GB/T 30091-2013薄膜鍵盤技術(shù)條件

ICS31180

L30.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T30091—2013

薄膜鍵盤技術(shù)條件

Specificationsformembranekeyboard

2013-12-17發(fā)布2014-05-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

薄膜鍵盤技術(shù)條件

GB/T30091—2013

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100013)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20143

*

書號

:155066·1-48167

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T30091—2013

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出并歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位北京國合海達利電子科技有限公司沈陽儀表科學(xué)研究院南京意達薄膜開關(guān)有

:、、

限責(zé)任公司國家儀器儀表元器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人林里銘關(guān)杰徐秋玲于振毅吳松山

:、、、、。

Ⅰ

GB/T30091—2013

薄膜鍵盤技術(shù)條件

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了薄膜鍵盤的術(shù)語和定義要求試驗方法檢驗規(guī)則標(biāo)志包裝運輸和貯存

、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于開關(guān)功率小于最大工作電壓或最大工作電流小于

1W,42V(DC)25V(AC),

的薄膜鍵盤線路載體為硬性基板的可參照使用

100mA。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫

GB/T2423.1—20082:A:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫

GB/T2423.2—20082:B:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗

GB/T2423.3—20062:Cab:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗溫度變化

GB/T2423.22—20122:N:

壓敏膠粘帶剝離強度試驗方法

GB/T2792—1998180°

計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計劃

周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗

GB/T2829—2002()

電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第部分一般檢查

GB/T5095.2—19972:、

電連續(xù)性和接觸電阻測試絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗

、

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

薄膜開關(guān)membraneswitch

由具有一定彈性的絕緣材料和導(dǎo)電材料層組成的一種多層結(jié)構(gòu)平面型非自鎖按鍵開關(guān)

。

32

.

薄膜鍵單元以下簡稱薄膜鍵membranekeyunit

()

薄膜鍵陣列中的一個電鍵平面它包括帶有導(dǎo)電圖形開關(guān)的觸點的彈性絕緣薄膜和保持一定行

,()

程的隔離層的元件

。

33

.

薄膜鍵陣列membranekeyarray

二個或二個以上薄膜鍵的組合薄膜鍵陣列通常是間接操作的如圖所示

,,1。

34

.

薄膜面板membranepanel