標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 41270.7-2022 航空電子過(guò)程管理 大氣輻射影響 第7部分:航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在為航空電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段提供指導(dǎo),特別是在考慮大氣層內(nèi)外宇宙射線等高能粒子對(duì)電子設(shè)備可能產(chǎn)生的單粒子效應(yīng)(SEE)時(shí)。該標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了在設(shè)計(jì)過(guò)程中如何系統(tǒng)地識(shí)別、評(píng)估和減輕這些潛在威脅的方法。
標(biāo)準(zhǔn)首先定義了與單粒子效應(yīng)相關(guān)的術(shù)語(yǔ)及其分類,包括但不限于單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)、單粒子鎖定(SEL)以及單粒子瞬態(tài)(SET)。接著,它概述了一個(gè)全面的框架,用于指導(dǎo)設(shè)計(jì)師們?nèi)绾卧谡麄€(gè)產(chǎn)品生命周期內(nèi)實(shí)施有效的單粒子效應(yīng)緩解策略。這包括從初步概念開(kāi)發(fā)到詳細(xì)設(shè)計(jì)、制造直至最終測(cè)試驗(yàn)證各個(gè)階段所需采取的具體措施。
此外,《GB/T 41270.7-2022》還提供了關(guān)于選擇合適材料和技術(shù)以增強(qiáng)抗SEE能力方面的建議,并介紹了幾種可用于預(yù)測(cè)特定環(huán)境條件下預(yù)期SEE率的方法論。同時(shí),也討論了通過(guò)冗余設(shè)計(jì)、錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正機(jī)制等方式來(lái)提高系統(tǒng)容錯(cuò)性的技術(shù)手段。
最后,本文件還強(qiáng)調(diào)了持續(xù)監(jiān)控的重要性,即即使是在產(chǎn)品部署之后,也應(yīng)定期進(jìn)行性能評(píng)估和必要的調(diào)整,確保長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。通過(guò)遵循此標(biāo)準(zhǔn)中的指南,可以顯著降低由單粒子事件引起的功能故障風(fēng)險(xiǎn),從而提高航空電子系統(tǒng)的可靠性和安全性。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 正在執(zhí)行有效
- 2022-03-09 頒布
- 2022-10-01 實(shí)施
下載本文檔
GB/T 41270.7-2022航空電子過(guò)程管理大氣輻射影響第7部分:航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS49020
CCSV.25
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T412707—2022
.
航空電子過(guò)程管理大氣輻射影響
第7部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中
:
單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理
Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffects—
Part7ManaementofsinleeventeffectsSEEanalsisrocessin
:gg()yp
avionicsdesign
IEC/TR62396-72017MOD
(:,)
2022-03-09發(fā)布2022-10-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T412707—2022
.
目次
前言
…………………………Ⅰ
引言
…………………………Ⅱ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)定義和縮略語(yǔ)
3、………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3.1…………………………1
縮略語(yǔ)
3.2………………1
輻射分析過(guò)程
4……………2
總則
4.1…………………2
分析的輸入
4.2SEE……………………3
電子器件敏感性評(píng)估
4.3SEE…………3
電子產(chǎn)品影響的識(shí)別和減緩措施
4.4SEE……………3
率計(jì)算及風(fēng)險(xiǎn)分析
4.5SEE……………4
輻射試驗(yàn)
4.6……………5
設(shè)計(jì)更改
4.7……………5
影響評(píng)估
4.8SEE………………………5
影響分析
4.9SEE………………………5
持續(xù)器件管理
4.10………………………6
附錄資料性本文件與技術(shù)差異及其原因
A()IEC/TR62396-7:2017………………7
附錄資料性影響分析過(guò)程
B()SEE……………………8
附錄資料性電子器件的影響評(píng)估表
C()SEE…………9
參考文獻(xiàn)
……………………11
GB/T412707—2022
.
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是航空電子過(guò)程管理大氣輻射影響的第部分已經(jīng)發(fā)布
GB/T41270《》7。GB/T41270
了以下部分
:
第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理
———7:;
第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率計(jì)算程序與方法
———9:。
本文件修改采用航空電子過(guò)程管理大氣輻射影響第部分航空電子
IEC/TR62396-7:2017《7:
產(chǎn)品設(shè)計(jì)中單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理文件類型由的技術(shù)報(bào)告調(diào)整為我國(guó)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
》。IEC。
本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整
IEC/TR62396-7:2017:
將附錄調(diào)整為附錄
———AB;
將附錄調(diào)整為附錄
———BC。
本文件與相比存在較多技術(shù)差異在所涉及的條款的外側(cè)頁(yè)邊空白位置
IEC/TR62396-7:2017,,
用垂直單線進(jìn)行了標(biāo)示這些技術(shù)差異及其原因一覽表見(jiàn)附錄
(︱)。A。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由全國(guó)航空電子過(guò)程管理標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC427)。
本文件起草單位中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司雷華電子技術(shù)研究所哈爾濱
:、、
工業(yè)大學(xué)中國(guó)電子科技集團(tuán)第五十八研究所中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所
、、。
本文件主要起草人邵文韜張曉蕾史維佳許峰庫(kù)亮張崇關(guān)呂冰喻爭(zhēng)呼謝洋王曉煒
:、、、、、、、、、、
劉站平
。
Ⅰ
GB/T412707—2022
.
引言
大氣層內(nèi)工作的航空電子設(shè)備其關(guān)鍵器件在遭受大氣中子輻射下會(huì)產(chǎn)生多種單粒子效應(yīng)傳遞至
,,
航空電子設(shè)備會(huì)產(chǎn)生單粒子效應(yīng)軟故障和或硬故障會(huì)影響飛機(jī)的安全性考慮到只有設(shè)備級(jí)
,/,。SEE
故障率才參與系統(tǒng)級(jí)飛機(jī)級(jí)的安全分析過(guò)程因此在飛機(jī)安全性評(píng)估過(guò)程中需要提供設(shè)備級(jí)的
、。,
故障率及其計(jì)算方法與程序?yàn)楹娇针娮釉O(shè)備安全性分析提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)
SEE,。
大氣輻射影響航空電子系統(tǒng)單粒子效應(yīng)試驗(yàn)指南和
GB/T34955—2017《》GB/T34956—2017
大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計(jì)指南共同構(gòu)成航空電子產(chǎn)品開(kāi)展單粒子效應(yīng)設(shè)計(jì)
《》
與分析的基礎(chǔ)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
。
規(guī)定了大氣中子單粒子效應(yīng)分析試驗(yàn)評(píng)價(jià)方法與程序擬由兩個(gè)部分構(gòu)成
GB/T41270、、,。
第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理目的在于規(guī)定航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)
———7:。
中電子元器件單粒子效應(yīng)分析的方法和程序
。
第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率計(jì)算程序與方法目的在于規(guī)定航空電子設(shè)備單
———9:。
粒子效應(yīng)故障率通用總故障率軟故障率硬故障率計(jì)算方法與計(jì)算程序
、、、。
Ⅱ
GB/T412707—2022
.
航空電子過(guò)程管理大氣輻射影響
第7部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中
:
單粒子效應(yīng)分析過(guò)程管理
1范圍
本文件規(guī)定了航空電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中電子元器件單粒子效應(yīng)分析的方法和程序
。
本文件適用于依據(jù)航空電子產(chǎn)品單粒子效應(yīng)分析而制定電子元器件管理計(jì)劃為改善航空電子產(chǎn)
,
品單粒子效應(yīng)影響提供減緩和保護(hù)措施
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計(jì)指南
GB/T34956—2017(IEC62396-1:
2016,IDT)
3術(shù)語(yǔ)定義和縮略語(yǔ)
、
31術(shù)語(yǔ)和定義
.
界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GB/T34956—2017。
32縮略語(yǔ)
.
下列縮略語(yǔ)適用于本文件
。
自測(cè)試
BIT:(built-intest)
物料清單
BOM:(billofmaterial)
循環(huán)冗贅核對(duì)循環(huán)冗余校驗(yàn)
CRC:(
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