使用LabVIEW和FPGA來創(chuàng)建一個自動化的微控制器測試系統(tǒng)-技術(shù)方案

精品文檔-下載后可編輯使用LabVIEW和FPGA來創(chuàng)建一個自動化的微控制器測試系統(tǒng)-技術(shù)方案對于之前的應(yīng)用程序測試平臺，我們使用公司內(nèi)部開發(fā)的控制器板，但該板需要一套單獨的兼容工具鏈來這些應(yīng)用程序。此外，我們還很難對這些工具鏈的用戶界面進行導(dǎo)航，不得不使用額外的測試和測量設(shè)備。

有了虛擬儀器，我們可以使用同一套軟件和模塊化硬件執(zhí)行以下測試：

測試常見的協(xié)議（SPI,ASC,I2C）

測試PWM,ICU

測試模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器

測試控制器區(qū)域網(wǎng)絡(luò)（CAN）

測試時鐘和門控

測試多模塊同時運行系統(tǒng)

對于需要測試的應(yīng)用來說，使用FPGA的可重編程功能，它和LabVIEW之間的自動化接口以及CAN分析儀功能，我們可以很容易地開發(fā)我們的系統(tǒng)。

在整個框架上，我們節(jié)省了大量的時間和成本。在此之前，對于微控制器的每個模塊/外設(shè)，測試十至二十個我們需要花費四至五個小時。使用我們所創(chuàng)建的基于NI產(chǎn)品的系統(tǒng)，相同的一組測試執(zhí)行時間在十到十五分鐘內(nèi)，而且測試質(zhì)量顯著地提高。

我們需要合適的測試平臺應(yīng)用程序以測試微控制器的不同外設(shè)。比如，為了測試SPI接口，我們需要建立SPI主機或者從機作為測試平臺。我們使用LabVIEWFPGAVIs（CAN接口的CANVI）來創(chuàng)建每個測試平臺?？蚣軆?nèi)測試構(gòu)造則是指各自的VI.

在框架中，我們可以創(chuàng)建一個LabVIEW對象以獲取VI引用，對于每個測試的需求，都為用戶配置了輸入控件和顯示控件。執(zhí)行自動化框架中的測試，需要調(diào)用特定的VI,配置該VI,運行它。

該框架無需用戶參與就可以執(zhí)行測試。比如，測量PWM信號的解決方案如下：VI測量占空比和信號頻率，然后將其保存到Excel文件中。

另一種解決方案涉及從SPI主機接收數(shù)據(jù)。作為從機SPI的VI可以從主機測試設(shè)備（DUT）中接收數(shù)據(jù)。SPI從機工作在不同的波特率和變化的數(shù)據(jù)比特下。用戶可以配置VI,而其運行取決于測試設(shè)備（DUT）的主SPI的配置。

然而，還有一種解決方案涉及產(chǎn)生所需的脈沖個數(shù)以測試捕獲和計數(shù)模塊。VI可以產(chǎn)生在上升沿或者下降沿觸發(fā)的脈沖。在VI運行時，用戶可以配置VI以產(chǎn)生所需個數(shù)的脈沖。

結(jié)論

使用NI公司的產(chǎn)品，我們可以使用一套軟硬件解決方案，輕而易舉地測試不同的微控制器外