標(biāo)準(zhǔn)解讀
《JJF 1503-2015 電容薄膜真空計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范》是中國國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范之一,旨在為電容薄膜真空計(jì)的校準(zhǔn)提供一套標(biāo)準(zhǔn)化的操作流程和技術(shù)要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中以及修理后的電容薄膜真空計(jì)的校準(zhǔn)工作。
根據(jù)文檔內(nèi)容,《JJF 1503-2015》首先明確了適用范圍,并對術(shù)語和定義進(jìn)行了詳細(xì)說明,確保所有參與者對于關(guān)鍵概念有著統(tǒng)一的理解。接著,它列出了進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)儀器及其性能要求,比如參考真空計(jì)應(yīng)該達(dá)到的精度等級等信息。此外,還指定了被檢電容薄膜真空計(jì)的基本條件,包括但不限于其測量范圍、分辨率等方面的具體指標(biāo)。
在校準(zhǔn)方法部分,《JJF 1503-2015》規(guī)定了具體的步驟,從準(zhǔn)備工作到實(shí)際操作再到數(shù)據(jù)處理都有詳盡指導(dǎo)。例如,在準(zhǔn)備階段需要檢查設(shè)備狀態(tài)是否正常;在實(shí)施過程中,則需按照一定的順序連接好所有組件并調(diào)整至合適的工作狀態(tài);最后,在完成一系列測量后,還需要對收集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算,以確定被測儀器的各項(xiàng)性能參數(shù)是否符合預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)。
除了上述主要內(nèi)容外,《JJF 1503-2015》還強(qiáng)調(diào)了環(huán)境條件對于校準(zhǔn)結(jié)果的影響,建議在特定溫濕度范圍內(nèi)開展實(shí)驗(yàn),并且注意避免外界干擾因素。同時(shí),文件也提到了關(guān)于記錄保存的要求,即在整個(gè)校準(zhǔn)活動(dòng)中產(chǎn)生的所有原始數(shù)據(jù)及相關(guān)信息都應(yīng)當(dāng)妥善歸檔備查。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2015-01-30 頒布
- 2015-04-30 實(shí)施
文檔簡介
中華人民共和國國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范
JJF1503—2015
電容薄膜真空計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范
CalibrationSpecificationforCapacitanceDiaphragmVacuumGauges
2015-01-30發(fā)布2015-04-30實(shí)施
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
JJF1503—2015
電容薄膜真空計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范??
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CalibrationSecificationfor?JJF1503—2015?
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CapacitanceDiaphragmVacuumGauges
歸口單位全國壓力計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
:
主要起草單位中國計(jì)量科學(xué)研究院
:
參加起草單位上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院
:
上海振太儀表有限公司
浙江省計(jì)量科學(xué)研究院
本規(guī)范委托全國壓力計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋
JJF1503—2015
本規(guī)范主要起草人
:
于紅燕中國計(jì)量科學(xué)研究院
()
王金庫中國計(jì)量科學(xué)研究院
()
參加起草人
:
許紅上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院
()
丁基敏上海振太儀表有限公司
()
陳宇航浙江省計(jì)量科學(xué)研究院
()
JJF1503—2015
目錄
引言
………………………(Ⅱ)
范圍
1……………………(1)
引用文件
2………………(1)
術(shù)語和計(jì)量單位
3………………………(1)
術(shù)語
3.1…………………(1)
計(jì)量單位
3.2……………(2)
概述
4……………………(2)
計(jì)量特性
5………………(3)
修正因子
5.1……………(3)
零位變化量
5.2…………(3)
校準(zhǔn)條件
6………………(3)
環(huán)境條件
6.1……………(3)
測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備
6.2………………(3)
校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法
7…………………(4)
校準(zhǔn)項(xiàng)目
7.1……………(4)
校準(zhǔn)方法
7.2……………(4)
校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)
8…………(7)
復(fù)校時(shí)間間隔
9…………(8)
附錄電容薄膜真空計(jì)校準(zhǔn)記錄格式
A………………(9)
附錄校準(zhǔn)證書內(nèi)頁格式
B()………(10)
附錄電容薄膜真空計(jì)修正因子測量結(jié)果的不確定度評定方法
C…(11)
附錄熱流逸效應(yīng)下電容薄膜真空計(jì)修正因子的溫度修正
D………(15)
Ⅰ
JJF1503—2015
引言
國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則通用計(jì)量術(shù)語及
JJF1071—2010《》、JJF1001—2011《
定義測量不確定度評定與表示和真空技術(shù)術(shù)語
》、JJF1059-1《》GB/T3163—2007《》
共同構(gòu)成本規(guī)范制定的基礎(chǔ)性系列規(guī)范
。
本校準(zhǔn)規(guī)范參照真空計(jì)與標(biāo)準(zhǔn)真空計(jì)直接比對的
ISO/TS3567:2011(E)《———
校準(zhǔn)
》(Vacuumgauge—Calibrationbydirectcomparisonwithareferencegauge)、
真空技術(shù)真空計(jì)與標(biāo)準(zhǔn)真空計(jì)直接比對校準(zhǔn)結(jié)果
ISO/TS27893:2009(E)《——————
的不確定度評定
》(Vacuumtechnology—Vacuumgauge—Evaluationoftheuncertaintiesof
和真空技術(shù)手冊
resultsofcalibrationsbydirectcomparisonwithareferencegauge)《》
中第章全壓真空計(jì)
(HandbookofVacuumTechnology)13(TotalPressureVacuum
和第章校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行制定采用了其中的
Gauge)15(CalibrationsandStandards),
基本原則對具體方法和技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行了細(xì)化補(bǔ)充和修改
,、。
本規(guī)范為首次制定
。
Ⅱ
JJF1503—2015
電容薄膜真空計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范
1范圍
本規(guī)范適用于測量范圍在的電容薄膜真空計(jì)的校準(zhǔn)其中包括絕
0.1Pa~133kPa,
壓電容薄膜真空計(jì)和差壓電容薄膜真空計(jì)
。
2引用文件
本規(guī)范引用了下列文件
:
通用計(jì)量術(shù)語及定義
JJF1001—2011
壓力計(jì)量名詞術(shù)語及定義
JJF1008—2008
真空技術(shù)術(shù)語
GB/T3163—2007
真空技術(shù)圖形符號
GB/T3164—2007
真空計(jì)與標(biāo)準(zhǔn)真空計(jì)直接比對的校準(zhǔn)
ISO/TS3567:2011(E)———(Vacuum
gauge—Calibrationbydirectcomparisonwithareferencegauge)
真空技術(shù)真空計(jì)與標(biāo)準(zhǔn)真空計(jì)直接比對校準(zhǔn)
ISO/TS27893:2009(E)——————
結(jié)果的不確定度評定
(Vacuumtechnology—Vacuumgauge—Evaluationoftheuncer-
taintiesofresultsofcalibrationsbydirectcomparisonwithareferencegauge)
真空技術(shù)手冊第章校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)
《》(HandbookofVacuumTechnology)15(Cali-
brationsandStandards)
凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文
,;
件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范
,()。
3術(shù)語和計(jì)量單位
術(shù)語
3.1
真空計(jì)定義
3.1.1(vacuumgauge)[GB/T3163—20074.1.2]
測量低于大氣壓力的氣體或蒸汽壓力的一種儀器
。
電容薄膜真空計(jì)
3.1.2(capacitancediaphragmvacuumgauge)
利用膜片受到壓差產(chǎn)生位移造成膜片與固定電極之間的電容量發(fā)生變化
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