電子元件試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大全

連接器測試規(guī)范報(bào)告人：frank惠州市泰瑞康電子有限公司2012年5月23日連接器常用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)美國電子工業(yè)協(xié)會(EIA)美國印制電路協(xié)會(IPC)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)(MIL-STD)電氣與電子工程師協(xié)會(IEEE)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(JIS)國際電工委員會(IEC)連接器常用測試標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)分類測試標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定之試驗(yàn)一般分成三類:電氣試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、機(jī)械試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件除非另有規(guī)定,所有測試應(yīng)在下列環(huán)境條件中進(jìn)行:a.溫度:+15~+35℃.b.大氣壓力:550~800mmHg.c.相對濕度:20~80%常用連接器測試標(biāo)準(zhǔn)EIA(美國電子工業(yè)協(xié)會)MIL-STD-1344A

電連接器試驗(yàn)方法MIL-STD-202FMIL-STD-810D(環(huán)境試驗(yàn)方法)

連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)1電氣特性絕緣阻抗測試評估連接器或同軸端子之絕緣材料，在通過直流電壓后，其表面產(chǎn)生漏電流之狀況業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344,3003.1絕緣電阻測試儀1、如果樣品有特殊規(guī)定，對于測試前之樣品需經(jīng)清洗處理，則樣品需置于合適之溶劑后，以純水清洗，再置于有對流作用之烤箱，以35±5℃之條件烘烤2H，取出后再放置于室溫0.5H再測試。2、測試絕緣阻抗必須加上電壓連續(xù)2分鐘后再作測量。3、測量點(diǎn)對連接器而言，為距離最近之任何兩根端子或端子與鐵殼，若為同軸連接器則為內(nèi)部與外部之端子。4、當(dāng)有多組測試數(shù)據(jù)時(shí)，以最小值作為判定基準(zhǔn)。5、在測試過程中不得有火花或塑膠擊穿之現(xiàn)象發(fā)生。無絕緣電阻測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)2電氣特性耐電壓測試確定連接器之安全額定電壓，以及受瞬間的超額電壓，開關(guān)沖擊電壓與類似現(xiàn)象之安全性，進(jìn)而判斷絕緣材料與其組成之絕緣間隔是否適合。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,3001.1高壓測試儀1、測試電壓，依樣品規(guī)定之電壓大小、性質(zhì)（交流或直流）作測試。2、電壓升高率：以每秒升高約500V（Vrms或Dc）由零點(diǎn)升至所規(guī)定之測試電壓值，在工廠內(nèi)可選擇瞬間達(dá)到測試之電壓值。3、測試點(diǎn)為最近之兩根端子或端子與鐵殼。若為同軸連接器，則為導(dǎo)體之外部與內(nèi)部。4、測試時(shí)間為1分鐘。5、漏電流（LeakageCurrent或CutOFFCurrent）最大值為5mA。除特別規(guī)定外，一般測試均以0.5mA為規(guī)格。因耐電壓測試為高壓測試項(xiàng)目，故在量測時(shí)應(yīng)特別小心，以避免操作上疏忽，造成人員受傷。耐電壓測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)3電氣特性接觸阻抗測試測試連接器在通過電流下端子之接觸阻抗，其測試值包含端子本身之阻值。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344,3004.1Connector&CableTestingSystemAD411S1、將公母連接器結(jié)合一起，并將公母連接器之端子串聯(lián)成一回路。2、回路上通過一測試電流，然后測量端子兩端之微小電壓降，即得其阻值。1、測試前應(yīng)先確認(rèn)其回路是導(dǎo)通而非OPEN狀態(tài)。2、測試點(diǎn)位置應(yīng)一致性，而非高低不齊。3、測試接觸電阻時(shí)，要注意保持樣品不受振動。接觸電阻測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)4電氣特性低功率接觸阻抗在不破壞氧化薄膜之狀況下測試，兩端子間的接觸阻抗籍以評估端子之總體性評價(jià)。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,3002.1Keithley5802Microhmmeter1、將公母端子或連接器結(jié)合一起2、以20mV(max)的測試電壓、100mA(max)的測試電流之量測條件，量測兩端子之電壓（V1、V2、V3、V4、V5、V6）3、若前進(jìn)與后退電流不等時(shí)，應(yīng)以公式計(jì)算（樣品電阻+（前進(jìn)電壓+后退電壓）/（前進(jìn)電流+后退電流）1、測試電壓不得大于20mV.2、電壓降的測試點(diǎn)應(yīng)固定，不可變動。3、為了不破壞端子表面的氧化薄膜，測試電流應(yīng)越小越好。低功率接觸阻抗連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)5電氣特性電容測試在量測連接器端子之間或端子與其他金屬件之間的電容性質(zhì)。業(yè)界規(guī)范EIA-RS-364A,TP30AHP4278A以1Khzor1Mhz之測試頻率，測試相鄰兩PIN間之電容值。量測前設(shè)備應(yīng)先完成OPEN、SHORT之補(bǔ)償功能，以獲得較精確之?dāng)?shù)據(jù)。電容測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)6電氣特性溫升測試決定連接器在環(huán)境條件下，通過一額定電流，量測其溫度變化，籍以評估是否符合安規(guī)之規(guī)定。業(yè)界規(guī)范IEC-512-3EIA-RS-364A,TP70Connector&CableTestingSystem1、將公母連接器集合在一起，并將所有端子串聯(lián)成一回路。2、依記錄器能力連接一至數(shù)組熱點(diǎn)偶線至待測物端子上。3、通額定電流于回路上，因電流流過端子而形成作功，使得接點(diǎn)溫度上升，再經(jīng)由熱電偶線量測得出溫度變化。4、測試時(shí)間為5hrs.5、除特別規(guī)定外，溫差以不超過30℃為原則。1、熱電偶線有正負(fù)極之分，故接線時(shí)應(yīng)特別注意。2、量測時(shí)應(yīng)注意到周遭環(huán)境，避免因環(huán)境因素（冷氣對流）而影響量測精確性。溫升測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)7機(jī)械特性接點(diǎn)插入與拔出力測試使用標(biāo)準(zhǔn)的測試公頭測試個(gè)別端子之插入與拔出時(shí)所需的力量，以評估端子之品質(zhì)特性。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD2014拉拔力試驗(yàn)機(jī)1、測試用之PIN或BLADE其尺寸及表面粗糙度均符合MIL-3197之規(guī)定。2、測試PIN或BLADE應(yīng)定期清洗，以避免其表面覆膜而影響到量測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。3、測試步驟1（使用PIN或BLADE)：

A、先插拔一次以調(diào)整端子之狀態(tài)。

B、插入最大尺寸之測試PIN或BLADE，同時(shí)量測插入力拔出測PIN或BLADE，并換上最小尺寸之測試PIN或BLADE。

C、插入最小尺寸的PIN或BLADE至定位拔出并同時(shí)量測其拔出力。4、測試步驟2（使用認(rèn)可之端子）：

A、用最大尺寸之GAGE插拔一次以調(diào)整端子之狀態(tài)。

B、插入被認(rèn)可之端子并測量插入力，再拔出端子時(shí)測量其拔出力。測試插拔力，因ALIGNMENT對測試的精度影響很大，故在測試時(shí)應(yīng)特別注意到從機(jī)臺之LOADCELL，測試PIN及測試樣品之中心線之一致性。接點(diǎn)插拔測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)8機(jī)械特性連接器之整體插入及拔出力測試評估連接器在不同的環(huán)境應(yīng)力下，測試前及測試后的整體插入與拔出力及連接器保護(hù)蓋之防護(hù)能力。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,2013.1拉拔力試驗(yàn)機(jī)1、將公母連接器分別固定在拉拔力試驗(yàn)機(jī)之治具上。2、以5mm/min的速度測試其整體插拔力。1、除非有特別規(guī)定，若以BLADE方式測試插拔力時(shí)，則以最大尺寸的BLADE量測插入力，以最小尺寸的BLADE量測拔出力。2、測試時(shí)應(yīng)注意樣品的浮動性，避免因ALIGNMENT不準(zhǔn)而造成量測上誤差。整體插拔測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)9機(jī)械特性端子保持力測試測試端子在裝進(jìn)塑膠后，所能承受的軸向力量，以避免在使用時(shí)，因操作上的錯誤，而造成連接器退PIN及接觸不良等狀況。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,2007.1推拉力試驗(yàn)機(jī)1、量測位移之變化

A、將測試樣品固定在治具上，并在端子裝配之反方向施加推力或拉力。

B、預(yù)拉或預(yù)推1/3的規(guī)格力量(max:3lb)于端子上，并在樣品端子上選一參考點(diǎn)作為位移的量測原點(diǎn)。

C、以約每秒增加一磅的速度增加到所規(guī)定的力量并停留5~10秒鐘。

D、從參考點(diǎn)量測經(jīng)此承受力量后，位移之變化是否合乎規(guī)格之規(guī)定。2、量測把端子推（拉）出HOUSING時(shí)的力量。

A、在測試樣品的端子施一軸力（拉或拔）直到把端子被推（拉）出塑膠體，并量測（推）出時(shí)之最大力量。

B、所量測之最大力量是否大于規(guī)格所訂的最小規(guī)格值。以量測位移之變化方式量測ContactRetentionForce時(shí)，所加之荷重為一靜荷重，故在以拉力試驗(yàn)機(jī)量測時(shí)，應(yīng)特別注意到力量會衰減問題。端子保持力測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)10機(jī)械特性端子正向力測試量測正向力籍以驗(yàn)證端子設(shè)計(jì)及材料選定是否合乎設(shè)計(jì)理念，進(jìn)而推算出各相關(guān)的力量，作為設(shè)計(jì)變更之參考。業(yè)界規(guī)范EIA-RS-364A,TP4推拉力試驗(yàn)機(jī)1、端子（未裝入塑膠本體）

A、模擬端子裝入塑膠本體之狀況，將端子固定在適當(dāng)?shù)闹尉呱?，再將治具固定至測試機(jī)臺。

B、移動測試機(jī)臺讓測試PIN之端面微微接觸端子接觸面積（ContactAprea)之最高點(diǎn)（ContactPOINT從ForceGage讀出約1g力量）。

C、將位移歸零，作為DEFLECTION的起始點(diǎn)。

D、移動機(jī)臺至所需DEFLECTION同時(shí)以X~Y記錄器記錄位移及力量的關(guān)系。

E、視測試需要可連續(xù)測多次（耐插拔試驗(yàn)之規(guī)定次數(shù)）后，視察端子力量的變化幾端子是否產(chǎn)生永久變形。2、成品

A、以投影機(jī)臺量測連接器端子ContactPoint間之距離。

B、將樣品剖開。

C、大剖開的樣品固定在適當(dāng)?shù)闹尉?，再把治具固定到測試機(jī)臺。

D、重復(fù)以上B、C、D、E步驟。1、測試PIN之端面應(yīng)平滑，不可凹凸不平。2、端子應(yīng)固定牢固不可晃動，以避免量測時(shí)造成誤差。3、測試速度宜慢（約5mm/min或更慢），以避免機(jī)臺慣性造成量測誤差。4、連接器若為初始狀態(tài)量測NormalForce應(yīng)以實(shí)體配合一次或標(biāo)準(zhǔn)厚度之BLADE插拔一次。端子正向力測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)11環(huán)境特性鹽水噴霧試驗(yàn)評估樣品對鹽水噴霧試驗(yàn)的耐劣化及保護(hù)膜品質(zhì)的均勻性判定。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD1001.1鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)1、調(diào)配鹽水

A、試驗(yàn)所需之鹽應(yīng)為高品質(zhì)之NaCi。即在干燥狀態(tài)下，NaCi含量不超過0.1%，全部雜質(zhì)不超過0.3%.B、鹽溶液應(yīng)由鹽及蒸餾水或純水調(diào)制而成，其重量比為5±1%.C、鹽水之PH值在水溫35±2℃時(shí)應(yīng)為6.5~7.2，比重為1.026~1.041.D、為了調(diào)整鹽水PH值，先把水加溫至60℃再加鹽成5%濃度，經(jīng)24H冷卻并穩(wěn)定后，其PH值可保持穩(wěn)定測量，若PH值偏酸則加NaOH,偏堿則加CH3,COOH加以調(diào)整。2、設(shè)定試驗(yàn)條件

A、試驗(yàn)箱之溫度：35±2℃，濕度95~98%.B、飽和桶溫度：47±2℃.C、測試時(shí)間：8H、16H、24H、48H3、試樣之放置應(yīng)不互相接觸及不與其他金屬接觸且使其不影響其他試樣放置，測試面應(yīng)與垂直面成15℃.4、應(yīng)最少16H量測收集霧量一次，平均1~2ml/H.5、試驗(yàn)完畢后，試樣應(yīng)以清水沖洗5分鐘，水溫不超過35℃，再以蒸餾水或純水洗凈，再以空氣或軟毛刷予以清潔。6、依測試需求作最終量測。1、作此項(xiàng)測試時(shí)除了必要的調(diào)機(jī)或檢視樣品外，試驗(yàn)不可中斷。2、如需中斷此試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)作除霧動作，再打開試驗(yàn)箱蓋子。鹽水噴霧試驗(yàn)連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)12環(huán)境特性耐濕性測試評估樣品在高相對濕度下放置規(guī)定時(shí)間后，使樣品不致遭到破壞或功能退化，并驗(yàn)證樣品在高濕環(huán)境下操作的可行性。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD1002.2恒溫恒濕機(jī)1、恒溫恒濕

A、量測條件：溫度：40±2℃，濕度：90~95%（RH）

B、量測時(shí)間：72H、96H、240HC、最終量測：取出樣品后應(yīng)在1~2H內(nèi)作最終量測。2、溫濕度循環(huán)測試：

A、測試前準(zhǔn)備：將樣品放置于50±5℃，濕度20%以下24H.B、測試條件：

C、最終量測：在最后一個(gè)周期完成后，樣品自試驗(yàn)倉取出后應(yīng)在1~2H內(nèi)作最終量測。1、試驗(yàn)時(shí)所加的水應(yīng)為蒸餾水或純水。2、試驗(yàn)倉內(nèi)壁及倉頂凝結(jié)之水不得滴于測試樣品上。3、從25℃降至-10℃之步驟設(shè)備能在30分鐘內(nèi)完成。耐濕性試驗(yàn)連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)13環(huán)境特性振動測試為了判定受測試樣品于使用壽命年限中，所感受到在明確的或是隨機(jī)的振動頻寬及振動量之影響。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD20051、振動量測系統(tǒng)（包括：控制主機(jī)、放大器、振動機(jī)臺、夾治具及加速規(guī)）2、斷電監(jiān)視器1、將受測樣品之端子連接，并與斷電監(jiān)測器串聯(lián)而行成各自獨(dú)立之回路。量測回路之初始阻值并設(shè)定斷電時(shí)間，回路額定電流幾斷電最終之判定阻值。2、將樣品依照三個(gè)正交軸向，分別架設(shè)于振動機(jī)臺夾治具上，并僅貼加速規(guī)于治具表面作為機(jī)器系統(tǒng)之回路控制用途。3、適當(dāng)輸入振動測試規(guī)格所需之條件參數(shù)到控制器中（如振動頻寬、振幅掃描、測試時(shí)間等），控制訊號產(chǎn)生后，經(jīng)放大器功率放大而至振動機(jī)臺產(chǎn)生所需之正弦或隨機(jī)振動推力。4、更換每一受測樣品之三軸向，并記錄或監(jiān)控在每一獨(dú)立的回路中是否有斷電現(xiàn)象。5、檢查樣品及配件外觀是否有松脫、變形或折損之現(xiàn)象。1、樣品緊固于夾治具上，以避免振動測試時(shí)樣品可能松脫飛濺造成人員及機(jī)臺損傷。2、根據(jù)樣品、治具之總重量及振幅加速度值評估機(jī)臺所能提供之最大輸出推力，確保機(jī)器之安全性。3、檢視機(jī)臺之氣墊、避振系統(tǒng)，維持足夠氣量，并確保機(jī)器散熱、排氣正常。4、注意夾治具設(shè)計(jì)，以避免在測試之頻寬內(nèi)造成不允許之供振，影響樣品測試。振動測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)14環(huán)境特性機(jī)械沖擊測試驗(yàn)證受測樣品是否能夠通過特定沖擊嚴(yán)厲程度之考驗(yàn)，以確保樣品滿足設(shè)計(jì)之要求。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,20041、沖擊測試機(jī)（含波形產(chǎn)生器）2、頻譜分析儀（含加速規(guī)）3、斷電監(jiān)測器1、樣品必須事先串聯(lián)端子，連成回路，并固定于機(jī)臺上的夾治具上。注意受測樣品在所定義正交的三個(gè)軸向上，必須輪流受測。2、依據(jù)所指定之沖擊波形，如半正弦波、方波或鋸齒波等，在機(jī)臺底座更換相關(guān)之波形產(chǎn)生器，滿足規(guī)格要求之G值及波形作用時(shí)間或速度變化。3、緊貼加速規(guī)于機(jī)臺上方，并利用頻譜分析攝取沖擊波形之訊號。4、針對不同的產(chǎn)品及數(shù)量之樣本，適當(dāng)增減機(jī)臺落下之高度，并參考頻譜分析儀的實(shí)際數(shù)據(jù)及落下壓力的數(shù)據(jù)，以滿足沖擊波形之規(guī)格條件。5、注意每個(gè)單一軸向之正負(fù)方向，依規(guī)定每個(gè)樣品皆須經(jīng)過三個(gè)正交軸向（包括正負(fù)方向）分別施加連續(xù)三次之沖擊動作，共合計(jì)18次的沖擊。6、各個(gè)受測之樣本的回爐，必須與斷電監(jiān)測器串聯(lián)，以利于沖擊測試過程中，作為斷電與否之判定依據(jù)。1、受測樣品必須牢固架設(shè)在機(jī)器臺面并蓋上安全護(hù)蓋，以免在沖擊測試時(shí)物體飛濺，發(fā)生危險(xiǎn)。2、加速規(guī)盡量放置機(jī)器臺面之中心位置或接近臺面表面所獲得之沖擊波形愈精確。機(jī)械沖擊試驗(yàn)連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)15環(huán)境特性熱沖擊試驗(yàn)評估測試樣品于溫度變化的環(huán)境中零組件之特性是否改變，樣品之功能與動作是否正常。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344,METHOD1003.1ThermalShockTestingChamber1、高低溫之溫度變化應(yīng)于5分鐘內(nèi)完成。2、測試樣品應(yīng)依機(jī)器操作指導(dǎo)書規(guī)定為MATED或UNMATED狀態(tài)。3、量測條件：

A、高溫：85~88℃B、低溫：-55~-58℃C、置放時(shí)間：30分鐘

D、循環(huán)次數(shù)：5CYCLES1、此項(xiàng)設(shè)備若為長時(shí)間的測試條件應(yīng)注意設(shè)備之除霜，以確保壓縮機(jī)之冷凍效果。2、若為兩個(gè)試驗(yàn)箱，兩箱之距離能在規(guī)定時(shí)間內(nèi)由一箱移至另一箱。3、當(dāng)放入測試樣品時(shí)，箱內(nèi)溫度應(yīng)在不超過放置時(shí)間內(nèi)之10%內(nèi)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定之許可差之內(nèi)。4、測試條件應(yīng)依各產(chǎn)品規(guī)格相關(guān)測試規(guī)范進(jìn)行。熱沖擊試驗(yàn)連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)16環(huán)境特性耐插拔試驗(yàn)評估樣品經(jīng)連續(xù)插拔后，端子電鍍層磨耗機(jī)械特性與電氣特性在測試前后之變化。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD2016.1耐插拔試驗(yàn)機(jī)1、把公母連接器以適當(dāng)夾具固定在耐插拔試驗(yàn)機(jī)上。2、除有特別規(guī)定外，插拔速度以每小時(shí)不超過300CYCLES.3、完成此項(xiàng)測試后，應(yīng)作外觀目視檢查及依照產(chǎn)品規(guī)格書之檢測項(xiàng)目檢測。1、當(dāng)樣品固定在治具上時(shí)，應(yīng)特別注意其ALINEMENT.2、當(dāng)測試為CARD-EDGE系列產(chǎn)品時(shí)，則以最大板厚之測試板測試。耐插拔試驗(yàn)連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)17環(huán)境特性高溫測試為了評估樣品處于高溫環(huán)境之承受能力的測試，以探究樣本因高溫失效的原因及先期規(guī)劃。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD1005高溫烤箱1、將受測之樣品放置于預(yù)先設(shè)定好的烤箱內(nèi)。2、預(yù)熱烤箱至所指定之溫度及設(shè)定測試總時(shí)間如：85±2℃共計(jì)300小時(shí)。1、通常樣本為MARING狀態(tài)方可接受測試。2、樣本取出烤箱后直到常溫時(shí)，方可執(zhí)行后續(xù)之測試。3、若有特別規(guī)定，需量測樣本本身的溫度，而非只是對烤箱溫度作量測。高溫測試連接器測試標(biāo)準(zhǔn)序號測試類型測試名稱測試目的測試依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備測試方法注意事項(xiàng)18環(huán)境特性鍍層針孔測試為了造就鍍層針孔規(guī)模大小及嚴(yán)重程度，并在接觸表面形成不純的物質(zhì)。針孔或不純物質(zhì)所占有的區(qū)域，為端子之底材或電鍍層厚度不夠所致。而這些區(qū)域有足夠規(guī)模去擴(kuò)散來影響接觸表面，危害到樣本的電氣特性業(yè)界規(guī)范EIA-364-531、密閉容器2、實(shí)體顯微鏡1、測試樣品必須清洗。利用三氯乙烷及高純度酒精之蒸氣大油漬去除。2、將足夠計(jì)量之硝酸（50~100ml/liter、70±1%NHO3）放置于密閉容器中，而使其在容器蒸發(fā)呈現(xiàn)飽和狀態(tài)，注意將容器置于室溫下的環(huán)境且相對濕度＜60%RH.3、硝酸溶液呈現(xiàn)飽和狀態(tài)，至少維持15分鐘后，再將受測樣本放入容器，使其暴露于氣體中約75±10分鐘。4、將樣品移出密閉容器，放置于烤箱中維持125±5℃之室溫10~15分鐘，隨后取出空冷于