




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文檔簡(jiǎn)介
第三講
X射線衍射分析衍射現(xiàn)象
q
q
Bragg衍射條件
相位集中時(shí)
發(fā)生干涉相互增強(qiáng)
d
一、X射線衍射方向2dsinθ=nλ布拉格方程§1、X射線衍射基本原理2dsinθ=nλ(nh,nk,nl)的晶面與(hkl)面平行且面間距為2dnh,nk,nlsin=,(nh,nk,nl)=(HKL)布拉格方程的應(yīng)用:
1)已知波長(zhǎng)λ的X射線,測(cè)定θ角,計(jì)算晶體的晶面間距d,物相組成、結(jié)構(gòu)分析;
2)已知晶體的晶面間距,測(cè)定θ角,計(jì)算X射線的波長(zhǎng),X射線光譜學(xué)。二、X射線衍射束的強(qiáng)度
用X射線衍射進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析時(shí),要了解:X射線與晶體相互作用時(shí)產(chǎn)生衍射的條件
衍射線的空間方位分布
衍射線的強(qiáng)度變化
推算晶體中原子或其他質(zhì)點(diǎn)在晶胞中的分布
物相定性定量分析
結(jié)構(gòu)的測(cè)定
晶面擇優(yōu)取向
結(jié)晶度的測(cè)定
等
X射線的強(qiáng)度測(cè)量和計(jì)算是很重要的。
圖1實(shí)際晶體的衍射強(qiáng)度曲線(a)和理想狀態(tài)下衍射強(qiáng)度曲線(b)的比較衍射儀測(cè)角儀示意圖三、X射線準(zhǔn)直和單色化由于光源引出的射線束的發(fā)散角度和頻譜范圍都比較寬。這樣,會(huì)引起相應(yīng)散射峰的展寬及相鄰散射峰的疊加。因此,需要在光源與樣品之間以及樣品與探測(cè)器之間放置相應(yīng)的光學(xué)元件來(lái)實(shí)現(xiàn)入射X射線束的準(zhǔn)直和單色化。常用的準(zhǔn)直器有狹縫、準(zhǔn)直鏡、分析晶體等,在X射線范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)單色化的常用光學(xué)元件主要是晶體單色器和多層膜單色器等光學(xué)元件(1)狹縫在光源與樣品之間放置一狹縫(圖2),則入射光束的發(fā)散角決定于光源尺寸S、狹縫寬度L以及光源與狹縫間距離R,即有(1)可以看出,對(duì)于單狹縫系統(tǒng),光束的發(fā)散角不小于光源尺寸與光源狹縫間距的比值。如果在光源及狹縫間距受限的情況下需要更小的發(fā)散角,可利用靠近光源點(diǎn)或其像點(diǎn)的雙狹縫系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)(圖3)。此時(shí)發(fā)散角滿足關(guān)系圖2單狹縫系統(tǒng)光束發(fā)散角示意圖圖3雙狹縫系統(tǒng)光束發(fā)散角式中,L為狹縫寬;R為前、后狹縫的距離。(2)2、雙晶單色器利用晶體對(duì)X射線進(jìn)行單色化。晶體衍射的布拉格定律表示為2dsin=(3)從式(3)可知,對(duì)于一定角度入射的X射線,只有波長(zhǎng)滿足布拉格方程才能被晶體衍射。圖是根據(jù)式(3)得到的入射線波長(zhǎng)與布拉格角的關(guān)系,稱為DuMond圖。利用DuMond圖可以直觀地分析實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的波長(zhǎng)發(fā)散和角度發(fā)散。若具有一定角度發(fā)散度、波長(zhǎng)連續(xù)的X射線束入射到晶體上,根據(jù)式(3)可以得到出射X射線的波長(zhǎng)發(fā)散(又稱出射X射線的能量分辨率),滿足=cot(4)式中為入射線的發(fā)散角,這種關(guān)系可由DuMond圖示意表示(圖4)圖4Si(111)晶體衍射DuMond圖圖5Si(111)晶體及限束狹縫獲得分辨率為的DuMond圖由式(3)的簡(jiǎn)單關(guān)系得到的X射線能量分辨率,在遠(yuǎn)大于晶體X射線衍射搖擺曲線本征寬度(Darwin寬度)D條件下成立。若與D相當(dāng),則能量分辨率需通過(guò)考慮入射線角分布與晶體X射線衍射搖擺曲線的卷積來(lái)得到,D為入射線衍射動(dòng)力學(xué)理論完美晶體X射線衍射搖擺曲線半高寬,滿足以下關(guān)系:(5)式中,F(xiàn)b為結(jié)構(gòu)因子;C為偏振因子;b為晶體衍射非對(duì)稱因子,b=sin(B-)/sin(B+),為斜切角,也就是衍射晶面與晶體表面的夾角;V為晶胞體積;re為電子半徑。圖6雙晶單色器的兩種排置方式圖7雙晶單色器DuMond示意圖實(shí)線是第一晶體的衍射曲線,虛線是第二晶體的衍射曲線,陰影為經(jīng)過(guò)單色器的出射X射線部分如果在第一塊晶體后面再增加一塊相同的晶體,即組成雙晶單色器。對(duì)于對(duì)稱布拉格型衍射而言,有兩種排置方式,分別以(+n,-n)及(+n,+n)表示。圖7是相應(yīng)圖6衍射幾何的DuMond示意圖,可以看到,對(duì)(+n,-n)排置,再兩塊晶體完全平行時(shí),對(duì)第一晶體發(fā)生衍射的各種能量的X射線也對(duì)第二晶體衍射,如果第二晶體偏離一定的角度,其偏離角度大于晶體的Darwin線寬
D,這時(shí)各種能量的X射線將同時(shí)不滿足布拉格定律而無(wú)衍射,這種排置方式稱為無(wú)色散排置;而對(duì)(+n,+n)排置,只有波長(zhǎng)落在DuMond圖上兩曲線相交區(qū)域內(nèi)的X射線才能發(fā)生衍射,并且隨兩晶體間分夾角的變化,這一區(qū)域?qū)⒀夭ㄩL(zhǎng)軸移動(dòng),這樣的排置方式稱為色散排置。在入射X射線的發(fā)散角遠(yuǎn)大于Darwin寬度
D時(shí),雙晶單色器(+n,-n)的能量分辨率取決于入射角及發(fā)散角;而雙晶單色器(+n,+n)的能量分辨率則取決于入射角及晶體Darwin寬度
D。(3)多晶單色器圖8多晶體單色器的幾種排置方式以上討論就晶體單色器的幾種情況,在實(shí)際應(yīng)用中,由于多晶單色器調(diào)整比較困難,一般采用同一塊較大的晶體上切出(+n,-n)兩個(gè)反射晶面的技術(shù)。同時(shí),綜合考慮式(5)中的衍射非對(duì)稱因子b,采用非對(duì)稱衍射的方式,來(lái)設(shè)計(jì)晶體單色器。四、X射線衍射實(shí)驗(yàn)條件粉末衍射儀常見相分析測(cè)試圖譜(SiO2)衍射儀所能進(jìn)行的其他工作峰位
面間距d→定性分析
點(diǎn)陣參數(shù)
d漂移→殘余應(yīng)力
固溶體分析
半高寬
結(jié)晶性
微晶尺寸
晶格點(diǎn)陣
非晶質(zhì)的積分強(qiáng)度
結(jié)晶質(zhì)的積分強(qiáng)度
定量分析
結(jié)晶度
角度(2
)強(qiáng)度
判定有無(wú)譜峰—晶質(zhì)、非晶質(zhì)
樣品方位與強(qiáng)度變化(取向)集合組織
纖維組織
極圖
五、單層膜和多層膜厚度一般來(lái)說(shuō),對(duì)于膜厚不是太厚的近完美晶體,可以采用X射線衍射運(yùn)動(dòng)學(xué)理論分析,從干涉條紋的文治(單層膜)或超結(jié)構(gòu)峰的位置(多層膜和超晶格結(jié)構(gòu))可以準(zhǔn)去確定單層膜和多層膜的厚度。而對(duì)膜厚較厚的情況,則必須采用X射線衍射動(dòng)力學(xué)理論分析,并考慮德拜-沃倫因子,通過(guò)理論計(jì)算擬合薄膜和襯底衍射峰的位置和強(qiáng)度來(lái)確定薄膜的厚度。考慮到通常的半導(dǎo)體測(cè)量具有閃鋅礦結(jié)構(gòu),薄膜的衍射強(qiáng)度沿Qz軸分布表達(dá)為圖16X射線對(duì)稱衍射(a)和(b)中的大圓點(diǎn)代表布拉格峰;(b)中的小圓點(diǎn)代表超晶格衍射峰(1)式中,qz=Qz-L是Qz偏離倒易空間矢量(hkl)的量;而(2)式中,為X射線入射角;N0是薄膜沿厚度方向的原子層數(shù);d是單個(gè)原子層的厚度,所以,膜厚T=N0d。式(1)在倒易空間矢量(hkl)或布拉格點(diǎn)(qz=0)有一極大值。(3)(4)式中,為實(shí)空間中干涉條紋的間距,B為布拉格角。(5)(6)(7)與式(4)類似,式中,為實(shí)空間中振蕩條紋間距。式(5)中的分母項(xiàng)與分子項(xiàng)比較起來(lái)是一個(gè)緩慢振蕩的函數(shù),對(duì)應(yīng)于另外一組衍射峰,其峰位在qz/2=n處,此即所謂的衛(wèi)星峰,由衛(wèi)星峰的間距qz(s)可以確定超晶格的周期為(8)式中,
(s)為實(shí)空間中超晶格衛(wèi)星峰的間距。圖17分子束外延生長(zhǎng)的Al0.32Ga0.68As/GaAs(011)
薄膜的X射線高分辨(004)衍射譜圖17給出了一個(gè)分子束外延生長(zhǎng)在GaAs(011)襯底上的Al0.32Ga0.68As薄膜的高分辨(004)衍射譜。由于薄膜與襯底之間的晶格失配僅約為0.05%,薄膜的完美性很高。實(shí)驗(yàn)采用PhilipsX′Pert衍射儀,X射線波長(zhǎng)=1.5404A。從圖17可以看到,除襯底峰和薄膜峰外,還可以看到清楚的干涉峰,如箭頭所示,薄膜的名義厚度為2000A。測(cè)量得到的干涉峰間距為
=100.1″=4.8510-4rad。由式(4),采用GaAs(004)的布拉格角B=34.56,得到的薄膜實(shí)際厚度為1928.5A。圖18InAs/Ga超晶格的X射線(002)雙晶衍射譜線圖18給出了一個(gè)分子束外延生長(zhǎng)在GaSb(001)襯底上,140周期的InAs/GaSb超晶格的X射線(002)雙軸晶衍射譜線。InAs和GaSb的設(shè)計(jì)厚度分別為78.7A和79.2A。兩者之間的晶格失配僅約為0.6%。衍射儀所用單色器為Ge(220),轉(zhuǎn)靶X射線光源,X射線波長(zhǎng)=1.5405A。由于掃描范圍較大,采用/2掃描。從圖18可看到,除襯底峰之外,還觀測(cè)到了一組10個(gè)左右的超晶格衛(wèi)星峰,其平均峰間距為(s)=0.287。所以,由式(8),確定其平均周期厚度為159.0A,與設(shè)計(jì)值158.0A非常接近?!?、X射線衍射數(shù)據(jù)標(biāo)定所謂衍射譜的標(biāo)定就是從衍射譜上判斷試樣所屬的晶系、點(diǎn)陣胞類型、各衍射面指數(shù)并計(jì)算出點(diǎn)陣參數(shù)。例1:圖1是采用NH4HCO3作為沉淀劑,制備的前驅(qū)體于1000℃下煅燒獲得的Nd:YAG納米粉體的XRD圖譜。圖1
碳酸氫銨法1000℃煅燒獲得的Nd:YAG納米粉體的XRD圖譜
§3、X射線物相分析測(cè)試條件:采用日本理學(xué)公司的UltamⅣ型X射線衍射儀,對(duì)不同溫度煅燒后所得粉體進(jìn)行X射線衍射(XRD)測(cè)試,CuKα1輻射,λ=0.15405nm,X射線管電壓為40kV,管電流為20mA,掃描速率為4o/min,掃描范圍(2θ)10o~80o。實(shí)驗(yàn)采用Al(NO3)3·9H2O、Y2O3、Nd2O3、HNO3等為主要原料。首先用HNO3溶解Y2O3、Nd2O3,并配制成一定濃度的硝酸鹽溶液,然后按石榴石Ndx:Y3-xAl5O12(x為Nd3+的摻雜濃度)的配比將鋁鹽、釔鹽和釹鹽溶液混合,采用反向滴定,將混合鹽溶液以小于2ml/min的滴定速度分別滴入NH4HCO3溶液中,邊滴定邊攪拌,滴定完成后繼續(xù)攪拌、陳化24小時(shí)。將陳化好的懸濁液進(jìn)行真空吸濾,將吸濾后的沉淀依次進(jìn)行兩次水洗、醇洗。將得到的前驅(qū)體沉淀物放入90℃的烘箱烘干,最后將干燥后的沉淀物于不同溫度下熱處理。
根據(jù)實(shí)驗(yàn)采用的原料分析:煅燒后獲得的粉體中可能含有立方晶格的石榴石結(jié)構(gòu)的Y3Al5O12(YAG)、單斜晶系的Y4Al2O9(YAM)、具有斜方和六方點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的YAlO3(稱為釔鋁鈣鈦礦或YAP)、Y2O3或Al2O3等(如圖2),采用Jade5.0軟件對(duì)XRD測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,并獲得相應(yīng)的物相分析報(bào)告。Y3Al5O12(YAG)PDF卡:
Y4Al2O9(YAM)PDF卡:YAlO3PDF卡:Y2O3PDF卡:Al2O3PDF卡:圖2
可能含有的物相的PDF卡采用Jade5.0軟件進(jìn)行物相分析,具體操作如下:1.在開始菜單或桌面上找到“MDIJade”圖標(biāo),雙擊,一個(gè)簡(jiǎn)單的啟動(dòng)頁(yè)面過(guò)后,就進(jìn)入到Jade5.0的主窗口2.了解工具欄中按鈕及其作用;常用工具欄:手動(dòng)工具欄:右下角工具欄:3.選擇菜單“File|Patterns...”或工具欄中的選擇菜單“File|Patterns...”或工具欄中的,打開一個(gè)讀入文件的對(duì)話框。雙擊05.raw文件,文件被打開。這里需要注意,文件與測(cè)試儀器類型的格式應(yīng)一致,否則不能讀取測(cè)試數(shù)據(jù);4.物相檢索,也就是“物相定性分析”。它的基本原理是基于以下三條原則:(1)任何一種物相都有其特征的衍射譜;(2)任何兩種物相的衍射譜不可能完全相同;(3)多相樣品的衍射峰是各物相的機(jī)械疊加。因此,通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量或理論計(jì)算,建立一個(gè)“已知物相的卡片庫(kù)”,將所測(cè)樣品的圖譜與PDF卡片庫(kù)中的“標(biāo)準(zhǔn)卡片”一一對(duì)照,就能檢索出樣品中的全部物相。物相檢索步驟包括:(1)給出檢索條件:包括檢索子庫(kù)(有機(jī)還是無(wú)機(jī)、礦物還是金屬等等)、樣品中可能存在的元素等;打開一個(gè)圖譜,不作任何處理,鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)擊“S/M”按鈕,打開檢索條件設(shè)置對(duì)話框,去掉“Usechemistryfilter”選項(xiàng)的對(duì)號(hào),同時(shí)選擇多種PDF子庫(kù),檢索對(duì)象選擇為主相(S/MFocusonMajorPhases)再點(diǎn)擊“OK”按鈕,進(jìn)入“Search/MatchDisplay”窗口。(2)“Search/MatchDisplay”窗口分為三塊,最上面是全譜顯示窗口,可以觀察全部PDF卡片的衍射線與測(cè)量譜的匹配情況,中間是放大窗口,可觀察局部匹配的細(xì)節(jié),通過(guò)右邊的按鈕可調(diào)整放大窗口的顯示范圍和放大比例,以便觀察得更加清楚。窗口的最下面是檢索列表,從上至下列出最可能的100種物相,一般按“FOM”由小到大的順序排列,F(xiàn)OM是匹配率的倒數(shù)。數(shù)值越小,表示匹配性越高。(3)從列表中檢索出一定存在的物相,并選中;物
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