單探頭法與雙探頭法_第1頁
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文檔簡介

鋼結(jié)構(gòu)檢測與質(zhì)量驗收

鋼結(jié)構(gòu)安裝工程

1鋼結(jié)構(gòu)檢測

無損檢測

單探頭法與雙探頭法：單探頭法：使用一個探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測技術(shù)稱為單探頭法。單探頭法操作方便，是目前最常用的一種檢測技術(shù)。如前所述，單探頭脈沖反射法可為直射法或斜射法，都要求缺陷主反射面與聲束軸線垂直。當缺陷主反射面與入射面的傾角較大時，或由于結(jié)構(gòu)上的原因和表面狀態(tài)的原因不能使聲束達到所需要的角度時，單探頭就可能難以有效地檢測出所要求的缺陷。無損檢測

超聲波檢測

檢測方法雙探頭法：使用兩個探頭，一個發(fā)射，一個接收，主要用于檢測單探頭法難以檢出的缺陷。圖為雙探頭法幾種典型的排列方式。當試件中存在與檢測面垂直的平面型缺陷時，單探頭無法實現(xiàn)聲束與缺陷平面相垂直。若缺陷為上表面或下表面開口的缺陷，尚可利用橫波端角反射進行檢測。若缺陷位于上下面之間，則常用圖（a）所示的串列式雙探頭法進行檢測。檢測時采用兩個入射角相同的探頭，將兩個探頭放置在同一個面上，并朝向同一個方向。當試件中無缺陷時，接收探頭收不到回波；當試件中存在圖中所示的缺陷時，發(fā)射探頭發(fā)射的聲波經(jīng)缺陷反射到達底面，再從底面反射至接收探頭。無損檢測

可以看出，對于特定深度的缺陷，只有在兩個探頭之間相距特定距離時，才能接收到經(jīng)底面反射的回波。當兩個探頭相距最近時，可檢測的缺陷深度是由兩個探頭前沿長度、試件厚度和折射角度決定的可檢測缺陷的最大深度。掃查時通過改變的探頭間距，對試件中不同深度的缺陷進行檢測。而且，對于一定厚度的試件和一定角度的探頭，聲波經(jīng)過的路徑長度是不變的，因此，缺陷在時基線上的位置是不隨深度改變的。無損檢測

用來檢測與表面垂直的缺陷的另一種技術(shù)是圖（b）所示的技術(shù)。兩個探頭以相同的方向分別放置在試件的兩個相對面上，當試件中存在圖中所示的缺陷時，發(fā)射探頭發(fā)射的聲波經(jīng)缺陷反射被另一個探頭所接收。檢測時缺陷顯示的特點與上述串列式相似，也是在屏幕上固定位置出現(xiàn)，只是同樣厚度的試件聲程減少了一半。掃查時，單個面上需要提供的探頭移動距離較小，且需要兩面放置探頭。無損檢測

如圖（c）所示的技術(shù)是在同一個面上，采用一收一發(fā)兩個探頭檢測與表面平行的缺陷。這種技術(shù)僅在特殊情況下，直探頭不能在缺陷上方放置時采用。除了單探頭法與雙探頭法以外，有時，還使用兩個以上的探頭組合起來進行檢測，稱為多探頭法。采用這類技術(shù)的目的

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