電學(xué)培訓(xùn) -數(shù)字電橋的校準(zhǔn)

電學(xué)培訓(xùn)—數(shù)字電橋數(shù)字電橋原理采用數(shù)字技術(shù)測(cè)量阻抗參數(shù)的電橋。數(shù)字技術(shù)是將傳統(tǒng)的模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，再進(jìn)行數(shù)字運(yùn)算、傳遞和處理等。數(shù)字電橋原理數(shù)字電橋的測(cè)量對(duì)象為阻抗元件的參數(shù)，包括交流電阻R、電感L及其品質(zhì)因數(shù)Q，電容C及其損耗因數(shù)D。因此，又常稱數(shù)字電橋?yàn)閿?shù)字式LCR測(cè)量?jī)x。其測(cè)量用頻率自工頻到約100千赫?；緶y(cè)量誤差為0.02%，一般均在0.1%左右。數(shù)字電橋原理數(shù)字電橋原理數(shù)字電橋原理如圖所示。圖中DUT為被測(cè)件，其阻抗用Zx表示，Rr為標(biāo)準(zhǔn)電阻器。切換開關(guān)可分別測(cè)出兩者的電壓Ux與Ur，于是有下式：Zx=Ux/Ix=Rr*Ux/Ur此式為一相量關(guān)系式。如使用相敏檢波器(PSD)分別測(cè)出Ux和Ur對(duì)應(yīng)于某一參考相量的同相量分量和正交分量，然后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)器將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字量，再由計(jì)算機(jī)進(jìn)行復(fù)數(shù)運(yùn)算，即可得到組成被測(cè)阻抗Zx的電阻值與電抗值。數(shù)字電橋原理從圖中的線路及工作原理可見，數(shù)字電橋只是繼承了電橋傳統(tǒng)的稱呼。實(shí)際上它已失去傳統(tǒng)經(jīng)典交流電橋的組成形式，而是在更高的水平上回到以歐姆定律為基礎(chǔ)的測(cè)量阻抗的電流表、電壓表的線路和原理中。數(shù)字電橋原理很多數(shù)字電橋帶有標(biāo)準(zhǔn)接口，可根據(jù)被測(cè)值的準(zhǔn)確度對(duì)被測(cè)元件進(jìn)行自動(dòng)分檔；也可直接連接到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用于元件生產(chǎn)線上對(duì)產(chǎn)品自動(dòng)檢驗(yàn)，以實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制。80年代中期，通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準(zhǔn)確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。性能特點(diǎn)主要參數(shù)基本準(zhǔn)確度0.05%最高達(dá)1MHz的測(cè)量頻率范圍交流測(cè)試信號(hào)可編程至20V(選件)最高達(dá)65次/秒的測(cè)量速度靈活組合四參數(shù)同時(shí)顯示，六位讀數(shù)分辨率可測(cè)量多達(dá)22種阻抗參數(shù)可同時(shí)交替測(cè)量電感L和直流電阻DCR10Ω,30Ω,100Ω可選信號(hào)源輸出阻抗20點(diǎn)以上多參數(shù)混合列表掃描測(cè)試功能性能特點(diǎn)圖形化掃描測(cè)量功能內(nèi)部可編程直流偏置±5V/50mA，可選100mA/1A內(nèi)部偏流源±10V可編程直流源電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能V、I測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能功能全面的多點(diǎn)開路/短路/負(fù)載修正功能及快捷清零功能1m/2m/4m測(cè)試電纜擴(kuò)展(選件)內(nèi)部100外部500組儀器設(shè)定可供儲(chǔ)存/讀取USB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和記錄功能，USB屏幕快照保存功能RS232C,GPIB，USB-DEVICE和HANDLER接口測(cè)量對(duì)象半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估。磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),