標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則》相較于《GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整或更新:

首先,標(biāo)題從“基本參數(shù)檢定方法”變更為“檢驗(yàn)方法”,這一變化反映了標(biāo)準(zhǔn)覆蓋范圍的擴(kuò)展,不僅僅是針對基本參數(shù)的檢定,而是更廣泛地涵蓋了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備性能和功能的檢驗(yàn)要求。

其次,在術(shù)語定義部分,《GB/T 5170.1-2008》對一些關(guān)鍵術(shù)語進(jìn)行了修訂,并新增了一些術(shù)語以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步及行業(yè)需求的變化。例如,對于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、工作空間等概念給出了更加明確的定義。

再者,《GB/T 5170.1-2008》中增加了關(guān)于安全性的考量,強(qiáng)調(diào)了在進(jìn)行任何類型的測試之前必須確保設(shè)備本身及其操作過程中的安全性,這是1995年版本所沒有特別強(qiáng)調(diào)的內(nèi)容。

此外,《GB/T 5170.1-2008》還細(xì)化了檢驗(yàn)項(xiàng)目與方法,比如對于溫度波動(dòng)度、濕度偏差等指標(biāo)提出了更為具體的要求;同時(shí),也提供了更多樣化的檢測手段和技術(shù)指導(dǎo),使得整個(gè)檢驗(yàn)流程更加科學(xué)合理。

最后,新版本標(biāo)準(zhǔn)加強(qiáng)了對記錄保存的規(guī)定,要求所有相關(guān)數(shù)據(jù)和信息都應(yīng)該被妥善記錄并易于追溯,這有助于提高試驗(yàn)結(jié)果的可驗(yàn)證性和可靠性。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.1-2016
  • 2008-06-16 頒布
  • 2009-03-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則_第1頁
GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則_第2頁
GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則_第3頁
GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則_第4頁
GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則_第5頁
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束,剩余11頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛19.040

犓04

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜5170.1—2008

代替GB/T5170.1—1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)

方法總則

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊

犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犌犲狀犲狉犪犾

20080616發(fā)布20090301實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜5170.1—2008

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4檢驗(yàn)條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

5檢驗(yàn)儀器!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

6檢驗(yàn)周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

7檢驗(yàn)負(fù)載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

8對受檢設(shè)備的外觀和安全要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

9檢驗(yàn)記錄表!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

10檢驗(yàn)結(jié)果的處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

犌犅/犜5170.1—2008

前言

GB/T5170目前包含以下幾部分:

———GB/T5170.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

———GB/T5170.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.5—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.8—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.9—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.11—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用

機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

———GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用

電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

———GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用

液壓振動(dòng)臺(tái)

———GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用

離心機(jī)

———GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱

綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)

試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜

合試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備

本部分是GB/T5170的第1部分。

本部分代替GB/T5170.1—1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》。

本部分與GB/T5170.1—1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》相比,技術(shù)

內(nèi)容主要有如下變化:

———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試

驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則”;

———增加了前言;

———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”;

———?jiǎng)h除了術(shù)語“指示點(diǎn)”;

———修改了“溫度波動(dòng)度”的定義和計(jì)算方法;

———修改了“溫度變化速率”的定義和計(jì)算方法;

———增加了“相對濕度波動(dòng)度”的定義和計(jì)算方法;

———增加了“相對濕度均勻度”的定義和計(jì)算方法;

———增加了“每5min溫度平均變化速率”的定義和計(jì)算方法;

———增加了“溫度指示誤差”的定義;

犌犅/犜5170.1—2008

———增加了“相對濕度指示誤差”的定義;

———增加了“氣壓指示誤差”的定義;

———增加了“溫度過沖”的定義;

———增加了“溫度過沖量”的定義;

———增加了“相對濕度過沖”的定義;

———增加了“相對濕度過沖量”的定義;

———增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”的定義;

———增加了“相對濕度過沖恢復(fù)時(shí)間”的定義;

———?jiǎng)h除了“光譜能量分布偏差”的定義;

———?jiǎng)h除了“輻射強(qiáng)度偏差”的定義;

———?jiǎng)h除了“試驗(yàn)箱(室)環(huán)境參數(shù)中值”的定義;

———?jiǎng)h除了“試驗(yàn)箱(室)的調(diào)整值”的定義;

———?jiǎng)h除了“試驗(yàn)箱(室)指示儀表修正值”的定義;

———增加了“諧波失真度”的定義;

———增加了“振動(dòng)幅值均勻性”的定義;

———增加了“橫向振動(dòng)比”的定義;

———檢驗(yàn)負(fù)載改為空載;

———檢驗(yàn)儀器的要求更改為使用的測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(犽=2)不大于被測參數(shù)允

許偏差的三分之一;

———?jiǎng)h除了“試驗(yàn)箱(室)的調(diào)整及修正”部分。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。

本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人:伍偉雄、肖建紅、謝晨浩、鄭術(shù)力、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、喬新愚。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T5170.1—1985;

———GB/T5170.1—1995。

犌犅/犜5170.1—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)

方法總則

1范圍

GB/T5170的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備”)檢驗(yàn)所用術(shù)語和定義、檢驗(yàn)條件、檢

驗(yàn)儀器、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等要求。

本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn),其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢

驗(yàn)亦可參照使用。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。?,因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論