標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 7345-1994 控制微電機(jī)基本技術(shù)要求》相較于《GB 7345-1987》,在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新和調(diào)整,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步與行業(yè)需求的變化。具體變化包括但不限于以下幾個(gè)方面:
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標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)的轉(zhuǎn)變:從強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB)轉(zhuǎn)變?yōu)橥扑]性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB/T),這一變動(dòng)反映了對(duì)控制微電機(jī)領(lǐng)域內(nèi)相關(guān)技術(shù)要求的一種更為靈活的態(tài)度,鼓勵(lì)而非強(qiáng)制企業(yè)采用。
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術(shù)語(yǔ)定義的更新:新版標(biāo)準(zhǔn)中可能對(duì)某些專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)或概念進(jìn)行了重新定義或補(bǔ)充說(shuō)明,以便更準(zhǔn)確地反映當(dāng)前技術(shù)水平下對(duì)于控制微電機(jī)的理解。
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性能指標(biāo)的調(diào)整:隨著技術(shù)的發(fā)展,《GB/T 7345-1994》可能會(huì)根據(jù)最新的研究成果和技術(shù)趨勢(shì),對(duì)控制微電機(jī)的各項(xiàng)性能參數(shù)如效率、噪聲水平等提出了更高或更加具體的要求。
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測(cè)試方法及條件的改進(jìn):為確保產(chǎn)品符合新的性能標(biāo)準(zhǔn),《GB/T 7345-1994》可能引入了更為先進(jìn)的檢測(cè)手段或者修改了原有的試驗(yàn)條件,使得測(cè)試過(guò)程更加科學(xué)合理。
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安全性和環(huán)保要求加強(qiáng):考慮到環(huán)境保護(hù)意識(shí)的提升以及對(duì)用戶健康的重視,《GB/T 7345-1994》很可能增加了關(guān)于材料選用、電磁兼容性等方面的規(guī)定,旨在減少有害物質(zhì)使用并提高產(chǎn)品的安全性。
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文檔結(jié)構(gòu)優(yōu)化:為了便于使用者理解和查閱,新版本還可能對(duì)整個(gè)文件的組織架構(gòu)進(jìn)行了調(diào)整,使其邏輯更加清晰、條理分明。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7345-2008
- 1994-01-21 頒布
- 1994-10-01 實(shí)施



文檔簡(jiǎn)介
UDC621.313.3-181.4L33中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7345-94控制微電機(jī)基本技術(shù)要求Generalrequirementsforelectricalmicromachineforautomaticcontrolsystem1994-01-21發(fā)布1994-10-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
次主題內(nèi)容與適用范圍·12引用標(biāo)準(zhǔn)……3分類(lèi)……4技術(shù)要求………試驗(yàn)方法·6檢驗(yàn)規(guī)則…(11)質(zhì)量保證期……·7(13)8標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和財(cái)存·(13)附錄A阻抗和電刷接觸電阻變化的測(cè)量方法(補(bǔ)充件)(23)
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)控制微電機(jī)基本技術(shù)要求GB/T7345-94Generalrequirementsforelectrical代替GB7345micromachineforautomatic87controlsystem主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了機(jī)座外徑不大于130mm的自整角機(jī)、旋轉(zhuǎn)變壓器、傳輸解算器、感應(yīng)移相器、感應(yīng)同步器、軸角編碼器、測(cè)速發(fā)電機(jī)、伺服電動(dòng)機(jī)、步進(jìn)電動(dòng)機(jī)、力矩電動(dòng)機(jī)、磁漸同步電動(dòng)機(jī)等控制微電機(jī)以及由上述電機(jī)組成機(jī)組(以下簡(jiǎn)稱電機(jī))的基本技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、則存等要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于機(jī)座外徑不大于130mm的控制微電機(jī),機(jī)座外徑大于130mm的控制微電機(jī)也應(yīng)參照使用。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與每類(lèi)電機(jī)的通用技術(shù)條件及單個(gè)電機(jī)的專(zhuān)用技術(shù)條件一起使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ea:沖擊試驗(yàn)方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Fe:振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ga:恒加速度試驗(yàn)方法GB2423.16電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J;長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法GB2423.17電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法GB2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法GB2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法GB2423.29電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)U:引出端及整體安裝強(qiáng)度GB2828逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB3241聲和振動(dòng)分析用的1/1和1/3倍頻程濾波器GB5872控制微電機(jī)包裝技術(shù)條件GB6833.9電子測(cè)量?jī)x器電磁兼容性試驗(yàn)規(guī)范傳導(dǎo)干擾試驗(yàn)GB6833.10電子測(cè)量?jī)x器電磁兼容性試驗(yàn)規(guī)范輻射干擾試驗(yàn)GB7346控制微電機(jī)基本外形
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