GB/T 7164-2004用于核反應(yīng)堆的輻射探測器特性及其測試方法

ICS17.140F88中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7164-2004代替GB/T7164—1994用于核反應(yīng)堆的輻射探測器特性及其測試方法Radiationdetectorsfornuclearreactors-Characteristicsandtestmethods2004-02-04發(fā)布2004-06-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T7164-2004前言范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4探測器特性4.1機械數(shù)據(jù)4.2電氣與核數(shù)據(jù)5測試環(huán)境及典型電路5.1環(huán)境條件…………….…·5.2測試的典型裝置………6測試儀器及其一般要求6.1測試儀器··…..…..6.2對測試儀器的要求6.3放射源／測試方法7.1甄別特性曲線的測試和閔值的選擇7.2坪長、坪斜的測試和推薦工作電壓的確定·7.3靈敏度的標(biāo)定7.4丫感應(yīng)度的測試………………7.5福度分辨率的測試…………二線性偏差、最高計數(shù)率和測量范圍上限（或最高允許中子注量率)的測試7.67.7每次電離事件電荷量的測試………7.8平均電荷收集時間的測試·氣體放大系數(shù)的測試……7.97.10本底的測試·167.11絕緣電阻的測試電容的測試7.1210使用壽命的測試7.137.14中子注量壽命(即燃耗壽命)的測試177.15溫度試驗17潮濕試驗7.16187.17浸水試驗187.18振動試驗沖擊試驗7.19187.20電磁環(huán)境試驗15包裝運輸試驗7.2118附錄A（資料性附錄)連接件及電纜特性

GB/T7164-2004前本標(biāo)準(zhǔn)是對（B/T7164—1994《用于核反應(yīng)堆的輻射探測器特性及其測試方法》以下簡稱原標(biāo)準(zhǔn))的修訂，編寫格式和規(guī)則符合GB/T1.1—2000。原標(biāo)準(zhǔn)自1994年發(fā)布以來，在實施過程中對堆用輻射探測器的研制、生產(chǎn)和使用都起到了重要作用。隨著我國核工業(yè)的發(fā)展.近年來探測器的種類不斷更新·其性能的測試方法也隨之有了新的內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)吸收了我國目前已用于核電站反應(yīng)堆、高溫氣冷堆、低溫供熱堆、軍用堆等的各種探測器的特性及其測試方法.并針對原標(biāo)準(zhǔn)在執(zhí)行過程中存在的問題和不足對原標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行修訂。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T7164—1994《用于核反應(yīng)堆的輻射探測器特性及其測試方法》與原標(biāo)準(zhǔn)相比·此次修訂包括如下內(nèi)容：在在"1范圍”的第2段增加“帶電纜和不帶電纜的”；“規(guī)范性引用文件“增加了"GB/T4960.6《核科學(xué)技術(shù)術(shù)語核儀器儀表》和”GB/T11684《核儀器電磁環(huán)境條件與試驗方法》：-對"3術(shù)語和定義"進(jìn)行了修改·刪去了GB/T4960.6包括的術(shù)語;將"5.2.2裂變電離室"改為"5.2.2.1單電纜裂變電離室”和"5.2.2.2雙電纜裂變電離圖3的儀表接線有改變；增加圖5.原圖5改為圖6,以后的圖號類推：77.1.2中的公式(1)改為"U。=1.1U,”；增加了7.3.1.3；第7章補充了“浸水試驗”和電磁環(huán)境試驗的內(nèi)容：-將4.2和4.3的內(nèi)容作為資料性附錄；文寧修改。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由中國核工業(yè)集團公司提出、本標(biāo)準(zhǔn)由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：北京核儀器廠。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：肖功珊。本標(biāo)準(zhǔn)于1987年1月首次發(fā)布.1994年8月第1次修訂

GB/T7164-2004用于核反應(yīng)堆的輻射探測器特性及其測試方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于核反應(yīng)堆的氣體電離輻射探測器的特性及其測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶電纜和不帶電纜的中子正比計數(shù)管(BF,計數(shù)管、He計數(shù)管、"B計數(shù)管)、裂變電離室(裂變脈沖電離室、裂變電流電離室)、中子電離室(丫補償中子電離室、無丫補償中子電離室)和電離室。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T4960.6核科學(xué)技術(shù)術(shù)語核儀器儀表GB/T10263.2—1988輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法溫度試驗GB/T10263.3—1988輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法天潮濕試驗GB/T10263.8—1988輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法振動試驗GB/T10263.9—1988輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法中擊試驗GB/T10263.10—1988輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法包裝運輸試驗GB/T11684核儀器電磁環(huán)境條件與試驗方法3術(shù)語和定義GB/T4960.6確定的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1中子電離室neutronionizationchamber含有"B材料(涂層或充氣）用于探測中子的電離室。電離主要是由中子與"B進(jìn)行核反應(yīng)產(chǎn)生的&粒子和鋰核引起的。3.2丫電離室gammaionizationchamber探測y輻射的電離室。電離主要是由丫輻射與室壁(或電極)和氣體發(fā)生康普頓效應(yīng)、光電效應(yīng)及電子對效應(yīng)產(chǎn)生的電子引起的。3.3飽和特性曲線saturationcharacteristiccurve在給定的輻照條件下,電離室輸出電流隨所加電壓變化的特性曲線3坪特性曲線plateauch