《超聲波探傷實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)》(校本教材)

....頁(yè)腳《超聲波探傷》試驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)試驗(yàn)一 超聲波探傷儀的使用和性能測(cè)試一、試驗(yàn)?zāi)康?、了解A2、把握A3法。4、把握盲區(qū)、區(qū)分力和靈敏度余量等綜合性能的測(cè)試方法。二、超聲波探傷儀的工作原理目前在實(shí)際探傷中，廣泛應(yīng)用的是A傷儀。這種儀器熒光屏橫坐標(biāo)表示超聲波在工件中傳播時(shí)間(或傳播距離)，縱坐標(biāo)表示反射回波波高。依據(jù)熒光屏上缺陷波的位置和高度可以判定缺陷的位置和大小。A的根本電路大體一樣。下面以CTS-22型探傷儀為例說(shuō)明A型脈沖超聲波探傷儀的根本電路。CTS-221.1所示。各電路的主要功能如下：同步電路：產(chǎn)生一系列同步脈沖信號(hào)，用以把握整臺(tái)儀器各電路按統(tǒng)一步調(diào)進(jìn)展工作放射電路：在同步脈沖信號(hào)觸發(fā)下，產(chǎn)生高頻電脈沖，用以鼓舞探頭放射超聲波。接收放大電路：將探頭接收到的信號(hào)放大檢波后加于示波管垂直偏轉(zhuǎn)板上。時(shí)基電路：在同步脈沖信號(hào)觸發(fā)下，產(chǎn)生鋸齒波加于示波管水平偏轉(zhuǎn)板上形成時(shí)基線。顯示電路：顯示時(shí)基線與探傷波形。電源電路：供給儀器各局部所需要的電壓。....頁(yè)腳在實(shí)際探傷過(guò)程中，各電路按統(tǒng)一步調(diào)協(xié)調(diào)工作。當(dāng)電路接通以后，到異質(zhì)界面(缺陷或底面)反射回來(lái)被探頭接收，通過(guò)探頭的正壓電效垂直偏轉(zhuǎn)板上，形成重迭的缺陷波F和底波B。時(shí)基電路被觸發(fā)以后產(chǎn)生鋸齒波，加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，形成一條時(shí)基掃描亮線，并將缺陷波F和底波B三、儀器的主要性能儀器性能僅與儀器有關(guān)。儀器主要性能有水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍。1、水平線性儀器熒光屏上時(shí)基線水平刻度值與實(shí)際聲程成正比的程度，線性。儀器水平線性的好壞直接影響測(cè)距精度，進(jìn)而影響缺陷定位。2、垂直線性儀器熒光屏上的波高與輸入信號(hào)幅度成正比的程度稱為垂直壞影響應(yīng)用面板曲線對(duì)缺陷定量的精度。3、動(dòng)態(tài)范圍儀器的動(dòng)態(tài)范圍是指反射信號(hào)從垂直極限衰減到消逝時(shí)所需的衰減量，也就是儀器熒光屏容納信號(hào)的力氣。四、儀器與探頭的主要綜合性能儀器與探頭的綜合性能不僅與儀器有關(guān)，而且與探頭有關(guān)。主愛(ài)綜合性能有盲區(qū)、區(qū)分力、靈敏度余量等。1、盲區(qū)從探測(cè)面到能覺(jué)察缺陷的最小距離，稱為盲區(qū)。盲區(qū)內(nèi)缺陷間長(zhǎng)，始脈沖寬，盲區(qū)大。2、區(qū)分力在熒光屏上區(qū)分距離不同的相鄰兩缺陷的力氣稱為分辮力。脈沖寬度小，區(qū)分力高。3、靈敏度余量dB五、試驗(yàn)用品1、儀器CTS-22、CTS-26等。2、探頭：2.5P20Z2.5P14z。3、試塊：IIW、CSK—IA、200/φ1平底孔試塊等。4、耦合劑：機(jī)油。5、其他：壓塊、坐標(biāo)紙等。六、試驗(yàn)內(nèi)容與步驟1、水平線性的測(cè)試調(diào)有關(guān)旋鈕使時(shí)基線清楚光明，并與水平刻度線重合。將探頭通過(guò)耦合劑置于CSK—IA或IIW1.2A處。(3)調(diào)[微調(diào)]、[水平]或[脈沖移位]等旋鈕，使熒光屏上消滅五次底波B～B，且使B、B前沿分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值2.0和10.0，如圖1 5 1 51.3。BBB2 3 4

與水平刻度值4.06.08.0的偏差值a、a、a。2 3 4計(jì)算水平線性誤差：

amax100% (1.1)0.8b式中 a

a、a、a

中最大者；max 2 3 4b——熒光屏水平滿刻度值。..頁(yè)腳.ZBY230—84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的水平線性誤差≤2%。2、垂直線性的測(cè)試30dBCSK—IA或IIW1.2B處，并用壓塊恒定壓力。調(diào)增益使底波達(dá)熒光屏滿幅度B。2dB，并登記相應(yīng)回波Hi1.11.1衰減量Δ衰減量ΔidB024681012141618202224回波高度確定波高Hi實(shí)測(cè)相對(duì)波高%抱負(fù)相對(duì)波高%偏差%表中：

衰減ΔdB后的波高Hi i衰減0dB時(shí)波高H

(1.2)H i

0 H

(1.3)抱負(fù)相對(duì)波高Hi%1020100% 20lgHii00 00計(jì)算垂直線性誤差：D(dd)%1 2(1.4)式中 d1——實(shí)測(cè)值與抱負(fù)值的最大正偏差；....頁(yè)腳d——實(shí)測(cè)值與抱負(fù)值的最大負(fù)偏差；2ZBY230—84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的垂直線性誤差≤8%。3、動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試(1)[抑制]至“O”，[衰減器]保存30dB。探頭置于圖1.2A處，調(diào)[增益]使底波B。達(dá)滿幅度100%。NB1 11mmN2計(jì)算動(dòng)態(tài)范圍：△=NN2 1

(dB)ZBY230—84標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定儀器的動(dòng)態(tài)范圍≥26dB。4、盲區(qū)的測(cè)試盲區(qū)的準(zhǔn)確測(cè)定是在盲區(qū)試塊上進(jìn)展的，由于盲區(qū)試塊加工困難．因此通常利用CSK～I(xiàn)A或IIW試塊來(lái)估量盲區(qū)的范圍。(1)[抑制]至“O”，其他旋鈕位置適當(dāng)。將直探頭置于圖1.4所示的I、Ⅱ處。調(diào)[增益]、[水平]等旋鈕，觀看始波后有無(wú)獨(dú)立的回波。盲區(qū)范圍估量：I5mm。探頭置于II5～10mm之間。I10mm。7mm。5、區(qū)分力的測(cè)定(直探頭)(1)[抑制]至“0”，其他旋鈕位置適當(dāng)。探頭置于圖1．4所示的CSK—IA或IIW塊塊上m右移動(dòng)探頭，使熒光屏上消滅聲程為85、9l、100的三個(gè)反射波A、B、C。當(dāng)A、B、C不能分開(kāi)時(shí)，如圖1.5(a)，則區(qū)分力F為：1

6a mm (1.5)1 ab ab當(dāng)A、B、C能分開(kāi)時(shí)，如圖1.5(b)則區(qū)分力F為：2

6cmm (1.6)2 a a6mm。6、靈敏度余量的測(cè)試(1)[抑制]至“O”，[增益]最大，[放射強(qiáng)度]至強(qiáng)。錄這時(shí)[衰減器]的讀數(shù)N。1探頭置于圖1.6所示的靈敏度余量試塊上(200／φ1平底孔試塊)，調(diào)[衰減器]使φl(shuí)80％。這時(shí)[衰減器]讀數(shù)為N2計(jì)算：靈敏度余量△N=N2—N1。....頁(yè)腳七、試驗(yàn)報(bào)告要求1、寫(xiě)出試驗(yàn)名稱、目的和用品。2、簡(jiǎn)要說(shuō)明儀器性能、儀器與探頭綜合性能的測(cè)試方法及測(cè)試結(jié)果。試驗(yàn)二 縱波有用AVG曲線的測(cè)試與鍛件探傷一、試驗(yàn)?zāi)康?、把握縱波探傷時(shí)掃描速度的調(diào)整方法。2、把握縱波探傷時(shí)靈敏度的調(diào)整方法。3、把握縱波探傷時(shí)缺陷定位、定量的方法。4、把握縱波平底孔AVG式。二、原理1、縱波放射聲場(chǎng)與規(guī)章反射體的回波聲壓場(chǎng)區(qū)。近場(chǎng)區(qū)波源軸線上聲壓起伏變化，存在極大微小值，縱波聲場(chǎng)N=D4λ。至波源的距離大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的區(qū)域稱為Sχχ≥3N時(shí)，聲壓與距離成反比，符合球面規(guī)律：PF式中 P0

——波源起始聲壓；

P 0 sxF——波源面積．s平底孔、大平底回波聲壓：平底孔：PFF P 0 s f

x3N

(2.1)f 2x2大平底：PF

(2.2)P 0 s x3NB式中 Pf

2xPf

D2。 f。4由(2.1)式得不同直徑、不同距離的平底孔分貝差：20lg

x2D2Pf120lg2 P

(2Pf2 x2D2.3)

1 f2由(2.2)式得不同距離大平底回波分貝差為：(2.4)

20lgP1BPBB2

20lg xxx1

dB由(2.1)、(2.2)可得，不同距離處大平底與平底孔回波分貝差為：B20lgPBP

2x2fD2xf

(2.5f f B)2、距離－波幅－當(dāng)量曲線(AVG曲線)在超聲波探傷中，自然缺陷的外形、性質(zhì)和方向各不一樣，回波“當(dāng)量尺寸”來(lái)衡量缺回波等高時(shí)，則該人工缺陷的尺寸就為此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。....頁(yè)腳描述規(guī)章反射體的距離、波幅、當(dāng)量大小之間的關(guān)系曲線稱為距離－波幅－當(dāng)量曲線，德文為AVC；曲線，英文為DGS曲線。AVG曲線常見(jiàn)形式是橫坐標(biāo)表示反射體至波源的距離尺寸的規(guī)章反射體的回波高隨距離而變化的規(guī)律?？v波平底孔AVG曲線如圖2.1，圖中χ≥3N范圍內(nèi)的曲線可以通過(guò)實(shí)測(cè)CS－2(2.3(2.4)、(2.5)得到。但χ＜3N區(qū)域的曲線只能通過(guò)實(shí)測(cè)CS－2試塊得到。利用AVG曲線可以對(duì)缺陷定量和調(diào)整探傷靈敏度。3、掃描速度與探傷靈敏度掃描速度：儀器熒光屏上的水平刻度值dB比例關(guān)系稱為掃描速度。例如掃描速度1:2，表示熒光屏上水平刻度12mm。探傷前調(diào)整掃描速度是為了在規(guī)定的范圍內(nèi)覺(jué)察缺陷并對(duì)缺陷定位。....頁(yè)腳刻度值來(lái)實(shí)現(xiàn)的。的距離范圍內(nèi)正好能覺(jué)察規(guī)定大小的缺陷。量。探傷靈敏度可以利用工件底波或試塊來(lái)調(diào)整。4、缺陷定位和定量，f則缺陷至探頭距離為：(2.6)例如掃描速度為l:2，缺陷波水平刻度值f

x nf f=25，則工件中缺陷至探頭的距離xf

=2×25=50(mm)。法。AVG曲線法等。當(dāng)量法適用于尺寸小于波束截面的較小缺陷定量。波束截面的缺陷定量。距離x 和缺陷相對(duì)波高的dB數(shù)，然后代入公式(2.3)、(2.4)來(lái)計(jì)算缺f陷的當(dāng)量尺寸。三、試驗(yàn)用品1、儀器：CTS-22、CTS-26等。2、探頭：2.5P20Z2.5P14Z。3、試塊：CSK-IA，IIW，CS-2等。4、耦合劑；機(jī)油。四、試驗(yàn)內(nèi)容與步驟1、距離－波幅－當(dāng)量曲線的測(cè)繪調(diào)有關(guān)旋鈕使時(shí)基線清楚光明并與水平刻度線重合。調(diào)整掃描速度：CS-2試塊的最大聲程為525mm，故儀器按1:6調(diào)整掃描速度。探頭置于CSK—IA或IIW試塊上，對(duì)準(zhǔn)100mm6底波，并使B、B3 6

分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度5.O和10.0，這時(shí)儀器1:6的掃描速度就調(diào)好了。調(diào)靈敏度(起始靈敏度)①[衰減器]位置確實(shí)定：一般以使最低反射波達(dá)規(guī)定高時(shí)衰減量500/φ20dB500mm處其他平底孔回波高由40lgDf

等確定。500mm處大平底回波高由20lg

22.1。2②調(diào)整方法：探頭對(duì)準(zhǔn)聲程最大的CS-2試塊中心，找到規(guī)章反2.1dB最高回波達(dá)基準(zhǔn)(50%)高。然后使[衰減器]增益△dB，這對(duì)起始靈敏度500mm處φ260%高。2.1規(guī)章反射體尺寸23468與20712192445測(cè)試：固定[增益]、探頭置于不同厚度的試塊上，前后、左右移動(dòng)探頭，找到規(guī)章反射體的最高回波，調(diào)[衰減器)使各回波達(dá)60%dB2.2。對(duì)于3N以外的點(diǎn)也可用理論計(jì)算公式(2.3)、(2.4)、(2.5)推算得3N繪制曲線；以距離χ為橫坐標(biāo)，相對(duì)波高(dB)為縱坐標(biāo)，在2.2AVG圖中應(yīng)注明探測(cè)條件：探頭的頻率和直徑。2、鍛件縱波探傷1～2件厚度χ≥3NCS-2度為φ2。(1t(2)調(diào)探傷靈敏度；①(2.5)確定最大聲程處大平底與φ2平底孔的

20lg(2.7)

f120lgPPf2PP

xdB22.2距離距離X平2底3孔4回6高8dB大平底波高dB分貝差△也可從表2.2所列數(shù)據(jù)查到。②調(diào)整：探頭對(duì)準(zhǔn)鍛件大平底，[衰減器]衰減△dB，調(diào)[增益]使底波B1達(dá)基準(zhǔn)(60%)高，然后用(衰減器)增益△dB。至此，φ2探傷靈敏度調(diào)好。后，前后左右移動(dòng)探頭找到最高回波，并用[衰減器]調(diào)至基準(zhǔn)高，記錄缺陷波前沿正對(duì)的水平刻度值對(duì)應(yīng)的dB值。

和缺路波達(dá)基準(zhǔn)高(60%)時(shí)[衰減器]f缺陷定位：設(shè)掃描速度為 d:n，則缺陷至探測(cè)面的距離：x nf f

(mm)缺陷定量：依據(jù)缺陷的距離xf

和缺陷波與最大聲程處φ2底孔的分貝差△(即[衰減器]所對(duì)dB值)利用公式(1.3)計(jì)算確定其當(dāng)量尺寸：(2.8)

D xPPf140lg PP2xf2 1

dB也可依據(jù)AVG曲線來(lái)確定缺陷的當(dāng)量尺寸。五、試驗(yàn)報(bào)告要1、寫(xiě)出試驗(yàn)名稱、目的和用品。2AVG3注明所探鍛件(CS-2試塊)的序號(hào)。試驗(yàn)三 鋼板探傷一、試驗(yàn)?zāi)康?、把握鋼板接觸探傷的方法。2、把握鋼板板水浸探傷的方法。二、原理傷。水浸法常用于批量大面積鋼板探傷。鋼板探傷時(shí)，一般用2.5～5MHz，φ10～φ30mm的探頭探傷，承受全面或列線掃查。φ5來(lái)調(diào)，這時(shí)一般不測(cè)缺陷的當(dāng)量，只測(cè)缺陷的面積。另一種是利用鋼量。F1T＜20mmF2探傷，水層厚度HH nT4(3.1)式中 n——重合次數(shù)。一般承受四次重合法，即鋼板第四次底波B4與其次次界面回波S2重合。這時(shí)，n=4，H=T。四次重合法的優(yōu)點(diǎn)在于可以避開(kāi)近場(chǎng)區(qū)。在鋼板探傷中，以下幾種狀況記錄缺陷面積。(1)無(wú)底波，只有缺陷波的屢次反射。缺陷波與底波同時(shí)存在。無(wú)底波，只有多個(gè)紊亂的缺陷波。(4)既無(wú)缺陷波，又無(wú)底波。三、試驗(yàn)用品1、儀器：CTS-26或CTS-22型探傷儀。2、探頭：2.5P20Z、2.5P20SJ。3l00×l00×46和100×100×22φ5平底孔試塊各一塊。4、耦合劑：機(jī)油、水。5、其他：T=20mm和50mm的鋼板試樣各一塊，并且都帶有人工缺陷或自然缺陷。還有水槽和探頭位置調(diào)整機(jī)構(gòu)等。四、試驗(yàn)內(nèi)容與步驟1、鋼板接觸法探傷用2.5P20Z探頭探傷T=50mm的鋼板試樣。(1)去除鋼板外表的氧化皮、銹蝕和油污。(2)調(diào)整儀器，使時(shí)基掃描線清楚光明，并與水平刻度線重合。(3)調(diào)掃描速度：探頭對(duì)準(zhǔn)T=50mm的鋼板，調(diào)整[微調(diào)]和[脈沖移位]使底波B、B分別對(duì)準(zhǔn)50和100，這時(shí)掃描速度為1:1。1 2調(diào)靈敏度：探頭對(duì)準(zhǔn)100×100×46試塊上φ5平底孔，調(diào)整[增益]使φ560％即可。掃查探測(cè)：探頭置于鋼板上作100%的全面掃查，探頭移動(dòng)間距小于晶片尺寸，移動(dòng)速度不大于O.15m/s。φ5的深度。對(duì)于較小的缺陷也可測(cè)定缺陷的當(dāng)量。記錄：在鋼板上或記錄紙上標(biāo)出缺陷的位置、深度和面積。(8)評(píng)級(jí)：依據(jù)鋼板驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定級(jí)別。2、鋼板水浸探傷法用2.5P20SJ探頭探傷T=20mm的鋼板試樣。(1)清理鋼板外表的氧化皮。調(diào)整儀器，使時(shí)基掃描線清楚光明、與水平刻度線重合。....頁(yè)腳1:2T=20mmBB。5 10分別對(duì)準(zhǔn)50和100。100×100×22試塊中的φ5平底孔，調(diào)整水層，厚度H，使第一次界面回波S對(duì)準(zhǔn)水平刻140φ560％即可?；虬唇佑|法調(diào)10dBS前沿重合，如圖3.1。2(6)掃查探測(cè)：探頭沿垂直于鋼板壓延方向間距為100mm(7)缺陷測(cè)定：掃查過(guò)程中覺(jué)察缺陷后，用接觸法測(cè)定缺陷的位置和面積。S前沿重合，如圖3.1。2(6)掃查探測(cè)：探頭沿垂直于鋼板壓延方向間距為100mm(7)缺陷測(cè)定：掃查過(guò)程中覺(jué)察缺陷后，用接觸法測(cè)定缺陷的位置和面積。記錄：在鋼板上或記錄紙上記錄缺陷的位置和面積。評(píng)級(jí)：依據(jù)鋼板標(biāo)準(zhǔn)評(píng)價(jià)鋼板的級(jí)別。五、試驗(yàn)報(bào)告要求1、寫(xiě)出試驗(yàn)名稱、目的和用品。2、寫(xiě)出試驗(yàn)測(cè)試步驟和結(jié)果。試驗(yàn)四 外表聲能損失測(cè)定一、試驗(yàn)?zāi)康?、把握直探頭探傷時(shí)外表聲能損失差的測(cè)定方法。2、把握斜探頭探傷時(shí)外表粗糙度不同造成的聲能損失差的測(cè)定方法。二、原理概述耦合損失差，必需增大儀器的輸出來(lái)進(jìn)展補(bǔ)償。要想恰到好處地進(jìn)展補(bǔ)償，首先應(yīng)測(cè)定二者的耦合損失差。塊探測(cè)面的耦合損失就行了。橫波斜探頭探傷時(shí)，常常承受一、二次波探傷，因此在測(cè)定二者探測(cè)面耦合損失差的同時(shí)，還要測(cè)二者底面反射損失差。三、試驗(yàn)用品1、儀器：CTS—22型探傷儀。2、探頭：2.5P20Z探頭一只，2.5P12×12K2探頭兩只。3、試塊：....頁(yè)腳4.2光滑度一樣，探測(cè)面光滑度不同。如圖4.3(b)所示的試塊一塊。試塊材質(zhì)、厚度、A面粗糙度同焊縫試板，試塊BCSK—ⅢA或CSK—ⅡA試塊。4、耦合劑：機(jī)油、漿糊或甘油。四、試驗(yàn)內(nèi)容與步驟1、直探頭探傷時(shí)外表耦合損失的測(cè)定①將2.5P20Z探頭置于圖4.2(a)所示的比照試塊上，預(yù)衰減N1=20dBB160%。②4.1(b減器]使底波B1

達(dá)60%，記錄這時(shí)[衰減器]讀數(shù)N2

dB。③計(jì)算二者外表耦合損失差△：△=N-N(dB)1 22、斜探頭探傷時(shí)外表聲能損失的測(cè)定一次反射法外表聲能損失的測(cè)定①把兩個(gè)斜探頭沿探傷方向置于焊縫兩側(cè)的探傷面上，間距約1P，作一發(fā)一收測(cè)試，如圖4.2(a)。調(diào)整[增益]使最大穿透波幅為基準(zhǔn)高(60%)。②按同樣方法，把探頭置于試塊B面上，如圖4.2(b器為上外表聲能損失差。③124.3測(cè)出試板與試塊AdB為下外表聲能損失差。....頁(yè)腳④失差加上兩倍的下外表聲能損失差即為二次波探傷時(shí)外表聲能損失差。聲能損失差只計(jì)入上外表聲能損失差即可。五、試驗(yàn)報(bào)告要求1、寫(xiě)出試驗(yàn)名稱、目的和用品及測(cè)試結(jié)果。2、分析引起測(cè)試誤差的緣由。試驗(yàn)五 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定一、試驗(yàn)?zāi)康?、把握薄板工件衰減系數(shù)的測(cè)定方法。2、把握厚板工件衰減系數(shù)的測(cè)定方法。二、原理超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，存在著散射、吸取和集中等三種衰減。減。其中散射和吸取衰減是介質(zhì)引起的，因此稱為介質(zhì)衰減。減系數(shù)d≈CFd3f4。由此可見(jiàn)固體介質(zhì)中超聲波的衰減與材質(zhì)晶粒直徑d3和頻率f4成正比。因此，當(dāng)f的衰減急劇增加。當(dāng)材質(zhì)晶粒度確定，f加。定量誤差，提高定量精度，應(yīng)當(dāng)測(cè)定工件材質(zhì)的衰減系數(shù)。超聲波探頭放射的聲場(chǎng)分為未集中區(qū)(χ≤1.64N)和集中區(qū)(χ＞1.64N)。在未集中區(qū)內(nèi)，波束不集中，這時(shí)只存在介質(zhì)衰減。在集中區(qū)內(nèi)，波束開(kāi)頭集中．這時(shí)不僅存在介質(zhì)衰減，而且存在集中衰減。..頁(yè)腳.薄板試塊的前幾次底波處于未集中區(qū)內(nèi)，如圖5.1衰減系數(shù)可用下式來(lái)計(jì)算。mm

20lg mx x xB

dB/mm(5.1)式中 B ——第m次底波高度；mB——第nnδ——外表反射損失，一般每次反射損失約為O.5dB；χ——板厚。厚板試塊(χ≥3N算：B

6

6 (5.2)式中 B1

2 2x 2x——第一次底波高；

dB/mmB——其次次底波高；2....頁(yè)腳6——集中衰減引起第一、二次底波的dB值；δ——底面反射散失。三、試驗(yàn)用品1、儀器：CTS—22型探傷儀。2、探頭：2.5P20Z和5.0P20Z探頭各一只。3。試塊上下外表光滑，相互平行。4、耦合劑：機(jī)油、甘油或漿糊。四、試驗(yàn)內(nèi)容與步驟1、薄板工件衰減系數(shù)的測(cè)定①取2.5P20Z探頭對(duì)準(zhǔn)厚度為10mm使示波屏上消滅B～BB達(dá)601 4 4減器]將B60%，記錄這時(shí)所衰減的分貝值1數(shù)為(不計(jì)反射損失)： 1 1dB/mm60②用5P20Z探頭重復(fù)上述過(guò)程，測(cè)出相應(yīng)的分貝差，則衰減2系數(shù)為(不計(jì)反射損失):/mm602、厚板工件衰減系數(shù)的測(cè)定①取2.5P20Z探頭對(duì)準(zhǔn)厚度為200mm的工件的底面，調(diào)整儀器使示波屏上消滅底波B、B。調(diào)[增益]使B達(dá)60%基準(zhǔn)高，再用(增減1 2 2器)將B調(diào)至60%高，記錄所衰減的分貝值，則衰減系數(shù)為(δ=0)：1 33 6 6 3 dB/mm400 400②用5P20Z探頭重復(fù)上述過(guò)程，測(cè)出相應(yīng)的分貝差，則衰減4系數(shù)為(δ=0)：400五、試驗(yàn)報(bào)告要求1、寫(xiě)出試驗(yàn)名稱、目的和用品。2、寫(xiě)出試驗(yàn)結(jié)果，說(shuō)明頻率fa3、分析影響測(cè)試精度的緣由。試驗(yàn)六 橫波距離—波幅曲線的制作與焊縫探傷一、試驗(yàn)?zāi)康?、把握橫波斜探頭入射點(diǎn)、K2、把握按深度或水平距離調(diào)整橫波掃描速度的方法。3、把握橫波探傷時(shí)靈敏度的調(diào)整方法。4、把握橫波距離－波幅曲線的測(cè)試方法。5、把握中厚板對(duì)接焊縫探傷時(shí)缺陷定位和定量方法。二、原理1、橫波聲場(chǎng)與距離－波幅曲線計(jì)算，引進(jìn)了假想波源，橫波聲場(chǎng)是由假想波源放射出來(lái)的。假想波區(qū)和半集中角，只是在入射平面內(nèi)半集中角不對(duì)稱，θ＞θ。上 下橫波探傷中常利用距離－波幅曲線來(lái)對(duì)缺陷定量和評(píng)價(jià)焊縫的質(zhì)量變化的曲線。AVG曲線簇中的任意一條曲線就是距離－波幅曲線。....頁(yè)腳距離－波幅曲線可以通過(guò)試塊實(shí)測(cè)得到,也可出通用AVG曲線或理論計(jì)算公式得到，但后兩種方法只適用于χ≥3N的狀況，而焊縫探傷中往往是在χ＜3N般是在試塊上實(shí)測(cè)得到的。JB1152—81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用CSK—ⅡA或CSK—ⅢA—波幅曲線。JBll52-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的距離－波幅曲線如圖6.1線、測(cè)長(zhǎng)線和判廢線組成。測(cè)長(zhǎng)線與定量線之間為I廢線之間(含定量線)為Ⅱ區(qū)，判廢線以上(含判廢線)為Ⅲ區(qū)。定量線、測(cè)長(zhǎng)線、判廢線之間的距離與板厚和所用試塊有關(guān)，具體依據(jù)表6.1確定。....頁(yè)腳表6.1 距離－波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚〔mm〕測(cè)長(zhǎng)線定量線判廢線CSK—ⅡA8--46>46—120Φ2×40-18dBΦ2×40-14dBΦ2×40-12dBΦ2×40-8dBΦ2×40-4dBΦ2×40+2dB8—15Φ1×6-12dBΦ1×6-6dBΦ1×6+2dBCSK—ⅢA>15—46Φ1×6-9dBΦ1×6-3dBΦ1×6+5dB>46—120Φ1×6-6dBΦ1×6dBΦ1×6+10dB2、斜探頭的入射點(diǎn)和K斜探頭的入射點(diǎn)是指探頭放射的聲束軸線與探頭楔塊底面的交點(diǎn)。入射點(diǎn)至探頭前沿的距離為斜探頭前沿長(zhǎng)度。斜探頭的折射角是指工件中橫曲折射角βs，橫曲折射角的正切稱為探頭的KK=tgβs。3、掃描速度和靈敏度調(diào)整橫波掃描速度有三種方法：聲程法、深度法和水平距離法。在焊縫探傷中常用深度法和水平距離法。當(dāng)板厚T≥200mm般承受深度法，當(dāng)板厚T＜20mm深度法是調(diào)整儀器使示波屏上水平刻度值與反射體的深度成比點(diǎn)的水平距離。焊縫探傷中規(guī)定探傷靈敏度不低于測(cè)長(zhǎng)線。4、缺陷定位和定量定位①1:1τf假設(shè)lfd

f (6.1)lf

kdf假設(shè)T＜τf≤2T，說(shuō)明此缺陷是二次波覺(jué)察的，則：d lf

2Tkf

f (6.2)②1:l度值為τf時(shí)：假設(shè)τf≤KT，說(shuō)明此缺陷是一次波覺(jué)察的，則：l f f

(6.3) lfdfKf假設(shè)KT＜τf≤2KT，說(shuō)明此缺陷是二次波覺(jué)察的，則：l f f l(6.4)

df

2T fK波幅和指示長(zhǎng)度的測(cè)定。首先找到缺陷波的最高回波，測(cè)出它與基準(zhǔn)波高的dB差。然后測(cè)其指示長(zhǎng)度。當(dāng)缺陷波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用半波高度法(6dB)測(cè)其指示長(zhǎng)度。當(dāng)缺陷波有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，假設(shè)缺陷端部波高在I區(qū)，則用端點(diǎn)半波高度法測(cè)其指示長(zhǎng)度；假設(shè)缺陷端部波高于I級(jí)。三、試驗(yàn)用品1、儀器：CTS—22CTS—262、探頭：2.5P12×12K22.5P14K23、試塊：CSK—IA、CSK—IACSK－Ⅲ試塊。4、耦合劑：甘油、機(jī)油或漿糊。5、帶缺陷的對(duì)接焊縫試樣，T=2030mm。四、試驗(yàn)內(nèi)容與步驟設(shè)焊縫試樣T=30mm，承受CSK-ⅢA試塊。1、距離－波幅曲線的測(cè)試制至]“0”。測(cè)定探頭的入射點(diǎn)和K值：