GB/T 4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法

ICS25.220.40A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003/ISO2178:1982代替GB/T4956—1985磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法Non-magneticcoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod(ISO2178:1982,IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

中華人民共和國國國家標(biāo)準(zhǔn)磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法GB/T4956-2003/1SO2178：1982中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874472004年3月第一版2004年11月電子版制作書號：155066·1-20459如有排版錯誤本社負(fù)責(zé)解決版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：010)68533533

GB/T4956-2003/ISO2178:1982前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO2178:1982《磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法》英文版）本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4956—1985《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法》。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO2178:1982作如下編輯性修改：a）用"本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國際標(biāo)準(zhǔn)”：b）取消了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言；C）為便于使用,引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的國家標(biāo)準(zhǔn)；d）增加了規(guī)范性引用文件。本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：武漢材料保護(hù)研究所本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T4956-1985。

GB/T4956-2003/IS02178:1982磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測厚儀無損測量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層(包括釉瓷和塘瓷層)厚度的方法。本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測量。。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測量優(yōu)先采用GB/T13744規(guī)定的方法。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T12334金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量(eqvISO2361)原理磁性測厚儀測量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力.該磁引力受到覆蓋層存在的影響;或者測量穿過覆蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。影響測量準(zhǔn)確度的因素下列因素可能影響覆蓋層厚度測量的準(zhǔn)確度。覆覆蓋層厚度測量準(zhǔn)確度隨覆蓋層厚度的變化取決于儀器的設(shè)計。對于薄的覆蓋層，其測量準(zhǔn)確度與覆蓋層的厚度無關(guān).為一常數(shù);對于厚的覆蓋層，其測量準(zhǔn)確度等于某一近似恒定的分?jǐn)?shù)與厚度的乘積。4.2基體金屬的磁性基體金屬磁性的變化能影響磁性法厚度的測量。為了實際應(yīng)用的目的，可認(rèn)為低碳鋼的磁性變化是不重要的。為了避免各不相同的或局部的熱處理和冷加工的影響，儀器應(yīng)采用性質(zhì)與試樣基體金屬相同的金屬校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)：可能的話，最好采用待鍍覆的零件作標(biāo)樣進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。4.3基體金屬的厚度對每一臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于此臨界厚度時·金屬基體厚度增加·測量將不受基體金屬厚度增加的影響。臨界厚度取決于儀器測頭和基體金屬的性質(zhì).除非制造商有所規(guī)定，臨界厚度的大小應(yīng)通過試驗確定。4.4邊緣效應(yīng)本方法對試樣表面的不連續(xù)敏感，因此·太靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量將是不可靠的,除非儀器專門為這類