標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.14-2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》與《GB/T 5170.14-1985》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和改進(jìn),主要變化包括:

  1. 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)上的調(diào)整:新版標(biāo)準(zhǔn)按照最新的標(biāo)準(zhǔn)化文件編寫規(guī)則進(jìn)行了結(jié)構(gòu)調(diào)整,使得整個(gè)文檔更加清晰易懂,便于用戶查閱。

  2. 術(shù)語定義的更新:對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語進(jìn)行了重新定義或補(bǔ)充說明,確保了術(shù)語使用的準(zhǔn)確性和一致性。例如,對(duì)于“加速度”、“頻率響應(yīng)”等概念給出了更明確的解釋。

  3. 測(cè)試項(xiàng)目及要求的變化:新增了一些測(cè)試項(xiàng)目,并對(duì)原有項(xiàng)目的具體要求進(jìn)行了修訂。比如增加了關(guān)于振動(dòng)臺(tái)長(zhǎng)期穩(wěn)定性的考核內(nèi)容;同時(shí),對(duì)于某些性能指標(biāo)(如最大位移、最大加速度)的具體數(shù)值范圍也有所調(diào)整,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步帶來的更高要求。

  4. 測(cè)量方法和技術(shù)手段的進(jìn)步:隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,新版本中引入了更為先進(jìn)的測(cè)量?jī)x器和技術(shù)手段來完成各項(xiàng)檢測(cè)工作。這不僅提高了檢測(cè)精度,還簡(jiǎn)化了操作流程。

  5. 安全規(guī)范的強(qiáng)化:鑒于實(shí)驗(yàn)過程中可能存在安全隱患,《GB/T 5170.14-2009》加強(qiáng)了對(duì)使用振動(dòng)臺(tái)時(shí)的安全指導(dǎo),明確了必要的防護(hù)措施和個(gè)人保護(hù)裝備的要求。


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  • 2009-05-06 頒布
  • 2009-11-01 實(shí)施
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GB/T 5170.14-2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)_第1頁
GB/T 5170.14-2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)_第2頁
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文檔簡(jiǎn)介

犐犆犛19.040

犓04

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜5170.14—2009

代替GB/T5170.14—1985

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

基本參數(shù)檢驗(yàn)方法

振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犫犪狊犻犮狆犪狉犪犿犲狋犲狉狊狅犳犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾

狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犈犾犲犮狋狉狅犱狔狀犪犿犻犮狏犻犫狉犪狋犻狀犵狋狔狆犲犿犪犮犺犻狀犲狊犳狅狉狏犻犫狉犪狋犻狅狀(狊犻狀狌狊狅犻犱犪犾)狋犲狊狋

20090506發(fā)布20091101實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜5170.14—2009

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4檢驗(yàn)項(xiàng)目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

5檢驗(yàn)用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

6檢驗(yàn)條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

7一般規(guī)定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

8檢驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

10檢驗(yàn)周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

附錄A(資料性附錄)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

附錄B(資料性附錄)基本參數(shù)允許誤差!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9

犌犅/犜5170.14—2009

前言

GB/T5170分為如下部分:

———GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

———GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.13電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振

動(dòng)臺(tái)

———GB/T5170.14電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振

動(dòng)臺(tái)

———GB/T5170.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振

動(dòng)臺(tái)

———GB/T5170.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)

———GB/T5170.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順

序試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

設(shè)備

———GB/T5170.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試

驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)(隨機(jī))試驗(yàn)用液壓振

動(dòng)臺(tái)

本部分是GB/T5170的第14部分。

本部分代替GB/T5170.14—1985《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)

試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。

本部分與GB/T5170.14—1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:

———標(biāo)準(zhǔn)名稱《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》改

為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。

———增加了“范圍”一章。

———增加了“規(guī)范性引用文件”一章。

———增加了“術(shù)語和定義”一章。

———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中,給出了檢驗(yàn)用儀器的測(cè)量結(jié)果擴(kuò)展不確定度(犽=2)的

要求。

———增加了“檢驗(yàn)條件”一章。

———在“一般規(guī)定”一章,要求檢驗(yàn)用負(fù)載“表面光潔度不低于7級(jí)”改為“表面粗糙度犚犪優(yōu)于

6.4μm”;將“第3條”移至“范圍”一章。

犌犅/犜5170.14—2009

———在“檢驗(yàn)方法”一章,對(duì)圖1進(jìn)行了修改,刪除了圖2~圖7;關(guān)于最大動(dòng)態(tài)力的檢驗(yàn),“運(yùn)動(dòng)部件

等效質(zhì)量”改用“動(dòng)圈質(zhì)量”,并刪除了對(duì)應(yīng)的附錄“運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量的測(cè)量方法”;增加了

“8.3.4臺(tái)面一階共振頻率的檢驗(yàn)”和圖2;加速度單位由“犵”改為“m/s2”;“加速度波形失真

度的檢驗(yàn)”改為“臺(tái)面加速度諧波失真度的檢驗(yàn)”;對(duì)“臺(tái)面加速度幅值均勻度的檢驗(yàn)”1條進(jìn)行

了修改;“本底噪聲加速度的檢驗(yàn)”改為“試驗(yàn)系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗(yàn)”;修改了“8.12掃頻

速率誤差的檢驗(yàn)”。

———增加了“數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果”一章。

———增加了“檢驗(yàn)周期”一章。

———附錄A改為資料性附錄,并對(duì)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇作出了修改。

———附錄B改為資料性附錄,并對(duì)基本參數(shù)的指標(biāo)要求作出了修改。

本部分的附錄A、附錄B為資料性附錄。

本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。

本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人:鄭術(shù)力、肖建紅。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T5170.14—1985。

犌犅/犜5170.14—2009

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

基本參數(shù)檢驗(yàn)方法

振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

1范圍

本部分規(guī)定了振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、

檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、檢驗(yàn)方法及檢驗(yàn)結(jié)果等內(nèi)容。

本部分適用于對(duì)GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:

振動(dòng)(正弦)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)(以下簡(jiǎn)稱振動(dòng)臺(tái))基本參數(shù)的檢驗(yàn)方法。

對(duì)于帶有水平工作臺(tái)的振動(dòng)臺(tái),檢驗(yàn)項(xiàng)目中除頻率指示誤差、頻率穩(wěn)定度、振動(dòng)幅值指示誤差、掃頻

速率誤差、臺(tái)面溫度外,其余均應(yīng)參照檢驗(yàn)方法中的相應(yīng)條款進(jìn)行檢驗(yàn)。

本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條

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