寶石礦物偏光顯微鏡鑒定專業(yè)知識

1?傳播速度與物質(zhì)折射率關(guān)系說法正確的是（A.傳播速度越大，折射率越?。??光的振動方向與傳播方向（B.垂直）3.不屬于光性均質(zhì)體的是（C.鋯石）。 4.方解石為一軸負晶，問斜交C軸的切片上，慢光的振動方向是D.No）。5?同種礦物的不同顆粒，測定的光性符號（D.一定相同）。6.二軸晶的光軸面是（C.Ng-Np面）。7?單斜晶系的光性方位是（B.b軸與光率體3個主軸之一重合，其余兩個結(jié)晶軸與另兩個主軸斜交）&正交偏光鏡間干涉結(jié)果相互削減（AA.R=nA）。9?礦物突起說法正確的是（A.無論是正突起還是負突起，礦物表面都是突起來的）。10.光率體橢圓半徑與解理縫或雙晶縫之間的夾角稱為（B.消光角B）。11.某礦物Ng-Np=0.018,Ng-Nm=0.008?則該礦物為（CC.二軸負晶）。12.兩礦片在正交偏光鏡下45°的干涉色（D.不一定都低）。13某顆粒在正交偏光鏡下為全消光，則該礦物顆粒（D.是均質(zhì)體礦物或非均質(zhì)體礦物垂直光軸切面）。14.花崗巖顯示干涉色為（CC.I級暗灰）。15.在正交偏光下礦物呈現(xiàn)高級白干涉色的原因是（BB.雙折率高）。16.在試板孔中插入云母試板，轉(zhuǎn)動物臺一周的過程中，可觀測到下列哪種情況（A.二次黃、二次藍、四次灰白）17.某一軸負晶礦物No=1.658,Ne=1.485，該礦物在垂直光軸和平行光軸切面上的突起類型分別為（A.正中突起和閃突起）18?云母試板適用于（BII級黃以上）干涉色的鑒定。19.礦物的多色性在下列哪種切面上最不明顯（C.垂直光軸切面C）。20.二軸晶光率體平行光軸面切片的干涉圖特征是（D.閃圖或瞬變干涉圖）。21.二軸晶除了丄Bxa、丄Bxo、丄0A的切片外，能觀察到Nm的切面有（D.有無數(shù)個）22?剛玉為一軸負晶，問斜交C軸的切片上，慢光的振動方向是（AA.No）23?剛玉為一軸負晶，問斜交C軸的切片上，快光的振動方向是（DD.Ne'）24.將石英顆粒置于N=1.70的浸油中，該礦物的突起是（BB?負高突起）25.兩礦片在正交偏光鏡下45°位置重疊時，其光率體橢圓半徑的同名半徑平行時，看到的干涉色比原來兩礦片的干涉色（B.一定都高）26.判斷礦物為均質(zhì)體，只根據(jù)B.任何切面都無干涉圖）27.在一個雙折射的礦物晶體中，沿光軸方向傳播的光是（D.單折射的）。28.光率體主軸與3個結(jié)晶軸之間的關(guān)系稱為（D.光性方位D）29.花崗巖中長石顆粒顯示干涉色為（D.I級暗灰）。30.垂直光軸切面在正交偏光下插入石膏（A.I級紫紅A）31.在普通角閃石平行（010）切面上測得角閃石的消光角應記為（A.NgAZ）。32.石膏試板適用于（CC.II級黃以下）干涉色的鑒定。33.自然光轉(zhuǎn)變?yōu)槠窆獾淖饔眠^程中不包括（C.透射C）34.光性非均質(zhì)體不包括（AA.尖晶石）對雙折射產(chǎn)生的兩束偏光描述不正確的是（B）振動方向垂直 B.振動方向平行C.傳播速度不同 D.相應折射率不等晶體中不發(fā)生雙折射的特殊方向稱為（D）。A.光學主軸B.光率體主軸C.法線D.光軸電氣石晶體中有（A）根光軸。A.1 B.2 C.3 D. 無數(shù)橄欖石晶體中有（B）根光軸。A.1 B.2 C.3 D. 無數(shù)螢石晶體中有（D）根光軸。A.1 B.2 C.3 D. 無數(shù)光波沿石英垂直光軸方向射入分解出的兩束偏光中，（A）傳播速度較大。A.常光B.非常光C.偏光D.單色光光波沿電氣石垂直光軸方向入射分解出的兩束偏光中，（B）傳播速度較大。A.常光 B.非常光 C.偏光 D.單色光光波沿石英垂直光軸方向射入分解出的兩束偏光中，（B）折射率較大。A.常光 B.非常光 C.偏光 D.單色光光波沿電氣石垂直光軸方向入射分解出的兩束偏光中，（A）折射率較大。A.常光B.非常光C.偏光D.單色光均質(zhì)體光率體形狀為（A）A.球體B.旋轉(zhuǎn)橢球體C.三軸不等橢球體D.紡錘體一軸晶光率體形狀為（B）A.球體 B.旋轉(zhuǎn)橢球體 C.三軸不等橢球體 D.紡錘體二軸晶光率體形狀為（C）A.球體 B.旋轉(zhuǎn)橢球體 C.三軸不等橢球體 D.紡錘體一軸晶光率體不同切面中，扁率最大的切面是（B）A.丄光軸切面 B.〃光軸切面 C.斜交光軸切面 D.無法判斷二軸晶光率體不同切面中，扁率最大的切面是（B）A.丄光軸切面 B.〃光軸面切面C.斜交光軸切面D.丄Bxa切面一軸晶光率體不同切面中，雙折率最大的切面是（B）A.丄光軸切面 B.〃光軸切面 C.斜交光軸切面 D.無法判斷二軸晶光率體不同切面中，雙折率最大的切面是（B）A.丄光軸切面 B.〃光軸切面 C.斜交光軸切面 D.無法判斷一軸晶光率體不同切面中，雙折率最小的切面是（A）A.丄光軸切面 B.〃光軸切面 C.斜交光軸切面 D.無法判斷二軸晶光率體光學主軸中，最長軸是（A）A.Ng軸 B.Nm軸 C.Np軸 D.無法判斷二軸晶光率體光學主軸中，最短軸是（C）A.Ng軸 B.Nm軸 C.Np軸 D.無法判斷二軸晶光率體垂直光軸面的半任意切面中，必有一個半徑是（B）A.NgB.NmC.NpD.No二軸晶主軸面不包括（D）A.NgNp面B.NmNp面C.NgNm面D.Ng'Np'面二軸正晶光軸角銳角平分線為（A）A.Ng B.Nm C.Np D.No二軸負晶光軸角鈍角平分線為（A）A.Ng B.Nm C.Np D.No礦物在礦片中解理縫的可見程度受（D）控制A.礦片厚度B.礦物雙折率C.光程差D.解理縫可見臨界角關(guān)于光性方位說法錯誤的是（C）指光率體主軸和結(jié)晶軸的關(guān)系指光率體在晶體中的位置指正負光性在晶體中的表現(xiàn)形式具體指光率體主軸和晶體a、b、c軸重合或斜交的關(guān)系礦片對白光中各單色光波的不等量吸收稱為（A）。A.選擇性吸收B.雙折射C.混合-互補 D.色散單偏光鏡下轉(zhuǎn)動物臺時，許多有色非均質(zhì)體礦片的顏色發(fā)生變化，這種由于光波在晶體中的振動方向不同而使礦片顏色發(fā)生改變的現(xiàn)象稱為（B）。A.吸收性B.多色性C.偏振性D.發(fā)光性在單偏光鏡下轉(zhuǎn)動物臺時，許多有色非均質(zhì)體礦片的顏色深淺發(fā)生變化，這種由于光波在晶體中的振動方向不同而使礦片顏色深淺發(fā)生改變的現(xiàn)象稱為（A）。A.吸收性B.多色性C.偏振性D.發(fā)光性白光照明下，貝克線的靈敏度為（A）。A.0.001B.0.0005C.0.01D.0.005常用物鏡不包括（B）。A.4XB.8XC.25XD.40X偏光顯微鏡調(diào)節(jié)和校正的步驟不包括（D）A.裝卸鏡頭B.調(diào)節(jié)焦距C.校正中心D.檢查鏡臂聚光鏡的作用是把下偏光透出的平行偏光高度會聚成（C）形偏光。A.圓B.柱C.錐D.放射偏光顯微鏡載物臺圓周邊緣有360°刻度，并附有游標尺，可以直接讀出載物臺旋轉(zhuǎn)角度，最小到（B）A.度B.分C.秒D.無法判斷下列礦物在單偏光下常具有閃突起的是（C）。A.角閃石B.電氣石C.白云母D.橄欖石下列礦物在單偏光下具有正高突起的是（A）。A.橄欖石B.石英C.榍石D.磷灰石消光類型不包括（B）。A.平行消光B.四次消光C.斜消光D.對稱消光下列礦物在正交偏光下一定表現(xiàn)為全消光的是（C）A.橄欖石B.石英C.螢石D.磷灰石下列礦物在正交偏光下有可能表現(xiàn)為全消光，也有可能表現(xiàn)為四次消光的是（D）A.螢石B.石榴石C.尖晶石D.橄欖石下列寶玉石在正交偏光下表現(xiàn)為不消光的是（B）A.橄欖石B.瑪瑙C.石英D.電氣石白光通過正交偏光鏡間的礦片后，經(jīng)干涉作用形成的顏色稱為（C）。A.顏色B.互補色C.干涉色D.單色下列礦物平行光軸切片有可能表現(xiàn)出高級白干涉色的是（A）。A.方解石B.角閃石C.石英D.橄欖石干涉色色譜表中的要素不包括（D）。A.干涉色級序B.光程差C.礦物雙折率D.異常干涉色異常干涉色不包括（D）A.柏林藍B.墨水藍C.銹褐色D.I級灰兩個非均質(zhì)體（除垂直光軸以外的）任意方向的切片，在正交偏光鏡間45°位置重疊時，光波通過這兩個礦片后，光程差的增減法則，稱為（C）。A.混合-互補法則 B.布拉維法則C.補色法則D.干涉法則石膏試板在正交偏光鏡間45°位置時呈現(xiàn)（C）干涉色。A.I級灰B.I級黃C.I級紫紅D.II級藍如果礦片干涉色為I級黃，加入石膏試板后，異名半徑平行時，干涉色變?yōu)椋ˋ）。A.I級灰 B.II級黃 C.I級紫紅 D.II級藍如果礦片干涉色為I級黃，加入石膏試板后，同名半徑平行時，干涉色變?yōu)椋˙）。A.I級灰 B.II級黃 C.I級紫紅 D.II級藍云母試板在正交偏光鏡間45°位置時呈現(xiàn)（A）干涉色。A.I級灰白B.I級黃C.I級紫紅D.II級藍如果礦片干涉色為I級紫紅，加入云母試板后，異名半徑平行時，干涉色變?yōu)椋˙）。A.I級灰B.I級橙黃C.I級紫紅D.II級藍石膏試板適用于（B）以下干涉色的礦片。A.III級藍B.II級黃C.II級紫紅D.II級藍兩個光性非均質(zhì)體不垂直于光軸的切片上下重疊時，若光率體橢圓切面的異名半徑互相平行且光程差相等時，則總光程差為0，視域出現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象稱為（D）。A.消光B.全消光C.全消色D.消色斜消光時，礦物光率體橢圓半徑與解理縫或雙晶縫或晶體邊棱之間的夾角稱為（B）。A.解理縫可見臨界角B.消光角C.光軸角D.光孔角87?長條狀礦物切片，其延長方向與光率體橢圓長半徑Ng或Ng'之間的夾角關(guān)系稱為（C）。A.光性B.軸性C.延性D.延展性錐光鏡下所觀察到的現(xiàn)象是錐形偏光束中，各個不同方向的入射偏光通過礦片后，到達上偏光所產(chǎn)生的消光和干涉效應總和。他們構(gòu)成特殊的圖像，稱為（C）。A.閃圖B.瞬變干涉圖C.干涉圖D.消光圖錐光下出現(xiàn)黑十字干涉圖的切面類型為（A）。A.一軸晶丄光軸切面 B.二軸晶丄光軸切面一軸晶斜交光軸切面（傾角較大） D.無法確定可出現(xiàn)瞬變干涉圖的切面類型為（A）。A.一軸晶〃光軸切面 B.二軸晶丄光軸切面C.一軸晶斜交光軸切面（傾角較大） D.無法確定偏光顯微鏡下礦片的標準厚度為（B）mm。A.0.01 B.0.03 C.0.05 D.0.1二軸晶中，多色性最明顯的切面是（D）。A.丄光軸切面B.IBxa切面C.丄Bxo切面 D.〃0AP切面關(guān)于橄欖石礦物描述錯誤的是（B）。A.二軸晶礦物 B.中級晶族礦物 C.光性非均質(zhì)體 D.斜方晶系礦物關(guān)于電氣石礦物描述錯誤的是（A）。A.二軸晶礦物 B.中級晶族礦物 C.光性非均質(zhì)體 D.三方晶系礦物二軸晶除了丄Bxa、丄Bxo、丄0A的切片外，能觀察到Nm的切面有（D）個。A.1 B.2 C.3D.無數(shù)觀察方解石的閃突起，應選擇（A）切面才最明顯。A.〃0A B.丄OA C.斜交OA D.無法判定觀察白云母的閃突起，應選擇（A）切面才最明顯。A.〃OAP B.丄OA C.斜交OA D.丄Bxa98?角閃石的多色性公式為：Ng=深綠，Nm二綠，Np=淺黃綠，其吸收性公式應為（A）。A.Ng>Nm>Np B.NgVNmVNp C.Nm>Ng>Np D.Ng>Np>Nm單偏光鏡下晶體光學性質(zhì)觀察、測定的主要特征不包括（D）。A.顏色B.多色性C.突起D.消光角正交偏光鏡下晶體光學性質(zhì)觀察、測定的主要特征不包括（B）。A.消光類型B.貝克線C.干涉色D.消光角一軸晶垂直光軸的切面在正交偏光下的特點是（A）。A.全消光 B.四次消光 C.不消光 D.對稱消光一軸晶平行光軸的切面在正交偏光下的特點是（B）。A.全消光 B.四次消光 C.不消光 D.對稱消光一軸晶垂直光軸的切面在錐光鏡下的特點是（A）。A.黑十字干涉圖 B.閃圖 C.瞬變干涉圖 D.橫或豎的黑臂影響光程差大小的因素不包括（D）。A.礦物性質(zhì)B.礦片厚度C.切片方向D.突起等級礦物在正交偏光鏡間I級干涉色的色序特征是具有灰白色，而無（A）色。A.藍綠B.紫紅C.橙黃D.暗灰二軸晶光率體形態(tài)為三軸不等橢球體，有（B）個圓切面。A.1 B.2 C.3D.無數(shù)要準確測定普通輝石的消光角（NgAZ）,必須選擇（A）的切面。A.〃0APB.丄0AC.斜交OAD.丄Bxa108?二軸晶垂直Bxa切面干涉圖的用途不包括（D）A.確定軸性B.確定切面方向C.測定光性符號D.測定干涉色級序二軸晶光率體主要切面類型不包括（B）。A.丄OA B.〃0AC.〃0APD.丄Bxa要測定礦物的軸性及光性正負，最好選擇在正交偏光鏡間干涉色（A）的切面。A.最低B.最高C.居中D.無法判斷對于一軸晶礦物來說，其延性總是和（A）相一致。A.光性B.軸性C.多色性D.吸收性薄片中透明礦物的顏色是由于礦片對白光中各單色光（A）的結(jié)果。A.選擇性吸收B.消光C.全部吸收D.定向吸收二軸晶負光性光率體垂直Bxo的切面，其光率體橢園切面半徑是（A）A.Nm和Np B.Ng和Np C.Ng和Nm D.Ng'和Nm二軸晶正光性光率體垂直Bxo的切面，其光率體橢園切面半徑是（C）。A.Nm和Np B.Ng和Np C.Ng和Nm D.Ng'和Nm光程差公式中的要素不包括（D）。A.薄片厚度B.雙折率C.光程差D.光軸角一軸晶垂直光軸切面干涉圖的用途不包括（D）。A.確定軸性B.確定切面方向C.測定光性符號D.估測2V角大小一軸晶斜交光軸切面的半徑為（D）。A.Ne和NoB.Ng和NpC.Ne和No' D.Ne'和No白云母閃突起的變化規(guī)律是（A）。A.正中-正低 B.正中-正高 C.負低-正中 D.負低-正低方解石閃突起的變化規(guī)律是（C）。A.正中-正低 B.正中-正高 C.負低-正中 D.負低-正低斜長石常見雙晶類型中為（B）。A.格子狀雙晶B.聚片雙晶C.卡斯巴雙晶D.穿插雙晶石榴石在偏光顯微鏡下的特征不包括（D）。A.無多色性B.全消光C.無干涉圖D.黑十字干涉圖光率體是表示光波在晶體中傳播時，光波的（D）與相應折射率值之間關(guān)系的一種光性指示體。A.傳播方向B.偏振方向C.入射方向D.振動方向單斜晶系光性方位特點是（B）與光率體三個主軸之一重合，其余兩個結(jié)晶軸與另兩個主軸斜交。A.X晶軸B.Y晶軸C.Z晶軸D.無法判斷沿Z軸延長的長條狀礦物，當Ng與Z軸平行時，礦物的延性符號為（A）。A.正B.負C.中性D.無法判斷礦物的（A）在垂直光軸的切面上最不明顯。A.多色性B.吸收性C.光性D.延性一軸晶光率體的旋轉(zhuǎn)軸永遠是（）軸。A.NeB.No C.Ne' D.No'一軸晶平行光軸切面的干涉圖與二軸晶平行光軸面切面的干涉圖特點完全一樣，在（B）明確的情況下也可用作光性正負的測定。A.延性B.軸性C.多色性D.吸收性在單偏光下，黑云母顏色最深時的解理縫方向可以代表（A）的振動方向。A.下偏光B.上偏光C.單偏光D.偏振光礦片干涉色的高低取決于礦物性質(zhì)和礦片厚度，在標準厚度下則受（B）的影響。A.切面半徑B.切面雙折率C.切面干涉色D.切面干涉圖二軸晶中Bxa和Bxo的關(guān)系是（A）A.互相垂直B.互相平行C.斜交D.無法判定折射率反映光在物質(zhì)中的傳播速度和物質(zhì)的（A）。A.密度B.硬度C.延展性D.光澤石英光率體的特點是光波平行光軸振動時的折射率（A）垂直光軸振動時的折射率值A.大于B.小于C.等于D.約等于方解石光率體的特點是光波平行光軸振動時的折射率（B）垂直光軸振動時的折射率值。A.大于 B.小于 C.等于 D.約等于在一軸晶礦物中，平行光軸切面雙折率（B）。A.最小 B.最大 C.為零 D.無窮大兩個光軸之間銳角的平分線稱為銳角等分線，以符號（A）表示。A.BxaB.BxoC.OAD.2V二軸晶光率體中垂直主軸面的斜交切面，即垂直NgNp面、NgNm面及NmNp面的斜交切面，稱為（B）。A.任意切面B.半任意切面C.主軸面D.光軸面光率體在晶體中的位置，受到晶體（A）的支配，光性方位因晶系不同而異。A.對稱性B.光性C.多色性D.延性一般以符號（A）代表下偏光鏡的振動方向。A.PPB.AAC.XXD.OO單偏光鏡的裝置不包括（D）。A.反光鏡 B.下偏光鏡 C.物鏡 D.聚光鏡正交偏光鏡的裝置不包括（D）。A.反光鏡 B.下偏光鏡 C.物鏡 D.勃氏鏡錐光鏡與單偏光晶及正交偏光鏡最大的區(qū)別是（A）。A.加聚光鏡B.加勃氏鏡C.加下偏光D.加上偏光礦物對光的選擇性吸收有關(guān)的光學性質(zhì)不包括（D）。A.顏色B.多色性C.吸收性D.干涉色與礦物折射率值大小有關(guān)的光學性質(zhì)不包括（D）。A.突起B(yǎng).邊緣C.貝克線D.顏色礦物的解理在礦片中表現(xiàn)為沿一定方向平行排列的細縫，稱為（B）。A.裂理紋B.解理縫C.雙晶縫D.節(jié)理縫薄片中解理縫的寬度和清楚程度，除與礦物解理的完善程度有關(guān)外，還與（A）有密切關(guān)系。A.切片方向B.礦片厚度C.礦片雙折率D.礦片光性在薄片中礦物的（B）一般表現(xiàn)為彎曲或不規(guī)則的細縫，有時也可以是平直而貫穿整個顆粒，但縫與縫之間的距離往往不等。A.解理紋B.裂理紋C.節(jié)理紋D.雙晶紋礦物在巖石薄片中呈現(xiàn)的顏色是礦物薄片在（D）光下所呈現(xiàn)的顏色。A.反射B.折射C.散射D.透射礦片對白光中各單色光波選擇性吸收后所呈現(xiàn)的顏色，遵循各單色光的（A）原理。A.混合-互補 B.折射C.吸收性D.全反射礦物在薄片中呈現(xiàn)的顏色，主要取決于礦物的化學成分，特別是礦物晶格中存在的（A）。A.過渡元素B.重金屬元素C.鹵族元素D.輕金屬元素觀察貝克線時，把兩物質(zhì)的接觸界線置于視域中心，適當縮小（D）以擋去傾斜度較大的光線，使視域變得較暗，貝克線將顯得更清楚。A.物鏡倍數(shù)B.聚光鏡C.視域D.縮光圈礦片表面光滑程度不同的現(xiàn)象稱為（B）。A.突起B(yǎng).糙面C.邊緣D.光滑度閃突起中發(fā)生明顯改變的現(xiàn)象不包括（C）A.邊緣B.糙面C.貝克線D.突起高低下列礦物中，呈負高突起的礦物是（D）。A.橄欖石B.石英C.正長石D.螢石下列礦物中，呈負低突起的礦物是（C）。A.橄欖石 B.石英 C.正長石 D.螢石下列礦物中，呈正低高突起的礦物是（B）。A.橄欖石 B.石英 C.正長石 D.螢石下列礦物中，呈正中突起的礦物是（D）。A.橄欖石 B.石英 C.正長石 D.磷灰石下列礦物中，呈正高突起的礦物是（A）。A.橄欖石 B.石英 C.正長石 D.螢石一軸晶或二軸晶中（C）方向的切片不具閃突起。A.平行光軸B.平行光軸面C.垂直光軸D.斜交光軸正交偏光下，當?shù)V片上光率體橢圓半徑與AA、PP成45°夾角時，礦片（A）,這時的礦片位置稱為45°位置。A.最亮B.最暗C.四明四暗D.明暗相間光程差與（A）成正比。A.礦物雙折率B.光性C.礦片形狀D.光軸角大小在觀察測定一軸晶礦片干涉色時，必須在（A）的定向切片上測定干涉色。A.平行光軸 B.垂直光軸 C.斜交光軸 D.平行光軸面在觀察測定二軸晶礦片干涉色時，必須在（D）的定向切片上測定干涉色。A.平行光軸 B.垂直光軸 C.斜交光軸 D.平行光軸面干涉色色譜表的橫坐標表示（A）的大小。A.光程差B.雙折率C.礦片厚度D.干涉色級序干涉色色譜表的縱坐標表示（C）的大小。A.光程差 B.雙折率 C.礦片厚度 D.干涉色級序干涉色色譜表中的斜線表示（B）的大小。A.光程差 B.雙折率 C.礦片厚度 D.干涉色級序當兩個礦片在正交偏光鏡間45°位置重疊時，光波通過兩個礦片后，其總光程差R的增減，取決于兩個礦片的（A）。A.重疊方式B.干涉色C.厚度D.晶體特征二軸晶光率體的Ng始終是（D）的。A.豎直B.水平C.傾斜D.無法判斷一軸晶光率體的Ne始終是（A）的。A.豎直 B.水平 C.傾斜 D.無法判斷二軸晶光軸面（OAP）始終是（A）的。A.豎直 B.水平 C.傾斜 D.無法判斷某礦物切面見不到解理縫，說明該礦物（D）。A.一定不發(fā)育解理B.一定發(fā)育解理C.一定發(fā)育裂理D.無法判斷非均質(zhì)體礦物在薄片中一定（C）多色性。A.有B.無C.可能出現(xiàn)D.無法判斷電氣石縱切面平行十字絲縱絲時，所見的顏色是（B）的顏色。A.NeB.No C.Ne' D.No'普通角閃石（010）面上多色性最明顯，可以見到（A）的顏色。A.Ng和NpB.Ng和NmC.Nm和Np D.Ng'和Np'在巖石薄片中，礦物折射率愈小，其突起（D）。A.愈高 B.愈低 C.一致 D.無法判斷將正長石置于折射率為1.70的浸油中所觀察到的突起是（A）突起。A.負高 B.負低 C.正低 D.正中在同一巖石薄片中，同種礦物不同方向切面上，其干涉色（A）。A.不同B.相同C.變化不大D.無法判斷判斷礦物的正負突起，必須借助（A）進行。A.貝克線的移動規(guī)律B.干涉色的變化C.光性的變化D.干涉圖的變化某礦物的干涉色為二級綠，在45°位置加云母試板，如同名半徑平行時，干涉色變?yōu)椋ˋ）。A.II級黃B.II級藍C.II級紫紅D.III級綠一軸晶的光軸往往與其（C）方向是一致的。A.A軸B.B軸C.C軸D.U軸某礦物的最高干涉色為II級藍，因此該礦物的某些切面可能出現(xiàn)（A）A.I級紫紅B.II級紫紅C.II級黃D.II級綠二軸晶垂直光軸切面的干涉圖用途不包括（D）。A.確定軸性B.判別光性C.判別切面方向D.估計折射率的大小一軸晶垂直光軸切面的干涉圖中，從中心到邊緣放射線的方向就是（C）的方向。A.NoB.Ne C.Ne' D.No'二軸晶最大雙折率為（A）。A.Ng-NpB.Ng-NmC.Nm-Np D.Ng'-Np'當解理縫與薄片表面（A）時解理縫最清楚。A.垂直B.平行C.斜交D.近似垂直單偏光下具有閃突起的礦物顆粒，正交偏光下其干涉色一般（A）。A.較咼B.較低C.為I級灰白 D.為咼級白石英為一軸晶，No=1.544,Ne=1.553,標準薄片厚度下，最高干涉色是（A）。A.I級灰白B.I級橙黃C.I級紫紅D.II級藍方解石為一軸晶，No=1.658,Ne=1.486,最高干涉色達到（D）。A.I級灰白 B.II級橙黃 C.III級紫紅 D.高級白某二軸晶礦物，Ng=1.705,Nm=1.700,Np=1.693，垂直Bxa切面干涉色是（A）。A.I級灰白 B.II級橙黃 C.III級紫紅 D.高級白某顆粒干涉色為灰色,加石膏試板后,一個45°位變?yōu)樗{,那另一個45°一定變?yōu)椋˙）色。A.灰白B.黃C.紫紅D.藍某顆粒加石膏試板后,一個45°位變?yōu)樗{,另一個45°位變?yōu)辄S,那原來的干涉色一定是（A）。A.I級灰白B.II級橙黃C.III級紫紅D.高級白某顆粒干涉色加石膏試板后,兩個45°位都變?yōu)榫G色,說明原來的干涉色一定至少為（C）級。A.IB.IIC.IIID.IV某顆粒干涉色加石膏試板后，只要有一個45°位變?yōu)镮級，說明原來的干涉色一定不超過（B）級。A.IB.IIC.IIID.IV某礦物顆粒干涉色加云母試板后，升高位變成綠色，降低位變成紅色，則該礦物干涉色為（B）色。A.紫紅B.藍C.黃D.灰白一軸晶礦物平行C軸切面為（A）消光。A.平行B.對稱C.斜D.全具有閃圖干涉圖的礦物顆粒，去掉錐光系統(tǒng)后，在正交鏡下，其干涉色（A）。A.較高B.較低C.不明顯D.無法判斷二軸晶垂直Bxa切面干涉圖45°時，兩個彎曲黑帶頂點連線為（B）方向。A.光軸B.光軸面跡線C.BxaD.Bxo二軸晶垂直Bxa切面干涉圖中，與兩個彎曲黑帶頂點連線方向相垂直的方向始終為（D）方向。A.光軸B.光軸面跡線C.BxaD.Nm二軸晶垂直Bxa切面干涉色一定（B）垂直Bxo切面干涉色。A.高于B.低于C.等于D.無法判斷二軸晶垂直O(jiān)A切面干涉圖45°位時，加試板后，彎曲黑帶凸方與凹方干涉色變化正好（B）。A.相同 B.相反 C.一致 D.無法判斷二軸晶閃圖干涉圖，去掉錐光系統(tǒng)后，在正交偏光間具有該礦物干涉色（A）。A.最高 B.最低 C.中等 D.無法判斷一、判斷（每題1分，共150分）光由光疏介質(zhì)射入光密介質(zhì)時，永遠不會發(fā)生全反射。 （V）TOC\o"1-5"\h\z光在晶體中傳播方向一致，則折射率一樣。 (X)折射定律表達為折射率為入射角與折射角的正弦之比，所以入射角越大，折射率越大；入射角越小，折射率越小。 (X)貝克線的移動規(guī)律是下降物臺，貝克線總是向折射率大的物質(zhì)移動。 (V)二軸晶光率體，當Np>Nm>Ng時，為負光性。 (X)一軸晶光率體切面始終有一個No,二軸晶光率體切面始終有一個Nm。 (X)礦物的多色性在垂直光軸的切面上最不明顯。 (V)&一軸晶光率體的旋轉(zhuǎn)軸永遠是Ne軸。 (V)光性方位指的是光率體在晶體中的擺放位置。 (V)二軸晶Bxa一定垂直Bxo。 (V)二軸晶Bxa和Bxo構(gòu)成的切面一定與光軸面一致。 (V)二軸晶光率體的Ng始終是豎直的。 (X)一軸晶光軸Ne始終是豎直的，二軸晶光軸面(0AP)也始終是豎直的。 (V)在單偏光鏡下，黑云母顏色最深時的解理縫方向可以代表下偏光的振動方向。(V)某礦物切面見不到解理縫，說明該礦物一定不發(fā)育解理。 (X)非均質(zhì)體礦物在薄片中一定有多色性。 (X)薄片中礦物有顏色的切面一定有多色性。 (X)電氣石縱切面平行十字絲縱絲時，所見的顏色是No的顏色。 (V)普通角閃石(010)面上多色性最明顯，可以見到Ng和Np的顏色。 (V)角閃石的多色性只有在垂直Bxa的切面上觀察才最明顯。 (X)在巖石薄片中透明礦物所呈現(xiàn)的顏色是礦片對白光中各單色光波折射和散射的結(jié)果。(X)礦片糙面的明顯程度是受礦物軟硬和礦片表面光滑程度的影響。 (X)在巖石薄片中，礦物突起愈低，其折射率就愈小。 (X)正突起就是礦物向上凸起，負突起就是礦物向下凹進。 (X)所有非均質(zhì)體橢圓切面都具有閃突起。 (X)將石英置于折射率為1.70的浸油中所觀察到的突起是負高突起。 (V)在同一巖石薄片中，同種礦物不同方向切面上，其干涉色不同。 (V)對于一軸晶礦物來說，其延性和光性總是一致的。 (V)判斷礦物的正負突起，必須借助貝克線的移動規(guī)律進行。 (V)礦片干涉色的高低取決于礦物性質(zhì)和礦片厚度，在標準厚度下則受切面雙折射率的影響。(V)某礦物的干涉色為二級綠，在45°位置加云母試板，如同名半徑平行時，干涉色升高為二級藍，如異名半徑平行時，干涉色降低為二級黃。 (X)當非均質(zhì)體礦片上的光率體橢圓半徑與上、下偏光的振動方向平行時，礦片就會變黑而消色。 (X)晶體的光軸往往與其C軸方向是一致的。 (X)礦物折射率與光波傳播的速度緊密相關(guān)，因此光波在礦物中傳播速度愈快，礦物折射率就愈大。 (X)要測定礦物的軸性和光性符號，應該選擇在正交偏光下干涉色最高的切面。 (X)兩非均質(zhì)體礦片在正交鏡間的45°位重迭，當異名半徑平行時，因總光程差為零而使礦片變黑暗的現(xiàn)象，稱為消色。 (V)某礦物的最高干涉色為II級紫紅，因此該礦物的某些切面可能出現(xiàn)I級紫紅。(V)一軸晶平行光軸切面的干涉圖與二軸晶平行光軸面切面的干涉圖特點完全一樣，在軸性TOC\o"1-5"\h\z明確的情況下也不能用作光性正負的測定。 (X)兩非均質(zhì)礦片在正交鏡間的45°位置重疊，當異名半徑平行時，總光程差等于兩礦片光程差之差。 (V)同一巖石薄片中，同一種礦物的干涉色相同，不同種礦物的干涉色不同。 (X)二軸晶垂直光軸切面的干涉圖用途有：確定軸性、光性、切面方向和估計折射率的大小。(X)在一軸晶平行光軸切面的干涉圖中，從中心到邊緣干涉色逐漸升高的方向就是Ne的方向。 (X)根據(jù)Ng、Nm和Np的相對大小可以確定二軸晶礦物的光性正負，當Ng—NmVNm—Np時為正光性，當Ng—Nm>Nm—Np為負光性。 (X)中級晶族的光性方位是一軸晶光率體的旋轉(zhuǎn)軸與晶體的三個結(jié)晶軸之一重合。(X)要確定光率體切面方位，必須選擇在正交偏光下干涉色最高的切面。 (X)在單偏光鏡下，觀察到了礦物的某些切面形態(tài)為正方形，我們可以認定這種礦物具有立方體晶形。 (X)在利用楔形邊法測定某礦片干涉色級序時，發(fā)現(xiàn)該礦物邊緣最外圈呈現(xiàn)黃色，從邊緣到中部一共經(jīng)過2條紅帶，我們不能確定礦片的干涉色是否為3級。 (V)除真空外的任何介質(zhì)的折射率總是大于1。 (V)光由光密介質(zhì)射入光疏介質(zhì)，一定發(fā)生全反射。 (X)均質(zhì)體有無數(shù)個相同的N或只有一個No (V)非均質(zhì)體有幾個不同的No (V)自然光射入均質(zhì)體中，基本仍為自然光，偏光射入仍為偏光，不發(fā)生雙折射。 (V)自然光射入非均質(zhì)體中一般發(fā)生雙折射形成兩種偏光；偏光射入非均質(zhì)體中，按入射偏光傳播，不發(fā)生雙折射。 (X)光在晶體中傳播方向一致，則N—樣。 (X)光在晶體中振動方向一致，則N—樣。 (X)—軸晶有Ne、No兩個主折射率，二軸晶有Ng、Nm、Np三個主折射率。 (V)一軸晶No軸始終垂直于光軸。 (V)—軸晶正光性Ne>No,負光性NeVNo；二軸晶正光性Ng>Nm>Np，負光性NgVNmVNp。(X)一軸晶光率體切面始終有一個No,二軸晶光率體切面始終有一個Nm。 (X)無論是一軸晶還是二軸晶，具有最大雙折率的切面一定平行光軸。 (V)一軸晶有一個光率體圓切面，二軸晶有兩個光率體圓切面。 (V)二軸晶光軸面一定與NgNp面一致。 (V)二軸晶垂直光軸面的任意切面總有一個半徑是Nm。 (V)一軸晶最大雙折率為|Ne-No|,二軸晶最大雙折率為Ng-Nm。 (X)二軸晶Bxa或Bxo不可能是Nm。 (V)一軸晶光率體的光軸始終是豎直的。 (V)二軸晶光率體的Ng軸始終是豎直的。 (X)—軸晶Ne與Z軸始終一致,二軸晶Ng與Z軸始終一致。 (X)二軸晶三個光率體主軸一定與三個結(jié)晶軸一致。 (X)二軸晶斜方晶系Ng、Nm、Np與X、Y、Z軸一致。 (X)二軸晶單斜晶系一定是Nm=Yo (X)解理縫一般是暗色細縫。 (V)當解理縫與薄片表面垂直時解理縫最清楚。 (V)輝石和長石都發(fā)育兩組解理，薄片中輝石見到解理的機會少，而長石機會多。 （X）手標本上見到某礦物有顏色，則薄片中一定也有顏色。 （X）均質(zhì)體礦物在薄片中一定無多色性。 （V）非均質(zhì)體礦物在薄片中一定有多色性。 （X）有顏色礦物的沒有多色性的切面一般是光率體圓切面。 （V）有多色性的一軸晶只有NeNo面上有多色性，二軸晶只有NgNp面上有多色性。 （X）礦物突起越高,N越大，突起越低,N越小。 （X）提升物臺時，貝克線向折射率大的物質(zhì)方向移動。 （X）正交偏光鏡間全消光的礦物顆粒一定是均質(zhì)體。 （X）正交偏光鏡間出現(xiàn)“四明四暗”現(xiàn)象的顆粒一定是非均質(zhì)體。 （V）正交偏光鏡間觀察到的顏色為礦物自身的顏色。 （X）非均質(zhì)體所有切面都可以出現(xiàn)“四明四暗”現(xiàn)象。 （X）干涉色與單偏光鏡下顏色的形成原理類似。 （X）干涉色與光程差是一一對應的，只要干涉色顏色種類一樣，則光程差一樣。 （X）灰色和黃色干涉色一定屬于I級干涉色。 （X）藍色和綠色干涉色至少是II級或以上干涉色。 （V）相鄰色序?qū)Ρ?，紫紅對應的光程差一定小于藍色對應的光程差。 （V）同一級序內(nèi)，紫紅對應的光程差也一定小于藍色對應的光程差。 （V）同一薄片中，具有不同干涉色的顆粒，一定是不同種礦物。 （X）同一薄片中，具有相同干涉色的顆粒，一定是同一種礦物。 （X）每一種非均質(zhì)體礦物，只有一種干涉色。 （X）每一種非均質(zhì)體礦物，只有一種最高干涉色。 （V）具有最高干涉色的切面一定平行光軸。 （V）平行光軸的切面，一定具有最高干涉色。 （X）單偏光下具有閃突起的礦物顆粒，正交偏光下其干涉色一般比較高。 （V）石英為一軸晶,No=1.544,Ne=1.553,標準薄片厚度下,最高干涉色是I級紫紅。（X）方解石為一軸晶,No=1.658,Ne=1.486,最高干涉色達到高級白。 （V）某二軸晶礦物,Ng=1.705,Nm=1.700,Np=1.693,垂直Bxa切面干涉色是灰色。（V）補色法則中,光率體半徑同名平行時,結(jié)果干涉色一定比礦片原來的高。 （V）補色法則中,光率體半徑異名平行時,結(jié)果干涉色一定比礦片原來的低。 （X）某礦物顆粒干涉色為灰色,加石膏試板后,一個45°位變?yōu)樗{,另一個45°位變?yōu)辄S,干涉色都比原來的高,所以兩個45°位都是光率體半徑同名平行。 （X）某顆粒干涉色為灰色,加石膏試板后,一個45°位變?yōu)樗{,那另一個45°一定變?yōu)辄S。（V）某顆粒加石膏試板后,一個45°位變?yōu)樗{,另一個45°位變?yōu)辄S,那原來的干涉色一定是灰。 （V）某顆粒加石膏試板后,一個45°位變?yōu)樗{,另一個45°位變?yōu)榛?那原來的干涉色一定是黃。 （X）108?顆粒干涉色加石膏試板后，兩個45°位都變?yōu)榫G色，說明原來的干涉色一定至少為II級。 （X）某顆粒干涉色加石膏試板后,只要有一個45°位變?yōu)镮級,說明原來的干涉色一定不超過II級。 （V）原干涉色為藍色,加云母試板后,升高位一定變成綠色,降低位一定變成紅色。（V）某礦物顆粒,加云母試板后,一個45°位變成紫紅色,另一個45°位變成綠色,則原TOC\o"1-5"\h\z來的干涉色一定是藍色。 （X）原干涉色為黃色，加云母試板后,升高位一定變成紅色，降低位一定變成綠色。 （X）—軸晶礦物平行C軸切面為平行消光。 （V）單斜晶系礦物普