):T1,T2,T3,T4關(guān),T5通,Vdd通過T7充電,X=1;A,B=1,0時(shí):T1,T3關(guān),T2,T5通,T5通,T7,T5,T4形成通路,X=0;A,B=0,1時(shí):T1,T3通,T2,T4關(guān),T5通,T7,T5,T3形成通路,X=0;A,B=1,1時(shí):T1,T2,T3,T4通,T5關(guān),Vdd通過T7充電,X=1。214.3可編程邏輯陣列

PLA(TheProgrammableLogicArray)采用可編程陣列來實(shí)現(xiàn)組合邏輯功能往往是經(jīng)濟(jì)的。因?yàn)橐粋€(gè)PLA結(jié)構(gòu)中,只包含實(shí)現(xiàn)指定邏輯功能所需的最小項(xiàng),不包含所有可能的最小項(xiàng)。因此,比用ROM來實(shí)現(xiàn)同一功能緊湊得多。

PLA設(shè)計(jì)方法:(1)把功能表轉(zhuǎn)化成表達(dá)式,并把原表達(dá)式中的最小項(xiàng)歸并簡(jiǎn)化。22功能表ABCZ1Z2Z3Z4000100010110001101011111010101010101110100001100001010002324(2)對(duì)上式各乘積項(xiàng)進(jìn)行編號(hào),形成“與”陣列。25(3)改寫輸出表達(dá)式,形成“或”陣列26(4)畫電路圖

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(5)設(shè)計(jì)版圖

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第四節(jié)觸發(fā)器(Flip—Flop)觸發(fā)器用于寄存信息,它分為以下三大類:(1)靜態(tài)觸發(fā)器:信息寄存是依靠具有反相功能的門電路的直流交叉偶合來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)時(shí)鐘禁止時(shí),觸發(fā)器的輸出電平保持不變。(2)動(dòng)態(tài)觸發(fā)器:信息寄存是利用柵電容的電荷存儲(chǔ)來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)時(shí)鐘禁止時(shí),觸發(fā)器輸出邏輯狀態(tài)將被破壞。(3)準(zhǔn)靜態(tài)觸發(fā)器:信息寄存主要依靠靜態(tài)觸發(fā)器中的直流交叉偶合來實(shí)現(xiàn),但有少部分時(shí)間用了動(dòng)態(tài)電路中柵電容的電荷存儲(chǔ)效應(yīng)來實(shí)現(xiàn)信息保持。29(1)靜態(tài)觸發(fā)器30(2)動(dòng)態(tài)觸發(fā)器:3132(3)準(zhǔn)靜態(tài)觸發(fā)器:33第五節(jié)存儲(chǔ)器(Memory)

存儲(chǔ)器是用來存儲(chǔ)信息的,它分為以下兩大類:(1)只讀存儲(chǔ)器ROM:使用時(shí)只能讀出信息。掩膜MROM:制造時(shí)寫入信息。可編程PROM:使用前用戶寫入信息,寫入后不能改寫??刹脸鼸PROM,EEPROM:使用前用戶寫入信息,寫入后能改寫。34(2)讀寫存儲(chǔ)器RAM:使用時(shí)可讀寫信息。動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器DRAM:用管子少,面積小,功耗低。信號(hào)需要再生。靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器SRAM:信號(hào)不需要再生,抗干擾能力強(qiáng)。用管子多,面積大,功耗大。35(一)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器DRAM最簡(jiǎn)單的DRAM存儲(chǔ)單元是單管單元,它由一個(gè)晶體管與一個(gè)和源極相連的電容構(gòu)成。單元寫入過程:字線為高,數(shù)據(jù)線為低:寫“1”數(shù)據(jù)線為高:寫“0”單元讀出過程:字線為高,數(shù)據(jù)線預(yù)沖電至高,Cs上有電荷:讀出“1”Cs上無電荷:讀出“0”36特點(diǎn):(1)位線的寄生電容CD較大:Cs/CD大約1/10。根據(jù)電荷守恒原理:VD是很小的,數(shù)據(jù)線上讀出要用靈敏放大器。(2)讀出是破壞性的,讀出后要對(duì)單元進(jìn)行再生。(3)線路簡(jiǎn)單,單元占面積小,速度快。37單元結(jié)構(gòu)38(二)靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器SRAM39T1~T4交叉耦合靜態(tài)觸發(fā)器:存儲(chǔ)信息T5~T6把觸發(fā)器與字線、位線連接起來字線不選中:T5、T6截止,存儲(chǔ)單元處于保持狀態(tài)。字線選中:

T5、T6導(dǎo)通,如位線選中單元,T7、T8導(dǎo)通,單元狀態(tài)經(jīng)過T7、T8傳至讀出放大器或?qū)懭胄畔⒔?jīng)過T7、T8、T5、T6進(jìn)入靜態(tài)觸發(fā)器。40單元結(jié)構(gòu)41(三)掩膜只讀存儲(chǔ)器MROM全固定式ROM,把信息預(yù)先放到生產(chǎn)過程中所使用的掩膜版中。這種存儲(chǔ)器的寫入準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性都很高,適合與

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