標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備》與《GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備》相比,在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新和完善,具體變化包括但不限于以下幾點(diǎn):
- 標(biāo)準(zhǔn)名稱有所調(diào)整,由“基本參數(shù)檢定方法”變更為“檢驗(yàn)方法”,這不僅限于對(duì)基本參數(shù)的檢定,還涵蓋了更廣泛的檢驗(yàn)要求。
- 在術(shù)語定義方面,《GB/T 5170.8-2008》版本增加了部分新術(shù)語,并對(duì)原有術(shù)語進(jìn)行了修訂或補(bǔ)充說明,以適應(yīng)技術(shù)發(fā)展和國際接軌的需求。
- 對(duì)鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的技術(shù)要求進(jìn)行了細(xì)化和完善,比如對(duì)于溫度控制精度、濕度條件以及噴霧量等關(guān)鍵指標(biāo)提出了更加嚴(yán)格的要求。
- 檢驗(yàn)項(xiàng)目及方法也有所擴(kuò)展,新增了一些檢測項(xiàng)目,并且針對(duì)不同類型的鹽霧試驗(yàn)設(shè)備(如連續(xù)噴霧式、周期噴霧式)制定了相應(yīng)的測試程序。
- 引入了更多先進(jìn)的測量技術(shù)和儀器設(shè)備推薦,旨在提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
- 加強(qiáng)了對(duì)安全性能的關(guān)注,在標(biāo)準(zhǔn)中增加了關(guān)于電氣安全等方面的具體規(guī)定。
- 考慮到環(huán)境保護(hù)的重要性,《GB/T 5170.8-2008》版本中特別強(qiáng)調(diào)了廢棄物處理的相關(guān)指導(dǎo)原則。
這些修改反映了行業(yè)技術(shù)進(jìn)步和市場需求的變化,為確保鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的質(zhì)量提供了更加全面和科學(xué)的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.8-2017
- 2008-06-16 頒布
- 2009-03-01 實(shí)施
下載本文檔
GB/T 5170.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
犐犆犛19.040
犓04
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜5170.8—2008
代替GB/T5170.8—1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—
犛犪犾狋犿犻狊狋狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
20080616發(fā)布20090301實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書
犌犅/犜5170.8—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4檢驗(yàn)項(xiàng)目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
5檢驗(yàn)用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
6檢驗(yàn)負(fù)載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
7檢驗(yàn)條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
8檢驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
10檢驗(yàn)周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
附錄A(規(guī)范性附錄)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
Ⅰ
書
犌犅/犜5170.8—2008
前言
GB/T5170目前包含以下幾部分:
———GB/T5170.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
———GB/T5170.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.5—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.8—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.9—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.11—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用
機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
———GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用
電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
———GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用
液壓振動(dòng)臺(tái)
———GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用
離心機(jī)
———GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱
綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)
試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜
合試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
本部分是GB/T5170的第8部分。
本部分代替GB/T5170.8—1996。與GB/T5170.8—1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子
產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備”;
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”;
———增加了“術(shù)語和定義”一章;
———增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(犽=2)
的要求;
———增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章;
Ⅲ
犌犅/犜5170.8—2008
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
———增加了附錄A“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”。
附錄A為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T5170.8—1985;
———GB/T5170.8—1996。
Ⅳ
犌犅/犜5170.8—2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
1范圍
GB/T5170的本部分規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條
件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
本部分適用于GB/T2423.17《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)
方法》和GB/T2423.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉
溶液)》所用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
對(duì)交變?cè)囼?yàn)所用濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)見GB/T5170.5。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期
溫馨提示
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