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第#頁綜合布線系統(tǒng)測試測試描述系統(tǒng)測試、驗收將根據(jù)《建筑與建筑群綜合布線系統(tǒng)工程施工及驗收規(guī)范》(GB/T50312-2000)進行。測試標準雙絞線連接:根據(jù)ISOIS11801國際標準ClassD(CAT.6)之要求制定光纖連接:根據(jù)ISOIS11801國際標準OpticalClass之要求制定測試范圍水平布線點進行100%測試,數(shù)據(jù)主干進行100%測試。被測線路的定義雙絞線連接光纖連接架測試架項目架測試架項目水平線纜銅纜測試項目使用FLUKEDSP-4000系列測試儀測試雙絞電纜時,提供如下內(nèi)容:接線圖電阻長度傳輸遲延遲延偏離阻抗近端串擾(NEXT-Near-endCrosstalk)衰減衰減串擾比(ACR)環(huán)路損耗(RL-Returnloss)功率總和的近端串擾(PSNEXT)功率總和的遠端串擾(PSFEXT)功率總和的等電平遠端串擾(PSELFEXT)光纖測試項目測試波長:1300nm或850nm;主干子系統(tǒng)光纖連接:信號衰減<1.5dB(500m,波長1300nm)信號衰減<3.5dB(500m,波長850nm)測試儀器的選用對于銅纜測試建議采用美國FLUKE公司的局域網(wǎng)電纜測試儀,該測試儀是一種手持式的儀器,它可用來對安裝的局域網(wǎng)雙電纜線、同軸電纜進行認證、測試以及故障診斷,該儀器使用了新的測試技術(shù),它將脈沖測試信號和數(shù)字信號處理結(jié)合起來提供了快速精確的測試結(jié)果。它提供的測試結(jié)果符合IEEE、ANSL、TAI、ISO/IEC等有關(guān)國際標準。使用該儀器可對綜合布線工程的質(zhì)量提供可靠的依據(jù)。對于光纖測試使用兩個光纖損耗測試儀——用來測試光纖傳輸損耗,為了使在兩個地點進行測試的操作員之間進行通話需要有對講機,也可以使用美國FLUKE公司的DSP-4000(需配光纖測試模塊及適配器)來完成測試。測試人員由本公司派出工程師在用戶方與監(jiān)理工程師監(jiān)督下共同完成整個系統(tǒng)的測試工作,并填寫測試表。銅纜的測試設(shè)置電纜類型執(zhí)行自檢分別用跳線將主機和遠端器連接在被測網(wǎng)段上按動主機上的TEST鍵,片刻后儀器將顯示出測試結(jié)果存儲測試結(jié)果作為國際標準化委員會的重要成員、ISO/IEC11801第二版的編輯,時刻把握國際標準的最新動態(tài)。此工程的驗收將測試信道(Channel)的性能,如下圖所示:信道測試內(nèi)容包括:連通性端接線序(WireMap)一直流電阻特性阻抗-衰減(Attenuation)近端串擾衰減(NEXTloss)功率總和近端串擾衰減(PS-NEXTloss)衰減串擾比(ACR)功率總和衰減串擾比(PS-ACR)等效電平遠端串擾衰減(ELFEXTloss)功率總和等效遠端串擾衰減(PS-ELFEXTloss)回波損耗(ReturnLoss)時延(Delay)時延偏差(DelaySkew)本工程測試驗收所采用的為美國FLUKE公司的測試儀配專用6類適配器,該測試儀有以下特性:.支持頻帶寬達250MHz。2.驗證6類布線。.具有100dB的動態(tài)量程。4.快速自動測試,提供較好的工作效率。5.具備自學式的數(shù)據(jù)管理功能。根據(jù)ISO/IECJTC1/SC25/WG3N568規(guī)范,新的超五類TIA/EIA-568B.2-1標準信道(CHANNEL)有以下指標:-衰減(Attenuation)<22dB@100MHz近端串擾衰減(NEXTloss)三35.3dB@100MHz功率總和近端串擾衰減(PS-NEXTloss)三32.3dB@100MHz衰減串擾比(ACR)三14.0dB@100MHz等效電平遠端串擾衰減(ELFEXTloss)三23.8dB@100MHz功率總和等效遠端串擾衰減(PS-ELFEXTloss)三20.8dB@100MHz回波損耗(ReturnLoss)三20.1dB@100MHz時延(Delay)<536nS@100MHz時延偏差(DelaySkew)45nsMax光纖的測試光纖路徑損耗的測試步驟設(shè)置測試設(shè)備按光纖損耗測試設(shè)備一起提供的指令來設(shè)置它們。調(diào)零調(diào)零用來消除能級偏移量,當測試非常低的光能級時,不調(diào)零則會引起很大的誤差,調(diào)零還能消除跳線的損耗,為了調(diào)零,在位置A用一跳線將測試儀的光源(輸出端口)和檢波器插座(輸入端口)連接起來,在光纖路徑的另一端(位置B)完成同樣的工作,你必須在兩個位置(A和B)上對兩個測試儀調(diào)零,參看圖1。按自校按鈕連續(xù)按住自校按鈕一秒鐘以上,等待20秒鐘的時間來完成自校準。測試光纖路徑中的損耗(位置A至必位置B方向上的損耗)參看圖2。在位置A的測試儀上從檢波器插座(IN端口)處斷開跳線S1,并把S1連接至被測的光纖路徑上。在位置B的測試儀上從檢波器插座(IN端口)處斷開跳線S2。在位置B的測試儀檢波器插座(輸入端口)與被測光纖通路的位置B末端之測試光纖路徑中的損耗(位置B到位置A)在位置B的光纖路徑處將跳線D2斷開;將跳線S2(位置B處的)連接到光纖路徑上;從位置A處將跳線S1從光纖路徑上斷開;用另一條跳線D1將位置A處測試儀檢波器插座(IN端口)與位置A處的光纖路徑連接起來;在位置A處的測試儀上測試出B到A方向上的損耗。計算光纖路徑上的傳輸損耗,然后將數(shù)據(jù)認真地記錄下來。計算時采用下列公式:平均損耗二[損耗(A到B方向)+損耗(B到A方向)]/2、記錄所有的數(shù)據(jù)當一條光纖路徑建立好后,測試的是光纖路徑的初始損耗,要認真地將安裝系統(tǒng)時所測試的初始損耗記錄在案。以后當某條光纖路徑工作不正常時,要進行測試,這時的測試值要與最初測試的損耗值比較,若高于最初測試的損耗值,則表明存在問題,可能是測試設(shè)備的,也可能是光纖路徑的問題。重復(fù)此過程如果示出的數(shù)據(jù)高于最初記錄的損耗值,那么要對所有的光纖連接器進行清洗,此外,你還要檢查對設(shè)備的操作是否正確,還要檢查測試跳線連接條件。如果重復(fù)出現(xiàn)較高的損耗值,那么就要檢查光纖路徑上有沒有不合格的接續(xù),損壞的連接器,被壓住/挾住的光纖等等。記錄測試數(shù)據(jù)

按如下圖表填寫測試數(shù)據(jù)光纖損耗測試數(shù)據(jù)單光纜標識:測試日期:區(qū)域:地點乂的末端地點Y的末端末端丫的操作員:末端乂的操作員:測試要求:MAX期望損耗小于 dB光纖號No波長(nm)在x位置的損耗讀數(shù)Lx(dB)在Y位置的損耗讀數(shù)Ly(dB)總損耗為(Lx+Ly)/2(dB)123456保護地線測

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