第六章脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)

第六章脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)第1頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三脈沖反射法超聲檢測(cè)的基本步驟1、工件情況2、檢測(cè)前的準(zhǔn)備工作3、儀器、探頭、試塊的選擇4、儀器調(diào)節(jié)及靈敏度的確定5、耦合補(bǔ)償6、掃查方式7、缺陷的測(cè)定、記錄和評(píng)定8、出具報(bào)告9、儀器、探頭系統(tǒng)的復(fù)核第2頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三目錄檢測(cè)面的選擇和準(zhǔn)備儀器與探頭的選擇耦合劑的選用縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)影響缺陷定位、定量的主要因素檢測(cè)記錄和報(bào)告第3頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.1檢測(cè)面的選擇和準(zhǔn)備根本原則：根據(jù)被檢測(cè)缺陷的位置、取向，使入射聲束盡可能垂直于缺陷反射面；

缺陷的最大可能取向應(yīng)根據(jù)被檢工件材質(zhì)、坡口形式、焊接工藝等判斷；

粗糙度應(yīng)≤6.3μm，表面應(yīng)清除雜物、松動(dòng)氧化皮、毛刺、油污等；第4頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.2儀器與探頭的選擇儀器的選擇

儀器和各項(xiàng)指標(biāo)要符合檢測(cè)對(duì)象標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。主要考慮：靈敏度、分辨力、定量要求，定位要求和便攜、穩(wěn)定等方面。1、對(duì)定位要求高時(shí)，應(yīng)選擇水平線性誤差小的儀器2、對(duì)定量要求高時(shí)，應(yīng)選擇垂直線性誤差小，衰減器精度高的儀器，3、對(duì)大型工件或粗晶材料工件探傷，可選擇功率大，靈敏度余量高，信噪比高，低頻性能好的儀器。4、對(duì)近表面缺陷檢測(cè)要求高時(shí)，可選擇盲區(qū)小，近區(qū)分辨好的儀器。5、室外現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，重量輕、熒光屏亮度高、抗干擾能力好的儀器。第5頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.2儀器與探頭的選擇探頭的選擇型式選擇：原則為根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和檢測(cè)目的決定焊縫——橫波斜探頭、縱波斜探頭鋼板、鑄件——縱波直探頭鋼管、水浸板材——聚焦探頭（線、點(diǎn)聚焦）近表面缺陷——雙晶探頭表面缺陷——表面波探頭螺栓端面檢測(cè)及檢測(cè)面較小——小角度縱波斜探頭第6頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.2儀器與探頭的選擇探頭頻率選擇標(biāo)準(zhǔn)：0.5~10MHz，常用2.5~5MHz。1、超聲波檢測(cè)靈敏度λ/2，對(duì)鋼用2.5~5MHz，λ為：縱波2.36~1.18，橫波1.29~0.65，則縱波檢測(cè)缺陷最小值為：0.6~1.2mm，橫波檢測(cè)缺陷最小值為：0.3~0.6mm。2、頻率高，脈沖寬度小，分辨率高。3、頻率高，半擴(kuò)散角小，指向性好，發(fā)現(xiàn)小缺陷能力強(qiáng)。4、頻率高，近場(chǎng)區(qū)大，對(duì)檢測(cè)不利。5、頻率高，衰減大，厚工件、粗晶材料選用低頻。第7頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.2儀器與探頭的選擇帶寬的選擇：帶寬：超聲脈沖頻率具有無(wú)數(shù)個(gè)頻率，在主頻率附近可利用的頻率有一個(gè)范圍，稱帶寬。寬帶探頭：脈沖短，即脈沖寬度小，深度分辨率好，盲區(qū)小，靈敏度較低，信噪比好，適合粗晶材料探傷。窄帶探頭：脈沖長(zhǎng)，即脈沖寬度大，深度分辨率差，盲區(qū)大，靈敏度高，穿透力強(qiáng)。第8頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.2儀器與探頭的選擇晶片尺寸選擇晶片尺寸要滿足標(biāo)準(zhǔn)要求，如滿足JB/T4730-2005要求，即晶片面積≤500mm2，任一邊長(zhǎng)≤25mm。1、晶片大，半擴(kuò)散角小，指向性好，聲束軸線附近缺陷檢出能力強(qiáng)。2、晶片大，近場(chǎng)區(qū)大，對(duì)檢測(cè)不利；輻射的超聲波能量大，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力強(qiáng)。3、考慮檢測(cè)面的結(jié)構(gòu)情況如對(duì)小型工件，曲率大的工件復(fù)雜形狀工件為便于耦合要用小晶片，對(duì)平面工件，晶片可大一些。第9頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.2儀器與探頭的選擇探頭K值的選擇1、保證聲束掃到整個(gè)檢測(cè)斷面，對(duì)不同工件形狀要具體分析選擇。2、盡可能使檢測(cè)聲束與缺陷垂直，在條件許可時(shí)，盡量用K大些的探頭。薄工件K大些，聲程大，避免近場(chǎng)檢測(cè)；厚工件K可小些。3、根據(jù)檢測(cè)對(duì)象選K：如單面焊根部未焊透，選K=0.7-1.43，檢測(cè)靈敏度最高。第10頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.3耦合劑的選用耦合—實(shí)現(xiàn)聲能從探頭向工件的傳遞，它可用探測(cè)面上聲強(qiáng)透過(guò)率來(lái)表示耦合的好壞，聲強(qiáng)透過(guò)率高，表示聲耦合好。耦合劑—在工件與探頭之間表面，涂敷液體、排除空氣，實(shí)現(xiàn)聲能傳遞，該液體即耦合劑。常用：水，機(jī)油、甘油、水玻璃、化學(xué)漿糊，纖維素、洗潔精等對(duì)耦合劑的要求對(duì)工件表面和探頭表面有足夠浸潤(rùn)性，并有流動(dòng)性，附著力強(qiáng)，易清洗

聲阻抗大，應(yīng)盡量和被檢工件接近對(duì)人體無(wú)害，對(duì)工件無(wú)腐蝕作用來(lái)源廣，價(jià)格低廉性能穩(wěn)定

第11頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.3.3影響聲耦合的主要因素耦合層厚度d工件表面粗糙度耦合劑聲阻抗工件表面形狀第12頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.3.3影響聲耦合的主要因素耦合層厚度d

即半波長(zhǎng)整數(shù)倍時(shí)聲壓透射率為1，幾乎無(wú)反射，聲能全部透射。好象耦合層不存在。即四分之一波長(zhǎng)奇數(shù)倍時(shí)，聲壓透射率最低，反射率最高。d→0,最好。第13頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.3.3影響聲耦合的主要因素工件表面粗糙度1、同一耦合劑，隨粗糙度增大，耦合效果差，反射回波低。2、聲阻抗低的耦合劑，隨粗糙度增大，耦合效果降低的更快。3、表面太光滑，耦合效果降不會(huì)顯著增加，但探頭移動(dòng)困難。耦合劑聲阻抗

同一檢測(cè)面，耦合劑聲阻抗越大耦合效果越好。實(shí)際耦合劑聲阻抗在1.5~2.5×106公斤/米2，而鋼聲阻抗為45×106公斤/米2。第14頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.3.3影響聲耦合的主要因素工件表面形狀平面工件耦合最好。凸曲面次之，點(diǎn)或線接觸、凹曲面均耦合不好，中心不接觸。曲率半徑越大，耦合效果越好。第15頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)6.4.1儀器調(diào)整

時(shí)基線的調(diào)整，又叫掃描線比例調(diào)節(jié)，俗稱定標(biāo)。實(shí)際是掃描速度和零偏調(diào)整兩步，儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，是兩步并作一步走，手動(dòng)校準(zhǔn)可分步校準(zhǔn)。掃描速度調(diào)整的實(shí)質(zhì)是聲速校準(zhǔn)。聲速校準(zhǔn)正確的標(biāo)志是：熒光屏上兩次底波之間的距離等于板厚（掃描線比例1∶1）或等于n分之一板厚（掃描線比例1∶n）。如：板厚為50mm，一二次底波在熒光屏4格和9格（掃描線比例1∶1）；板厚為100mm，一二次底波在熒光屏3格和5.5格（掃描線比例1∶4）。聲速校準(zhǔn)完成后，把一次底波在熒光屏板厚位置，或把二次底波在熒光屏2倍板厚位置，零偏調(diào)整完畢。熒光屏0刻度即為工件表面0點(diǎn)，時(shí)基線的讀數(shù)直接表示反射回波深度。先校聲速，后調(diào)零偏。第16頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.1儀器調(diào)整第17頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.1儀器調(diào)整檢測(cè)靈敏度調(diào)整1）試塊法將探頭對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊上人工缺陷探測(cè)使波高達(dá)到某基準(zhǔn)波高，再根據(jù)工件厚度、要求、調(diào)節(jié)衰減器達(dá)到要求的靈敏度。①試塊和工件材質(zhì)不同，衰減不同的補(bǔ)償。②試塊和工件表面粗糙度不同的補(bǔ)償。③試塊反射體聲程和工件檢測(cè)靈敏度要求聲程不同引起補(bǔ)償（擴(kuò)散、材質(zhì)）。④試塊反射體和工件檢測(cè)靈敏度要求的反射體種類(lèi)不同引起補(bǔ)償。第18頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.1儀器調(diào)整2）工件底波法調(diào)整靈敏度只要求出底波高與要求的檢測(cè)靈敏度反射體之間回波高度差。①方便、不用試塊②不考慮表面補(bǔ)償③不考慮材質(zhì)衰減（底面缺陷和底波聲程相同）大平底與平底孔的分貝差：2.5P20Z探頭，400mm鋼制大平底與同聲程Φ

2平底孔的分貝差：44dB。調(diào)整第19頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.1儀器調(diào)整傳輸修正值的測(cè)定1、試塊與工件厚度相同時(shí)試塊上第一次回波B1調(diào)到基準(zhǔn)波高時(shí)衰減器讀數(shù)dB值V1

，工件上第一次回波B1′……讀數(shù)dB值V2

，則傳輸修正值△dB＝V1—V2(dB)

△dB為正，提高增益；△dB為負(fù)，降低增益；傳輸修正值是表面耦合損失和材質(zhì)衰減的總和。2、試塊與工件厚度不相同時(shí)按上述試塊與工件同厚度測(cè)得的△dB值，再按下式修正：式中：X工—工件聲程（mm）X試—試塊聲程（mm）第20頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.1儀器調(diào)整工件材質(zhì)衰減系數(shù)測(cè)定：1、衰減系數(shù)（T＜3N，且滿足n＞3N/T，m=2n）式中：α——衰減系數(shù)，dB/m（單程）；（Bn-Bm）-兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；

T——工件檢測(cè)厚度，mm；

N——單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，mm；m、n——底波反射次數(shù)。2、衰減系數(shù)（T≥3N）材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)考慮修正。第21頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)6.4.2掃查掃查到整個(gè)探傷面；聲束掃查到整個(gè)工件檢測(cè)范圍內(nèi)全體積；探頭移動(dòng)間距相鄰有一定范圍覆蓋重疊區(qū)；掃查速度滿足JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)要求有效聲束范圍。第22頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)6.4.3缺陷的評(píng)定缺陷位置確定

缺陷平面位置：找到缺陷最大反射波，缺陷位于探頭主聲束上，即在探頭正下方工件內(nèi)。

埋藏深度：根據(jù)缺陷波聲程及掃描線比例計(jì)算得出。第23頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)缺陷尺寸的評(píng)定（1）回波高度法a）缺陷回波高度法：根據(jù)缺陷回波高度比檢測(cè)靈敏度下基準(zhǔn)波高比較，確定缺陷大小。b）底波高度法BF—為缺陷處底波高度，F(xiàn)—缺陷波高，BG—無(wú)缺陷處底波高度。第24頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)（2）缺陷當(dāng)量評(píng)定法（適用于小于聲場(chǎng)的缺陷的當(dāng)量測(cè)定）a）試塊對(duì)比法：將工件中自然缺陷與人工缺陷（試塊上標(biāo)準(zhǔn)反射體）回波進(jìn)行比較，定出的缺陷當(dāng)量。當(dāng)量尺寸。優(yōu)點(diǎn)：明確直觀，結(jié)果可靠，不受近場(chǎng)區(qū)的限制，對(duì)儀器的水平線性和垂直線性要求也不高，尤其是x＜3N的情況。缺點(diǎn)：需要大量的試塊，攜帶不方便。第25頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)2）缺陷當(dāng)量評(píng)定法（適用于小于聲場(chǎng)的缺陷的當(dāng)量測(cè)定）

b）當(dāng)量計(jì)算方法：利用規(guī)則形狀反射體回波聲壓與缺陷回波聲壓（缺陷波高dB值）進(jìn)行比較得到缺陷當(dāng)量。測(cè)出缺陷回波高度與基準(zhǔn)平底孔回波高度的分貝差△dB，則缺陷的當(dāng)量尺寸d：dj、xj—基準(zhǔn)平底孔的直徑與埋深，d、x—缺陷的當(dāng)量直徑與埋深，測(cè)出缺陷回波高度與大平底的回波高度的分貝差△dB，則缺陷的當(dāng)量尺寸d：

xD—大平底距探頭的距離。第26頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)2）缺陷當(dāng)量評(píng)定法

c）通用AVG曲線法：d=GD例3:2.5P14Z直探頭檢測(cè)420mm鋼工件，在210mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷比工件底波低26dB，求當(dāng)量尺寸。查圖：G=0.2d=0.2×14=2.8mm第27頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)（3）缺陷延伸長(zhǎng)度的測(cè)定（適用于缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)的缺陷）

a）相對(duì)靈敏度法

相對(duì)靈敏度法是以缺陷最高回波為基準(zhǔn)，使探頭沿缺陷長(zhǎng)度方向兩端移動(dòng)，使缺陷波下降一定的dB值，常用6dB法（半波）、端點(diǎn)6dB法（半波）、12dB法（1/4波高）、20dB法（全波消失）。

第28頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)b）絕對(duì)靈敏度法

探傷儀在規(guī)定靈敏度條件下沿缺陷方向移動(dòng)，使缺陷波下降至規(guī)定的位置如評(píng)定線，如GB11345和JB/T4730中Ⅰ區(qū)缺陷規(guī)定降到測(cè)長(zhǎng)線即為絕對(duì)靈敏度法。c）端點(diǎn)峰值法

在探頭移動(dòng)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)缺陷有多個(gè)高點(diǎn)，則將缺陷兩端點(diǎn)最大波高處探頭位置的距離作為端點(diǎn)峰值法指示長(zhǎng)度。

第29頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)6.4.4非缺陷回波的判別遲到波61°反射三角反射回波探頭雜波工件輪廓波

耦合劑反射幻象波草狀回波側(cè)壁干涉波其它變型波

第30頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三波型轉(zhuǎn)換與反射折射定律超聲波傾斜入射到平界面上的反射、折射(a)縱波入射；

(b)橫波入射

第31頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三1、遲到波條件：探頭在細(xì)長(zhǎng)工件（板或棒）一端縱波探測(cè)，擴(kuò)散聲束縱波斜射到側(cè)壁產(chǎn)生變型反射橫波，再經(jīng)反射變成縱波到達(dá)底面返回探頭形成遲到波。遲到的縱波聲程特定ΔX＝0.76d（d為板厚或棒直徑）。αL=70°，αS=33°變形橫波很強(qiáng)。第32頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三變型波的聲程之間的關(guān)系注意：以縱波來(lái)校準(zhǔn)儀器（定標(biāo)），或者說(shuō)縱波斜探頭檢測(cè)時(shí)，出現(xiàn)變形橫波，則示波屏上顯示的聲程SL與實(shí)際的橫波聲程SS之間的關(guān)系為：以橫波來(lái)校準(zhǔn)儀器（定標(biāo)），或者說(shuō)橫波斜探頭檢測(cè)時(shí)，出現(xiàn)變形縱波，則示波屏上顯示的聲程

SS與實(shí)際的縱波聲程SL之間的關(guān)系為：第33頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2、61°反射縱波入射角α與橫波反射角β滿足：α+β=90°在特定位置出現(xiàn)特定反射。β=90°-αsinβ=cosα對(duì)于鋼α=61°β=29°61°反射的聲程：第34頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2、61°反射A處61°反射的聲程：(ⅡW試塊上)B處反射的聲程：C處反射的聲程：第35頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三3、三角反射底波，d。不發(fā)生變形轉(zhuǎn)換，形成等邊三角形。發(fā)生變形轉(zhuǎn)換，形成等腰三角形，L-S-L。第36頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.4非缺陷回波的判別4、探頭雜波5、工件輪廓回波6、幻象波：重復(fù)頻率過(guò)高時(shí)產(chǎn)生，現(xiàn)重復(fù)頻率于深度范圍同步調(diào)節(jié)，一般不會(huì)產(chǎn)生。第37頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.4非缺陷回波的判別7、側(cè)壁干涉：縱波探頭靠近側(cè)壁，經(jīng)側(cè)壁反射的縱波和變型橫波與直接傳播的縱波互相干涉，造成探頭靠近側(cè)壁正對(duì)缺陷檢測(cè)缺陷回波低，探頭遠(yuǎn)離缺陷檢測(cè)反而缺陷回波高，缺陷位置給定時(shí)，有一個(gè)最佳位置，缺陷回波最高，但總是偏離缺陷。第38頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.4.4非缺陷回波的判別避免側(cè)壁干擾條件：側(cè)壁反射波聲程與直接傳播聲程差大于4λ。1、軸線小缺陷無(wú)側(cè)壁干擾條件：對(duì)鋼：2、底面無(wú)側(cè)壁干擾條件：對(duì)鋼：第39頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)6.5.1儀器調(diào)整

入射點(diǎn)、折射角測(cè)定掃描線比例調(diào)節(jié)

聲程比例、水平比例、深度比例調(diào)節(jié)。第40頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)數(shù)字機(jī)在CSK-ⅠA試塊上是聲程1∶1調(diào)節(jié)掃描比例。儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，把R50和R100同時(shí)調(diào)整到熒光屏刻度5和10，實(shí)際是聲程和零偏都校準(zhǔn)完畢。聲程校準(zhǔn)的實(shí)質(zhì)是聲速校準(zhǔn)。聲速校準(zhǔn)正確的標(biāo)志是：熒光屏上R50和R100回波之間的距離等于50mm。如：R50和R100回波在熒光屏4格和9格。聲速校準(zhǔn)完成后，把R100回波放在熒光屏刻度10的位置，或把R50回波放在熒光屏刻度5的位置，零偏調(diào)整完畢。熒光屏0刻度即為工件表面0點(diǎn)，時(shí)基線的讀數(shù)直接表示反射回波聲程。零偏就是聲束在探頭內(nèi)的聲程或傳播時(shí)間，從晶片到入射點(diǎn)。第41頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)第42頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)先校聲速，后調(diào)零偏。聲程校準(zhǔn)，K值校準(zhǔn)，則S、L、H正確；若聲程校準(zhǔn)，K值不準(zhǔn)，則S正確，L、H不正確；L、H是根據(jù)輸入的K值正交分解得來(lái)?？焖傩?zhǔn)儀器1：輸入橫波聲速3230或3240m/s，把R100回波放在熒光屏刻度100的位置，測(cè)K值、前沿，做曲線。最快校準(zhǔn)儀器2：直接輸入：cs、零偏、K值、前沿，做曲線。5分鐘內(nèi)搞定。第43頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)利用ⅡW2試塊（牛角試塊）調(diào)整聲程1∶1。

使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度25、100即可。利用半圓試塊調(diào)整聲程1∶1。

使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度0、100，然后調(diào)脈沖移位（水平旋鈕）使B1對(duì)準(zhǔn)水平刻度50即可。第44頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)水平調(diào)節(jié)、深度調(diào)節(jié):適用于模擬機(jī)，要先知道K值。聲束走走的路徑聲程，衰減計(jì)算按聲程，水平、深度只是便于模擬機(jī)定位。其它略。第45頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)距離—波幅曲線制作和靈敏度調(diào)整：略。傳輸修正值測(cè)定和補(bǔ)償：1）單探頭法測(cè)定工件與試塊厚度相同?！鱠B＝V1—V2(dB)△dB為正，提高增益；△dB為負(fù)，降低增益；傳輸修正值是表面耦合損失和材質(zhì)衰減的總和。第46頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)傳輸修正值測(cè)定和補(bǔ)償：1）雙探頭法測(cè)定工件與試塊厚度相同。第47頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)傳輸修正值測(cè)定和補(bǔ)償：2）雙探頭法測(cè)定工件厚度小于試塊厚度。第48頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)傳輸修正值測(cè)定和補(bǔ)償：2）雙探頭法測(cè)定工件厚度大于試塊厚度。第49頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)6.5.2掃查按JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)要求作前后、左右、環(huán)繞和轉(zhuǎn)動(dòng)掃查。第50頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)6.5.3缺陷的評(píng)定

橫波平面工件的缺陷定位1）按聲程調(diào)節(jié)掃描速度

二次波深度：

第51頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)2）按水平調(diào)節(jié)掃描速度二次波深度：3）按深度調(diào)節(jié)掃描速度二次波深度:第52頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)6.5.3缺陷的評(píng)定

2.橫波周向探測(cè)

1）外園周向探測(cè)比

大，H比d小。2）內(nèi)壁周向探測(cè)

比

小，h比d大。

第53頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)3）最大探測(cè)壁厚K越小，Tm就越大；K越大，Tm就越小。理論上對(duì)鋼：β=33.2°Tm/D=0.226K=1，Tm/D=0.146r/R=0.707要求≥80%第54頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三K00.650.70.81.01.52.02.53.0

3.5β33.2°35°38.7°45°56.3°63.4°68.2°71.5°74°r/R0.54760.57360.62520.70710.83200.89420.92850.94870.9613Tm/D0.22620.21230.18740.14650.08400.05290.03580.02560.0194第55頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)6.5.3缺陷的評(píng)定

3.缺陷定量

1）測(cè)長(zhǎng)法2）缺陷自身高度的測(cè)定端部最大回波法6dB法橫波端角反射法橫波串列式雙探頭法端點(diǎn)衍射法第56頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2）缺陷自身高度的測(cè)定端部最大回波法一般用K1探頭，誤差小，聚焦探頭精度高，聲束直徑φ1。數(shù)字機(jī)直接讀出：圖6-30：h；圖6-31：h=h2-h1；第57頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2）缺陷自身高度的測(cè)定6dB法第58頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2）缺陷自身高度的測(cè)定橫波端角反射法回波高度與h/λ有關(guān)，2mm以內(nèi)不是單調(diào)的。第59頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2）缺陷自身高度的測(cè)定橫波串列式雙探頭法：回波位置固定不動(dòng)。底面盲區(qū)第60頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三2）缺陷自身高度的測(cè)定端點(diǎn)衍射法：用匝門(mén)套住上下端點(diǎn)衍射波，讀數(shù)相減即可?！鱄=△W下-△W上第61頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)6.5.3缺陷的評(píng)定

4.非缺陷回波測(cè)定1）工件輪廓回波2）端角反射波3）探頭雜波4）表面波

5）草狀回波6）焊縫中變型波

7）“山”形波第62頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)焊縫中變型波：前提：αs＜αⅢ第63頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)“山”形波:第64頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三第65頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.6影響缺陷定位、定量的主要因素影響缺陷定位的因素儀器的影響：水平線性、水平刻度精度探頭：主聲束偏向，探頭波束雙峰，斜探頭斜楔磨損使K值變化，探頭晶片發(fā)射、接收聲波指向性工件影響：表面粗糙、材質(zhì)、表面形狀、工件邊界、工件溫度、工件中缺陷操作人員影響：調(diào)儀器掃描線比例不準(zhǔn)，測(cè)探頭入射值、K值不準(zhǔn)，定位方法不當(dāng)?shù)鹊?6頁(yè)，共72頁(yè)，2023年，2月20日，星期三6.6影響缺陷定位、定量的主要因素影響缺陷定量的因素

儀器、探頭性能影響（頻率偏差、探頭形式、晶片尺寸、探頭K偏差）耦合偏差及材