標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行高低溫及低氣壓環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備其基本參數(shù)的檢定方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于對這類試驗(yàn)設(shè)備性能進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)遵循的具體步驟和技術(shù)要求。

根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)，首先明確了試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)滿足的基本條件，包括但不限于溫度范圍、氣壓范圍等關(guān)鍵參數(shù)。對于溫度控制精度、均勻度以及波動度都有具體數(shù)值上的要求；同樣地，對于低氣壓條件下設(shè)備能夠達(dá)到的壓力值及其穩(wěn)定性也提出了明確的標(biāo)準(zhǔn)。此外，還詳細(xì)描述了如何通過一系列測試來檢驗(yàn)這些性能指標(biāo)是否符合規(guī)定。

在實(shí)際操作過程中，需要按照標(biāo)準(zhǔn)中給出的方法來進(jìn)行檢定。例如，在檢測溫度相關(guān)性能時(shí)，會使用標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)或其他經(jīng)校準(zhǔn)過的測量工具，并按照指定位置布置測點(diǎn)以確保數(shù)據(jù)采集全面準(zhǔn)確；而針對低氣壓部分，則可能涉及到真空泵等專用裝置的應(yīng)用，同時(shí)也要注意保持系統(tǒng)密封良好以免影響結(jié)果準(zhǔn)確性。

整個檢定過程不僅涵蓋了對單個性能參數(shù)的獨(dú)立評估，還包括了綜合考量設(shè)備整體表現(xiàn)的部分。比如，在完成所有單項(xiàng)測試后，還需要進(jìn)行一次或多輪完整循環(huán)試驗(yàn)，用以模擬實(shí)際工作狀態(tài)下設(shè)備的表現(xiàn)情況，從而更加全面地反映出其可靠性和穩(wěn)定性。


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  • 1996-06-17 頒布
  • 1997-07-01 實(shí)施
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GB/T 5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備_第1頁
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文檔簡介

ICS19.080K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備InspectionmethodsforbasicparametersofenyironmentaltestingeguipmentsforelectricandelectronicproductsCombinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments1996-06-17發(fā)布1997-07-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5170.10-1996吉本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本標(biāo)準(zhǔn)是由GB5170.10—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備》修訂而成。本標(biāo)準(zhǔn)與1985年發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)相比，技術(shù)內(nèi)容主要有以下變化：明確本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定，以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗(yàn)：在檢定項(xiàng)目中，刪除了“工作室內(nèi)壁與工作空間溫差”、"工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)"和“相對濕度”三個項(xiàng)目：-增加了"引用標(biāo)準(zhǔn)”一章;在“檢定用主要儀器”-章中，給出了儀器的精確度要求；-增加了“檢定條件”一章;一—對于溫度測量點(diǎn)數(shù)量，設(shè)備工作空間容積由“以1m2分界”改為“以2m2分界”,對于"大于2m2的設(shè)備”,溫度測量點(diǎn)由21點(diǎn)減少為15點(diǎn)；周期檢定試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，"溫度偏差”的測量時(shí)間縮短為30mia;在“數(shù)據(jù)處理"中，給出了“溫度偏差”和“氣壓偏差”的計(jì)算公式;-在綜合檢定溫度氣壓時(shí),如果低氣壓值低于10kPa,則“溫度偏差”允許適當(dāng)放寬；在“檢定結(jié)果處理”中，增加了“溫度場和氣壓場調(diào)整值以及設(shè)備儀表修正值的計(jì)算方法”并且對合格(限用)的范圍給予了必要的說明;-刪除了測量記錄表格。GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下幾部分：（B/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則：GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法：溫度試驗(yàn)設(shè)備；GB/T5170.5，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備：GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備；-GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法專太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備;-GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備;電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.11腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備。本標(biāo)準(zhǔn)從生效之日起，同時(shí)代替GB5170.10—85.本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：電子工業(yè)部第五研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：付文茹、謝建華、陳學(xué)進(jìn)、王則燕、薛振夷。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.10-1996Inspectionmethodsforbasicparameters代替GB5170.10-85ofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsCombinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments范范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驃、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB2423.21—91《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB2423.21—91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB/T2423.25—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法GB/T2423.26—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合

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