射線檢測(cè)B級(jí)和AB級(jí)的區(qū)別

一、 標(biāo)準(zhǔn)中涉及檢測(cè)技術(shù)級(jí)別的條款在JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定了射線檢測(cè)分為三級(jí)：A級(jí)——低靈敏度技術(shù)；AB級(jí)一一中靈敏度技術(shù)；B級(jí)一一高靈敏度技術(shù)。在標(biāo)準(zhǔn)中涉及檢測(cè)技術(shù)級(jí)別的條款概括起來(lái)有以下9條：1、 第3.8條：射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇；2、 第3.2.2條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別選擇膠片的規(guī)定；3、 第3.5條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別選擇增感屏的規(guī)定；4、 第4.1.3條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)透照厚度比K的規(guī)定；5、 第4.2.2條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)射線源的透照厚度范圍的規(guī)定；6、 第4.3.1條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)射線源全工件表面的最小距離的規(guī)定；7、 第4.4.1條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)X射線照相最小曝光量的規(guī)定；8、 第4.11.2條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)底片黑度D的規(guī)定；9、 第4.11.3條：不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度的規(guī)定。二、 射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.8條就有關(guān)射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇的規(guī)定如下：3.8.1射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的制造、安裝、在用時(shí)的射線檢測(cè)，一般應(yīng)采用AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對(duì)接焊接接頭，可采用B級(jí)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。3.8.2由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類(lèi)別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為按AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。3.8.3承壓設(shè)備在用檢測(cè)中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制，檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類(lèi)別的膠片）后可采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)，但應(yīng)同時(shí)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。由于A級(jí)檢測(cè)技術(shù)屬于低靈敏度級(jí)別，一般不用于石油化工承壓設(shè)備的射線檢測(cè)，所以本文只討論B級(jí)檢測(cè)技術(shù)與AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)的區(qū)別。三、 不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別選擇膠片的規(guī)定JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.2.2條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別選擇膠片的規(guī)定如下：3.2.2A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用T3類(lèi)或更高類(lèi)別的膠片，B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用T2類(lèi)或更高類(lèi)別的膠片。膠片的本底灰霧度應(yīng)不大于0.3。由上條規(guī)定可知，AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用AGFA-C7（或其他T3類(lèi)）膠片，B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用AGFA-C4（或其他T2類(lèi)）膠片。由于T2類(lèi)膠片感光乳劑粒度和感光速度比T3類(lèi)膠片低，而膠片平均梯度和梯噪比比T3類(lèi)膠片高，這些都有利于提高射線底片的靈敏度。所以B級(jí)檢測(cè)技術(shù)比AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)在膠片選取方面考慮了提高靈敏度的因素。在同等條件下，使用T2類(lèi)膠片的曝光時(shí)間一般是使用T3類(lèi)膠片時(shí)的3倍以上，所以對(duì)檢測(cè)設(shè)備的性能要求較高，檢測(cè)效率下降，檢測(cè)成本提高。而且T2類(lèi)膠片比T3類(lèi)膠片價(jià)格高的多，對(duì)檢測(cè)成本的提高顯而易見(jiàn)。四、 不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別選擇增感屏的規(guī)定

JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.5條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別選擇增感屏的規(guī)定如下：射線檢測(cè)一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定。表I增感解的材料和厚度射線源前 屏屏材料厚度，nini材料厚度,mmX射線(WlOOkV)鉛不用或^0.03鉛W0.03X射線(100kV-150kV)鉛W0.10鉛WO.15源射線<150kV-250kV)鉛0.02—0.15鉛0.02—0.15X射線(250kV-500kV)鉛0.02—0.2鉛0.02-0.2Se-75鉛A級(jí)。.02-0.2鉛A皺0.02—0.2旭紋"皺0.1?0.2]>旭皺、B皺0.1?0.2Ii-192鉛A級(jí)0.02-0.2鉛A皺0.02?0.2梅級(jí)、B級(jí)0.1?0.2]?旭級(jí)、B緞0.1?0.2由上表可知，JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)B級(jí)和AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)對(duì)常用低能X射線和Se-75、Ir-192放射源的增感屏要求是相同的。五、不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)透照厚度比K的規(guī)定JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.1.3條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)透照厚度比K的規(guī)定如下：射線檢測(cè)技術(shù)皺別A皺；邸級(jí)日級(jí)縱向焊接接頭芹冬1.03獲1.01環(huán)向焊接接頭假1.061） 對(duì)100碩〈％軍仙。顧的環(huán)向焊接接頭（包括曲率相同的仙面焊接接頭），A皺、AB皺允許采用K嗅1.九由上表可知，無(wú)論是縱向焊接接頭還是環(huán)向焊接接頭，B級(jí)檢測(cè)的透照厚度比K都比AB級(jí)檢測(cè)的小?？刂仆刚蘸穸缺菿主要是為了控制裂紋檢出角，K值越小，裂紋和根部未熔合的檢出率就越高。所以B級(jí)檢測(cè)比AB級(jí)檢測(cè)有更高的裂紋和根部未熔合的檢出率。透照厚度比K越小，透照次數(shù)越多，檢測(cè)效率越低。六、不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)射線源的透照厚度范圍的規(guī)定JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.2.2條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)射線源的透照厚度范圍的規(guī)定如下：4.2.2Y射線源和高能X射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到4.11.3要求的前提下，允許Y射線最小透照厚度取表4下限值的1/2。采用其他透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到4.11.3要求的前提下，經(jīng)合同各方同意，A級(jí)、AB級(jí)技術(shù)的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。表4/肘線晾和能阜IMeM以上X射線設(shè)備的透照厚度范圍《鋼、不^鋼、裸臺(tái)金等）射線源透明厚度W,mmA級(jí)rAB級(jí)H級(jí)Sk-75=10^405=14-40lr-1925=20^100項(xiàng)0X射堂方lM；V-4MrV)5=30^200片5()-1第X射線（＞4M＜：V-12M：V）mW)X射線(>12MeV)a100由于Co-60和高能X射線在石油化工的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的運(yùn)用比較少，所以只分析Se-75源和Ir-192源B級(jí)檢測(cè)和AB級(jí)檢測(cè)的不同之處。由上表可知，對(duì)Se-75和Ir-192源B級(jí)檢測(cè)比AB級(jí)檢測(cè)的透照厚度范圍小。這是因?yàn)橄啾扔谕饶芰康腦射線，Y射線的線質(zhì)較硬，對(duì)比度、清晰度、顆粒度都比X射線差，控制透照厚度下限值是為了保證小缺陷的檢出率。由于B級(jí)檢測(cè)采用感光度低的細(xì)粒膠片，所以曝光時(shí)間相對(duì)較長(zhǎng)，但過(guò)長(zhǎng)的的曝光時(shí)間，使底片灰霧增加，對(duì)檢測(cè)靈敏度不利，所以對(duì)Ir-192源B級(jí)檢測(cè)的透照厚度上限值比AB級(jí)檢測(cè)小。采用其他透照方式時(shí)，B級(jí)檢測(cè)的透照厚度下限值不允許降低，而AB級(jí)檢測(cè)允許降低，表示B級(jí)檢測(cè)比AB級(jí)檢測(cè)對(duì)透照厚度的下限值控制更為嚴(yán)格。B級(jí)檢測(cè)時(shí)，各種射線源的透照范圍變小，在很多情況下，不得不使用X射線透照，檢測(cè)效率下降，檢測(cè)成本增加。七、不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.3.1條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)射線源全工件表面的最小距離的規(guī)定如下：4.3.1說(shuō)選用的射線源全工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求： A級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：fN7.5db2/3AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：f\10db2/3 B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：fN15db2/3注：f為射線源全工件表面的距離；d為射線源的有效焦點(diǎn)尺寸；b為工件全膠片距離。由于焦距F=f+b，所以在d和b不變的情況下，B級(jí)檢測(cè)比AB級(jí)檢測(cè)的f值大，所以焦距F也比AB級(jí)大。大的焦距幾何不清晰度小，所以檢測(cè)靈敏度高。注意:焦距是指射線源焦點(diǎn)到膠片的距離，而不是射線機(jī)機(jī)頭到膠片的距離。所以焦距為機(jī)頭到膠片的距離加焦點(diǎn)到機(jī)頭的距離，現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)中應(yīng)注意。一般300KV探傷機(jī)焦點(diǎn)到機(jī)頭的距離為130mm,250KV探傷機(jī)焦點(diǎn)到機(jī)頭的距離為120mmoB級(jí)檢測(cè)焦距比AB級(jí)檢測(cè)焦距大，射線的能量和距離的平方成反比，焦距越大，曝光時(shí)間越長(zhǎng)，檢測(cè)效率越低，檢測(cè)成本越高。八、 不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)X射線照相最小曝光量的規(guī)定JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.4.1條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)X射線照相最小曝光量的規(guī)定如下：4.4.1X射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于15mA?min；B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于20mA?min。當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算。由4.4.1條規(guī)定可知，在相同焦距情況下，B級(jí)檢測(cè)比AB級(jí)檢測(cè)要求的最小曝光量大，曝光量的增大有利于改善底片顆粒度，進(jìn)而提高對(duì)比度。曝光量增大意味著曝光時(shí)間的延長(zhǎng)，檢測(cè)效率的降低，檢測(cè)成本的提高。九、 不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)底片黑度D的規(guī)定JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.11.2條就有關(guān)不同檢測(cè)技術(shù)級(jí)別對(duì)底片黑度D的規(guī)定如下：4.11.2底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定：A級(jí)：1.5^D^4.0；AB級(jí)：2.0^D^4.0；B級(jí)：2.3^D^4.0O用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，AB級(jí)最低黑度允許降至1.5；B級(jí)最低黑度可降至2.0。由4.11.2條規(guī)定可知，無(wú)論是透照普通工件還是截面厚度變化大的工件，B級(jí)檢測(cè)比AB級(jí)檢測(cè)要求的最低黑度值都要高。這是因?yàn)?，?duì)于承壓設(shè)備射線照相檢測(cè)用的都是非增感型膠片，這種膠片的梯度隨黑度的增加而增加，而梯度的增加