光纖損耗和模場直徑測量儀

1光纖損耗和模場直徑測量儀檢定規(guī)程本規(guī)程適用于新制造的、使用中的和修理后的光纖損耗和模場直徑測量儀的檢定。光纖損耗和模場直徑測量儀是用于測量單模、多模光纖的光譜損耗、截止波長和單模光纖的模場直徑等參數(shù)的專用儀器。測量儀的原理框圖見圖1。匯聚注入系統(tǒng)被測光纖光譜光源發(fā)出的光首先進人單色儀，經(jīng)單色儀光譜分光后出射準單色光，由匯聚注入光學(xué)系統(tǒng)注入被測光纖。光纖出射的光經(jīng)過匯聚、接收光學(xué)系統(tǒng)被內(nèi)部光電探測器接收，接收到的電信號被放大后輸入到計算機中。單色儀在計算機的控制下可在一定的波長范圍內(nèi)掃描，因此光纖損耗和模場直徑測量儀可以測量光纖的截止波長，可以對光纖的模場直徑和損耗進行光譜測量。光纖損耗和模場直徑測量儀采用剪斷法測量光纖的光譜損耗，采用傳輸功率法測量光纖的截止波長，(大多數(shù)儀器)采用遠場變孔徑法測量光纖的光纖損耗和模場直徑測量儀的基本測試功能包括：測量單模和多模光纖的光譜損耗和截止波長，測量單模光纖的模場直徑。2二檢定項目和檢定條件1檢定項目光纖損耗和模場直徑測量儀的檢定項目和主要檢定用工具列于表1中。檢定項目使用中1+ 2十+3+++4++注：“+”表示該項必須檢定，“-”表示該項可以不檢定。2.1光纖損耗和模場直徑測量儀需放置于具有良好隔震措施的平臺上。2.2室溫控制在(20±3)℃,濕度≤80%。2.3光纖損耗和模場直徑測量儀正常工作前應(yīng)至少預(yù)熱30min以上。三檢定方法和技術(shù)要求3.1.1儀器外表無明顯碰、劃、刻痕跡。3.1.2儀器中光學(xué)表面潔凈，無灰塵。3.1.3儀器應(yīng)有制造廠名(或廠標)和出廠編號。3.1.4運動部件工作靈活無阻礙。3.2檢定方法：目視視察。光纖損耗測量重復(fù)性2o≤0.01dB;光纖損耗測量不確定度U≤0.02dB。34.2.1光纖損耗和模場直徑測量儀采用剪斷法測量光纖的光譜損耗。4.2.2用標準光纖對光譜損耗進行檢定，應(yīng)保證此標準光纖在傳遞過程中不受振動和擠壓，保證光纖盤繞狀態(tài)不變。4.2.3保證光纖發(fā)射端注入條件滿足CCITT的要求。4.2.4切割光纖測量端面，測量截止波長10次。針對某一標稱波長(通常用1300和1550nm)記錄下10次光譜損耗測量的結(jié)果L?,L?,…,L?0,損耗平均值L和損耗測量重復(fù)性2o按公式(1)和(1′)計算求得：光纖截止波長測量不確定度U≤25nm。5.2.1光纖損耗和模場直徑測量儀采用傳輸功率法測量光纖截止波長。5.2.2保證光纖發(fā)射端注入條件滿足CCITT的要求。5.2.3切割光纖測量端面，測量截止波長10次，記錄下10次截止波長測量的結(jié)果λ?,λ?,…,λ1o,截止波長平均值λ和截止波長測量重復(fù)性2o用公式(2)和(2')計算求6單模光纖模場直徑單模光纖模場直徑測量重復(fù)性2o≤1%;6.2檢定方法6.2.1光纖損耗和模場直徑測量儀采用CCITT推薦的方法測量單模光纖的模場直徑。6.2.2對配制的模場直徑標準光纖進行檢查，要求保存狀態(tài)良好。用模場直徑標準光纖進行端面切割，要求測量端面角度不大于1°,端面平面度不大于0.6μm。6.2.3測量模場直徑10次，記錄下10次測量結(jié)果F?,F?,…,Fm,模場直徑平均值F和模場直徑測量重復(fù)性2σ按公式(3)和(3')計算求出：47凡經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的光纖損耗和模場直徑測量儀，應(yīng)填發(fā)