標(biāo)準(zhǔn)解讀
《JJG 48-2004 硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),其主要目的是規(guī)定硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片的計(jì)量性能要求、技術(shù)要求、檢定方法及檢定結(jié)果處理等。該標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中和修理后的硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片的首次檢定、后續(xù)檢定以及使用中的檢驗(yàn)。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片需滿足一定的物理特性要求,包括但不限于尺寸規(guī)格、表面狀態(tài)等。此外,對(duì)于電阻率值及其不確定度也有明確的規(guī)定,確保這些樣片能夠作為準(zhǔn)確可靠的參考物用于校準(zhǔn)或測(cè)試其他材料的電阻率。
在檢定過(guò)程中,需要采用適當(dāng)?shù)姆椒▉?lái)測(cè)量硅單晶樣片的電阻率,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析以確定是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這通常涉及到使用四探針?lè)ɑ蚱渌J(rèn)可的技術(shù)手段來(lái)進(jìn)行精確測(cè)量。同時(shí),還應(yīng)考慮環(huán)境條件(如溫度)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,并采取相應(yīng)措施減少或消除此類影響。
標(biāo)準(zhǔn)中還詳細(xì)描述了如何處理檢定結(jié)果,包括記錄保存方式、證書(shū)格式等內(nèi)容,旨在保證整個(gè)過(guò)程的一致性和可追溯性。通過(guò)遵循此標(biāo)準(zhǔn),可以有效提高硅單晶電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確性與可靠性,促進(jìn)相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)質(zhì)量控制水平的提升。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)JJF 1760-2019
- 2004-09-21 頒布
- 2005-03-21 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程
JJG48—2004
硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片
StandardSliceofSingleCrystalSiliconResistivity
2004-09-21發(fā)布2005-03-21實(shí)施
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
JJG48—2004
硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片
??
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檢定規(guī)程?JJG48—2004?
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代替JJG48—1990?
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VerificationRegulationofStandard
SliceofSingleCrystalSiliconResistivity
本規(guī)程經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局于年月日批準(zhǔn)并自
20040921
年月日施行
20050321。
歸口單位:全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
主要起草單位:中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院
參加起草單位:廣州半導(dǎo)體材料研究所
本規(guī)程委托全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋
JJG48—2004
本規(guī)程主要起草人:
魯效明中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院
()
參加起草人:
謝鴻波廣州半導(dǎo)體材料研究所
()
JJG48—2004
目錄
范圍……………………
1(1)
概述……………………
2(1)
計(jì)量性能要求…………
3(1)
標(biāo)準(zhǔn)樣片的電阻率的測(cè)量范圍……………………
3.1(1)
標(biāo)準(zhǔn)樣片的標(biāo)稱值…………………
3.2(1)
標(biāo)準(zhǔn)樣片應(yīng)具備的參數(shù)及性能要求………………
3.3(1)
通用技術(shù)要求…………
4(2)
計(jì)量器具控制…………
5(3)
檢定條件……………
5.1(3)
檢定項(xiàng)目及檢定方法………………
5.2(5)
檢定結(jié)果的處理……………………
5.3(7)
檢定周期……………
5.4(8)
附錄硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片溫度修正系數(shù)表……
A(9)
附錄硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片的清洗方法…………
B(10)
附錄硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定原始記錄………
C(11)
附錄硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定證書(shū)及檢定結(jié)果通知書(shū)內(nèi)頁(yè)格式……………
D(12)
附錄硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定結(jié)果的計(jì)算與處理……………
E(13)
附錄計(jì)算硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片的各種修正系數(shù)表……………
F(15)
附錄不同直徑的硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片距邊緣處的修正系數(shù)表F…
G6mm(eg)(16)
JJG48—2004
硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定規(guī)程
1范圍
本規(guī)程適用于硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片的首次檢定后續(xù)檢定和使用中的檢驗(yàn)
、。
2概述
硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片以下簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)樣片是用高純多晶硅經(jīng)過(guò)單晶制備再
(),,
經(jīng)中子嬗變摻雜等多種工藝制造的具有一定幾何尺寸的實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)由不確定度已知的
,。
標(biāo)準(zhǔn)裝置對(duì)該實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的電阻率及其它指標(biāo)給予標(biāo)定使用時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)樣片為準(zhǔn)對(duì)相
,,,
關(guān)參數(shù)進(jìn)行量值傳遞
。
3計(jì)量性能要求
標(biāo)準(zhǔn)樣片的電阻率的測(cè)量范圍
3.1
電阻率的測(cè)量范圍
0.005Ω·cm~5000Ω·cm。
標(biāo)準(zhǔn)樣片的標(biāo)稱值
3.2
標(biāo)準(zhǔn)樣片的標(biāo)稱值應(yīng)符合下述個(gè)規(guī)格中的一個(gè)見(jiàn)表
19,1:
表1標(biāo)準(zhǔn)樣片的標(biāo)稱值
Ω·cm
電阻率標(biāo)稱值
0.0050.010.020.050.10.20.5125
102575180250500100020005000
標(biāo)準(zhǔn)樣片應(yīng)具備的參數(shù)及性能要求
3.3
標(biāo)準(zhǔn)樣片除具有電阻率標(biāo)稱值和實(shí)際值外還應(yīng)有下列參數(shù)或數(shù)據(jù)導(dǎo)電類
3.3.1,,:
型摻雜元素直徑值厚度值和使用要求
、、、。
對(duì)不同級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)樣片各項(xiàng)指標(biāo)的要求見(jiàn)表
3.3.2,2。
表2標(biāo)準(zhǔn)樣片的各項(xiàng)指標(biāo)
樣片級(jí)別
合格指標(biāo)
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